專利名稱：電阻式觸控板的多點(diǎn)觸控檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種用于電阻式觸控板的多點(diǎn)觸控檢測方法。
背景技術(shù)：
圖1為一習(xí)知電阻式觸控板內(nèi)部元件的示意圖。 一般觸控板分為電容式觸控板及 電阻式觸控板兩種。其中，電阻式觸控板是由X層板102與Y層板104上下疊合而成的。X 層板102與Y層板104皆為平面電阻，且于自然狀態(tài)下不互相接觸。當(dāng)使用者施力觸壓電 阻式觸控板時，會使X層板102與Y層板104于對應(yīng)觸壓點(diǎn)的位置互相接觸。例如當(dāng)使用 者施力觸壓電阻式觸控板時，Y層板104上對應(yīng)該觸壓點(diǎn)的點(diǎn)Pl會與X層板102上對應(yīng)該 觸壓點(diǎn)的點(diǎn)P2互相接觸。 圖2為圖1的電阻式觸控板的等效電路圖。電阻式觸控板的等效電路202中，X 層板102與Y層板104之間具有一等效電阻RM。當(dāng)Y層板104與X層板102處于自然狀態(tài) 時，兩者并不接觸。此時，Y層板104與X層板102之間為開路，可視為X層板102與Y層 板104之間具有一電阻值為無限大的等效電阻RM。當(dāng)外力觸壓電阻式觸控板時，Y層板104 與X層板102彼此互相接觸，兩者間形成通路，則等效電阻RM的電阻值會遠(yuǎn)小于自然狀態(tài)時 的電阻值。此外，X層板102與Y層板104皆為平面電阻，當(dāng)外力觸壓電阻式觸控板，使得Y 層板104上的點(diǎn)Pl與X層板102上的點(diǎn)P2互相接觸時，X層板102的等效電阻為耦接于 點(diǎn)P2的兩電阻RxO與Rxl。其中，兩等效電阻RxO與Rxl的電阻值是由點(diǎn)P2于X層板102 的位置所決定。且其電阻值僅隨點(diǎn)P2的X坐標(biāo)的位置而變化，而不隨Y坐標(biāo)的位置變化。 同理，Y層板104的等效電阻為串聯(lián)于點(diǎn)Pl的兩電阻RyO與Ryl。兩等效電阻RyO與Ryl 的電阻值是由點(diǎn)Pl于Y層板104的位置所決定。且兩等效電阻RyO與Ryl的電阻值僅隨 點(diǎn)P1的Y坐標(biāo)的位置而變化，而不隨X坐標(biāo)的位置變化。如此，當(dāng)有一外力觸壓電阻式觸 控板，而使得Y層板104上對應(yīng)該觸壓點(diǎn)的點(diǎn)Pl與X層板102上對應(yīng)該觸壓點(diǎn)的點(diǎn)P2互 相接觸時，其等效電路如圖2所示。 然而，上述的電阻式觸控板通常僅能得知單點(diǎn)觸控的坐標(biāo)位置，而難以實(shí)施多點(diǎn) 觸控操作。因此，亟需一種簡易的多點(diǎn)觸控檢測方法來用于該電阻式觸控板，以實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)觸 控功能。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種用于電阻式觸控板的多點(diǎn)觸控檢測方法。 本發(fā)明的其它目的和優(yōu)點(diǎn)可以從本發(fā)明所揭露的技術(shù)特征中得到進(jìn)一步的了解。
為達(dá)上述的一或部份或全部目的或是其它目的，本發(fā)明的一實(shí)施例提供一種用于 電阻式觸控板的多點(diǎn)觸控檢測方法，該電阻式觸控板至少包含用以產(chǎn)生一第一軸向的坐標(biāo) 信號的一第一平面電阻、及用以產(chǎn)生一第二軸向的坐標(biāo)信號的一第二平面電阻，該多點(diǎn)觸 控檢測方法包含如下步驟測量流經(jīng)該第一平面電阻或該第二平面電阻的電流，通過該電 流變化以判別目前觸控狀態(tài)為單點(diǎn)觸控模式或多點(diǎn)觸控模式及于多點(diǎn)觸控模式下的兩觸壓點(diǎn)距離；及于該多點(diǎn)觸控模式下施加電壓至該第一平面電阻并測量該第二平面電阻的端 電壓、或施加電壓至該第二平面電阻并測量該第一平面電阻的端電壓以判別兩不同觸壓點(diǎn) 的相對位置。 本發(fā)明的另一實(shí)施例提供一種用于電阻式觸控板的多點(diǎn)觸控檢測方法，該電阻式 觸控板至少包含彼此具一間隔的X透明導(dǎo)電層及Y透明導(dǎo)電層，該X透明導(dǎo)電層于平行一Y 軸方向上具有相對的一第一X側(cè)及一第二X側(cè)，且該Y透明導(dǎo)電層于平行一X軸方向上具有 相對的一第一 Y側(cè)及一第二 Y側(cè)，該檢測方法包含如下步驟提供一感測電壓至該第一 X側(cè) 并將一電流測量單元連接至該第二 X側(cè)、或提供一感測電壓至該第一 Y側(cè)并將一電流測量 單元連接至該第二 Y側(cè)；將單點(diǎn)觸壓該電阻式觸控板時該電流測量單元所獲得的電流值預(yù) 設(shè)為一基準(zhǔn)電流值；及比較目前觸控狀態(tài)下該電流測量單元測量得的一測量電流值與該基 準(zhǔn)電流值，其中當(dāng)該測量電流值與該基準(zhǔn)電流值相等時，目前觸控狀態(tài)為該單點(diǎn)觸控模式， 且當(dāng)該測量電流值大于該基準(zhǔn)電流值時，目前觸控狀態(tài)為該多點(diǎn)觸控模式。
于一實(shí)施例中，多點(diǎn)觸控檢測方法還包含如下步驟 于多點(diǎn)觸控模式下，建立兩個不同觸壓點(diǎn)間的距離與電流變化的對應(yīng)關(guān)系，以獲 得目前觸控狀態(tài)下兩個不同觸壓點(diǎn)的距離。 本發(fā)明的另一實(shí)施例提供一種用于電阻式觸控板的多點(diǎn)觸控檢測方法，該電阻式 觸控板至少包含彼此具一間隔的X透明導(dǎo)電層及Y透明導(dǎo)電層，該X透明導(dǎo)電層于平行一Y 軸方向上具有相對的一第一 X側(cè)及一第二 X側(cè)，且該Y透明導(dǎo)電層于平行一 X軸方向上具 有相對的一第一 Y側(cè)及一第二 Y側(cè)，該檢測方法包含如下步驟提供一感測電壓至該第一 X 側(cè)并將該第二 X側(cè)接地且將一電壓測量單元連接至該第一 Y側(cè)及第二 Y側(cè)、或提供一感測 電壓至該第一 Y側(cè)并將該第二 Y側(cè)接地且將一電壓測量單元連接至該第一 X側(cè)及第二 X側(cè)； 及比較該電壓測量單元所測得的該第一 X側(cè)電壓值與該第二 X側(cè)電壓值、或比較該電壓測 量單元所測得的該第一 Y側(cè)電壓值與該第二 Y側(cè)電壓值，以判別兩不同觸壓點(diǎn)的相對位置。
基于上述各個實(shí)施例的設(shè)計，通過由測量電阻式觸控板X側(cè)與Y側(cè)的電流值、或X 側(cè)與Y側(cè)的電壓值，可判斷出目前觸控模式是否為多點(diǎn)觸控，且利用該簡易的電流及電壓 測量架構(gòu)，于兩點(diǎn)觸控模式下可獲得兩觸壓點(diǎn)的距離與位置關(guān)系，而獲知使用者目前的觸 控行為模式。


圖1為一習(xí)知電阻式觸控板內(nèi)部元件的示意圖。
圖2為圖1的電阻式觸控板的等效電路圖。 圖3A及圖3B為方塊圖，顯示多點(diǎn)觸控檢測方法一實(shí)施例的實(shí)施架構(gòu)。 圖4為單點(diǎn)觸控模式的等效電路模型，圖5A及圖5B為簡化的兩點(diǎn)觸控模式等效
電路模型。 圖6A及圖6B為方塊圖，顯示多點(diǎn)觸控檢測方法另一實(shí)施例的實(shí)施架構(gòu)。
圖7A為圖6A的實(shí)施例的等效電路圖，圖7B為圖6B的實(shí)施例的等效電路圖。
圖8A及圖8B為顯示兩不同觸壓點(diǎn)坐標(biāo)位置的示意圖。
圖9為本發(fā)明一實(shí)施例的多點(diǎn)觸控檢測方法流程圖。
主要元件符號說明
6
10電阻式觸控板12X透明導(dǎo)電層12a第一 x側(cè)12b第二 X側(cè)14Y透明導(dǎo)電層14a第一 Y側(cè)14b第二 Y側(cè)16電流測量單元18微處理器22電源26電壓測量單元102x層板104Y層板202等效電路Step10-70 方法步驟
具體實(shí)施例方式
為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例并配合所附圖式， 作詳細(xì)說明如下。 有關(guān)本發(fā)明的前述及其它技術(shù)內(nèi)容、特點(diǎn)與功效，在以下配合參考圖式的實(shí)施例 的詳細(xì)說明中，將可清楚的呈現(xiàn)。以下實(shí)施例中所提到的方向用語，例如上、下、左、右、前 或后等，僅是參考附加圖式的方向。因此，使用的方向用語是用來說明并非用來限制本發(fā) 明。 圖3A及圖3B為方塊圖，顯示多點(diǎn)觸控檢測方法一實(shí)施例的實(shí)施架構(gòu)。電阻式觸控 板10至少包含彼此具一 間隔的X透明導(dǎo)電層12及Y透明導(dǎo)電層14，該X透明導(dǎo)電層于平 行一Y軸方向上具有相對的一第一X側(cè)(Xa側(cè))12a及一第二X側(cè)(Xb側(cè))12b，且該Y透明 導(dǎo)電層于平行一X軸方向上具有相對的一第一Y側(cè)(Ya側(cè))14a及一第二Y側(cè)(Yb側(cè))14b。 X透明導(dǎo)電層12及Y透明導(dǎo)電層14可視為可分別產(chǎn)生一第一軸向坐標(biāo)信號及一第二軸向 坐標(biāo)信號的平面電阻。 于圖3A中，電阻式觸控板10連接至一電源(圖未示)以提供一感測電壓Vdd至 第一 Y側(cè)14a，并將一電流測量單元16連接至第二 Y側(cè)14b。于圖3B中，電阻式觸控板10 連接至一電源(圖未示)以提供一感測電壓Vdd至第一X側(cè)12a，并將一電流測量單元16 連接至第二X側(cè)12b。請同時參考圖4、圖5A及圖5B，圖4為單點(diǎn)觸控模式的等效電路模 型，圖5A及圖5B為簡化的兩點(diǎn)觸控模式等效電路模型，其中圖5A對應(yīng)圖3A(感測電壓Vdd 施加于第一 Y側(cè)14a且假設(shè)兩觸壓點(diǎn)的X軸位移相同；X1 = X2)，且圖5B對應(yīng)圖3B (感測 電壓Vdd施加于第一 X側(cè)12a且假設(shè)兩觸壓點(diǎn)的Y軸位移相同；Y1 = Y2)。當(dāng)僅有單一觸 壓點(diǎn)T時，由圖4的單點(diǎn)觸控模型可知不論觸控位置為何，電流測量單元16測量到電流Iyo 均為固定，但當(dāng)觸壓點(diǎn)為Y軸上的兩點(diǎn)Tl及T2，觸壓點(diǎn)Tl的坐標(biāo)為(X1，Y1)，觸壓點(diǎn)T2的 坐標(biāo)為(X2， Y2)，且假設(shè)X1 = X2時，這時等效電路模型需采用圖5A，此時Y軸等效總電阻Ry符合下式:
Ry = R1 + R3 +J 1 1 1 ......(式一)
^4 + R6 + R2 + R5 + R7 由上式可知，兩點(diǎn)的觸壓方式可產(chǎn)生電阻并聯(lián)效果，使總電阻下降，因此兩點(diǎn)觸壓 時的Y軸等效總電阻Ry(tl，t2)會小于單點(diǎn)觸壓的Y軸等效總電阻Ry(t)。換言之，兩點(diǎn)觸 壓時電流測量單元16測量到的電流Iy —定會大于單點(diǎn)觸壓時電流測量單元16測量到的 電流Iyo。另外，如圖3B所示，當(dāng)提供一感測電壓Vdd至電阻式觸控板10的第一 X側(cè)12a， 并將一電流測量單元16連接至第二X側(cè)12b，當(dāng)觸壓點(diǎn)為X軸上的兩點(diǎn)Tl及T2，觸壓點(diǎn)Tl 的坐標(biāo)為(X1，Y1)，觸壓點(diǎn)T2的坐標(biāo)為(X2，Y2)，且假設(shè)Y1 = Y2時，這時等效電路模型可 采用圖5B， X軸等效總電阻Rx (tl ， t2)同樣會小于單點(diǎn)觸壓的X軸等效總電阻Rx (t)，即兩 點(diǎn)觸壓時電流測量單元16測量到的電流Ix —定會大于單點(diǎn)觸壓時電流測量單元16測量 到的電流Ixo。因此，微處器18即可通過電流測量值判斷目前觸控狀態(tài)為單點(diǎn)觸控模式或 多點(diǎn)觸控模式。 接著，如下以圖5A為例說明當(dāng)觸壓點(diǎn)為兩點(diǎn)時，如何通過電流測量值的變化判斷 兩點(diǎn)間的距離為減小或增大。如圖5A所示，當(dāng)觸壓點(diǎn)由T1變化為T1'或由T2變化為T2' 使兩點(diǎn)距離由d增大為距離d+Ad時，此時電阻Rl或電阻R3會減少且電阻R2增大，所以 由(式一)可知Y軸等效總電阻Ry(tl'，t2')會變小。因此當(dāng)兩點(diǎn)距離增大時電流測量單 元16測量到的電流Iy'會大于原先距離測量到的電流Iy ;反之，當(dāng)兩點(diǎn)距離減小時，電流 測量單元16測量到的電流Iy'會小于原先距離測量到的電流Iy。通過測量電流的變化，可 獲得兩個不同觸壓點(diǎn)間的距離變化，且因兩個觸壓點(diǎn)間的距離，與流經(jīng)X透明導(dǎo)電層12或 Y透明導(dǎo)電層14的電流值具有一正比關(guān)系，故于測量電流值后即可獲得目前觸控狀態(tài)下兩 個不同觸壓點(diǎn)間的距離值。 圖6A及圖6B為方塊圖，顯示多點(diǎn)觸控檢測方法另一實(shí)施例的實(shí)施架構(gòu)。電阻式觸 控板10至少包含彼此具一 間隔的X透明導(dǎo)電層12及Y透明導(dǎo)電層14，該X透明導(dǎo)電層于 平行一Y軸方向上具有相對的一第一X側(cè)(Xa側(cè))12a及一第二X側(cè)(Xb側(cè))12b，且Y透明 導(dǎo)電層于平行一X軸方向上具有相對的一第一Y側(cè)(Ya側(cè))14a及一第二Y側(cè)(Yb側(cè))14b。 X透明導(dǎo)電層12及Y透明導(dǎo)電層14可視為可分別產(chǎn)生一第一軸向坐標(biāo)信號及一第二軸向 坐標(biāo)信號的平面電阻。 如圖6A所示，于本實(shí)施例中，電阻式觸控板10連接至一電源22以提供一感測電 壓Vdd至第一Y側(cè)14a，并將第二Y側(cè)14b接地，且一電壓測量單元26連接至第一X側(cè)12a 及第二 X側(cè)12b，電壓測量值可饋入微處理器18進(jìn)行分析。因此，由圖7A的等效電路可知， 第一 X側(cè)12a的端電壓Vxa及第二 X側(cè)12b的端電壓Vxb分別為
R7 Vxa = (Vdl — Vd2) x-+ Vd2
<formula>formula see original document page 8</formula>(R6 + R4) 因此，如圖7A右側(cè)所示，當(dāng)兩觸壓點(diǎn)T1、T2尚未旋轉(zhuǎn)時，因為此時電阻R5 = R7且電阻R4 = R6，故由式二可得出Vxa = Vxb。當(dāng)兩觸壓點(diǎn)T1、T2順時針旋轉(zhuǎn)至新觸壓點(diǎn)Tl'、 T2'位置時，因為此時電阻R5減小且電阻R7增大，故由式二可得出端電壓Vxa會增大，且此 時電阻R4增大且電阻R6減小，故由式二可得出端電壓Vxb會減小。因此可得知當(dāng)兩觸壓 點(diǎn)順時針旋轉(zhuǎn)時，端電壓Vxa會增大且端電壓Vxb會減??；反之當(dāng)兩觸壓點(diǎn)逆時針旋轉(zhuǎn)時， 端電壓Vxa會減小且端電壓Vxb會增大。圖6B的實(shí)施例和圖6A類似，差別僅在于X側(cè)與 Y側(cè)互換，圖7B為圖6B的實(shí)施例的等效電路圖，其端電壓Vya、 Vyb計算方式已于前述，故 于此不再贅述。因此，提高測量第一 Y側(cè)相對第二 Y側(cè)的阻抗分壓變化、或測量第一 X側(cè)相 對第二X側(cè)的阻抗分壓變化，可判別第一觸壓點(diǎn)連同第二觸壓點(diǎn)為順時針轉(zhuǎn)動或者逆時針 轉(zhuǎn)動。 再者，若以坐標(biāo)方位來看，以圖6A及圖7A為例，第一X側(cè)(Xa側(cè))端電壓值大于 第二X側(cè)(Xb側(cè))端電壓值，兩不同觸壓點(diǎn)如圖8A所示落入奇數(shù)坐標(biāo)象限(一、三象限) 區(qū)域，且當(dāng)?shù)谝籜側(cè)(Xa側(cè))端電壓值小于第二X側(cè)(Xb側(cè))端電壓值，兩不同觸壓點(diǎn)如圖 8B所示落入偶數(shù)坐標(biāo)象限(二、四象限)區(qū)域。以圖6B及7B為例，第一Y側(cè)(Ya側(cè))電壓 值大于第二Y側(cè)(Yb側(cè))電壓值，兩不同觸壓點(diǎn)如圖8A所示落入奇數(shù)坐標(biāo)象限區(qū)域，且當(dāng) 第一Y側(cè)(Ya側(cè))電壓值小于第二Y側(cè)(Yb側(cè))電壓值，兩不同觸壓點(diǎn)如圖8B所示落入偶 數(shù)坐標(biāo)象限區(qū)域。因此通過測量第一 X側(cè)及第二 X側(cè)的端電壓值、或第一 Y側(cè)及第二 Y側(cè) 的端電壓值，可得知兩觸壓點(diǎn)落入的坐標(biāo)象限位置。 因此，基于上述各個實(shí)施例的設(shè)計，通過測量電阻式觸控板X側(cè)與Y側(cè)的電流值、 或X側(cè)與Y側(cè)的電壓值，可判斷出目前觸控模式是否為多點(diǎn)觸控，且利用該簡易的電流及電 壓測量架構(gòu)，于兩點(diǎn)觸控模式下可獲得兩觸壓點(diǎn)的距離與位置關(guān)系，而獲知使用者目前的 觸控行為模式。因此，上述各個實(shí)施例的簡易測量架構(gòu)可提供一電阻式觸控板的多點(diǎn)觸控 功能。 圖9為本發(fā)明一實(shí)施例的多點(diǎn)觸控檢測方法流程圖，于一實(shí)施例中，該方法可包 含如下至少部分步驟
St印S10 :開始。 St印S20 :提供一感測電壓至第一X側(cè)并將一電流測量單元連接至第二X側(cè)、或提 供一感測電壓至第一 Y側(cè)并將一電流測量單元連接至第二 Y側(cè)。 St印S30 :將單點(diǎn)觸壓該電阻式觸控板時該電流測量單元所獲得的電流值預(yù)設(shè)為 一基準(zhǔn)電流值。 St印S40 :比較目前觸控狀態(tài)下電流測量單元測量得的一測量電流值與該基準(zhǔn)電 流值，當(dāng)測量電流值與基準(zhǔn)電流值相等時，目前觸控狀態(tài)即為單點(diǎn)觸控模式，且當(dāng)測量電流 值大于基準(zhǔn)電流值時，目前觸控狀態(tài)即為多點(diǎn)觸控模式。于多點(diǎn)觸控模式下，通過測量電流 的變化可獲得兩不同觸壓點(diǎn)于目前觸控狀態(tài)下的距離。 St印S50 :提供一感測電壓至第一 X側(cè)并將第二 X側(cè)接地且將一電壓測量單元連 接至第一 Y側(cè)及第二 Y側(cè)、或提供一感測電壓至第一 Y側(cè)并將第二 Y側(cè)接地且將一電壓測 量單元連接至第一 X側(cè)及第二 X側(cè)。 St印S60 :比較電壓測量單元所測得的第一X側(cè)電壓值與第二X側(cè)電壓值、或比較 電壓測量單元所測得的第一 Y側(cè)電壓值與第二 Y側(cè)電壓值，以判別兩不同觸壓點(diǎn)的相對位置。
St印S70 :結(jié)束。 以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，當(dāng)不能以此限定本發(fā)明實(shí)施的范圍，即 凡是依本發(fā)明申請專利范圍及發(fā)明說明內(nèi)容所作的簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發(fā)明 專利涵蓋的范圍內(nèi)。另外本發(fā)明的任一實(shí)施例或申請專利范圍不須達(dá)成本發(fā)明所揭露的全 部目的或優(yōu)點(diǎn)或特點(diǎn)。此外，摘要部分和標(biāo)題僅是用來輔助專利文件搜尋之用，并非用來限 制本發(fā)明的權(quán)利范圍。
權(quán)利要求
一種用于電阻式觸控板的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，該電阻式觸控板至少包含用以產(chǎn)生一第一軸向的坐標(biāo)信號的一第一平面電阻、及用以產(chǎn)生一第二軸向的坐標(biāo)信號的一第二平面電阻，該多點(diǎn)觸控檢測方法包含如下步驟測量流經(jīng)該第一平面電阻或該第二平面電阻的電流，通過該電流變化以判別目前觸控狀態(tài)為單點(diǎn)觸控模式或多點(diǎn)觸控模式及于多點(diǎn)觸控模式下的兩觸壓點(diǎn)距離；及于該多點(diǎn)觸控模式下施加電壓至該第一平面電阻并測量該第二平面電阻的端電壓、或施加電壓至該第二平面電阻并測量該第一平面電阻的端電壓以判別兩不同觸壓點(diǎn)的相對位置。
2. 如權(quán)利要求1所述的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，該電流測量步驟包含 將該第一平面電阻或該第二平面電阻相對的兩側(cè)分別連接至一電源及一電流測量單元；將單點(diǎn)觸壓該電阻式觸控板時該電流測量單元所獲得的電流值預(yù)設(shè)為一基準(zhǔn)電流值；及比較目前觸控狀態(tài)下該電流測量單元測量得的一測量電流值與該基準(zhǔn)電流值，其中當(dāng) 該測量電流值與該基準(zhǔn)電流值相等時，目前觸控狀態(tài)為該單點(diǎn)觸控模式，且當(dāng)該測量電流 值大于該基準(zhǔn)電流值時，目前觸控狀態(tài)為該多點(diǎn)觸控模式。
3. 如權(quán)利要求2所述的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，還包含如下步驟 于該多點(diǎn)觸控模式下，建立兩個不同觸壓點(diǎn)間的距離與該電流變化的對應(yīng)關(guān)系，以獲得目前觸控狀態(tài)下該兩個不同觸壓點(diǎn)的距離。
4. 如權(quán)利要求3所述的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，該兩個觸壓點(diǎn)的距離與流經(jīng) 該第一或該第二平面電阻的電流值具有一正比關(guān)系。
5. 如權(quán)利要求1所述的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，該端電壓測量步驟包含 將該第一平面電阻相對的兩側(cè)分別連接一電源及接地且將該第二平面電阻相對的兩側(cè)均連接至一電壓測量單元、或?qū)⒃摰诙矫骐娮柘鄬Φ膬蓚?cè)分別連接一電源及接地且將 該第一平面電阻相對的兩側(cè)均連接至一電壓測量單元；及比較該第一平面電阻的該兩側(cè)的個別電壓值、或比較該第二平面電阻的該兩側(cè)的個別 電壓值以判別兩不同觸壓點(diǎn)的相對位置。
6. 如權(quán)利要求5所述的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，該第一軸向連同該第二軸向 定義出不同坐標(biāo)象限區(qū)域，且該第一或該第二平面電阻的該兩側(cè)的個別電壓值決定該不同 觸壓點(diǎn)落入的坐標(biāo)象限區(qū)域。
7. 如權(quán)利要求1所述的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，該第一軸向與該第二軸向大 致垂直。
8. 如權(quán)利要求1所述的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，還包含將該些電流測量值及 該些電壓測量值傳送至一微處理器的步驟。
9. 一種用于電阻式觸控板的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，該電阻式觸控板至少包 含彼此具一間隔的X透明導(dǎo)電層及Y透明導(dǎo)電層，該X透明導(dǎo)電層于平行一 Y軸方向上具 有相對的一第一 X側(cè)及一第二 X側(cè)，且該Y透明導(dǎo)電層于平行一 X軸方向上具有相對的一 第一 Y側(cè)及一第二 Y側(cè)，該檢測方法包含如下步驟提供一感測電壓至該第一 X側(cè)并將一電流測量單元連接至該第二 X側(cè)、或提供一感測電壓至該第一 Y側(cè)并將一電流測量單元連接至該第二 Y側(cè)；將單點(diǎn)觸壓該電阻式觸控板時該電流測量單元所獲得的電流值預(yù)設(shè)為一基準(zhǔn)電流值；及比較目前觸控狀態(tài)下該電流測量單元測量得的一測量電流值與該基準(zhǔn)電流值，其中當(dāng) 該測量電流值與該基準(zhǔn)電流值相等時，目前觸控狀態(tài)為該單點(diǎn)觸控模式，且當(dāng)該測量電流 值大于該基準(zhǔn)電流值時，目前觸控狀態(tài)為該多點(diǎn)觸控模式。
10. 如權(quán)利要求9所述的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，還包含如下步驟 于該多點(diǎn)觸控模式下，建立兩個不同觸壓點(diǎn)間的距離與該電流變化的對應(yīng)關(guān)系，以獲得目前觸控狀態(tài)下該兩個不同觸壓點(diǎn)的距離。
11. 如權(quán)利要求io所述的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，該兩個觸壓點(diǎn)的距離與流經(jīng)該第一或該第二平面電阻的電流值具有一正比關(guān)系。
12. —種用于電阻式觸控板的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，該電阻式觸控板至少包 含彼此具一間隔的X透明導(dǎo)電層及Y透明導(dǎo)電層，該X透明導(dǎo)電層于平行一 Y軸方向上具 有相對的一第一 X側(cè)及一第二 X側(cè)，且該Y透明導(dǎo)電層于平行一 X軸方向上具有相對的一 第一 Y側(cè)及一第二 Y側(cè)，該檢測方法包含如下步驟提供一感測電壓至該第一 X側(cè)并將該第二 X側(cè)接地且將一 電壓測量單元連接至該第一 Y側(cè)及第二 Y側(cè)、或提供一感測電壓至該第一 Y側(cè)并將該第二 Y側(cè)接地且將一 電壓測量單元 連接至該第一 X側(cè)及第二 X側(cè)；及比較該電壓測量單元所測得的該第一X側(cè)電壓值與該第二X側(cè)電壓值、或比較該電壓 測量單元所測得的該第一 Y側(cè)電壓值與該第二 Y側(cè)電壓值，以判別兩不同觸壓點(diǎn)的相對位 置。
13. 如權(quán)利要求12所述的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，當(dāng)該第一X側(cè)電壓值大于該 第二 X側(cè)電壓值或該第一 Y側(cè)電壓值大于該第二 Y側(cè)電壓值時，該兩不同觸壓點(diǎn)落入第一 坐標(biāo)區(qū)域，且當(dāng)該第一 X側(cè)電壓值小于該第二 X側(cè)電壓值或該第一 Y側(cè)電壓值小于該第二 Y側(cè)電壓值時，該兩不同觸壓點(diǎn)落入第二坐標(biāo)區(qū)域，且該第一坐標(biāo)區(qū)域與該第二坐標(biāo)區(qū)域不 同。
14. 一種用于電阻式觸控板的多點(diǎn)觸控檢測方法，其特征在于，該電阻式觸控板至少包 含彼此具一間隔的X透明導(dǎo)電層及Y透明導(dǎo)電層，該X透明導(dǎo)電層于平行一Y軸方向上具 有相對的一第一 X側(cè)及一第二 X側(cè)，且該Y透明導(dǎo)電層于平行一 X軸方向上具有相對的一 第一 Y側(cè)及一第二 Y側(cè)，該檢測方法包含如下步驟將該第一 X側(cè)連接至一電源并將該第二 X側(cè)接地且將一電壓測量單元連接至該第一 Y 側(cè)及第二 Y側(cè)、或者將該第一 Y側(cè)連接至一電源并將該第二 Y側(cè)接地且將一電壓測量單元 連接至該第一 X側(cè)及第二 X側(cè)，其中當(dāng)該觸控狀態(tài)為兩點(diǎn)觸控模式并具有一第一觸壓點(diǎn)與 一第二觸壓點(diǎn)，且該第一及該第二觸壓點(diǎn)的X軸坐標(biāo)或者Y軸坐標(biāo)相同時，該第一觸壓點(diǎn)與 該第二觸壓點(diǎn)間形成一第一阻抗，該第一觸壓點(diǎn)與該電源間形成一第二阻抗、該第二觸壓 點(diǎn)與該接地端形成一第三阻抗、該第一觸壓點(diǎn)與該第一 X側(cè)或該第一 Y側(cè)間形成一第四阻 抗、該第一觸壓點(diǎn)與該第二 X側(cè)或該第二 Y側(cè)間形成一第五阻抗、該第二觸壓點(diǎn)與該第一 X 側(cè)或該第一 Y側(cè)間形成一第六阻抗、且該第二觸壓點(diǎn)與該第二 X側(cè)或該第二 Y側(cè)間形成一 第七阻抗；及測量該第一 Y側(cè)相對該第二 Y側(cè)的阻抗分壓變化、或測量該第一 X側(cè)相對該第二 X側(cè) 的阻抗分壓變化，用以判別該第一觸壓點(diǎn)連同該第二觸壓點(diǎn)順時針轉(zhuǎn)動或者逆時針轉(zhuǎn)動。
全文摘要
本發(fā)明是一種電阻式觸控板的多點(diǎn)觸控檢測方法，包含如下步驟測量流經(jīng)一第一平面電阻或一第二平面電阻的電流，通過該電流變化以判別目前觸控狀態(tài)為單點(diǎn)觸控模式或多點(diǎn)觸控模式及于多點(diǎn)觸控模式下的兩觸壓點(diǎn)距離，且于多點(diǎn)觸控模式下施加電壓至第一平面電阻并測量第二平面電阻的端電壓、或施加電壓至第二平面電阻并測量第一平面電阻的端電壓以判別兩不同觸壓點(diǎn)的相對位置。
文檔編號G06F3/045GK101702110SQ200910225609
公開日2010年5月5日 申請日期2009年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月25日
發(fā)明者李元聘, 胡嘉和 申請人:松翰科技股份有限公司