專利名稱：系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種系統(tǒng)管理總線(System Management Bus, SMBus)的測(cè)試方式，特 別是關(guān)于一種存取SMBus裝置的SMBus的測(cè)試方式。
背景技術(shù)：
測(cè)試工作一直在產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中占了一個(gè)很重要的部分。由于在生產(chǎn)過程中， 很有可能因?yàn)橐恍┎惶囟ㄒ蛩貙?dǎo)致生產(chǎn)出有瑕疵的產(chǎn)品，因此生產(chǎn)完成的產(chǎn)品均需要經(jīng)過 測(cè)試才能出貨或上市。若沒有經(jīng)過品管人員的測(cè)試，具有瑕疵的產(chǎn)品最終會(huì)在瑕疵仍未被 察覺的情況下被運(yùn)送至市面上去販賣。當(dāng)使用者購(gòu)買到這些有問題的產(chǎn)品時(shí)，不僅會(huì)造成 使用者的不變，對(duì)生產(chǎn)公司的形象也會(huì)大打折扣。而對(duì)于服務(wù)器或筆記本計(jì)算機(jī)等計(jì)算器系統(tǒng)產(chǎn)品而言，最重要的部分就是中央處 理器(Central Processing Unit, CPU)以及將計(jì)算器系統(tǒng)內(nèi)其它接口設(shè)備提供給中央處 理器的北橋芯片與南橋芯片。其中，南橋芯片能使中央處理器通過系統(tǒng)管理總線(System Management Bus, SMBus)，對(duì)大多數(shù)的接口設(shè)備接口、多媒體控制器和通訊接口進(jìn)行存取。 換句話說(shuō)，若是SMBus本身有瑕疵，會(huì)對(duì)整個(gè)計(jì)算器系統(tǒng)造成非常大的影響。雖然SMBus應(yīng)被列為計(jì)算器系統(tǒng)中相當(dāng)重要的測(cè)試項(xiàng)目之一，但針對(duì)SMBus的測(cè) 試卻具有一些難處。由于SMBus為南橋芯片的內(nèi)部總線，故無(wú)法用外部的夾具對(duì)SMBus進(jìn) 行檢測(cè)。這也造成難以由外部得知SMBus的運(yùn)作狀況，進(jìn)而造成測(cè)試時(shí)難以判斷SMBus運(yùn) 作是否正常的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種系統(tǒng)管理總線(System Management Bus, SMBus)的測(cè)試方法，以自動(dòng)提供適當(dāng)?shù)牟僮飨到y(tǒng)核心給具有不同硬件規(guī)格或型號(hào)等硬件信 息的計(jì)算器，而不需以人工選擇的方式選擇需要的操作系統(tǒng)核心。為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，適用于測(cè)試 一主機(jī)板的一系統(tǒng)管理總線，其中該系統(tǒng)管理總線以一測(cè)試時(shí)脈頻率運(yùn)行，該測(cè)試方法包 括以該測(cè)試時(shí)脈頻率，寫入一測(cè)試數(shù)據(jù)于一系統(tǒng)管理總線裝置；由該系統(tǒng)管理總線裝置 讀取該測(cè)試數(shù)據(jù)；比較原始的該測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取的該測(cè)試數(shù)據(jù)，以獲得一測(cè)試結(jié)果；修改 該測(cè)試時(shí)脈頻率；以及，以修改過的該測(cè)試時(shí)脈頻率重新執(zhí)行該測(cè)試方法。上述系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特點(diǎn)在于，包括讀取該系統(tǒng)管理總線的一狀態(tài) 緩存器，以獲得一測(cè)試狀態(tài)。上述系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特點(diǎn)在于，以該測(cè)試時(shí)脈頻率寫入該測(cè)試數(shù)據(jù) 于該系統(tǒng)管理總線裝置的步驟是在一寫入時(shí)間內(nèi)持續(xù)寫入該測(cè)試數(shù)據(jù)。上述系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特點(diǎn)在于，該測(cè)試數(shù)據(jù)包括一寫入數(shù)據(jù)。上述系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特點(diǎn)在于，該測(cè)試數(shù)據(jù)包括多個(gè)寫入數(shù)據(jù)。上述系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特點(diǎn)在于，在該以該測(cè)試時(shí)脈頻率寫入該測(cè)試數(shù)據(jù)于該系統(tǒng)管理總線裝置的步驟之后，且在該由該系統(tǒng)管理總線裝置讀取該測(cè)試數(shù)據(jù)的 步驟之前，還包括等待一間隔時(shí)間。上述系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特點(diǎn)在于，該測(cè)試數(shù)據(jù)包括多個(gè)寫入數(shù)據(jù)。上述系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特點(diǎn)在于，該系統(tǒng)管理總線裝置為一串行存在 檢測(cè)或是一內(nèi)存。綜上所述，根據(jù)本發(fā)明提供之自動(dòng)安裝操作系統(tǒng)的方法，其藉由儲(chǔ)存媒體提供多 個(gè)操作系統(tǒng)核心以及硬件核心對(duì)照表，并自動(dòng)偵測(cè)需安裝操作系統(tǒng)之計(jì)算器的硬件信息， 再依據(jù)硬件信息查對(duì)照表以得到合適的操作系統(tǒng)核心，為計(jì)算器安裝操作系統(tǒng)。如此一來(lái)， 可自動(dòng)提供適當(dāng)?shù)牟僮飨到y(tǒng)核心給具有不同硬件規(guī)格或型號(hào)等硬件信息的計(jì)算器，而不需 以人工選擇的方式選擇需要的操作系統(tǒng)核心。以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對(duì)本發(fā)明的限定。


圖1為本發(fā)明一實(shí)施范例的主機(jī)板的方塊示意圖；圖2為本發(fā)明一實(shí)施范例的SMBus的測(cè)試方法的流程示意圖；圖3為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施范例的SMBus的測(cè)試方法的流程示意圖； 圖4為根據(jù)本發(fā)明又一實(shí)施范例的SMBus的測(cè)試方法的流程示意圖；以及圖5為根據(jù)本發(fā)明又一實(shí)施范例的SMBus的測(cè)試方法的流程示意圖。其中，附圖標(biāo)記20主機(jī)板22南橋芯片24SMBus26、26a、26b SMBus 裝置
具體實(shí)施例方式以下在實(shí)施方式中詳細(xì)敘述本發(fā)明的詳細(xì)特征以及優(yōu)點(diǎn)，其內(nèi)容足以使本領(lǐng)域的 普通技術(shù)人員了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，且根據(jù)本說(shuō)明書所揭露的內(nèi)容、權(quán)利要 求范圍及附圖，任何本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可輕易地理解本發(fā)明相關(guān)的目的及優(yōu)點(diǎn)。本發(fā)明提供一種系統(tǒng)管理總線(System Management Bus, SMBus)的測(cè)試方法，其 適用于測(cè)試一主機(jī)板的一 SMBus，其中SMBus是以一測(cè)試時(shí)脈頻率運(yùn)行。請(qǐng)參考圖1，其為本發(fā)明一實(shí)施范例的主機(jī)板的方塊示意圖。如圖1所示，主機(jī) 板20上具有一南橋芯片22，并有通過SMBus 24與南橋芯片22電性相連的多個(gè)SMBus裝 置26。其中主機(jī)板20可被配置于任何的計(jì)算器系統(tǒng)中，例如個(gè)人計(jì)算機(jī)、服務(wù)器或是筆記 本計(jì)算機(jī)。且主機(jī)板20上另可配置有與南橋芯片22電性相連的一中央處理器(Central Processing Unit，CPU，未圖示)以及一基本輸入輸出系統(tǒng)(Basic Input/Output System, BIOS)。中央處理器可通過南橋芯片22以及SMBus對(duì)主機(jī)板20上的SMBus裝置26a或 SMBus裝置26b等多個(gè)SMBus裝置26下達(dá)命令。南橋芯片22包含大多數(shù)接口設(shè)備接口、多 媒體控制器和通訊接口功能。例如南橋芯片22可電性相連于周邊組件互連(PeripheralComponent Interconnect, PCI)控制器、先進(jìn)技術(shù)附件(Advanced Technology Attachment, ATA)控制器、通用序列總線(Universal Serial Bus, USB)控制器、網(wǎng)絡(luò)控制 器或音效控制器。舉例而言，南橋芯片22可以是英特爾公司(Intel)所生產(chǎn)的ICH9芯片。而SMBus 24 是源自于內(nèi)部整合電路(Inter-Integrated Circuit, I2C)總線， 是一種用于芯片內(nèi)部的總線。SMBus 24的規(guī)范是由Intel于1995所定義的由兩條信號(hào) 所組成的總線，且SMBus 24包含有一條頻率信號(hào)線(SMBCLK)以及一條雙向的數(shù)據(jù)信號(hào)線 (SMBDATA)。SMBus 24是以一測(cè)試時(shí)脈頻率運(yùn)行，且測(cè)試時(shí)脈頻率可在IOOkHz (千赫茲)到 IMHz (百萬(wàn)赫茲)的范圍之間。SMBus裝置26為速度較慢的周邊裝置或電源管理裝置，且SMBus裝置26通過 SMBus 24與中央處理器進(jìn)行溝通。BIOS也能通過SMBus 24取得SMBus裝置26的相關(guān)信 息，如制造廠商、型號(hào)、控制信息、錯(cuò)誤信息或是狀態(tài)等等。舉例而言，SMBus裝置26可以是 一串行存在檢測(cè)(Serial Presence Detect, SPD)或是一內(nèi)存。SPD 為一電子可擦拭內(nèi)存(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPR0M)，被配置于內(nèi)存上。SPD主要是用以協(xié)助一北橋芯片調(diào)整內(nèi)存的物理參數(shù)或 頻率參數(shù)。而SPD內(nèi)部存有內(nèi)存相關(guān)的信息，例如內(nèi)存運(yùn)作所需的電壓、行/列地址數(shù)量、 或是各種主要操作頻率。這些信息均能通過SMBus 24被BIOS讀取或修改。SMBus 裝置 26 也可為一基板管理控制器(Baseboard Management Controller, BMC)。BMC為用以管理服務(wù)器的智能平臺(tái)管理接口(Intelligent Platform Management Interface, IPMI)的核心控制器，被配置于服務(wù)器的主機(jī)板20。IPMI通過BMC管理各個(gè) 服務(wù)器，且現(xiàn)今一般用于服務(wù)器的主機(jī)板20均可支持BMC。此外，SMBus裝置26另可為主 機(jī)板20上的一反對(duì)稱彎曲傳感器(antisymmetric flexural sensor)或是一舊有傳感器 (legacy sensor)。本發(fā)明提供的SMBus的測(cè)試方法是利用待測(cè)的主機(jī)板20原本就具有的SMBus裝 置26對(duì)SMBus 24進(jìn)行測(cè)試；故測(cè)試方法不需額外連接外部夾具即可執(zhí)行。接下來(lái)介紹 SMBus的測(cè)試方法的多個(gè)實(shí)施范例，以解釋利用原有的SMBus裝置26對(duì)SMBus 24進(jìn)行測(cè)試 的步驟。請(qǐng)參照?qǐng)D2，其為本發(fā)明一實(shí)施范例的SMBus的測(cè)試方法的流程示意圖。由圖2可 知，SMBus的測(cè)試方法可包括步驟S40 以測(cè)試時(shí)脈頻率寫入一測(cè)試數(shù)據(jù)于SMBus裝置；步 驟S50 由SMBus裝置讀取測(cè)試數(shù)據(jù)；步驟S60 比較原始的測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取的測(cè)試數(shù)據(jù)，以 獲得一測(cè)試結(jié)果；以及步驟S80 修改測(cè)試時(shí)脈頻率。于步驟S40，測(cè)試方法以測(cè)試時(shí)脈頻率將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入一個(gè)SMBus裝置26。首先 為了得到SMBus 24的一 SMBus控制器的基地址(base address)，可查詢周邊組件互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn) 總線(Peripheral Component Interconnect bus, PCI bus)白勺配置空|、司(configuration space)。接著配合查詢南橋芯片22的數(shù)據(jù)窗體(data sheet)遍歷PCI，以得到所有連接在 SMBus 24上的裝置(也就是SMBus裝置26)。再向SMBus控制器指定欲寫入的SMBus裝置 26所對(duì)應(yīng)的偏移地址(offset address)，即可利用基地址與偏移地址對(duì)特定的SMBus裝置 26進(jìn)行存取。將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入SMBus裝置26時(shí)，可將主機(jī)板20的一主機(jī)板頻率作為測(cè)試時(shí)脈頻率，也可指定與主機(jī)板頻率不同的頻率給SMBCLK作為測(cè)試時(shí)脈頻率。而測(cè)試數(shù)據(jù)可為一寫入數(shù)據(jù)，或是多個(gè)寫入數(shù)據(jù)。一個(gè)寫入數(shù)據(jù)可為長(zhǎng)度是1字節(jié)(byte)或是1字組(word) 的數(shù)據(jù)。然不同的SMBus裝置26具有不同大小的空間可供測(cè)試方法使用。若欲以多個(gè)寫 入數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)試，則需以具有足夠的內(nèi)部?jī)?chǔ)存空間的SMBus裝置26方可適任。如上所述，SMBus裝置26為主機(jī)板20原有的裝置。盡管可能同時(shí)有多個(gè)SMBus裝 置26，但挑選具有較大儲(chǔ)存空間或是內(nèi)部數(shù)據(jù)不需要常被存取的SMBus裝置26為佳。需 注意的是，在對(duì)SMBus裝置26寫入數(shù)據(jù)之前應(yīng)通過規(guī)格書等了解各裝置中欲寫入測(cè)試數(shù)據(jù) 的儲(chǔ)存空間或緩存器的涵義，不可任意修改，以免造成計(jì)算器系統(tǒng)運(yùn)作異常。舉例而言，SPD 內(nèi)部的地址為0或是256處，或是BMC內(nèi)部的地址為0或是256處均可作為寫入空間且適 用于步驟S40。然而可作為寫入空間的詳細(xì)的物理地址是依SMBus裝置26而有所不同，進(jìn) 行測(cè)試 前需查詢SMBus裝置26對(duì)應(yīng)的規(guī)格書，才能確保測(cè)試不會(huì)造成計(jì)算器的運(yùn)作異常。將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入SMBus裝置26之后，測(cè)試方法于步驟S50讀取剛寫入的測(cè)試數(shù) 據(jù)。測(cè)試方法可利用在步驟S40得到的此SMBus裝置26的基地址以及偏移地址，由方才寫 入的位置中讀取出測(cè)試數(shù)據(jù)。最后測(cè)試方法于步驟S60將原始的測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取出的測(cè)試 數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，并獲得測(cè)試結(jié)果。若由SMBus裝置26讀出的測(cè)試數(shù)據(jù)與原始的測(cè)試數(shù)據(jù)相 同，則表示于步驟S40與S50中有成功地通過SMBus 24對(duì)SMBus裝置26存取測(cè)試數(shù)據(jù)。也 就是說(shuō)，如此一來(lái)，即可得知SMBus 24運(yùn)作正常。以步驟S40至步驟S70完成一次的測(cè)試之后，測(cè)試方法更可于步驟S80修改測(cè)試 時(shí)脈頻率，再以新的測(cè)試時(shí)脈頻率重復(fù)進(jìn)行測(cè)試。也就是說(shuō)，SMBus的測(cè)試方法可將測(cè)試時(shí) 脈頻率在IOOkHZ至IMHZ的范圍內(nèi)重新調(diào)整再進(jìn)行測(cè)試，以確保SMBus 24能再各種時(shí)脈頻 率下正確地運(yùn)作。接下來(lái)請(qǐng)參照?qǐng)D3，其為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施范例的SMBus的測(cè)試方法的流程示 意圖。由圖3可知，SMBus的測(cè)試方法可包括步驟S45 以測(cè)試時(shí)脈頻率在一寫入時(shí)間內(nèi)持 續(xù)寫入測(cè)試數(shù)據(jù)于SMBus裝置；步驟S50 由SMBus裝置讀取測(cè)試數(shù)據(jù)；步驟S60 比較原 始的測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取的測(cè)試數(shù)據(jù)，以獲得一測(cè)試結(jié)果；步驟S70 讀取SMBus的狀態(tài)緩存器 (status register)，以獲得一測(cè)試狀態(tài)；以及步驟S80 修改測(cè)試時(shí)脈頻率。步驟S45與步驟S40的差異在于步驟S45是在寫入時(shí)間內(nèi)，持續(xù)向SMBus裝置26 寫入測(cè)試數(shù)據(jù)。寫入時(shí)間可以例如是5秒或是10秒。需注意的是，用以進(jìn)行測(cè)試的SMBus 裝置26需具有足夠的內(nèi)部?jī)?chǔ)存空間以儲(chǔ)存持續(xù)寫入的測(cè)試數(shù)據(jù)。此外，也可將測(cè)試數(shù)據(jù)分 為多個(gè)部分，而在寫入時(shí)間內(nèi)逐一寫入不同的SMBus裝置26。于步驟S50再依寫入順序讀 出測(cè)試數(shù)據(jù)，以供步驟S60比較。通過持續(xù)以SMBus 24將寫入測(cè)試數(shù)據(jù)的方法，可以測(cè)試 出SMBus 24是否能在一定時(shí)間內(nèi)持續(xù)正確地傳輸數(shù)據(jù)。步驟S50也持續(xù)地將測(cè)試數(shù)據(jù)讀出后，于步驟S60比較原始的測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取出 的測(cè)試數(shù)據(jù)，并得到測(cè)試結(jié)果。更佳的是，SMBus的測(cè)試方法還包括步驟S70，讀取SMBus 24的狀態(tài)緩存器，以獲得測(cè)試狀態(tài)。SMBus 24的狀態(tài)緩存器可被配置于南橋芯片22之中， 而測(cè)試狀態(tài)可為SMBus 24的運(yùn)作狀態(tài)。測(cè)試狀態(tài)可表示例如SMBus 24是否處于忙碌的狀 態(tài)，或是SMBus控制器的緩存器是否發(fā)生錯(cuò)誤。以Intel的ICH9芯片為例，狀態(tài)緩存器的0X01位表示host_busy ；0x04位表示 devce_error ；OX08 表不 smbus error register ；OX 10 表不 hostcontroller register error。
因此，通過讀取SMBus 24的狀態(tài)緩存器，測(cè)試方法不需任何外部的檢測(cè)器或夾 具，便可以準(zhǔn)確且完整地掌控SMBus 24的狀況。而為了掌控SMBus 24的狀況，無(wú)論于步驟 S60得到的 測(cè)試結(jié)果是否正確，測(cè)試方法都可執(zhí)行步驟S70。且測(cè)試方法也可于步驟S80修 改測(cè)試時(shí)脈頻率，再以新的測(cè)試時(shí)脈頻率重復(fù)進(jìn)行測(cè)試。請(qǐng)參照?qǐng)D4，其為根據(jù)本發(fā)明又一實(shí)施范例的SMBus的測(cè)試方法的流程示意圖。 由圖4可知，SMBus的測(cè)試方法可包括步驟S40 以測(cè)試時(shí)脈頻率寫入測(cè)試數(shù)據(jù)于SMBus裝 置；步驟S50 由SMBus裝置讀取測(cè)試數(shù)據(jù)；步驟S55 等待一間隔時(shí)間；步驟S60 比較原 始的測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取的測(cè)試數(shù)據(jù)，以獲得一測(cè)試結(jié)果；步驟S70 讀取SMBus的狀態(tài)緩存器 (status register)，以獲得測(cè)試狀態(tài)；步驟S80 修改測(cè)試時(shí)脈頻率。本實(shí)施例與圖3的實(shí)施范例的差異在于步驟S55，于SMBus寫入數(shù)據(jù)后，測(cè)試方 法等待一段間隔時(shí)間，再讀取寫入的測(cè)試數(shù)據(jù)。間隔時(shí)間可以例如是10毫秒(ms)，且在間 隔時(shí)間中，SMBus 24的使用權(quán)可以交予測(cè)試方法以外的程序。如此一來(lái)，便可以在非連續(xù) 使用SMBus 24存取的狀況下，測(cè)試SMBus 24是否能正常運(yùn)作。測(cè)試方法的步驟S55并可 與步驟S45搭配使用；且如上所述，測(cè)試數(shù)據(jù)可以是一個(gè)或是多個(gè)寫入數(shù)據(jù)，以靈活測(cè)試所 需項(xiàng)目。接著請(qǐng)參照?qǐng)D5，其為本發(fā)明又一實(shí)施范例的SMBus的測(cè)試方法的流程示意圖。由 圖5可知，SMBus的測(cè)試方法可包括步驟S40 以測(cè)試時(shí)脈頻率寫入測(cè)試數(shù)據(jù)于SMBus裝置； 步驟S50 由SMBus裝置讀取測(cè)試數(shù)據(jù)；步驟S60 比較原始的測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取的測(cè)試數(shù)據(jù)， 以獲得一測(cè)試結(jié)果；步驟S70 讀取SMBus的狀態(tài)緩存器(status register)，以獲得測(cè)試狀 態(tài)；以及步驟S80 修改測(cè)試時(shí)脈頻率。以步驟S40至步驟S70完成一次的測(cè)試之后，測(cè)試方法于步驟S80修改測(cè)試時(shí)脈 頻率，再以新的測(cè)試時(shí)脈頻率重復(fù)進(jìn)行測(cè)試。如此一來(lái)，測(cè)試方法可得到更高的正確性。綜上所述，本發(fā)明提供的SMBus的測(cè)試方法通過待測(cè)的SMBus在主機(jī)板上原有的 SMBus裝置寫入測(cè)試數(shù)據(jù)，再?gòu)腟MBus裝置中讀取測(cè)試數(shù)據(jù)并比較得到測(cè)試結(jié)果。借著巧 妙地借用原有SMBus裝置，測(cè)試方法不需使用外部夾具也不需加裝檢測(cè)器便可對(duì)內(nèi)部總線 的SMBus進(jìn)行測(cè)試。且根據(jù)狀態(tài)緩存器的內(nèi)容，足以充分地判斷測(cè)試過程中發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的 內(nèi)容并據(jù)以推測(cè)錯(cuò)誤原因。當(dāng)然，本發(fā)明還可有其他多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟 悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形 都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，適用于測(cè)試一主機(jī)板的一系統(tǒng)管理總線，其中該系 統(tǒng)管理總線以一測(cè)試時(shí)脈頻率運(yùn)行，該測(cè)試方法包括以該測(cè)試時(shí)脈頻率，寫入一測(cè)試數(shù)據(jù)于一系統(tǒng)管理總線裝置；由該系統(tǒng)管理總線裝置讀取該測(cè)試數(shù)據(jù)；比較原始的該測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取的該測(cè)試數(shù)據(jù)，以獲得一測(cè)試結(jié)果；修改該測(cè)試時(shí)脈頻率；以及以修改過的該測(cè)試時(shí)脈頻率重新執(zhí)行該測(cè)試方法。
2.根據(jù)權(quán)利要求1項(xiàng)所述的系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特征在于，包括讀取該系統(tǒng)管理總線的一狀態(tài)緩存器，以獲得一測(cè)試狀態(tài)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特征在于，以該測(cè)試時(shí)脈頻率 寫入該測(cè)試數(shù)據(jù)于該系統(tǒng)管理總線裝置的步驟是在一寫入時(shí)間內(nèi)持續(xù)寫入該測(cè)試數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特征在于，該測(cè)試數(shù)據(jù)包括一 寫入數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特征在于，該測(cè)試數(shù)據(jù)包括多 個(gè)寫入數(shù)據(jù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特征在于，在該以該測(cè)試時(shí)脈 頻率寫入該測(cè)試數(shù)據(jù)于該系統(tǒng)管理總線裝置的步驟之后，且在該由該系統(tǒng)管理總線裝置讀 取該測(cè)試數(shù)據(jù)的步驟之前，還包括等待一間隔時(shí)間。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特征在于，該測(cè)試數(shù)據(jù)包括多 個(gè)寫入數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，其特征在于，該系統(tǒng)管理總線裝 置為一串行存在檢測(cè)或是一內(nèi)存。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種系統(tǒng)管理總線的測(cè)試方法，適用于測(cè)試一主機(jī)板的一系統(tǒng)管理總線，其中該系統(tǒng)管理總線以一測(cè)試時(shí)脈頻率運(yùn)行，該測(cè)試方法包括以該測(cè)試時(shí)脈頻率，寫入一測(cè)試數(shù)據(jù)于一系統(tǒng)管理總線裝置；由該系統(tǒng)管理總線裝置讀取該測(cè)試數(shù)據(jù)；比較原始的該測(cè)試數(shù)據(jù)與讀取的該測(cè)試數(shù)據(jù)，以獲得一測(cè)試結(jié)果；修改該測(cè)試時(shí)脈頻率；以及，以修改過的該測(cè)試時(shí)脈頻率重新執(zhí)行該測(cè)試方法。
文檔編號(hào)G06F11/267GK102073568SQ20091022613
公開日2011年5月25日 申請(qǐng)日期2009年11月20日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月20日
發(fā)明者丁懷亮, 陳玄同, 陳鎮(zhèn) 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司