專利名稱：一種測(cè)試用例集生成方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于操作系統(tǒng)安全技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種測(cè)試用例集生成方法。
背景技術(shù)：
隨著hternet應(yīng)用的廣泛深入，以及計(jì)算機(jī)信息系統(tǒng)安全問(wèn)題的日益凸顯，安全操作系統(tǒng)的研究已吸引了越來(lái)越多的關(guān)注。然而，我們?cè)谘芯抗ぷ髦邪l(fā)現(xiàn)，相比于安全操作系統(tǒng)的研發(fā)，安全操作系統(tǒng)的測(cè)試與驗(yàn)證更是一項(xiàng)緊迫的工作。由于安全模型通常是獨(dú)立于實(shí)現(xiàn)開(kāi)發(fā)的，我們并不能從安全模型的正確性推出其實(shí)現(xiàn)是安全的。因此，比較理想的測(cè)試方法是采用自動(dòng)化的方法生成測(cè)試用例(參考發(fā)明名稱一種可信密碼模塊的測(cè)試用例生成方法及其測(cè)試系統(tǒng)，專利號(hào)ZL 200810104596. 4的專利技術(shù)文獻(xiàn)；一種基于關(guān)系的測(cè)試用例生成方法，專利號(hào)200810089572.6 ；參考發(fā)明名稱一種實(shí)現(xiàn)測(cè)試用例自動(dòng)化運(yùn)行的方法，專利號(hào)200510132220. 0)，將用例細(xì)化成具體的測(cè)試數(shù)據(jù)后，再利用合適的測(cè)試驅(qū)動(dòng)在具體實(shí)現(xiàn)上自動(dòng)運(yùn)行測(cè)試用例，以驗(yàn)證實(shí)現(xiàn)與規(guī)范之間的一致性。安全操作系統(tǒng)測(cè)試的自動(dòng)化的基礎(chǔ)是形式化方法。目前已經(jīng)有很多形式化方法應(yīng)用于自動(dòng)化的測(cè)試用例生成(參考發(fā)明名稱基于模型轉(zhuǎn)換的協(xié)議正確性驗(yàn)證和測(cè)試方法，專利號(hào)ZL200510002613.X的專利技術(shù)文獻(xiàn))。形式化方法中的模型檢測(cè)技術(shù)是一種基于模型的屬性驗(yàn)證方法(參考發(fā)明名稱用于驗(yàn)證電路的模型檢測(cè)中的模型抽象方法及其系統(tǒng)，申請(qǐng)?zhí)?00910083790. 3的專利技術(shù)文獻(xiàn))，它以系統(tǒng)模型和待驗(yàn)證屬性或安全需求作為輸入，其優(yōu)點(diǎn)在于驗(yàn)證過(guò)程的完全自動(dòng)化，驗(yàn)證速度快、效率高。如果一個(gè)屬性不滿足， 它可以立刻反饋出違反該屬性的執(zhí)行路徑。對(duì)于安全操作系統(tǒng)測(cè)試來(lái)說(shuō)，最后一點(diǎn)尤為重要，因?yàn)橐粋€(gè)違反安全需求的執(zhí)行路徑直接對(duì)應(yīng)安全模型或安全策略配置上的漏洞，對(duì)該路徑細(xì)化之后就可以直接生成測(cè)試用例。然而，由于操作系統(tǒng)狀態(tài)多，安全需求多，如果不對(duì)測(cè)試用例進(jìn)行化簡(jiǎn)，測(cè)試的工作量會(huì)非常龐大。目前出現(xiàn)的針對(duì)測(cè)試用例化簡(jiǎn)的研究可以分為以下三類(參考發(fā)明名稱一種測(cè)試用例集縮減技術(shù)，申請(qǐng)?zhí)?00910020845. 6的專利技術(shù)文獻(xiàn))第一類對(duì)測(cè)試需求集進(jìn)行化簡(jiǎn)，這種方法通過(guò)尋找測(cè)試需求之間以及需求集與測(cè)試集之間的相互關(guān)系對(duì)測(cè)試需求集進(jìn)行化簡(jiǎn)，這種方法化簡(jiǎn)方法簡(jiǎn)單直觀，但是沒(méi)有考慮到測(cè)試集中各測(cè)試集之間的內(nèi)在聯(lián)系，化簡(jiǎn)效果不太理想。第二類方法對(duì)模型檢測(cè)器的檢測(cè)算法進(jìn)行優(yōu)化，在模型檢測(cè)器針對(duì)某屬性P產(chǎn)生了測(cè)試用例后，在該用例的基礎(chǔ)上繼續(xù)探索狀態(tài)空間，如果發(fā)現(xiàn)路徑滿足新的屬性P’，則將P’從需求集中刪除，從而達(dá)到化簡(jiǎn)用例集的目的。該方法充分利用了模型檢測(cè)器的性能，人工干預(yù)極少，然而從現(xiàn)有用例探索對(duì)新屬性的滿足性的過(guò)程完全是盲目的，而且探索的深度也難以控制太淺效率難以保證，太深則資源消耗嚴(yán)重。第三類方法對(duì)已生成的測(cè)試集進(jìn)行化簡(jiǎn)，這種方法在模型檢測(cè)器生成一個(gè)測(cè)試序列之后尋找該測(cè)試序列和已生成測(cè)試集之間的內(nèi)在聯(lián)系，從而達(dá)到化簡(jiǎn)測(cè)試集的目的。這種方法目前仍以尋找不同測(cè)試序列中的相同安全狀態(tài)為主要思路，沒(méi)有考慮到安全狀態(tài)遷移的影響，仍有繼續(xù)化簡(jiǎn)的空間。
考慮到目前方法都是以測(cè)試路徑中的系統(tǒng)狀態(tài)為操作對(duì)象的，而在實(shí)際測(cè)試中， 決定測(cè)試集大小的直接因素是狀態(tài)遷移的數(shù)量，而不是狀態(tài)的數(shù)量，如何提供一種簡(jiǎn)化的測(cè)試用例集，以提高安全操作系統(tǒng)的驗(yàn)證效率是目前急待解決的技術(shù)問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種基于安全狀態(tài)遷移的測(cè)試用例集生成方法。首先將不存在相同安全狀態(tài)遷移的測(cè)試序列組成的測(cè)試集定義為簡(jiǎn)并測(cè)試集。接著針對(duì)利用模型檢測(cè)器生成的測(cè)試序列，尋找不同測(cè)試序列之間存在的相同安全狀態(tài)遷移，加以化簡(jiǎn)。在化簡(jiǎn)的同時(shí)記錄相關(guān)信息，以減少測(cè)試集中測(cè)試序列的數(shù)量；而且在測(cè)試失敗時(shí)，也能根據(jù)所記錄信息準(zhǔn)確定位失敗位置。從而最終得到簡(jiǎn)并測(cè)試集并達(dá)到盡可能化簡(jiǎn)測(cè)試集的目的。本發(fā)明的技術(shù)方案為一種測(cè)試用例集生成方法，其步驟為1)從測(cè)試需求集SP中取出一安全屬性P，取反后輸入模型檢測(cè)器生成該安全屬性 ρ的測(cè)試序列Tp ；2)提取測(cè)試序列Tp中所有的狀態(tài)遷移，并與測(cè)試需求集中所有已存在的狀態(tài)遷移進(jìn)行對(duì)比，將狀態(tài)遷移相同部分記錄到集合氏中；3)刪除Knownedges或Tp中的與集合E1*相同部分的狀態(tài)遷移；其中，Knownedges 為測(cè)試需求集中已經(jīng)存在的狀態(tài)遷移集合；4)對(duì)測(cè)試需求集SP中所有屬性，重復(fù)步驟1) 3)，生成簡(jiǎn)并測(cè)試序列集；5)將生成的測(cè)試序列集實(shí)例化，得到測(cè)試用例集。進(jìn)一步的，生成所述測(cè)試序列Tp之后，將該屬性ρ從所述測(cè)試需求集SP中刪除； 然后遍歷所述測(cè)試需求集SP中剩下的所有需求，查找所述測(cè)試序列Tp滿足的需求并將其從所述測(cè)試需求集SP中刪除。進(jìn)一步的，所述測(cè)試序列Tp = <0l，σ2, ... , ση>，Tp e TS;其中，TS為測(cè)試用例集合，on為第η個(gè)測(cè)試序列，第P個(gè)測(cè)試序列中的第k項(xiàng)表示為0pk，Opk = (Ipk, epk, hold) e P(N) XEX {0,1, NE}，k e [l..#Tp]，# 表示求集合的基數(shù)，集合
b = ^ TS I (3m [i J乃]丨^lm ^T1A σ η .2 = epk)· i}，用于記錄所有包括了狀態(tài)遷移e的測(cè)
試序列的編號(hào)，Ti為T(mén)S中的任意元素，i是測(cè)試序列的編號(hào)，ο im是Ti中的項(xiàng)，m屬于集合 [1. . STi]，epk為σ pk中的狀態(tài)遷移對(duì)( + sk)，hold為標(biāo)志位，E為包含了所有t e TS中的狀態(tài)遷移對(duì)(Sh，。的集合，￡￡(&5)，S為有限狀態(tài)集合，P(N)為自然數(shù)集合。
'0 當(dāng)σ,執(zhí)行不成立時(shí)進(jìn)一步的，所述標(biāo)志位hold的取值方法為hold =1 當(dāng)σ,‘執(zhí)行成立時(shí) ，
NE當(dāng)σ,尚未執(zhí)行時(shí)
i為第i個(gè)測(cè)試序列。進(jìn)一步的，定義函數(shù)，即測(cè)試序列T中包含的所有不帶標(biāo)簽的狀態(tài)遷移，計(jì)算交集E1 = EDGE(Tp) Π Knowledges，得到狀態(tài)遷移相同部分的集合。進(jìn)一步的，所述刪除Knownedges或Tp中的與集合E1中相同部分的狀態(tài)遷移的方法為
1)計(jì)算集合WepteW = {T, DTSI νσ e盡· / e σ.1},其中，DTS為簡(jiǎn)并測(cè)試序列集；2)如果集合R印laced不為空，則保留其中最長(zhǎng)的Ti,刪除剩下元素中的E1部分， 然后進(jìn)行步驟幻；如果集合Replaced為空，則直接進(jìn)行步驟3)；3)將EDGE (Tp)加入Knownedges集合中，將測(cè)試序列Tp加入DTS中，輸出所述簡(jiǎn)并測(cè)試序列集。進(jìn)一步的，刪除Knownedges或Tp中相同部分的狀態(tài)遷移時(shí)，同時(shí)記錄所刪除的狀態(tài)遷移信息。本發(fā)明結(jié)合模型檢測(cè)器基于有限狀態(tài)自動(dòng)機(jī)模型的特點(diǎn)，將待測(cè)系統(tǒng)抽象為有限狀態(tài)自動(dòng)機(jī)(Finite State Machine,FSM)模型，而針對(duì)系統(tǒng)的一個(gè)測(cè)試序列則為FSM的一個(gè)運(yùn)行序列。定義如下定義1 系統(tǒng)模型M是個(gè)有限狀態(tài)自動(dòng)機(jī)(FSA)，表示為M= (S，S0, L，T，F(xiàn))，其中S是有限狀態(tài)集合是初始狀態(tài)集合，L是一個(gè)有限標(biāo)簽集合；T是轉(zhuǎn)換集合， T^(SxLxS); F是最終狀態(tài)集合，F(xiàn)qS。定義2.系統(tǒng)M的一個(gè)運(yùn)行t，是一個(gè)有序的、可能有限也可能無(wú)限的轉(zhuǎn)換集合(序列)，表示為< (s0, I0, S1) , (S1, I1, s2) , (s2, I2, s3),... >,即yi,(i>0)-> (SiJl^e Γ其中，Si e S，Ii e L0模型檢測(cè)器每產(chǎn)生的這樣的一個(gè)運(yùn)行，就對(duì)應(yīng)著一條測(cè)試序列(用例)。為了便于表述，我們將測(cè)試序列t = <(s0, I0'，S1)，(Sl, I1'，&)，...，(sn, In'，sn+1)>, η = #t-l轉(zhuǎn)記為下面的形式t = < σ ” O2,..., ο η+1>·其中σ i = (I^ei)為二元組，Ii = 1'…力=(Si+Si)，i e [1. · n+l]，為狀態(tài)遷移對(duì)，表示系統(tǒng)M由狀態(tài)S"遷移到狀態(tài)Si。另記包含了所有t e TS中的狀態(tài)遷移對(duì) (S"，Si)的集合記為E。即如果存在t e TS，σ e t，那么一定有σ . 2 e E。此外，定義測(cè)試需求集為SP = {所有待驗(yàn)證的安全需求}，測(cè)試用例集合為T(mén)S = {所有待驗(yàn)證的安全需求的測(cè)試用例}。那么對(duì)于測(cè)試需求P e SP到測(cè)試用例集TS的映射為集合Test (ρ) = {t :TS·所有可以滿足ρ的測(cè)試用例t}，顯然Vpe爐G TS。本發(fā)明方法所提出的簡(jiǎn)并測(cè)試集(Degenerate Test Set, DTS)的定義為定義3.簡(jiǎn)并測(cè)試集(DTS)是這樣的測(cè)試集首先，它是TS的一個(gè)子集；其次，簡(jiǎn)并測(cè)試集中任意兩個(gè)測(cè)試序列都不包含相同的狀態(tài)遷移。本發(fā)明方法包含了三個(gè)層次1)利用模型檢測(cè)器生成測(cè)試序列、幻尋找測(cè)試序列與已生成測(cè)試集之間的相同狀態(tài)遷移、幻對(duì)相同狀態(tài)遷移進(jìn)行處理并將處理結(jié)果加入測(cè)試集。測(cè)試序列的生成需要利用模型檢測(cè)器運(yùn)行系統(tǒng)模型M，同時(shí)檢查M是否滿足取反后的安全需求，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的測(cè)試序列，一個(gè)安全需求對(duì)應(yīng)的測(cè)試序列不會(huì)超過(guò)一個(gè)；尋找相同狀態(tài)遷移則是將第一步中產(chǎn)生的測(cè)試序列中的狀態(tài)遷移與已生成測(cè)試集中所有狀態(tài)遷移進(jìn)行比較，相同部分則是需要化簡(jiǎn)掉的部分；狀態(tài)遷移處理則是對(duì)第二步中發(fā)現(xiàn)的狀態(tài)遷移進(jìn)行篩選和相關(guān)信息記錄，既要保證測(cè)試集中測(cè)試用例數(shù)最少，也要保證即使測(cè)試失敗，也可以根據(jù)記錄的信息找到導(dǎo)致測(cè)試失敗的狀態(tài)遷移。
本發(fā)明的具體步驟如下步驟A 測(cè)試序列的生成，從測(cè)試需求集SP中取出一個(gè)安全屬性P，取反后輸入模型檢測(cè)器，如果P成立，則模型檢測(cè)器生成該安全屬性P的測(cè)試序列Tp，如果ρ不成立，模型檢測(cè)器會(huì)報(bào)告沒(méi)有測(cè)試序列生成。步驟B 尋找相同狀態(tài)遷移，提取步驟A中得到的每個(gè)測(cè)試序列中所有的狀態(tài)遷移，并與測(cè)試需求集中所有已存在的狀態(tài)遷移集合Knowedges進(jìn)行對(duì)比，查找相同的部分， 將相同部分記錄到集合E1中。步驟C 狀態(tài)遷移處理，這一步驟分為兩部分，一方面選擇刪除Knowedges或Tp中的相同狀態(tài)遷移氏，另一方面需要記錄所刪除遷移的信息，以備測(cè)試失敗時(shí)進(jìn)行錯(cuò)誤定位。步驟D 結(jié)果輸出，對(duì)需求集SP中所有屬性實(shí)施以上步驟，最終可以得到簡(jiǎn)并測(cè)試集。從而達(dá)到化簡(jiǎn)初始測(cè)試集的目的。本發(fā)明的積極效果本發(fā)明以安全狀態(tài)遷移作為測(cè)試集的化簡(jiǎn)對(duì)象，和傳統(tǒng)的以安全狀態(tài)為對(duì)象的測(cè)試集化簡(jiǎn)方法相比，能更為有效、直接地縮小測(cè)試集的大小。此外，由于DTS中儲(chǔ)存了被化簡(jiǎn)狀態(tài)遷移的位置信息，所以在測(cè)試序列失敗時(shí)也可以準(zhǔn)確定位未滿足的安全需求。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明的輸入是待驗(yàn)證的系統(tǒng)模型與其所待測(cè)試的安全需求。輸入信息分為兩部分，一部分來(lái)源于已經(jīng)實(shí)施的軟硬件系統(tǒng)，它可以來(lái)自任何一個(gè)計(jì)算機(jī)軟件系統(tǒng)及設(shè)備，如主機(jī)、服務(wù)器、入侵檢測(cè)系統(tǒng)、路由器、防火墻等等。對(duì)這些設(shè)備上的運(yùn)行機(jī)制經(jīng)過(guò)形式化抽象、提取后得到的數(shù)學(xué)模型都可作為本發(fā)明的輸入信息。另一部分來(lái)源于這些系統(tǒng)、設(shè)備應(yīng)滿足的安全需求或安全屬性，如“setuid程序在執(zhí)行不可信程序前必須放棄root權(quán)限”或者“禁止以寫(xiě)模式打開(kāi)文件到stderr或stdout”等。以上信息要求完整全面，信息越完整， 驗(yàn)證結(jié)果越準(zhǔn)確。通過(guò)對(duì)輸入信息的層層處理和分析，最后得到進(jìn)一步為實(shí)際測(cè)試步驟的測(cè)試序列。下面給出詳細(xì)過(guò)程。步驟A 測(cè)試序列的生成。為了生成滿足安全需求ρ的測(cè)試用例，對(duì)待測(cè)系統(tǒng)建模并進(jìn)行模型檢測(cè)，檢驗(yàn)在模型各處屬性的滿足情況，如果出現(xiàn)反例，則表明存在滿足P的測(cè)試用例Tp，如果模型檢測(cè)器找不到的反例，則表明P是不存在對(duì)應(yīng)測(cè)試用例的。一個(gè)反例對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)試用例。由于模型檢測(cè)器對(duì)于一個(gè)P只生成一個(gè)反例，因此，一般情況下，利用模型檢測(cè)器生成測(cè)試用例時(shí)，一個(gè)待驗(yàn)證全需求P也只對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)試用例Τρ。在為ρ生成Tp之后，將ρ從需求集SP中刪除，然后遍歷SP中剩下的所有需求，檢查T(mén)p是否也滿足這些需求，如果滿足，則將所有Tp滿足的需求均從SP中刪除。步驟B 尋找相同狀態(tài)遷移。對(duì)于測(cè)試序列Tp = <σρ1, σρ2,... , σρη>，Tp e TS，我們將它的每一個(gè)項(xiàng)Qpk (P為測(cè)試序列的編號(hào)，k為測(cè)試序列ρ中各個(gè)項(xiàng)的編號(hào))由定義2中的二元組構(gòu)造為一個(gè)三元組opk = (Ipk, epk, hold) e P(N) XEX {Ο,Ι,ΝΕ}, k e [1. . #Tp]。
其中，P(N)為自然數(shù)集合；i^CSx^)，表示TS中所有狀態(tài)遷移對(duì)( + sk) 的集合，“#”在集合論中表示求集合的基數(shù)，也就是集合中包含元素的數(shù)量，集合 Ipk = [T1 TS 丨(3w [1..#7]| σ, e 7> σ,2 = epk)-i}，用于記錄 TS 中所有包括了狀態(tài)遷移 e
的測(cè)試序列的編號(hào)，Ti: TS表示TS中的任意元素Ti, i是測(cè)試序列的編號(hào)，σ im是Ti中的項(xiàng)， 3m:[l..#7；]的意思是“存在這樣的自然數(shù)m，m屬于集合[1. . ”，^為中的狀態(tài)遷移對(duì)(Sk+ sk)，σ m 2的意思是三元組中第二個(gè)元素，即em，初始狀態(tài)時(shí)Ipk = {ρ}，即初始狀態(tài)時(shí)，集合Ipk中只包含自身的序號(hào)P ；而hold是個(gè)標(biāo)志位
0 當(dāng)σ,執(zhí)行不成立時(shí) hold = 1 當(dāng)σ,執(zhí)行成立時(shí) NE當(dāng)σ,尚未執(zhí)行時(shí)這樣，當(dāng)在實(shí)際測(cè)試時(shí)，如果某個(gè)Tp中的某個(gè)狀態(tài)遷移出錯(cuò)(假設(shè)為opk)，只需檢查它對(duì)應(yīng)的opk. 1的元素，也就是相應(yīng)的Ipk集合，那么，所有Ti, i e Ipk都是無(wú)法執(zhí)行的測(cè)試序列；此外，當(dāng)DTS中所有的狀態(tài)轉(zhuǎn)移都被遍歷一遍之后，可以得到所有失敗的測(cè)試集合failwe = {7； 1巧e 7> 3 = 0} °由于DTS對(duì)不同測(cè)試序列中出現(xiàn)的相同狀態(tài)遷移僅保留一份，然而卻存在一個(gè)問(wèn)題如果擁有相同狀態(tài)遷移的兩個(gè)測(cè)試序列中有一個(gè)在具體測(cè)試中被證明不成立，那么另一個(gè)測(cè)試用例即使通過(guò)也不能保證它對(duì)應(yīng)的屬性成立。這個(gè)問(wèn)題在現(xiàn)有的以刪除測(cè)試序列中的冗余狀態(tài)為手段的測(cè)試用例化簡(jiǎn)方法中也存在，而且并未得到解決。本方法利用failure集合則可以解決這個(gè)問(wèn)題，在TS中所有測(cè)試序列都執(zhí)行完畢之后，failure集合可以收集所有失敗的測(cè)試序列。其次，定義函數(shù)^，即測(cè)試序列T中包含的所有不帶標(biāo)簽的狀態(tài)遷移，函數(shù)？^Ι ΙΡσΙΙσ.ρΟ.σ}，即測(cè)試序列T中所有包含了集合E 中的狀態(tài)遷移的項(xiàng)，e'表示E中的任意元素；而￡^(<5x5)。那么Tp與測(cè)試集中已經(jīng)存在的狀態(tài)遷移集合Knowledges的交集E1 = EDGE(Tp) Π Knownedges就是相同的、需要被化簡(jiǎn)掉的狀態(tài)遷移。步驟C 狀態(tài)遷移處理。在上一步驟獲得氏后，需要對(duì)其做一定的處理以獲得DTS。具體方法如下1)計(jì)算集合Replaced = [T1 DTS \/σ e E1 -i e σ.\}從而獲得擁有全部E1中狀態(tài)遷移的測(cè)試序列的集合。如果R印laced不為空，則保留其中最長(zhǎng)的Ti,刪除剩下元素中的E1部分，這樣可以保證留在DTS中的E1始終在最長(zhǎng)的測(cè)試序列中，從而盡可能地削減DTS中測(cè)試序列的數(shù)量；如果R印laced為空，則無(wú)需做此步處理。計(jì)算方法為if Replaced^ 0 thenTm — thelongest T e Replaced ；forall T e Replaced EXCEPT Tm doT ^ T-SEQ (Ti, E1)；end
end2)其次，將EDGE (Tp)加入KnownedgesJf Tp加入DTS。計(jì)算公式為Knownedges 一 Knownedges+EDGE (Tp)；DTS — DTS+Tp ；步驟D 結(jié)果輸出。重復(fù)以上步驟，當(dāng)SP為空時(shí)可以得到簡(jiǎn)并測(cè)試集DTS，該測(cè)試集與原始的、為每一個(gè)SP中的需求生成一個(gè)測(cè)試序列的測(cè)試集相比，擁有更高的化簡(jiǎn)率，更節(jié)省儲(chǔ)存空間。只需將DTS中的測(cè)試序列實(shí)例化，就可得到測(cè)試用例對(duì)實(shí)際系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試。盡管為說(shuō)明目的公開(kāi)了本發(fā)明的具體實(shí)施例，其目的在于幫助理解本發(fā)明的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以理解在不脫離本發(fā)明及所附的權(quán)利要求的精神和范圍內(nèi)，各種替換、變化和修改都是可能的。因此，本發(fā)明不應(yīng)局限于最佳實(shí)施例所公開(kāi)的內(nèi)容，本發(fā)明要求保護(hù)的范圍以權(quán)利要求書(shū)界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試用例集生成方法，其步驟為1)從測(cè)試需求集SP中取出一安全屬性P，取反后輸入模型檢測(cè)器生成該安全屬性ρ的測(cè)試序列Tp ；2)提取測(cè)試序列Tp中所有的狀態(tài)遷移，并與測(cè)試需求集中所有已存在的狀態(tài)遷移進(jìn)行對(duì)比，將狀態(tài)遷移相同部分記錄到集合氏中；3)刪除Knowledges或Tp中的與集合E1中相同部分的狀態(tài)遷移；其中，Knowledges為測(cè)試需求集中已經(jīng)存在的狀態(tài)遷移集合；4)對(duì)測(cè)試需求集SP中所有屬性，重復(fù)步驟1) 3)，生成簡(jiǎn)并測(cè)試序列集；5)將生成的測(cè)試序列集實(shí)例化，得到測(cè)試用例集。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于生成所述測(cè)試序列Tp之后，將該屬性ρ從所述測(cè)試需求集SP中刪除；然后遍歷所述測(cè)試需求集SP中剩下的所有需求，查找所述測(cè)試序列Tp滿足的需求并將其從所述測(cè)試需求集SP中刪除。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述測(cè)試序列Tp= <0l，σ2, ..., ση>， Tp e TS ；其中，TS為測(cè)試用例集合，ο η為第η個(gè)測(cè)試序列，第ρ個(gè)測(cè)試序列中的第k項(xiàng)表示為 °pk' Opk = (Ipk, epk, hold) e P(N) XEX {0，l，NE}，k e [1. #TP]，# 表示求集合的基數(shù)， 集合={Γ, :re|(3m:[l..#r,]|a,ffl e Γ, Aa,m2 = epk)-i}，用于記錄所有包括了狀態(tài)遷移 e的測(cè)試序列的編號(hào)，Ti為T(mén)S中的任意元素，i是測(cè)試序列的編號(hào)，ο im是Ti中的項(xiàng)，m屬于集合[l..#Ti]，epk為opk中的狀態(tài)遷移對(duì)(Slrf, sk)，hold為標(biāo)志位，E為包含了所有t e TS 中的狀態(tài)遷移對(duì)(Si^si)的集合，紀(jì)伽》，S為有限狀態(tài)集合，P(N)為自然數(shù)集合。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于所述標(biāo)志位hold的取值方法為 O 當(dāng)σ,執(zhí)行不成立時(shí)hold =1 當(dāng)σ,執(zhí)行成立時(shí) ，σ i為第i個(gè)測(cè)試序列。 NE當(dāng)σ,尚未執(zhí)行時(shí)
5.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于定義函數(shù)，即測(cè)試序列T中包含的所有不帶標(biāo)簽的狀態(tài)遷移，計(jì)算交集E1 = EDGE(Tp) η Knownedges，得到狀態(tài)遷移相同部分的集合。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于所述刪除Knownedges或Tp中的與集合E1中相同部分的狀態(tài)遷移的方法為1)計(jì)算集合i^kd= {Τ, DTSI νσ e盡· / e σ.1}，其中，DTS為簡(jiǎn)并測(cè)試序列集；2)如果集合Iteplaced不為空，則保留其中最長(zhǎng)的Ti,刪除剩下元素中的E1部分，然后進(jìn)行步驟幻；如果集合!^placed為空，則直接進(jìn)行步驟3)；3)將EDGE(Tp)加入Knowledges集合中，將測(cè)試序列Tp加入DTS中，輸出所述簡(jiǎn)并測(cè)試序列集。
7.如權(quán)利要求1或6所述的方法，其特征在于刪除Knownedges或Tp中相同部分的狀態(tài)遷移時(shí)，同時(shí)記錄所刪除的狀態(tài)遷移信息。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種測(cè)試用例集生成方法，屬于操作系統(tǒng)安全技術(shù)領(lǐng)域。本方法為1)從測(cè)試需求集SP中取出一安全屬性p，取反后輸入模型檢測(cè)器生成該安全屬性p的測(cè)試序列Tp；2)提取Tp中所有的狀態(tài)遷移，并與測(cè)試需求集中所有已存在的狀態(tài)遷移進(jìn)行對(duì)比，將狀態(tài)遷移相同部分記錄到集合EI中；3)刪除Knownedges或Tp中與集合EI中相同部分的狀態(tài)遷移；4)對(duì)測(cè)試需求集SP中所有屬性，重復(fù)步驟1)～3)，生成簡(jiǎn)并測(cè)試序列集；5)將生成的測(cè)試序列集實(shí)例化，得到測(cè)試用例集。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明能更為有效、直接地縮小測(cè)試集的大小。
文檔編號(hào)G06F11/36GK102193858SQ20101011684
公開(kāi)日2011年9月21日 申請(qǐng)日期2010年3月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月2日
發(fā)明者馮登國(guó), 張陽(yáng), 程亮 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院軟件研究所