專利名稱：電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及對處理機(jī)密數(shù)據(jù)的電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸進(jìn)行檢測的不正當(dāng)拆 卸檢測方法。
背景技術(shù)：
在讀卡器等電子設(shè)備裝置中，將機(jī)密數(shù)據(jù)(例如，用于加密處理的密鑰數(shù)據(jù))存 儲于利用二次電源進(jìn)行備份的易失性存儲器，每次根據(jù)需要，從易失性存儲器讀取機(jī)密 數(shù)據(jù)至工作用存儲器，從而進(jìn)行各種處理。由于機(jī)密數(shù)據(jù)是在執(zhí)行各種處理時(shí)所需要的 數(shù)據(jù)，因此，通常對其進(jìn)行存儲而不使其丟失。然而，當(dāng)檢測到電子設(shè)備裝置的不正當(dāng) 拆卸等任何異常時(shí)，將會切斷由二次電源及主電源對易失性存儲器的電源供應(yīng)，從而消 去其中的機(jī)密數(shù)據(jù)。這里，這樣的讀卡器等電子設(shè)備裝置安裝于由使用者進(jìn)行操作的使用者操作終 端機(jī)、例如加油站的終端等的殼體上。有時(shí)，對設(shè)置于市場的電子設(shè)備裝置進(jìn)行保養(yǎng)、 維修的維修工作人員必須將該電子設(shè)備裝置從所述使用者操作終端機(jī)的殼體上拆卸下 來。因此，通常裝載有使拆卸檢測無效的功能，以防止機(jī)密數(shù)據(jù)被不必要地消去。當(dāng)進(jìn) 行完保養(yǎng)、維修后，再將電子設(shè)備裝置安裝到所述使用者操作終端機(jī)的殼體上，然后， 使拆卸檢測有效。例如，在專利文獻(xiàn)1所揭示的門禁管理系統(tǒng)中，若檢測到讀卡器被不正當(dāng)?shù)夭?卸，則存儲在讀卡器內(nèi)的密鑰將被消去。然而，如上所述，考慮到便于維護(hù)，在讀卡器 的上位裝置上設(shè)置有維護(hù)開關(guān)。具有在接通該維護(hù)開關(guān)期間，密鑰不會被消去的結(jié)構(gòu)。此外，這里雖然著眼于維護(hù)時(shí)的拆卸檢測的無效化、有效化，但是，即使是在 將電子設(shè)備裝置設(shè)置于市場前的生產(chǎn)工序中，在上述的被從使用者操作終端機(jī)的殼體上 拆卸下來的狀態(tài)下，為了不使機(jī)密數(shù)據(jù)被消去，也可以利用拆卸檢測的無效化、有效 化。專利文獻(xiàn)1 日本專利特開2005-148969號公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
然而，上述專利文獻(xiàn)1所揭示的維護(hù)開關(guān)有時(shí)在保養(yǎng)、維修等時(shí)缺乏操作性。 具體而言，在電子設(shè)備裝置未被正常地設(shè)置于如上所述的使用者操作終端機(jī)的殼體上的 狀態(tài)下，在維修工作人員不慎使拆卸檢測功能有效的情況下，會立即檢測到拆卸動作， 從而消去機(jī)密數(shù)據(jù)。消去機(jī)密數(shù)據(jù)是致命的錯(cuò)誤之一，多數(shù)情況下，之后將處于無法繼 續(xù)進(jìn)行正常動作的狀態(tài)。若處于這樣的狀態(tài)，則由于安全問題，無法當(dāng)場立即進(jìn)行修 復(fù)。其結(jié)果是，必須到處于能確保安全的環(huán)境下時(shí)才能恢復(fù)電子設(shè)備裝置，因此缺乏操 作性。本發(fā)明鑒于上述問題點(diǎn)而完成，其目的在于，提供一種能防止因維修工作人員 的人為錯(cuò)誤等而導(dǎo)致機(jī)密數(shù)據(jù)被消去，進(jìn)而能在保養(yǎng)、維修等時(shí)提高操作性的電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法。為了解決上述問題，本發(fā)明提供以下方法。(1) 一種電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法，該電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢 測方法接收來自上位裝置的指令，根據(jù)該指令執(zhí)行處理，所述電子設(shè)備裝置包括第一 存儲器，該第一存儲器中存儲有包含機(jī)密數(shù)據(jù)的電子信息；檢測單元，該檢測單元對該 電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸進(jìn)行檢查；電源控制單元，該電源控制單元基于來自所述檢 測單元的信號，切斷對所述第一存儲器的電源供應(yīng)；以及第二存儲器，該第二存儲器相 對于所述第一存儲器另外獨(dú)立，即使通過所述電源控制單元切斷電源供應(yīng)，所存儲的數(shù) 據(jù)也不會被消去，在將存儲于所述第一存儲器中的所述機(jī)密數(shù)據(jù)復(fù)制到所述第二存儲器 中后，使所述檢測單元有效。根據(jù)本發(fā)明，在包括以下部分的電子設(shè)備裝置中，即第一存儲器，該第一存 儲器中存儲有包含機(jī)密數(shù)據(jù)的電子信息；檢測單元，該檢測單元對該電子設(shè)備裝置的不 正當(dāng)拆卸進(jìn)行檢測；電源控制單元，該電源控制單元基于來自所述檢測單元的信號，切 斷對所述第一存儲器的電源供應(yīng)；以及第二存儲器，該第二存儲器相對于所述第一存 儲器另外獨(dú)立，即使所述通過所述電源控制單元切斷電源供應(yīng)，所存儲數(shù)據(jù)也不會被消 去，由于在將存儲于所述第一存儲器中的所述機(jī)密數(shù)據(jù)復(fù)制到所述第二存儲器中后，使 所述檢測單元有效，因此，即使假設(shè)在未將電子設(shè)備裝置正常地設(shè)置于如上所述的使用 者操作終端機(jī)的殼體上的狀態(tài)下使檢測單元有效，因?yàn)榇嬖诒粡?fù)制到第二存儲器中的機(jī) 密數(shù)據(jù)，所以只要利用這些數(shù)據(jù)，就能迅速地進(jìn)行恢復(fù)操作。因此，可以防止因維修工 作人員的人為錯(cuò)誤等而導(dǎo)致機(jī)密數(shù)據(jù)被消去，進(jìn)而能在保養(yǎng)、維修等時(shí)提高操作性。這里，“將存儲于第一存儲器的機(jī)密數(shù)據(jù)復(fù)制(保存)在第二存儲器中”的時(shí)間 無關(guān)緊要。例如，可以在使檢測單元的檢測功能有效之前(從上位裝置接收使檢測單元 的檢測功能有效的指令的時(shí)間等)，也可以在開啟電子設(shè)備裝置的電源時(shí)。在后者的情況 下，預(yù)先將機(jī)密數(shù)據(jù)復(fù)制到第二存儲器中。另外，“第一存儲器”和/或“第二存儲器”的種類無關(guān)緊要。例如，可以是 如RAM那樣的易失性存儲器，也可以是如EEPROM或FROM那樣的非易失性存儲器。 在后者的情況下，另行需要能動地消去非易失性存儲器中的機(jī)密數(shù)據(jù)的程序等。(2) 一種電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法，其中，在所述電子設(shè)備裝置從所 述上位裝置接收使所述檢測單元的檢測功能有效的指令時(shí)，將存儲于所述第一存儲器的 所述機(jī)密數(shù)據(jù)復(fù)制到所述第二存儲器中。根據(jù)本發(fā)明，由于在電子設(shè)備裝置從上位裝置接收使檢測單元的檢測功能有效 的指令時(shí)，將存儲于第一存儲器的機(jī)密數(shù)據(jù)復(fù)制到第二存儲器中，因此，可以提高不正 當(dāng)拆卸檢測功能的安全性。即，由于到“電子設(shè)備裝置從上位裝置接收使檢測單元的檢 測功能有效的指令時(shí)”才對機(jī)密數(shù)據(jù)進(jìn)行復(fù)制，因此，可以縮短分散地存儲較重要的機(jī) 密數(shù)據(jù)(至第一存儲器和第二存儲器)的時(shí)間，進(jìn)而可以提高安全性。(3) —種電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法，其中，所述第一存儲器和/或所 述第二存儲器為易失性存儲器。根據(jù)本發(fā)明，由于第一存儲器和/或第二存儲器為易失性存儲器，因此，若切 斷來自主電源和二次電源的供電，則會自動消去機(jī)密數(shù)據(jù)。因此，與第一存儲器和/或第二存儲器采用非易失性存儲器的情況相比，可以縮短機(jī)密數(shù)據(jù)在存儲器內(nèi)的殘留時(shí) 間，進(jìn)而可以提高安全性。(4) 一種電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法，包括在使所述檢測單元有效 后，對是否正常殘留有存儲于所述第一存儲器的所述機(jī)密數(shù)據(jù)進(jìn)行判斷的判斷步驟；以 及在所述判斷步驟的結(jié)果為未正常殘留有所述機(jī)密數(shù)據(jù)時(shí)，使所述檢測單元無效，在所 述判斷步驟的結(jié)果為正常殘留有所述機(jī)密數(shù)據(jù)時(shí)，消去存儲于所述第二存儲器的所述機(jī) 密數(shù)據(jù)的處理步驟。根據(jù)本發(fā)明，由于在使檢測單元有效后，對是否正常殘留有存儲于第一存儲器 的機(jī)密數(shù)據(jù)進(jìn)行判斷，在其結(jié)果為未正常殘留有機(jī)密數(shù)據(jù)時(shí)，使檢測單元無效，在其結(jié) 果為正常殘留有機(jī)密數(shù)據(jù)時(shí)，消去存儲于第二存儲器的機(jī)密數(shù)據(jù)，因此，即使假設(shè)在未 將電子設(shè)備裝置正常地設(shè)置于使用者操作終端機(jī)的殼體上的狀態(tài)下使檢測單元有效，且 未正常殘留有機(jī)密數(shù)據(jù)，也能在使檢測單元無效的狀態(tài)下使機(jī)密數(shù)據(jù)從第二存儲器返回 到第一存儲器，進(jìn)而可以提高保養(yǎng)、維修等的操作性。另外，在正常殘留有機(jī)密數(shù)據(jù) 的情況下，通過消去存儲于第二存儲器的機(jī)密數(shù)據(jù)，可以縮短分散地存儲機(jī)密數(shù)據(jù)的時(shí) 間，進(jìn)而可以提高安全性。(5) 一種電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法，其中，在執(zhí)行了所述處理步驟之 后，由所述電子設(shè)備裝置對所述上位裝置發(fā)送與所述處理步驟相關(guān)的響應(yīng)。根據(jù)本發(fā)明，在執(zhí)行了上述使檢測單元無效或消去第二存儲器的機(jī)密數(shù)據(jù)的任 意一個(gè)步驟后，由于由電子設(shè)備裝置對上位裝置發(fā)送與處理步驟相關(guān)的響應(yīng)，因此，上 位裝置可以對是否正常地使不正當(dāng)拆卸檢測功能有效進(jìn)行識別，從而可以加快其后的應(yīng) 對(例如，將電子設(shè)備裝置的安裝不完全的情況顯示于維修工作人員可見的畫面，以提 示再次進(jìn)行拆卸操作等)。此外，不僅可以發(fā)送響應(yīng)，還可以通過利用LED燈的閃爍或 蜂鳴器等發(fā)出警告來進(jìn)行識別。根據(jù)本發(fā)明所涉及的電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法，由于是在將機(jī)密數(shù) 據(jù)復(fù)制到相對于第一存儲器另外獨(dú)立的第二存儲器中的狀態(tài)下，使檢測單元有效，因 此，即使是在未將電子設(shè)備裝置正常設(shè)置于使用者操作終端機(jī)的殼體上的情況下，使檢 測單元有效，也能迅速地進(jìn)行恢復(fù)操作，進(jìn)而可以提高保養(yǎng)、維修等的操作性。


圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施方式所涉及的不正當(dāng)拆卸檢測方法所使用的讀卡器1的 電學(xué)結(jié)構(gòu)的框圖。圖2是表示本發(fā)明的實(shí)施方式所涉及的不正當(dāng)拆卸檢測方法的流程的流程圖。標(biāo)號說明1電子設(shè)備裝置10CPU (中央處理器)IlRAM (作為第一存儲器)12RAM (作為第二存儲器)13電源控制IC14 二次電源
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15切換電路16拆卸檢測開關(guān)
具體實(shí)施例方式以下，參照

用于實(shí)施本發(fā)明的最佳方式。[電子設(shè)備裝置的結(jié)構(gòu)]圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施方式所涉及的不正當(dāng)拆卸檢測方法所使用的讀卡器1的 電學(xué)結(jié)構(gòu)的框圖。在本實(shí)施方式中，讀卡器1安裝于由使用者進(jìn)行操作的使用者操作終 端機(jī)、例如加油站的終端或ATM等的殼體上，在該殼體內(nèi)，收納有讀卡器1和上位裝置 2。另外，在本實(shí)施方式中，讀卡器1和上位裝置2通過RS232C電連接(當(dāng)然也可以采 用其他連結(jié)形態(tài))。此外，上位裝置2也可以不收納于使用者操作終端機(jī)內(nèi)，而設(shè)置于其 他控制裝置內(nèi)。另外，在本實(shí)施方式中，雖然采用讀卡器1作為“電子設(shè)備裝置”的一 個(gè)例子，但是，本發(fā)明并不局限于此，而是能適用于所有需要對不正當(dāng)拆卸操作進(jìn)行機(jī) 密數(shù)據(jù)保護(hù)的電子設(shè)備裝置。此外，并不局限于單純的不正當(dāng)拆卸，還能適用于具有為 了保養(yǎng)、維修等(也稱為維護(hù))而在有效和無效之間進(jìn)行切換的功能(不正當(dāng)操作檢測功 能)的裝置。讀卡器1包括CPU10、RAM11、內(nèi)置于CPU10的RAM12、電源控制IC 13、備 用電源(電池)(備用電池(Back Up Battery)) 14、切換電路15、以及拆卸檢測開關(guān)16。 此外，各結(jié)構(gòu)要素至少通過以圖中的實(shí)線(或?qū)嵕€箭頭)表示的總線等電連接。此外， 在本實(shí)施方式中，雖然RAM12內(nèi)置于CPU10，但并不局限于此。CPU10負(fù)責(zé)對整個(gè)讀卡器1進(jìn)行控制。S卩，負(fù)責(zé)從未圖示于圖1中的ROM等中 調(diào)出初始化程序和基本程序，執(zhí)行這些程序來對整個(gè)讀卡器1進(jìn)行控制。另外，接收來 自上位裝置2的指令，根據(jù)該指令執(zhí)行各種處理(應(yīng)用程序等)。例如，通過Hi輸出使 切換電路15有效，或通過Lo輸出使切換電路15無效。此外，CPU10對存儲于RAM11 和RAM12的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，并將數(shù)據(jù)寫入這些存儲器。RAM11及內(nèi)置于CPU10的RAM12是易失性存儲器的一個(gè)例子，提供用于供
CPU10執(zhí)行程序的工作區(qū)域。各種動作所需要的數(shù)據(jù)存儲于工作區(qū)域中。此外，關(guān)于兩 者的差異，將在后文中詳細(xì)闡述。電源控制IC13將來自主電源(Main Power Supply) 3和二次電源14的電力提供給 RAM11。通常，由主電源3向RAM11供電，當(dāng)電源關(guān)閉時(shí)，由二次電源14向RAM11 供電。另外，電源控制IC 13起到作為基于切換電路15的輸出信號而切斷對RAM11的 電源供應(yīng)(供電)的“電源控制單元”的一個(gè)例子的功能。切換電路15及拆卸檢測開關(guān)16起到作為對讀卡器1的不正當(dāng)拆卸進(jìn)行檢測的 “檢測單元”的一個(gè)例子的功能。具體而言，切換電路15具有帶有鎖存器的繼電器，
利用CPU10對其切換進(jìn)行控制。當(dāng)切換電路15(拆卸檢測功能)有效時(shí)，繼電器與拆卸 檢測開關(guān)16串聯(lián)連接，當(dāng)切換電路15無效時(shí)，繼電器不與拆卸檢測開關(guān)16串聯(lián)連接。 即，在前者的情況下，經(jīng)由拆卸檢測開關(guān)16而構(gòu)成閉合回路，在后者的情況下，不經(jīng)由 拆卸檢測開關(guān)16而構(gòu)成閉合回路。在利用CPU10使切換電路15有效的情況下，當(dāng)由操縱桿或按鈕等所構(gòu)成的(機(jī)械的)拆卸檢測開關(guān)16由閉合狀態(tài)變?yōu)閿嚅_狀態(tài)時(shí)，由導(dǎo)通狀態(tài)切換為非導(dǎo)通狀態(tài)。其 結(jié)構(gòu)是，表示由導(dǎo)通狀態(tài)切換為非導(dǎo)通狀態(tài)的信號被從切換電路15輸送至電源控制IC 13(例如，非0的電流變?yōu)?，或電路電阻值變?yōu)闊o限大)。電源控制IC13基于這樣的信 號，切斷對RAMll的電源供應(yīng)。此外，在本實(shí)施方式中，考慮了將切換電路15和拆卸檢測開關(guān)16作為“檢測 單元”，但也可以添加其他的電氣元件。另外，除了機(jī)械元件以外，拆卸檢測開關(guān)16 也可以是光傳感器等光學(xué)元件，或者是磁傳感器等磁性元件。另外，在圖1中雖未圖 示，但也可以包括EEPROM或閃存等，還可以將機(jī)密數(shù)據(jù)、執(zhí)行程序、以及錯(cuò)誤檢測碼 (CRC、校驗(yàn)和、BCC)等電子信息存儲于其中。這里，對所述RAMll和RAM12的區(qū)別進(jìn)行詳細(xì)說明，RAMll是存儲有包含 機(jī)密數(shù)據(jù)的電子信息的“第一存儲器”的具體例子，RAM12是相對于RAMll另外獨(dú)立 的“第二存儲器”的具體例子，即使通過電源控制IC13切斷電源供應(yīng)，RAM12中所存 儲的數(shù)據(jù)也不會被消去。即，RAMll是在使切換電路15有效的情況下，所存儲的數(shù)據(jù) 會因拆卸檢測而被消去的存儲器，RAM12是所存儲的數(shù)據(jù)不會因拆卸檢測而被消去的存 儲器(不直接與切換電路15相連接的存儲器)。在本實(shí)施方式所涉及的不正當(dāng)拆卸檢測方法中，在將存儲于RAMll中的機(jī)密數(shù) 據(jù)復(fù)制到RAM12中之后，再使切換電路15有效。下面，利用圖2進(jìn)行詳細(xì)說明。[不正當(dāng)拆卸檢測方法的流程]圖2是表示本發(fā)明的實(shí)施方式所涉及的不正當(dāng)拆卸檢測方法的流程的流程圖。 另外，如利用圖1所進(jìn)行的說明那樣，作為前提，上位裝置(例如HOST計(jì)算機(jī))2與讀 卡器1電連接，讀卡器1接收來自上位裝置2的指令，并根據(jù)該指令執(zhí)行處理。然后， 將其處理結(jié)果通知上位裝置2。在圖2中，首先，上位裝置2對讀卡器1發(fā)送拆卸檢測功能有效指令(步驟S 1)。讀卡器1的CPUlO利用接收信號的機(jī)會，將存儲于會因不正當(dāng)拆卸檢測而被消去的 區(qū)域(作為易失性存儲器的RAM11)中的機(jī)密數(shù)據(jù)，保存(復(fù)制)在不會因不正當(dāng)拆卸而 被消去的其他區(qū)域(作為易失性存儲器的RAM12)中(步驟S2)。接著，使拆卸檢測功能有效(步驟S3)。具體而言，讀卡器1的CPUlO執(zhí)行改 變其輸出等處理，以使切換電路15有效(切換電路15的繼電器經(jīng)由拆卸檢測切換至構(gòu)成 閉合回路的狀態(tài))。在等待一段時(shí)間(例如2ms)后(步驟S4)，對RAMll進(jìn)行數(shù)據(jù)檢查(步驟S5)。 具體而言，讀卡器1的CPUlO在經(jīng)過一段時(shí)間后，執(zhí)行RAMll內(nèi)的CRC (循環(huán)冗余碼校 驗(yàn)(CyclicRedundancyCheck))的計(jì)算。然后，CPUlO對是否正常殘留有存儲于RAMll
內(nèi)的機(jī)密數(shù)據(jù)進(jìn)行判斷(步驟S6)。在正常殘留有機(jī)密數(shù)據(jù)的情況下(在上述由使用者進(jìn) 行操作的使用者操作終端機(jī)的殼體上正常安裝有讀卡器1的情況下)(步驟S6 是)，接 著對是否完成了規(guī)定次數(shù)的檢查(步驟S5的數(shù)據(jù)檢查)進(jìn)行判斷(步驟S7)。若完成了 規(guī)定次數(shù)的檢查(步驟S7:是)，則由于不再需要存儲于RAM12的機(jī)密數(shù)據(jù)，因此將其 消去(步驟S8)。然后，CPUlO向上位裝置2發(fā)送表示拆卸檢測功能的有效化成功的響 應(yīng)(步驟S9)。若未完成規(guī)定次數(shù)的檢查(步驟S7 否)，則重復(fù)進(jìn)行步驟S4 S7的 處理。
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此外，在圖2的步驟S7中，雖然對“規(guī)定次數(shù)”進(jìn)行檢查，但也可以對例如 “規(guī)定時(shí)間”進(jìn)行檢查。所謂規(guī)定時(shí)間是指，假設(shè)是在以安裝不完全的狀態(tài)執(zhí)行拆卸檢
查有效化處理，從而使機(jī)密數(shù)據(jù)被立即消去的情況下所決定的時(shí)間。由于特別指定是在 安裝不完全的狀態(tài)下使拆卸檢測有效的，因此可以設(shè)定規(guī)定時(shí)間。另一方面，若未正常殘留有機(jī)密數(shù)據(jù)(在使用者操作終端機(jī)的殼體上未正常安 裝有讀卡器1的情況下)(步驟S6 :否)，則根據(jù)CPU10的指示使切換電路15無效(步 驟S10)。然后，CPU10在將存儲于RAM12的機(jī)密數(shù)據(jù)(保存數(shù)據(jù))復(fù)制到RAM11后 (步驟S11)，消去存儲于RAM12的機(jī)密數(shù)據(jù)(步驟S12)。最后，CPU10向上位裝置2 發(fā)送表示拆卸檢測功能的有效化失敗的響應(yīng)(步驟S13)。由此，本實(shí)施方式所涉及的不 正當(dāng)拆卸檢測方法結(jié)束。此外，在執(zhí)行完步驟S13的處理之后，上位裝置2也可以提示維 修工作人員再次試行讀卡器1的安裝確認(rèn)、拆卸檢測功能的有效化，從而再一次執(zhí)行圖2 所示的一連串的處理。[實(shí)施方式的主要效果]如上所述，在本實(shí)施方式所涉及的不正當(dāng)拆卸檢測方法中，由于存儲于RAM11 的機(jī)密數(shù)據(jù)被復(fù)制到RAM12中(參照圖2的步驟S2)，因此，即使因維修工作人員的錯(cuò) 誤而導(dǎo)致在不完全地安裝讀卡器1的狀態(tài)下，使拆卸檢測功能有效(圖2的步驟S3)，也 不會導(dǎo)致機(jī)密數(shù)據(jù)丟失這樣的致命的錯(cuò)誤(參照圖2的步驟S 11等)。從而，可以防止 發(fā)生必須到處于能確保安全的環(huán)境下時(shí)才能恢復(fù)讀卡器1的情況(在時(shí)間和經(jīng)濟(jì)上沒有 效率的情況)，進(jìn)而可以力圖提高保養(yǎng)、維修或生產(chǎn)時(shí)在時(shí)間和經(jīng)濟(jì)上的效率(提高操作 性)。另外，在本實(shí)施方式中，由于將存儲于RAM11的機(jī)密數(shù)據(jù)復(fù)制到RAM12中的 時(shí)間，作為讀卡器1從上位裝置2接收使切換電路15的檢查功能有效的指令的時(shí)間(參 照圖2的步驟S1)，因此，可以縮短分散地存儲機(jī)密數(shù)據(jù)的時(shí)間，進(jìn)而可以提高安全性。 此外，通過使用若切斷來自主電源及二次電源的供電、則會自動消去機(jī)密數(shù)據(jù)的易失性 存儲器(RAM11、12)作為存儲機(jī)密數(shù)據(jù)的存儲器，能進(jìn)一步提高安全性。而且，如圖2的步驟S9及步驟S13所示，通過將與步驟S6的結(jié)果相關(guān)的響應(yīng)發(fā) 送至上位裝置2，可以加快上位裝置2在其后的應(yīng)對。工業(yè)上的實(shí)用性本發(fā)明所涉及的電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法可以被用作為一種提高設(shè) 備的保養(yǎng)、維修等的操作性的方法。
權(quán)利要求
1.一種電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法，其特征在于，該電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法接收來自上位裝置的指令，根據(jù)該指令執(zhí)行 處理，所述電子設(shè)備裝置包括第一存儲器，該第一存儲器中存儲有包含機(jī)密數(shù)據(jù)的電子信息；檢測單元，該檢測單元對該電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸進(jìn)行檢查；電源控制單元，該電源控制單元基于來自所述檢測單元的信號，切斷對所述第一存 儲器的電源供應(yīng)；以及第二存儲器，該第二存儲器相對于所述第一存儲器另外獨(dú)立，即使通過所述電 源控制單元切斷電源供應(yīng)，所存儲的數(shù)據(jù)也不會被消去，在將存儲于所述第一存儲器中的所述機(jī)密數(shù)據(jù)復(fù)制到所述第二存儲器中后，使所述 檢測單元有效。
2.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法，其特征在于，在所述電子設(shè)備裝置從所述上位裝置接收使所述檢測單元的檢測功能有效的指令 時(shí)，將存儲于所述第一存儲器的所述機(jī)密數(shù)據(jù)復(fù)制到所述第二存儲器中。
3.如權(quán)利要求1或2所述的電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法，其特征在于，所述第一存儲器和/或所述第二存儲器為易失性存儲器。
4.如權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法，其特征在 于，包括在使所述檢測單元有效后，對是否正常殘留有存儲于所述第一存儲器的所述機(jī)密數(shù) 據(jù)進(jìn)行判斷的判斷步驟；以及在所述判斷步驟的結(jié)果為未正常殘留有所述機(jī)密數(shù)據(jù)時(shí)，使所述檢測單元無 效，在所述判斷步驟的結(jié)果為正常殘留有所述機(jī)密數(shù)據(jù)時(shí)，消去存儲于所述第二存儲器 的所述機(jī)密數(shù)據(jù)的處理步驟。
5.如權(quán)利要求4所述的電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法，其特征在于，在執(zhí)行了所述處理步驟之后，由所述電子設(shè)備裝置對所述上位裝置發(fā)送與所述處理 步驟相關(guān)的響應(yīng)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸檢測方法，可以防止因維修工作人員的人為錯(cuò)誤等而導(dǎo)致機(jī)密數(shù)據(jù)被消去，進(jìn)而能在保養(yǎng)、維修等時(shí)提高操作性。具體而言，所述電子設(shè)備裝置(讀卡器(1))的不正當(dāng)拆卸檢測方法接收來自上位裝置(2)的指令，并根據(jù)該指令執(zhí)行處理，電子設(shè)備裝置包括RAM(11)，該RAM(11)中存儲有包含機(jī)密數(shù)據(jù)的電子信息；檢測單元(切換電路(15)等)，該檢測單元對電子設(shè)備裝置的不正當(dāng)拆卸進(jìn)行檢測；電源控制IC(13)，該電源控制IC(13)基于來自所述檢測單元的信號，切斷對RAM(11)的電源供應(yīng)；以及RAM(12)，該RAM(12)相對于RAM(11)另外獨(dú)立，即使通過電源控制IC(13)切斷電源供應(yīng)，所存儲的數(shù)據(jù)也不會被消去，在將存儲于RAM(11)中的機(jī)密數(shù)據(jù)復(fù)制到RAM(12)中后，使檢測單元有效。
文檔編號G06F21/06GK102016868SQ20098011592
公開日2011年4月13日 申請日期2009年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月30日
發(fā)明者馬場勉 申請人:日本電產(chǎn)三協(xié)株式會社