專利名稱：PCIe測試平臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子設(shè)備測試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種PCIe測試平臺。
背景技術(shù)：
目前，在電路技術(shù)領(lǐng)域，通常利用測試平臺對電子設(shè)備進(jìn)行測試。圖1所示為現(xiàn)有 的一種PCIe測試平臺，其包括主機(jī)10、與主機(jī)10相連的PCIe插槽20或者PCIe連接器30。 測試時，將待測試設(shè)備連接在PCIe插槽20或者PCIe連接器30上，主機(jī)10通過PCIe電纜 和PCIe插槽20上的待測試設(shè)備成功建立PCIe鏈路后，測試人員便可對待測PCIe設(shè)備進(jìn) 行檢測操作。例如，向待測試設(shè)備發(fā)送PCIe數(shù)據(jù)，然后利用待測試設(shè)備向主機(jī)返回的PCIe 數(shù)據(jù)來判斷待檢測設(shè)備。例如在專利申請?zhí)枮椤?0052005372. 6”的中國專利申請中公開了一種通訊設(shè)備單 板測試平臺。但是現(xiàn)有的PCIe測試平臺通常將主機(jī)、PCIe插槽和PCIe接口安裝在PCB板上， 因此PCIe插槽和PCIe接口的數(shù)目受到限制，使得PCIe平臺的測試能力受到限制，另外由 于主機(jī)、PCIe插槽和PCIe接口都集成在PCB板上，因此如果對待測試電子設(shè)備進(jìn)行測試必 須將待檢測設(shè)備搬到PCB板附近，這樣為測試平臺的應(yīng)用帶來不便。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決的技術(shù)問題是提供一種使用更方便的PCIe測試平臺。為了解決上述問題，本發(fā)明提供了一種PCIe測試平臺，包括第一主機(jī)；第二主機(jī)；測試板，所述測試板包括位于在所述測試板上的PCIe插座，與PCIe插座相連的 PCIe交換單元，與PCIe交換單元相連的PCIe插槽和PCIe連接器，所述測試板上的PCIe插 座和第一主機(jī)以及第二主機(jī)相連。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明主要具有以下優(yōu)點(diǎn)本發(fā)明通過將PCIe插座，與PCIe插 座相連的PCIe交換單元，與PCIe交換單元相連的PCIe插槽和PCIe連接器設(shè)置于測試板 上，并且測試板與第一主機(jī)和第二主機(jī)分離并且連接，從而使得測試平臺測試接口得到擴(kuò) 展，從而使該測試平臺可以應(yīng)用于遠(yuǎn)距離的測試，并且可以通過擴(kuò)展測試板或者擴(kuò)展測試 板上的PCIe插槽和PCIe連接器使測試平臺的測試能力更強(qiáng)。


通過附圖中所示的本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的更具體說明，本發(fā)明的上述及其它目 的、特征和優(yōu)勢將更加清晰。在全部附圖中相同的附圖標(biāo)記指示相同的部分。并未刻意按 實(shí)際尺寸等比例縮放繪制附圖，重點(diǎn)在于示出本發(fā)明的主旨。圖1為現(xiàn)有的一種PCIe測試平臺的結(jié)構(gòu)示意圖2為本發(fā)明的PCIe測試平臺一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明的PCIe測試平臺一優(yōu)選實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式由背景技術(shù)可知，現(xiàn)有的PCIe測試平臺通常將主機(jī)10、PCIe插槽20和PCIe連接 器30，PCIe插槽20和PCIe連接器30安裝在主機(jī)10上，因此PCIe插槽20和PCIe連接器 30數(shù)目受到限制，使得PCIe平臺的測試能力受到限制，另外由于主機(jī)、PCIe插槽20和PCIe 連接器30都集成在主機(jī)10上，因此如果對待測試電子設(shè)備進(jìn)行測試必須將待檢測設(shè)備搬 到主機(jī)10附近，這樣為測試平臺的應(yīng)用帶來不便。本發(fā)明的發(fā)明人經(jīng)過大量的實(shí)驗(yàn)研究得到了一種PCIe測試平臺，包括第一主 機(jī)；第二主機(jī)；測試板，所述測試板包括位于在所述測試板上的PCIe插座，與PCIe插座相 連的PCIe交換單元，與PCIe交換單元相連的PCIe插槽和PCIe連接器，所述測試板上的 PCIe插座和第一主機(jī)以及第二主機(jī)相連。本發(fā)明可以連接更多的待檢測設(shè)備，因此可以實(shí) 現(xiàn)同時對更多的待檢測設(shè)備進(jìn)行檢測，提高了測試平臺的利用率，并且可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離的 測試。為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明 的具體實(shí)施方式
做詳細(xì)的說明。在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā) 明。但是本發(fā)明能夠以很多不同于在此描述的其它方式來實(shí)施，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不 違背本發(fā)明內(nèi)涵的情況下做類似推廣，因此本發(fā)明不受下面公開的具體實(shí)施的限制。其次，本發(fā)明利用示意圖進(jìn)行詳細(xì)描述，在詳述本發(fā)明實(shí)施例時，為便于說明，表 示器件結(jié)構(gòu)的剖面圖會不依一般比例作局部放大，而且所述示意圖只是實(shí)例，其在此不應(yīng) 限制本發(fā)明保護(hù)的范圍。此外，在實(shí)際制作中應(yīng)包含長度、寬度及深度的三維空間尺寸。圖2是本發(fā)明的PCIe測試平臺一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖，下面結(jié)合圖2對本發(fā)明 PCIe測試平臺進(jìn)行說明。如圖2所示，本發(fā)明的PCIe測試平臺包括第一主機(jī)(hostl) 110、 第二主機(jī)(hosU) 120和測試板130。所述測試板130包括位于所述測試板上的PCIe插座 140，與PCIe插座140相連的PCIe交換單元150，與PCIe交換單元150相連的PCIe插槽 160和PCIe連接器170，所述測試板上的PCIe插座140和第一主機(jī)110以及第二主機(jī)120 相連。圖3為本發(fā)明的PCIe測試平臺一優(yōu)選實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖3所示，優(yōu)選 的，所述第一主機(jī)110包括第一處理器1101、與第一處理器1101相連的第一存儲器1102和 與第一處理器1101相連的第一根聯(lián)合體器件1103 ；第二主機(jī)120包括第二處理器1201、 與第二處理器1201相連的第二存儲器1202和與第二處理器1201相連的第二根聯(lián)合體器 件1203。在檢測時，第一主機(jī)110或第二主機(jī)120通過PCIe電纜和PCB板上的待測試設(shè)備 及PCIe交換單元成功建立PCIe鏈路后，測試人員便可對待測PCIe設(shè)備進(jìn)行檢測操作。例 如，第一主機(jī)110和第二主機(jī)120用于對向待檢測設(shè)備發(fā)送PCIe數(shù)據(jù)，并從待檢測設(shè)備接 收PCIe數(shù)據(jù)，然后來判斷待檢測設(shè)備對數(shù)據(jù)的處理是否正確。所述PCIe交換單元150實(shí)現(xiàn)了主機(jī)與多個待測PCIe設(shè)備間的數(shù)據(jù)交互，并具有 在第一主機(jī)110和第二主機(jī)120之間的故障切換能力。具體的，系統(tǒng)正常運(yùn)行時，第一主機(jī) 處于正常工作狀態(tài)，第二主機(jī)則通過PCIe交換單元150監(jiān)測第一主機(jī)110的工作狀態(tài)和“心跳"，判斷第一主機(jī)110是否處于正常工作狀態(tài)，若發(fā)現(xiàn)第一主機(jī)出現(xiàn)故障時，第二主機(jī) 自動接替第一主機(jī)工作，并隔離故障主機(jī)，整個測試系統(tǒng)繼續(xù)保持穩(wěn)定運(yùn)行。所述交換單元 150可以利用交換芯片實(shí)現(xiàn)，所述交換芯片為本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知具有故障切換或失效 接管能力的交換單元。所述測試板130上具有互連線，用于連接位于測試板130上的裝置。所述測試板130上的PCIe插槽160和PCIe連接器170用于插接待檢測設(shè)備。由 于測試板130上可以具有至少兩個，也就是多個PCIe插槽160和PCIe連接器170，因此和 現(xiàn)有的測試平臺相比，本發(fā)明的測試平臺可以連接更多的待檢測設(shè)備，因此可以實(shí)現(xiàn)同時 對更多的待檢測設(shè)備進(jìn)行檢測，提高了測試平臺的利用率。優(yōu)選的，在本實(shí)施例中，所述PCIe插座140包括第一 PCIe插座1401和第二 PCIe 插座1402，所述第一主機(jī)110還包括第一 PCIe擴(kuò)展卡1104，所述第二主機(jī)120包括第二 PCIe擴(kuò)展卡1204，所述第一 PCIe擴(kuò)展卡1104用于和第一 PCIe插座1401通過PCIe電纜 180相連；所述第二 PCIe擴(kuò)展卡1204用于和第二 PCIe插座1402通過PCIe電纜相連。優(yōu)選的，在本實(shí)施例中，所述測試板130還包括位于其上的驅(qū)動器190，所述驅(qū)動 器190連接在所述PCIe插座140和所述PCIe交換單元150之間。因?yàn)楸景l(fā)明中可以支持 hostllO和測試板130之間PCIe信號的遠(yuǎn)距離傳輸，因此信號可能出現(xiàn)衰減、失真、延遲，所 述驅(qū)動器190用來補(bǔ)償和修復(fù)傳輸?shù)腜CIe信號，例如驅(qū)動器190可以為包括放大器和濾波 器，從而可以將PCIe信號放大，并去除干擾。優(yōu)選的，在本實(shí)施例中，所述測試板130還包括位于其上的電源模塊200、維護(hù)模 塊210和維護(hù)接口 220，所述電源模塊200和所述維護(hù)模塊210相連，所述維護(hù)模塊220和 PCIe交換單元150相連，所述維護(hù)接口 220和所述維護(hù)模塊210相連。其中電源模塊200用于為測試板130及其上的設(shè)備提供電源。維護(hù)模塊210用于 控制電源的供給，并且維護(hù)模塊210還用于通過對PCIe交換單元150的監(jiān)控來監(jiān)控檢測 過程，例如通過讀取PCIe交換單元150中的PCIe信號來實(shí)現(xiàn)。維護(hù)接口 220和維護(hù)模塊 210相連用于將維護(hù)模塊監(jiān)控到的數(shù)據(jù)傳輸給外部設(shè)備，從而可以便于工作人員監(jiān)控檢測 狀態(tài)。優(yōu)選的，在本實(shí)施例中，所述PCIe測試平臺包括至少兩個測試板130，例如3個、6 個、10個等等。這樣使得PCIe測試平臺就可以實(shí)現(xiàn)對更多待檢測設(shè)備的測試，提供PCIe檢 測平臺的工作效率。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)host的通過PCIe擴(kuò)展卡以及測試平臺的PCIe插座140和測試平臺 PCIe插槽160、PCIe連接器170等接口互聯(lián)，提高了 PCIe測試平臺互連的靈活性，具有較 強(qiáng)的設(shè)備擴(kuò)展性。其中，PCIe擴(kuò)展卡和PCIe電纜提供了一個從host到測試平臺的接口。 PCIe擴(kuò)展卡對PCIe鏈路完全透明，不需要額外軟件支持。PCIe插座和驅(qū)動器將PCIe信號 從PCIe電纜中引入，重新驅(qū)動信號后提供給PCIe交換單元。根據(jù)不同測試環(huán)境，驅(qū)動器 的驅(qū)動參數(shù)(加重、均衡等)可通過撥碼開關(guān)調(diào)整設(shè)置。PCIe交換單元實(shí)現(xiàn)host到測試 平臺上多個PCIe插槽和PCIe連接器的PCIe鏈路擴(kuò)展。PCIe交換單元支持雙host連接， 當(dāng)hostl失效時，host2可自動接管，并隔離失效的hostl，由此提高了測試系統(tǒng)運(yùn)行的可靠 性。無阻塞交換維護(hù)邏輯支持測試平臺上的監(jiān)測和維護(hù)功能。電源轉(zhuǎn)換提供測試平臺上所 需各種電源。
PCIe電纜擴(kuò)展了測試平臺的使用的空間范圍，不再局限于host內(nèi)部插槽。測試平 臺上多個擴(kuò)展接口的實(shí)現(xiàn)，測試接口也不再局限于host上僅有的幾個插槽，通過測試平臺 接口 “級聯(lián)”和遠(yuǎn)程維護(hù)功能配合，可以形成“測試平臺網(wǎng)絡(luò)”，極大地提高了測試效率。測試平臺提供了至多達(dá)48路4X PCIe鏈路的擴(kuò)展性能，并且其擴(kuò)展端口帶寬可靈 活調(diào)整，如PCIe 4X、PCIe 8X、PCIe 16X等模式，方便不同用戶不同待測設(shè)備的測試。測試平臺支持PCIe 2. 0規(guī)范，同時向下兼容PCIe 1. Oa/1. 1規(guī)范(PCIExpress Base Specification, r2. 0 (backwards compatible w/PCIe rl. Oa/1. 1))，為不同規(guī)格PCIe 設(shè)備提供了 一個通用測試平臺。以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制。任 何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍情況下，都可利用上述揭示的方 法和技術(shù)內(nèi)容對本發(fā)明技術(shù)方案作出許多可能的變動和修飾，或修改為等同變化的等效實(shí) 施例。因此，凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所做 的任何簡單修改、等同變化及修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案保護(hù)的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種PCIe測試平臺，其特征在于，包括第一主機(jī)；第二主機(jī)；測試板，所述測試板包括位于在所述測試板上的PCIe插座，與PCIe插座相連的PCIe 交換單元，與PCIe交換單元相連的PCIe插槽和PCIe連接器，所述測試板上的PCIe插座和 第一主機(jī)以及第二主機(jī)相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCIe測試平臺，其特征在于，所述測試板上還包括驅(qū)動器，所 述驅(qū)動器連接在所述PCIe插座和所述PCIe交換單元之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCIe測試平臺，其特征在于，所述測試板上還包括電源模塊、 維護(hù)模塊和維護(hù)接口，所述電源模塊和所述維護(hù)模塊相連，所述維護(hù)模塊和PCIe交換單元 相連，所述維護(hù)接口和所述維護(hù)模塊相連。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCIe測試平臺，其特征在于，所述第一主機(jī)包括第一處理器、 與第一處理器相連的第一存儲器和與第一處理器相連的第一根聯(lián)合體器件；第二主機(jī)包括 第二處理器、與第二處理器相連的第二存儲器和與第二處理器相連的第二根聯(lián)合體器件。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCIe測試平臺，其特征在于，所述第一主機(jī)包括與第一根 聯(lián)合體器件相連的第一 PCIe擴(kuò)展卡；所述第二主機(jī)包括與第二根聯(lián)合體器件相連的第二 PCIe擴(kuò)展卡。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCIe測試平臺，其特征在于，所述PCIe插座包括第一PCIe 插座和第二 PCIe插座，所述第一 PCIe插座和第一主機(jī)的PCIe擴(kuò)展卡通過PCIe電纜相連； 所述第二 PCIe插座和第二主機(jī)的PCIe擴(kuò)展卡通過PCIe電纜相連。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCIe測試平臺，其特征在于，包括至少兩個所述測試板。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCIe測試平臺，其特征在于，同一測試板包括至少兩個所述 PCIe插座。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCIe測試平臺，其特征在于，同一測試板包括至少兩個所述 PCIe連接器。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種PCIe測試平臺，包括第一主機(jī)；第二主機(jī)；測試板，所述測試板包括位于所述測試板上的PCIe插座，與PCIe插座相連的PCIe交換單元，與PCIe交換單元相連的PCIe插槽和PCIe連接器，所述測試板上的PCIe插座和第一主機(jī)以及第二主機(jī)相連。本發(fā)明可以連接更多的待檢測設(shè)備，因此可以實(shí)現(xiàn)同時對更多的待檢測設(shè)備進(jìn)行檢測，提高了測試平臺的利用率，并且可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離的測試。
文檔編號G06F13/40GK102043748SQ20091019699
公開日2011年5月4日 申請日期2009年10月13日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月13日
發(fā)明者劉紅云, 喻尊河, 李湛, 祝亞斌, 鐘蔚杰, 陳暉 , 黃永勤 申請人:無錫江南計(jì)算技術(shù)研究所