專利名稱：具阻抗補償功能的觸控面板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種觸控面板，其系尤指一種具阻抗補償功能的觸控面板。
背景技術(shù)：
近年來，各式電子產(chǎn)品都不斷朝向操作簡便、小體積以及大屏幕尺寸的方向邁進， 特別是攜帶式的電子產(chǎn)品對于體積及屏幕尺寸的要求更為嚴格。因此，許多電子產(chǎn)品都將 觸控面板與液晶顯示面板整合，以省略鍵盤或是操控按鍵所需的空間，進而使屏幕可配置 的面積擴大。 目前，觸控面板大致可區(qū)分為電阻式、電容式、紅外線式及超音波式等觸控面板， 其中以電阻式觸控面板與電容式觸控面板為最常見的產(chǎn)品。就電容式觸控面板而言，可多 點觸控的特性提供更人性化的操作模式而使得電容式觸控面板逐漸受到市場的青睞。不 過，電容式觸控面板必須以導(dǎo)體材質(zhì)觸碰觸控面板以進行操作，因而使用者無法帶著手套 或是以非導(dǎo)體材質(zhì)進行操作。 以電阻式觸控面板而言，無論使用者以何種介質(zhì)碰觸觸控面板都可以進行操作， 因而提高了觸控面板的使用便利性。另外，電阻式觸控面板所需成本較低且電阻式觸控面 板技術(shù)發(fā)展較為成熟，因而市場占有率較高。 請一并參閱圖l，為現(xiàn)有技術(shù)的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，觸控面板包含 一掃描總線10'、一偵測總線20'與一控制單元30'。掃描總線10'耦接復(fù)數(shù)條掃描線11'，
該些掃描線ir用以掃描一觸控畫面，偵測總線2o'耦接復(fù)數(shù)條偵測線2i'，該些掃描線ir 交錯于該些偵測線21'，并該些掃描線ir與該些偵測線21'位于不同層，該些掃描線ir
與該些偵測線21'用以偵測觸控畫面的至少一觸控位置，控制單元30'耦接掃描總線10' 與偵測總線20'，以控制掃描總線10'與偵測總線20'而得知觸控畫面中的至少一個位置被觸碰。 承上所述，不管是電容式或電阻式的觸控面板，尤其在多點觸控系統(tǒng)應(yīng)用上，往往 藉由網(wǎng)格化(grid)的觸控面板架構(gòu)來達成多點觸控效果，即該些掃描線ll'與該些偵測線
21'形成網(wǎng)格化的觸控面板架構(gòu)。由于該些掃描線ir或該些偵測線21'在觸控面板上不
同的觸控位置會因為路徑的不同而有不同的阻抗值(resistance value)，此為觸控面板先 天的缺點，如圖l所示，A點和B點因為偵測線21'走線長度不同的緣故，必定導(dǎo)致等效電 阻值大小不相等，故縱使A點和B點兩點經(jīng)同樣大小的觸碰施力，也會得到不同大小的電位 輸出。以多點電阻式或多點壓電式觸控面板為例，A點和B點在施加大小相等的壓力后，對 控制單元30'(電壓訊號讀取端)看到的訊號而言，A點會得到大于B點的電壓值，此即因 為A點的阻抗小于B點(A點的X方向的電阻值小于B點)。 基于上述，多點電阻式或多點壓電式的觸控面板，由于沒有針對不同路徑的掃瞄 線11'與偵測線21'電阻值差異做補償?shù)膭幼?，故會?dǎo)致在相同的施力下，不同路徑會得到 不同的電壓值，使得控制單元30'(電壓訊號讀取端)只能單純判斷觸控面板上有無訊號輸 入，但無法比較何者輸入的力量較大，因此無法判斷Z方向的壓力大小，進而限制觸控面板的應(yīng)用范圍。另外的缺點為觸控面板的分辨率會局限于掃瞄線ir與偵測線21'矩陣本身 的分辨率，無法藉由內(nèi)插運算得到實際觸碰的重心位置，并且使得觸碰線性度較差。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一，在于提供一種具阻抗補償功能的觸控面板，其藉由復(fù)數(shù)個掃 描補償阻抗組件與復(fù)數(shù)個偵測補償阻抗組件分別補償復(fù)數(shù)條掃描線與復(fù)數(shù)條偵測線的阻 抗值，使一控制單元接收到不同的觸控位置的訊號準位皆相同，讓觸控面板可偵測壓力大 小，進而增加觸控面板的使用性。 本發(fā)明的目的之一，在于提供一種具阻抗補償功能的觸控面板，其藉由復(fù)數(shù)個掃 描補償阻抗組件與復(fù)數(shù)個偵測補償阻抗組件分別補償復(fù)數(shù)條掃描線與復(fù)數(shù)條偵測線的阻 抗值，并依據(jù)不同路徑的掃描線與偵測線不同的阻抗值，做阻抗補償，進而使控制單元接收 的不同的觸控位置的訊號準位皆相同，以增加觸控面板的分辨率，并提升操作線性度。
為了達到上述的目的，本發(fā)明提供的一種具阻抗補償功能的觸控面板，其包含
—掃描總線，耦接復(fù)數(shù)條掃描線，用以掃描一觸控畫面； —偵測總線，耦接復(fù)數(shù)條偵測線，該些偵測線分別交錯該些掃描線，該些偵測線偵 測該觸控畫面的至少一觸控位置； —控制單元，耦接該掃描總線與該偵測總線，以控制該掃描總線與該偵測總線； 復(fù)數(shù)個掃描補償阻抗組件，分別耦接該些掃描線與該掃描總線之間；以及 復(fù)數(shù)個偵測補償阻抗組件，分別耦接該些偵測線與該偵測總線之間。 本發(fā)明中，其中該些掃描補償阻抗組件的阻抗值皆大于1000歐姆。 本發(fā)明中，其中該些偵測補償阻抗組件的阻抗值皆大于1000歐姆。 本發(fā)明中，其中該掃描總線的該些掃描補償阻抗組件的阻抗值是按該觸控畫面的
掃描起始位置做由大至小或由小至大的遞減/遞增的排列組合。 本發(fā)明中，其中在該些掃描總線和該些掃描線之間的該些掃描補償阻抗組件更分 別加上大于1000歐姆的掃描補償阻抗。 本發(fā)明中，其中該偵測總線的該些偵測補償阻抗組件的阻抗值是按該觸控畫面的 偵測起始位置做由大至小或由小至大的遞減/遞增的排列組合。 本發(fā)明中，其中在該些偵測總線和該些偵測線之間的該些偵測補償阻抗組件更分 別加上大于1000歐姆的掃描補償阻抗。 本發(fā)明中，其中該些掃描補償阻抗組件與該些偵測補償阻抗組件分別位于該掃描 總線與該偵測總線內(nèi)。 本發(fā)明中，其中該些掃描補償阻抗組件與該些偵測補償阻抗組件為一具有電阻性
的材料、一場效晶體管、一雙載子接面晶體管或一電阻；該些掃描線與該些偵測線為一導(dǎo)電
薄膜或一可導(dǎo)電的材料，該導(dǎo)電薄膜為一透明導(dǎo)電氧化物薄膜。 本發(fā)明還同時公開了一種具阻抗補償功能的觸控面板，其包含 —掃描總線，耦接復(fù)數(shù)條掃瞄線，用以掃瞄一觸控畫面； —偵測總線，耦接復(fù)數(shù)條偵測線，該些偵測線分別交錯該些掃描線，該些掃瞄線偵 測該觸控畫面的至少一觸控位置； —控制單元，耦接該掃描總線與該偵測總線，以控制該掃描總線與該偵測總線；以及 復(fù)數(shù)個補償組抗組件，分別耦接該些掃描線與該掃描總線之間，或是分別耦接該 些偵測線與該偵測總線之間。 本發(fā)明中，其中該些補償阻抗組件的阻抗值皆大于1000歐姆。 本發(fā)明中，其中該些補償阻抗組件是位于該掃描總線或該偵測總線內(nèi)。 本發(fā)明中，其中該些補償阻抗組件為一具有電阻性的材料、一場效晶體管、一雙載
子接面晶體管或一電阻；該些掃描線與該些偵測線為一導(dǎo)電薄膜或一可導(dǎo)電的材料，該導(dǎo) 電薄膜為一透明導(dǎo)電氧化物薄膜。 本發(fā)明具有的有益效果本發(fā)明提供的具阻抗補償功能的觸控面板使觸控面板可 偵測壓力大小，進而增加觸控面板的使用性，并可增加觸控面板的分辨率，且提升操作線性度。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖2為本發(fā)明的一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明的另一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意4為本發(fā)明的另一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意5為本發(fā)明的另一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意6為本發(fā)明的另一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意7為本發(fā)明的另一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意8為本發(fā)明的另一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖圖號簡單說明現(xiàn)有技術(shù)10'掃描總線ir掃描線20'偵測總線21'偵測線30'控制單元本發(fā)明10掃瞄總線12掃描線20偵測總線22偵測線30控制單元40掃描補償阻抗組件42偵測補償阻抗組件44第一補償阻抗組件
46第二補償阻抗組件50觸控畫面
52觸控位置60補償阻抗組件
具體實施例方式
為使對本發(fā)明的結(jié)構(gòu)特征及所達成的功效有更進一步的了解與認識，用以較佳的 實施例及附圖配合詳細的說明，說明如下 請參閱圖2，為本發(fā)明的一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，本 發(fā)明的具阻抗補償功能的觸控面板包含一掃描總線10、一偵測總線20、一控制單元30、復(fù)
5數(shù)個掃描補償阻抗組件40與復(fù)數(shù)個偵測補償阻抗組件42。掃描總線10耦接復(fù)數(shù)條掃描 線12，用以掃描一觸控畫面50，偵測總線20耦接復(fù)數(shù)條偵測線22，該些偵測線22分別交 錯該些掃描線12，該些偵測線22是偵測觸控畫面50的至少一觸控位置52，其中，該些掃 描線12與該些偵測線22是位于不同層，且該些掃描線12與該些偵測線22之間是以間隙 子(spacer)或玻璃(Glass)或薄膜(film)等不導(dǎo)電物體作為兩者空間上的間隔(圖中未 示)，以形成觸控畫面50。上述為本技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者所皆知的技術(shù)，故在此不再加 以贊述。再者，該些掃描線12與該些偵測線22為一導(dǎo)電薄膜，而導(dǎo)電薄膜的一較佳實施例 為一透明導(dǎo)電氧化物(Transparent Conductive 0xide， TC0)薄膜或一可導(dǎo)電的材料。本 發(fā)明利用此網(wǎng)格化(grid)的觸控面板架構(gòu)來達成多點觸控效果，此僅為本發(fā)明的一較佳 實施例，本發(fā)明并不局限于此種的觸控面板架構(gòu)。但凡使用導(dǎo)電薄膜而形成的觸控面板皆 為本發(fā)明所要保護的范圍內(nèi)。 控制單元30是耦接掃描總線10與偵測總線20，以控制掃描總線10與偵測總線 20，即控制單元30是控制掃描總線10驅(qū)使該些掃描線12掃描觸控畫面50，而控制偵測總 線20驅(qū)使該些偵測線22偵測觸控畫面50，所以，控制單元30可依據(jù)該些掃描線12掃描觸 控畫面20與該些偵測線22偵測觸控畫面50，而得知觸控位置52。此外，掃描總線10相當 于一種電壓/電流訊號輸入端，而偵測總線20相當于一種電壓/電流訊號讀取端，使控制 單元30可藉由掃描總線10輸入電壓/電流訊號至觸控畫面50，再透過偵測總線20讀取對 應(yīng)掃描總線10的電壓/電流訊號，而得知至少一觸控位置52。 該些掃描補償阻抗組件40是分別耦接該些掃描線12與掃描總線10之間，而該些 偵測補償阻抗組件42是分別耦接該些偵測線22與偵測總線20之間，使控制單元30接收 不同的觸控位置52的訊號準位皆相同，其中，由于該些掃描線12與該些偵測線22是為透 明導(dǎo)電氧化物薄膜，而透明導(dǎo)電氧化物薄膜會因為不同的長度有不同的阻抗值，所以，本發(fā) 明是藉由掃描補償阻抗組件40與偵測補償阻抗組件42的阻抗值分別遠大于掃描線12或 偵測線22的阻抗值，使觸控位置52位于掃描線12或偵測線22上的不同位置時，在偵測總 線20 (電壓/電流訊號讀取端)所得到的阻抗值會差不多相同，使得控制單元30透過偵測 總線20所接收到的訊號準位皆相同，即控制單元30接收到的電壓訊號或電流訊號的準位 皆相同。如此，可使觸控面板偵測壓力大小，進而增加觸控面板的使用性。其中，該些掃描 補償阻抗組件40與該些偵測補償阻抗組件42的阻抗值皆大于1000歐姆(lkQ)，當掃描補 償阻抗組件40與偵測補償阻抗組件42的阻抗值越大時，其在掃描線12或偵測線22中不 同觸控位置52的阻抗值就會越接近。 此外，該些掃描補償阻抗組件40與該些偵測補償阻抗組件42是為一具有電阻性 的材料或一場效晶體管(Field EffectTransistor，F(xiàn)ET)或一雙載子接面晶體管(Bipolar J皿ctionTransistor， BJT)。 請一并參閱圖3，為本發(fā)明的另一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所 示，本實施例與圖2的實施例不同之處，在于本實施例的該些掃描補償阻抗組件40與該些 偵測補償阻抗組件42是分別設(shè)置于掃描總線10與偵測總線20內(nèi)，即該些掃描補償阻抗組 件40位于掃描總線10內(nèi)，并該些掃描補償阻抗組件40是分別耦接該些掃描線12，以補償 該些掃描線12的阻抗值；同理，該些偵測補償阻抗組件42位于偵測總線20內(nèi)，并該些偵測 補償阻抗組件40是分別耦接該些偵測線22，以補償該些偵測線22的阻抗值。其它技術(shù)特征于上一個實施例已經(jīng)描述過了 ，在此將不再多加以贊述。 請參閱圖4，為本發(fā)明的另一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，本實施例與上述的實施例不同之處，在于本實施例的該些掃描補償阻抗組件40與該些偵測補償阻抗組件42是分別依據(jù)該些掃描線12距離掃描總線10的遠近，與該些偵測線22距離偵測總線20的遠近，而控制該些掃描補償阻抗組件40與該些偵測補償阻抗組件42的阻抗值大小，即如圖4所示，若以觸控畫面50的左上方做為掃描/偵測起始點為例，則該些掃描線12上的該些掃描補償阻抗組件40的阻抗值是由左至右遞減，而該些偵測線22上的該些偵測補償阻抗組件42的阻抗值是由上至下遞減，即掃描線12上的該些掃描補償阻抗組件40的阻抗值是由8R逐漸由左至右遞減為R，而該些偵測線22上的該些偵測補償阻抗組件40的阻抗值是由8R逐漸由上至下遞減為R。如此，可在觸控畫面50上的不同的觸控位置52，以依據(jù)對掃描總線10與偵測總線20的距離遠近而有不同的阻抗補償，即當觸控畫面50上有A點、B點與C點三個觸控位置，由于A點的觸控位置距離掃描總線10與偵測總線20的起始掃描/偵測位置比較近，所以，A點的觸控位置所在的掃描線12與偵測線22都比較短，而對應(yīng)A點的掃描線12與偵測線22的掃描補償阻抗組件40與偵測補償阻抗組件42的補償?shù)淖杩怪狄簿捅容^大，同理，C點的觸控位置距離掃描總線10與偵測總線20的起始掃描/偵測位置比較遠，所以，C點的觸控位置所在的掃描線12與偵測線22都比較長，而對應(yīng)C點的掃描線12與偵測線22的掃描補償阻抗組件40與偵測補償阻抗組件42的補償?shù)淖杩怪狄簿捅容^小，而B點的掃描補償阻抗組件40與偵測補償阻抗組件42的補償?shù)淖杩怪到橛贏點與C點之間，如此，本實施例可更精確地依據(jù)不同路徑的掃描線與偵測線而有不同的阻抗值，使控制單元30接收的不同的觸控位置的訊號準位皆相同，以增加觸控面板的分辨率，并提升操作線性度。并且由于控制單元30因為接收不同的觸控位置52的訊號準位皆相同，使觸控面板可偵測壓力大小，進而增加觸控面板的使用性。
此外，若掃描總線10或偵測總線20的設(shè)置位置改變的時候，該些掃描補償阻抗組件40與該些偵測補償阻抗組件42的阻抗值是隨掃描總線10或偵測總線20的距離的遠近，而有調(diào)整，即當掃描總線10設(shè)置觸控畫面50的下方(圖中未示)，而偵測總線20改設(shè)置于觸控畫面50的右方時，即以觸控畫面50的右下方做為掃描/偵測起始點時，掃描總線10的該些掃描補償阻抗組件40的阻抗值是由右至左遞減；偵測總線20的該些偵測補償阻抗組件42的阻抗值是由下至上遞減。 請一并參閱圖5，為本發(fā)明的另一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，本實施例與圖4的實施例不同之處，在于本實施例的該些掃描補償阻抗組件40與該些偵測補償阻抗組件42是分別設(shè)置于掃描總線10與偵測總線20內(nèi)，即該些掃描補償阻抗組件40位于掃描總線10內(nèi)，并該些掃描補償阻抗組件40是分別耦接該些掃描線12，以補償該些掃描線12的阻抗值；同理，該些偵測補償阻抗組件42位于偵測總線20內(nèi)，并該些偵測補償阻抗組件42是分別耦接該些偵測線22，以補償該些偵測線22的阻抗值。其它技術(shù)特征于圖4的實施例已經(jīng)描述過了，故在此將不再多加以贊述。 另外，請參閱圖6，為本發(fā)明的另一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，本實施例與上述的實施例不同之處，在于本實施例于該些掃描總線IO和該些掃描線12之間的該些掃描補償阻抗組件40是更分別加上大于1000歐姆(lkQ)的掃描補償阻抗，即該些掃描補償阻抗組件40更分別耦接復(fù)數(shù)第一補償阻抗組件44，該些第一補償阻抗組件44的阻抗值是大于1000歐姆(lk Q );同理，在該些偵測總線20和該些偵測線22之間的該些偵測補償阻抗組件42更分別加上大于1000歐姆(lkQ)的掃描補償阻抗，即該些偵測補償阻抗組件42更分別耦接復(fù)數(shù)第二補償阻抗組件46，該些第一補償阻抗組件46的阻抗值是大于1000歐姆(lkQ)。如此，更可增加觸控面板的效能。再者，其它技術(shù)特征于上述的實施例已經(jīng)描述過了 ，故在此將不再多加以贊述。 請參閱圖7，為本發(fā)明的另一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，本實施例與上述的實施例不同之處，在于本實施例的觸控面板具有復(fù)數(shù)補償阻抗組件60，該些補償阻抗組件60是可分別耦接于該些掃描線12與掃描總線10之間，或是分別耦接于該些偵測線22與偵測總線20之間。于此實施例中，該些補償阻抗組件60是設(shè)置于掃描總線10與該些掃描線12之間，當觸控畫面50上有D點與E點二個觸控位置，D點觸控位置的阻抗值為2R+X，E點觸控位置的阻抗值為3R+2X，所以，D點觸控位置與E點觸控位置間的阻抗值相差R+X，因此，該些補償阻抗組件60可針對D點觸控位置進行補償，即補償R+X的阻抗值于D點觸控位置。如此，本實施例的復(fù)數(shù)補償阻抗組件60只需設(shè)置于該些掃描線12與掃描總線10之間，或是該些偵測線22與偵測總線20之間，如此，只要掃描畫面50上的該些補償阻抗組件60補償后的阻抗值與掃描起始最遠程的E點觸控位置的阻抗值相同即可。
請一并參閱圖8，為本發(fā)明的另一較佳實施例的觸控面板的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，本實施例與圖7的實施例不同之處，在于本實施例的該些補償阻抗組件60皆設(shè)置于掃描總線10與該些掃描線12之間以及偵測總線20與該些偵測線22之間，以圖7為例，D點觸控位置與E點觸控位置間的阻抗差值為R+X，而本實施例的位于掃描總線10的該些補償阻抗組件60與位于偵測總線20的該些補償阻抗組件60的阻抗值相加為R+X即可。此夕卜，亦可使用較大阻抗值的補償阻抗組件60，使D點觸控位置與E點觸控位置的阻抗值相同。
綜上所述，本發(fā)明的具阻抗補償功能的觸控面板，其由掃描總線耦接復(fù)數(shù)條掃描線，用以掃描一觸控畫面；偵測總線耦接復(fù)數(shù)條偵測線，該些偵測線分別交錯該些掃描線，該些偵測線偵測觸控畫面的至少一觸控位置；控制單元耦接掃描總線與偵測總線，以控制掃描總線與偵測總線；該些掃描補償阻抗組件分別耦接該些掃描線與掃描總線之間；該些偵測補償阻抗組件分別耦接該些偵測線與偵測總線之間。如此，使觸控面板可偵測壓力大小，進而增加觸控面板的使用性，并可增加觸控面板的分辨率，且提升操作線性度。
綜上所述，僅為本發(fā)明的一較佳實施例而已，并非用來限定本發(fā)明實施的范圍，凡依本發(fā)明權(quán)利要求范圍所述的形狀、構(gòu)造、特征及精神所為的均等變化與修飾，均應(yīng)包括于本發(fā)明的權(quán)利要求范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
一種具阻抗補償功能的觸控面板，其包含一掃描總線，耦接復(fù)數(shù)條掃描線，用以掃描一觸控畫面；一偵測總線，耦接復(fù)數(shù)條偵測線，該些偵測線分別交錯該些掃描線，該些偵測線偵測該觸控畫面的至少一觸控位置；一控制單元，耦接該掃描總線與該偵測總線，以控制該掃描總線與該偵測總線；復(fù)數(shù)個掃描補償阻抗組件，分別耦接該些掃描線與該掃描總線之間；以及復(fù)數(shù)個偵測補償阻抗組件，分別耦接該些偵測線與該偵測總線之間。
2. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其中該些掃描補償阻抗組件的阻抗值皆大于1000歐姆。
3. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其中該些偵測補償阻抗組件的阻抗值皆大于1000歐姆。
4. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其中該掃描總線的該些掃描補償阻抗組件的阻抗值 是按該觸控畫面的掃描起始位置做由大至小或由小至大的遞減/遞增的排列組合。
5. 如權(quán)利要求4所述的觸控面板，其中在該些掃描總線和該些掃描線之間的該些掃描 補償阻抗組件更分別加上大于1000歐姆的掃描補償阻抗。
6. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其中該偵測總線的該些偵測補償阻抗組件的阻抗值 是按該觸控畫面的偵測起始位置做由大至小或由小至大的遞減/遞增的排列組合。
7. 如權(quán)利要求6所述的觸控面板，其中在該些偵測總線和該些偵測線之間的該些偵測 補償阻抗組件更分別加上大于1000歐姆的掃描補償阻抗。
8. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其中該些掃描補償阻抗組件與該些偵測補償阻抗組 件分別位于該掃描總線與該偵測總線內(nèi)。
9. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其中該些掃描補償阻抗組件與該些偵測補償阻抗組 件為一具有電阻性的材料、一場效晶體管、一雙載子接面晶體管或一電阻；該些掃描線與該 些偵測線為一導(dǎo)電薄膜或一可導(dǎo)電的材料，該導(dǎo)電薄膜為一透明導(dǎo)電氧化物薄膜。
10. —種具阻抗補償功能的觸控面板，其包含 一掃描總線，耦接復(fù)數(shù)條掃瞄線，用以掃瞄一觸控畫面；一偵測總線，耦接復(fù)數(shù)條偵測線，該些偵測線分別交錯該些掃描線，該些掃瞄線偵測該觸控畫面的至少一觸控位置；一控制單元，耦接該掃描總線與該偵測總線，以控制該掃描總線與該偵測總線；以及 復(fù)數(shù)個補償組抗組件，分別耦接該些掃描線與該掃描總線之間，或是分別耦接該些偵測線與該偵測總線之間。
11. 如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其中該些補償阻抗組件的阻抗值皆大于1000歐姆。
12. 如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其中該些補償阻抗組件是位于該掃描總線或該偵 測總線內(nèi)。
13. 如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其中該些補償阻抗組件為一具有電阻性的材料、 一場效晶體管、一雙載子接面晶體管或一電阻；該些掃描線與該些偵測線為一導(dǎo)電薄膜或 一可導(dǎo)電的材料，該導(dǎo)電薄膜為一透明導(dǎo)電氧化物薄膜。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)于一種具阻抗補償功能的觸控面板，其由掃描總線耦接復(fù)數(shù)條掃描線，用以掃描一觸控畫面；偵測總線耦接復(fù)數(shù)條偵測線，該些偵測線分別交錯該些掃描線，該些偵測線偵測觸控畫面之至少一觸控位置；控制單元耦接掃描總線與偵測總線，以控制掃描總線與偵測總線；復(fù)數(shù)個掃描補償阻抗組件分別耦接該些掃描線與掃描總線之間；復(fù)數(shù)個偵測補償阻抗組件分別耦接該些偵測線與偵測總線之間，使控制單元接收的不同觸控位置的一訊號準位皆相同。如此，使觸控面板可偵測壓力大小，進而增加觸控面板的使用性，并可增加觸控面板的分辨率，且提升操作線性度。
文檔編號G06F3/045GK101776977SQ20101011104
公開日2010年7月14日 申請日期2010年2月1日 優(yōu)先權(quán)日2010年2月1日
發(fā)明者葉政忠, 王宏旭, 郭定隆 申請人:矽創(chuàng)電子股份有限公司