專利名稱：觸控面板及其差動(dòng)辨識(shí)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于觸控面板，且特別是有關(guān)于一種觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法。
背景技術(shù)：
近來各式電子產(chǎn)品朝向操作簡(jiǎn)便、小體積以及大屏幕尺寸的方向發(fā)展。因此，許多電子產(chǎn)品都采用觸控面板以省略鍵盤或是操控按鍵，進(jìn)而使屏幕可配置的面積擴(kuò)大?，F(xiàn)今最常見的觸控面板大致可區(qū)分為電阻式、電容式、紅外線式及超音波式等觸控面板。傳統(tǒng)觸控面板至少需要2片銦錫氧化物andium Tin Oxide,以下稱ΙΤ0)膜，以分別測(cè)出X、Y方向的觸碰位置。傳統(tǒng)電容式觸控面板的觸控技術(shù)是利用在電容式觸控面板ITO膜的四角連接電極，并且加入一定的電信號(hào)。待手指觸碰電容式觸控面板上的任一點(diǎn)時(shí)，手指會(huì)帶走耦合在電容式觸控面板上的電荷并使得四角連接電極的電流產(chǎn)生變化。電容式觸控面板則可以利用偵測(cè)上述的四角連接電極上的能量變化差異來判斷出觸碰的行為與位置。然而，此傳統(tǒng)電容式觸控面板只能判斷出單點(diǎn)的觸碰行為。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有技術(shù)中電容式觸控面板只能判斷出單點(diǎn)的觸碰行為的技術(shù)問題，有必要提供一種可以精確辨識(shí)出單點(diǎn)、兩點(diǎn)甚至更多觸碰點(diǎn)的坐標(biāo)信息的觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法。同時(shí)提供一種可以精確辨識(shí)出單點(diǎn)、兩點(diǎn)甚至更多觸碰點(diǎn)的坐標(biāo)信息的觸控面板。本發(fā)明提出一種觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法。該觸控面板沿第一軸向與第二軸向各自具有多個(gè)掃描電極與多個(gè)感測(cè)電極。該差動(dòng)辨識(shí)方法包括下述步驟在該多個(gè)掃描電極中選擇第i個(gè)掃描電極，以提供一驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極；在提供該驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極的期間，感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極中第j個(gè)感測(cè)電極與相鄰近的另一個(gè)感測(cè)電極的特征差值A(chǔ)C(Lj),以及感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極中第k個(gè)感測(cè)電極與一參考特征值的特征差值A(chǔ)Ci，前述i、j、k為整數(shù)；將觸控面板的多個(gè)感測(cè)點(diǎn)中的一個(gè)基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)的特征值設(shè)定為一基準(zhǔn)特征值；以及使用該基準(zhǔn)特征值、該多個(gè)特征差值A(chǔ)Ci與該多個(gè)特征差值 AC(i，j)計(jì)算該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)的特征值。本發(fā)明提出一種觸控面板，包括一第一導(dǎo)電層、一第二導(dǎo)電層、多個(gè)掃描電極、多個(gè)掃描電極以及一控制器。掃描電極沿第一軸向配置在第一導(dǎo)電層的一側(cè)，而感測(cè)電極沿第二軸向配置在第二導(dǎo)電層的一側(cè)?？刂破饔谠摱鄠€(gè)掃描電極中選擇第i個(gè)掃描電極，以提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極。在提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極的期間， 該控制器感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極中第j個(gè)感測(cè)電極與相鄰近的另一個(gè)感測(cè)電極的特征差值 AC(i，j)，以及感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極中第k個(gè)感測(cè)電極與一參考特征值的特征差值A(chǔ)Ci。 該控制器將觸控面板的多個(gè)感測(cè)點(diǎn)中的一個(gè)基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)的特征值設(shè)定為基準(zhǔn)特征值。該控制器使用該基準(zhǔn)特征值、該多個(gè)特征差值A(chǔ)Ci與該多個(gè)特征差值A(chǔ)C(i，j)計(jì)算該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)的特征值。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的計(jì)算該觸控面板的多個(gè)感測(cè)點(diǎn)的特征值的步驟包括計(jì)算AC[i] = ACi-ACi+l，其中AC[i]表示第i個(gè)與第i+1個(gè)掃描電極的特征差值； 如果該基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)位于第j列，則使用該基準(zhǔn)特征值計(jì)算C(i+l，j) =C(i，j) + AC[i]或計(jì)算C(i_l，j) = C(i，j)_AC[i]，其中C(i，j)表示該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)中第i行第j列感測(cè)點(diǎn)的特征值；以及計(jì)算 C(i，j+1) = C(i，j) + AC(i, j)或計(jì)算 C(i，j-1) = C(i，j)-AC(i, j)。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法，進(jìn)一步包括計(jì)算第i條掃描線在所有感測(cè)點(diǎn)的特征值中最小特征值與該基準(zhǔn)特征值的差值，作為一補(bǔ)償值；以及依據(jù)該補(bǔ)償值調(diào)整該第i條掃描線在所有感測(cè)點(diǎn)的特征值。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法，進(jìn)一步包括計(jì)算第i條掃描線在所有感測(cè)點(diǎn)的一平均特征值；計(jì)算該平均特征值與該基準(zhǔn)特征值的差值，作為一補(bǔ)償值；以及依據(jù)該補(bǔ)償值調(diào)整該第i條掃描線在所有感測(cè)點(diǎn)的特征值。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述感測(cè)特征差值A(chǔ)Ci的步驟包括感測(cè)所述第k個(gè)感測(cè)電極與該觸控面板的閑置感測(cè)電極的特征差值A(chǔ)Ci。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述感測(cè)特征差值A(chǔ)Ci的步驟包括感測(cè)所述第k個(gè)感測(cè)電極與一參考電容器的特征差值A(chǔ)Ci?；谏鲜?，本發(fā)明實(shí)施例所揭露的差動(dòng)辨識(shí)方法采用全平面掃描方式，可以精確辨識(shí)出在觸控面板上單點(diǎn)、兩點(diǎn)甚至更多觸碰點(diǎn)的坐標(biāo)信息，且無鬼點(diǎn)問題。為讓本發(fā)明上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合所附圖式作詳細(xì)說明如下。


圖1是依照本發(fā)明實(shí)施例說明一種觸控面板的功能模塊示意圖。圖2是依照本發(fā)明其中一個(gè)實(shí)施例說明圖1所示觸控面板的組合圖。圖3是依照本發(fā)明實(shí)施例說明圖2所示觸控面板的辨識(shí)方法示意圖。圖4是依照本發(fā)明實(shí)施例說明圖1所示觸控面板的示意圖。圖5是依照本發(fā)明實(shí)施例說明圖4中掃描電極Sl S5被提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)的時(shí)序關(guān)系示意圖。圖6是依照本發(fā)明實(shí)施例說明觸控面板所有感測(cè)點(diǎn)的特征值之示意圖。圖7是依照本發(fā)明實(shí)施例說明圖6所示特征值校正后之示意圖。圖8是依照本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例說明圖1所示觸控面板100的組合圖。主要元件符號(hào)說明控制器10
觸控面板100
第--導(dǎo)電膜110
第--導(dǎo)電層113
第--電極114
第二二導(dǎo)電膜120
第二二導(dǎo)電層123
第二電極導(dǎo)線膠體層缺口絕緣間隔物軟性電路板金屬接點(diǎn)主導(dǎo)電方向閑置感測(cè)電極感測(cè)電極掃描電極特征值特征差值笛卡兒坐標(biāo)系統(tǒng)的坐標(biāo)軸
124
125
130
131
132
140
141
CD1、CD2 DO、DO，
Dl D12 Sl S9
C(l,l) C(5，5)
AC(1,1) AC(5，4)，ACl AC5，
AC[1] Δ C [4]
Χ、Υ、Ζ
具體實(shí)施例方式以下實(shí)施例所辨識(shí)的觸控面板可以是任何形式的觸控面板，例如電容式觸控面板、電阻式觸控面板或是具有碳納米管(CarbonNano-Tube，CNT)薄膜的觸控面板等。此觸控面板沿第一軸向與第二軸向(例如X軸與Y軸，但不以此為限)各自具有多個(gè)掃描電極與多個(gè)感測(cè)電極。另外，基于所辨識(shí)之觸控面板的類型，要辨識(shí)的特征值也會(huì)有所不同。為了能更具體地說明實(shí)現(xiàn)方式，以下將以電容式觸控面板為示范例，且以電容值作為要辨識(shí)的特征值。所屬領(lǐng)域技術(shù)人員可依據(jù)下述實(shí)施例之教示而類推至其它類型的觸控面板。要辨識(shí)的特征值除了電容值外，也可能是電流值或電壓值。圖1是依照本發(fā)明實(shí)施例說明一種觸控面板100的功能模塊示意圖。圖2是依照本發(fā)明其中一個(gè)實(shí)施例說明圖1所示觸控面板100的組合圖。在圖2中引入笛卡兒坐標(biāo)系統(tǒng)(Cartesian CoordinateSystem)，其包括相互垂直的X軸方向、Y軸方向和Z軸方向。為了簡(jiǎn)化圖式及說明，圖2中之第一電極114和第二電極124僅分別以五電極表示，但實(shí)際應(yīng)用時(shí)，第一感測(cè)電極114和第二感測(cè)電極IM的數(shù)目，可根據(jù)實(shí)際觸控面板的面積和應(yīng)用領(lǐng)域而定。如圖2所示，觸控面板100由第一導(dǎo)電膜110與第二導(dǎo)電膜120相疊合而成。介電層結(jié)構(gòu)配置在第一導(dǎo)電膜110與第二導(dǎo)電膜120之間。此介電層結(jié)構(gòu)可以是圖2所示環(huán)形膠體層130，也可以是其它結(jié)構(gòu)。第一導(dǎo)電膜110與第二導(dǎo)電膜120 二者以環(huán)形膠體層130 粘合固定。第一導(dǎo)電膜110與第二導(dǎo)電膜120之間均勻散布多個(gè)絕緣間隔物(Spacer) 132， 使兩導(dǎo)電膜110、120維持一固定間距。第一導(dǎo)電膜110包括第一導(dǎo)電層113與第一電極114。在第一導(dǎo)電層113的一側(cè)沿第一軸向(例如x軸方向)設(shè)置多個(gè)第一電極114。其中，第一電極114間的間距相等， 并分別與第一導(dǎo)電層113電性連接；第一電極114的末端延伸到第一導(dǎo)電膜110的下緣中央，作為對(duì)外部傳遞信號(hào)之用。
7
第二導(dǎo)電膜120也包括第二導(dǎo)電層123與第二電極124。在第二導(dǎo)體層123的一側(cè)沿第二軸向(例如Y軸方向)設(shè)置多個(gè)第二電極124。第二電極124間的間距相等，并分別與第二導(dǎo)電層123電性連接；第二電極124與第二導(dǎo)電膜120右側(cè)數(shù)條平行排列的連接導(dǎo)線125連接，連接導(dǎo)線125沿著第二導(dǎo)電層123右側(cè)邊緣延伸，連接導(dǎo)線125的末端延伸至第二導(dǎo)電膜120的下緣中央，作為對(duì)外部傳遞信號(hào)之用。此外，觸控面板100另包括一軟性印刷電路板140，其具有多個(gè)金屬接點(diǎn)141，在環(huán)形膠體層130下緣中央具有一缺口 131。在組裝時(shí)，該缺口 131與軟性電路板140對(duì)應(yīng)，軟性電路板140上下的金屬接點(diǎn)141可與第一導(dǎo)電膜110及第二導(dǎo)電膜120上的各導(dǎo)線的末端電性連接，可使外部電信號(hào)傳遞到第一導(dǎo)電層110的第一電極114以及第二導(dǎo)電層120 的第二電極1 上。在一較佳實(shí)施例中，本發(fā)明實(shí)施例觸控面板100所使用的環(huán)形膠體層130可以是熱固化膠或UV固化膠等。為了提高觸控面板100的可靠度，并縮減觸控面板100的邊框?qū)挾?，本?shí)施例中的第一導(dǎo)電層113與第二導(dǎo)電層123是以碳納米管薄膜所構(gòu)成。此碳納米管薄膜具有導(dǎo)電特性，其由超順垂直排列碳納米管陣列(SuperVertical-Aligned Carbon Nanotube Array)透過拉伸方式制成，可應(yīng)用于制作透明的導(dǎo)電薄膜。在拉伸制程中，長(zhǎng)煉狀碳納米管約略沿著拉伸方向平行排列，因而碳納米管導(dǎo)電薄膜在拉伸方向具有較低阻抗，在垂直拉伸方向阻抗約為拉伸方向阻抗的50至350倍之間，其表面電阻也因量測(cè)的位置不同、方向不同而介于1ΚΩ至800ΚΩ之間，因此第一導(dǎo)電層113及第二導(dǎo)電層123具有導(dǎo)電異向性(Anisotropic Conductivity)。如圖2所示，在本發(fā)明實(shí)施例中，第一導(dǎo)電層113具有一主導(dǎo)電方向⑶1(原導(dǎo)電膜拉伸方向)，第二導(dǎo)電層123具有另一主導(dǎo)電方向CD2。在此實(shí)施例中，第一導(dǎo)電層113的主導(dǎo)電方向(即低阻抗方向)CDl及第二導(dǎo)電層123的主導(dǎo)電方向CD2相互垂直。例如，第二導(dǎo)電層123的低阻抗方向⑶2為X軸方向，而第一導(dǎo)電層113的低阻抗方向⑶1為Y軸方向。在此，第一導(dǎo)電層113與第二導(dǎo)電層123在主導(dǎo)電方向之垂直方向的阻抗，約為主導(dǎo)電方向⑶1、⑶2阻抗的100至200倍之間。如圖1所示，控制器10電性連接至第一電極114與第二電極124。在辨識(shí)Y軸向的碰觸位置時(shí)，第一電極114被當(dāng)作掃描電極，因此控制器10同時(shí)提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)(例如邏輯高準(zhǔn)位)給所有第一電極114，并在提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所有第一電極114的期間，逐一感測(cè)每一個(gè)第二電極1 的特征值(例如電容值、電阻值或電壓值)。然后，控制器10再同時(shí)將驅(qū)動(dòng)信號(hào)改提供給所有第二電極124，并在提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所有第二電極124的期間，逐一感測(cè)每一個(gè)第一電極114的特征值?？刂破?0完成上述辨識(shí)的動(dòng)作后，便可以得到觸碰點(diǎn)的X、Y軸坐標(biāo)信息。為了簡(jiǎn)化說明，以下實(shí)施例以觸控面板100在操作時(shí)，僅有二個(gè)觸控點(diǎn)舉例。但實(shí)際操作時(shí)，本發(fā)明實(shí)施例觸控面板之多點(diǎn)辨識(shí)方法也可適用于更多觸控點(diǎn)的情形。圖3是依照本發(fā)明實(shí)施例說明圖2所示觸控面板100的辨識(shí)方法示意圖。假設(shè)觸控面板100上有兩個(gè)觸碰點(diǎn)，其坐標(biāo)分別是(xl，y2)與(x2，yl)?？刂破?0進(jìn)行上述操作而同時(shí)提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)給所有第一電極114，并感測(cè)每一個(gè)第二電極IM的電容值。由每一個(gè)第二電極IM的電容值可以求得觸碰點(diǎn)的Y軸坐標(biāo)是y2與yl。接下來，控制器10進(jìn)行上述操作而同時(shí)將驅(qū)動(dòng)信號(hào)改提供給所有第二電極124，并感測(cè)每一個(gè)第一電極114的電容值。由每一個(gè)第一電極114的電容值可以求得觸碰點(diǎn)的X軸坐標(biāo)是xl與x2。完成上述辨識(shí)的動(dòng)作后，控制器 10便可以得到兩個(gè)觸碰點(diǎn)的X、Y軸的坐標(biāo)信息。然而，此辨識(shí)方式會(huì)有鬼點(diǎn)的問題與信號(hào)遮蔽問題。例如，控制器10無法判斷兩個(gè)觸碰點(diǎn)坐標(biāo)到底是(xl，y2)、(x2, yl)，還是(xl， yl)> (x2，y2)。圖4是依照本發(fā)明實(shí)施例說明圖1所示觸控面板100的示意圖。為了簡(jiǎn)化圖式及說明，圖4中僅以掃描電極Sl S5表示第一電極114，以及用感測(cè)電極Dl D5表示第二電極124，但實(shí)際應(yīng)用時(shí)，掃描電極及感測(cè)電極的數(shù)目可根據(jù)實(shí)際觸控面板的面積及應(yīng)用需求而定。通過圖2中第一導(dǎo)電層113及第二導(dǎo)電層123所具有的導(dǎo)電異向性，掃描電極 Sl S5相當(dāng)于各自電性連接到對(duì)應(yīng)的一條掃描線，而感測(cè)電極Dl D5也相當(dāng)于各自電性連接至對(duì)應(yīng)的一條感測(cè)線。前述掃描線與感測(cè)線的每一個(gè)交會(huì)處形成一個(gè)感測(cè)電容，而每一個(gè)感測(cè)電容可以作為一個(gè)感測(cè)點(diǎn)，如圖4所示。在辨識(shí)過程中，掃描電極Sl S5會(huì)以一次一個(gè)的方式輪流被選擇并且被提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)。前述掃描電極Sl S5的順序可以是以循序方式選擇下一個(gè)掃描電極，也可以是交錯(cuò)方式，例如先掃Si、S3、S5，再掃S2、S4...，或是以S3、S2、S4、Si、S5的順序進(jìn)行掃描。 在其它實(shí)施例中，掃描電極Sl S5的驅(qū)動(dòng)順序也可以是任何有規(guī)則或無規(guī)則的順序，例如隨機(jī)決定驅(qū)動(dòng)順序，或是其它任何方式?jīng)Q定驅(qū)動(dòng)順序。本實(shí)施例將以循序方式?jīng)Q定掃描電極Sl S5的掃描順序。圖5是依照本發(fā)明實(shí)施例說明圖4中掃描電極Sl S5被提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)的時(shí)序關(guān)系示意圖。也就是說，在掃描電極Sl S5中選擇第i個(gè)掃描電極Si，以提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述掃描電極Si ；接下來選擇并提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)到第i+Ι個(gè)掃描電極S(i+1)。 前述i為整數(shù)。在提供該驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極Si的期間，控制器10以差動(dòng)放大器感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極Dl D5中第j個(gè)感測(cè)電極Dj與相鄰近的另一個(gè)感測(cè)電極的特征差值 Δ C (i，j)，以及以差動(dòng)放大器感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極Dl D5中第k個(gè)感測(cè)電極Dk與某一參考特征值Cref的特征差值A(chǔ)Ci，其中j、k為整數(shù)。前述「相鄰近的兩個(gè)感測(cè)電極」可以是相互鄰接的兩個(gè)感測(cè)電極，例如感測(cè)第j個(gè)感測(cè)電極Dj與第j+Ι個(gè)感測(cè)電極D (j+Ι)而獲得特征差值A(chǔ)CG，j)?；蛘?，「相鄰近的兩個(gè)感測(cè)電極」也可以是中間隔著一個(gè)、兩個(gè)或更多個(gè)其它感測(cè)電極的兩個(gè)感測(cè)電極，例如感測(cè)第j個(gè)感測(cè)電極Dj與第j+2個(gè)感測(cè)電極D(j+2) 而獲得特征差值A(chǔ)C(i，j)。在本實(shí)施例中，上述特征差值A(chǔ)C(i，j)是指該多個(gè)感測(cè)電極 Dl D5中第j個(gè)感測(cè)電極Dj與第j+Ι個(gè)感測(cè)電極D(j+1)的特征差值，而上述特征差值可以是電容差值。上述感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極Dl D5中相鄰近的兩個(gè)感測(cè)電極的實(shí)現(xiàn)方式， 可以是以一次一對(duì)感測(cè)電極的方式感測(cè)相鄰近的兩個(gè)感測(cè)電極的特征差值A(chǔ)C(Lj),也可以同時(shí)完成前述所有特征差值的感測(cè)操作。例如，假設(shè)上述「第k個(gè)感測(cè)電極」為D1，也就是控制器10以差動(dòng)放大器感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極Dl D5中的邊緣電極Dl與某一參考特征值Cref的特征差值。在提供該驅(qū)動(dòng)信號(hào)到第1個(gè)掃描電極Sl的期間，控制器10以差動(dòng)放大器感測(cè)相鄰近的感測(cè)電極Dl與 D2的特征差值Δ C (1，1)、感測(cè)電極D2與D3的特征差值Δ C (1，2)、感測(cè)電極D3與D4的特征差值Δ C (1，3)、感測(cè)電極D4與D5的特征差值Δ C (1，4)、以及以差動(dòng)放大器感測(cè)第1個(gè)感測(cè)電極Dl與某一參考特征值Cref的特征差值A(chǔ)C1。前述參考特征值Cref可以由配置在觸控面板100上的閑置感測(cè)電極(Dummy Detecting Electrode)DO來提供。也就是說，在提供該驅(qū)動(dòng)信號(hào)到第1個(gè)掃描電極Sl的期間，差動(dòng)放大器感測(cè)第1個(gè)感測(cè)電極Dl與觸控面板100的閑置感測(cè)電極DO的特征差值A(chǔ)C1。在本實(shí)施例中，上述閑置感測(cè)電極DO并沒有連接實(shí)體感測(cè)線。應(yīng)用本實(shí)施例者可以視其設(shè)計(jì)需求而任意決定閑置感測(cè)電極DO的連接架構(gòu)，比如說將閑置感測(cè)電極DO連接到比較特別的線(例如地線)。在其它實(shí)施例中， 在觸控面板100上可能沒有配置上述閑置感測(cè)電極D0，而前述參考特征值Cref可以由配置在觸控面板100外的參考電容器來提供。也就是說，控制器10以差動(dòng)放大器感測(cè)所述第1 個(gè)感測(cè)電極Dl與該參考電容器的特征差值Δ Cl。接下來，在提供該驅(qū)動(dòng)信號(hào)到第2個(gè)掃描電極S2的期間，以差動(dòng)放大器感測(cè)相鄰近的感測(cè)電極Dl與D2的特征差值Δ C(2，1)、感測(cè)電極D2與D3的特征差值Δ以2，2)、感測(cè)電極D3與D4的特征差值Δ C 0，3)、感測(cè)電極D4與D5的特征差值Δ C 0，4)、以及以差動(dòng)放大器感測(cè)第1個(gè)感測(cè)電極Dl與該參考特征值Cref的特征差值A(chǔ)C2。以此類推，獲得特征差值 AC(3,1) AC(3，4)、AC(4，1) Δ C (4,4), Δ C (5,1) Δ C (5,4)以及特征差值 AC3、AC4、AC5。需強(qiáng)調(diào)的是，前述「第k個(gè)感測(cè)電極」可以依據(jù)設(shè)計(jì)需求而任意決定。例如，以圖 4為例，上述「第k個(gè)感測(cè)電極」可以是D5或其它感測(cè)電極。也就是說，可以視設(shè)計(jì)需求而從感測(cè)電極Dl D5中選擇任何一條感測(cè)電極來偵測(cè)出特征差值A(chǔ)Cl AC5。另外，前述閑置感測(cè)電極DO的位置并不限于圖4所示。閑置感測(cè)電極DO的位置可以視設(shè)計(jì)需求而定，例如圖4中閑置感測(cè)電極DO’之位置或是其它任何位置。利用上述特征差值A(chǔ)Cl AC5可轉(zhuǎn)換為另一軸向的信息。例如，計(jì)算AC[i]= ACi-ACi+l，其中AC[i]表示第i個(gè)掃描電極Si與第i+Ι個(gè)掃描電極S(i+1)的特征差值。請(qǐng)參照?qǐng)D4，由于ACl = C(l，l)-Cref，而Δ C2 =以2，l)_Cref，所以第1個(gè)掃描電極 Sl與第2個(gè)掃描電極S2的特征差值A(chǔ)C[1] = C(l，l)-C(2，l) = AC1_AC2。以此類推， 可以計(jì)算出特征差值A(chǔ)C[2] AC[4]。上述辨識(shí)所獲得的值都是相對(duì)特征值，如果要獲得所有感測(cè)點(diǎn)的特征值，則需要將觸控面板100多個(gè)感測(cè)點(diǎn)中任選一個(gè)感測(cè)點(diǎn)作為基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)，并將此基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)的特征值預(yù)先設(shè)定為某一基準(zhǔn)特征值。接下來，便可以使用該基準(zhǔn)特征值、特征差值A(chǔ)Cl AC5、 與特征差值A(chǔ)C(Ll) AC(1，4)、特征差值A(chǔ)C(2,1) 八以2，4)、特征差值A(chǔ)C(3,1) Δ C (3，4)、特征差值八以4，1) Δ C 0，4)、特征差值A(chǔ)C(5，1) Δ C (5，4)計(jì)算所有感測(cè)點(diǎn)的特征值。若該基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)位于第j列，則使用該基準(zhǔn)特征值計(jì)算C(i+1，j) = C(i， j)_AC[i](或計(jì)算C(i_l，j) = C(i，j) + AC[i])。其中，C(i，j)表示該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)中第i 行第j列感測(cè)點(diǎn)的特征值。例如，假設(shè)感測(cè)點(diǎn)未被觸碰之特征值為C0，且假設(shè)選擇第1行第 1列感測(cè)點(diǎn)(即圖4標(biāo)示C(l，l)處)作為基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)，則此基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)的特征值C(l，l)會(huì)被設(shè)定為CO (即基準(zhǔn)特征值)。由于AC[1] =0(1，1)-以2，1)，所以特征值C(2，l) =C(1， 1)-AC[1] = C0-AC[1]。依此類推，可以算出特征值 C(3，1)、C(4，1)與 C(5，l)。接下來計(jì)算C(i，j+1) =C(i，j)_AC(i，j)(或計(jì)算 C(i，j-1) = C (i，j) + Δ C (i， j))，以算出其它感測(cè)點(diǎn)的特征值。例如，請(qǐng)參照?qǐng)D4，由于特征差值A(chǔ)C(1，1) = C(l, 1)-C(1，2)，所以特征值 C(l，2) = C(Ll)-AC(Ll) =C0_AC(1，1)。依此類推，可以算出特征值C(1，3)、C(1，4)與C(l，5)。相類似地，使用特征值以2，1)、C(3，1)、CG，l)與C(5，1)，以及使用特征差值八以2，1) 八以2，4)、特征差值A(chǔ)C(3，1) AC(3，4)、特征差值 AC(4,1) 八以4，4)、特征差值A(chǔ)C(5，1) AC(5，4)可以計(jì)算其它感測(cè)點(diǎn)的特征值。在獲得所有感測(cè)點(diǎn)的特征值后，便可以決定哪一個(gè)或哪些個(gè)感測(cè)點(diǎn)是觸碰點(diǎn)。例如，可以將所有感測(cè)點(diǎn)的特征值與一臨界值相比較，而特征值超過臨界值的感測(cè)點(diǎn)則可以決定該感測(cè)點(diǎn)為觸碰點(diǎn)。又例如，如果在這些感測(cè)點(diǎn)中，某一個(gè)感測(cè)點(diǎn)(以下稱第一感測(cè)點(diǎn))的特征值大于與此第一感測(cè)點(diǎn)相鄰接的所有感測(cè)點(diǎn)的特征值，則決定此第一感測(cè)點(diǎn)為觸碰點(diǎn)。由于本實(shí)施例所揭露的差動(dòng)辨識(shí)方法采用全平面掃描方式，可以精確辨識(shí)出在觸控面板上單點(diǎn)、兩點(diǎn)甚至更多觸碰點(diǎn)的坐標(biāo)信息，且無鬼點(diǎn)問題。應(yīng)用上述實(shí)施例者可以依據(jù)設(shè)計(jì)需求而改變實(shí)施方式。例如，以圖4為例，上述 「第k個(gè)感測(cè)電極」可以是D3。也就是說，選擇感測(cè)電極D3來偵測(cè)出特征差值A(chǔ)Cl AC5。 另外，假設(shè)選擇第3行第3列感測(cè)點(diǎn)(即圖4標(biāo)示C(3，3)處)作為基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)，則此基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)的特征值C(3，;3)會(huì)被設(shè)定為基準(zhǔn)特征值CO。依前述假設(shè)，可以算出特征值C(4，3)= C0-AC[3]、C(5，3) = C(4,3)-AC[4],C(2,3) = CO+Δ C [2]與 C(l，3) = C(2,3) + AC[1] 然后，接著算出特征值 C(3，4) = CO-Δ C (3, 3), C (3, 5) = C (3，4) - Δ C (3，4)、C (3，2)= CO+Δ C (3, 2)與C(3，l) = C(3，2) + AC(3，1)。其它感測(cè)點(diǎn)的特征值可以推算出，在此不再贅述。依據(jù)實(shí)際應(yīng)用條件的不同，上述實(shí)施例在計(jì)算出所有感測(cè)點(diǎn)的特征值后，可以進(jìn)一步進(jìn)行校正步驟。例如，找出第i條掃描線Si上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值中最小特征值，然后計(jì)算此最小特征值與基準(zhǔn)特征值CO的差值作為補(bǔ)償值Coffset。然后，依據(jù)補(bǔ)償值Coffset 調(diào)整該第i條掃描線Si上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值。圖6是依照本發(fā)明實(shí)施例說明觸控面板所有感測(cè)點(diǎn)的特征值之示意圖。此觸控面板具有9個(gè)掃描線(即9個(gè)掃描電極Sl S9)與12個(gè)感測(cè)線(即12個(gè)感測(cè)電極Dl D12)。本實(shí)施例是假設(shè)有兩個(gè)觸碰點(diǎn)，其位置分別在掃描線S3與感測(cè)線D6交會(huì)處，以及在掃描線S6與感測(cè)線D6交會(huì)處，且假設(shè)基準(zhǔn)特征值CO為1023，并選擇掃描線Sl與感測(cè)線 Dl交會(huì)處之感測(cè)點(diǎn)作為基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)。經(jīng)過上述差動(dòng)辨識(shí)方法后，可計(jì)算出觸控面板上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值，如圖6所示。由圖6所示特征值可以找出相對(duì)極大值出現(xiàn)在掃描線S6與感測(cè)線D6交會(huì)處，則可以決定此感測(cè)點(diǎn)為觸碰點(diǎn)。然而，另一觸碰點(diǎn)可能會(huì)因?yàn)樯鲜龆鄠€(gè)特征差值的誤差而無法被辨識(shí)出。因此，圖6所示感測(cè)點(diǎn)的特征值需要進(jìn)行校正。圖7是依照本發(fā)明實(shí)施例說明圖 6所示特征值校正后之示意圖。例如，找出第2條掃描線S2上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值中最小特征值為1017，然后計(jì)算此最小特征值與基準(zhǔn)特征值CO的差值作為補(bǔ)償值Coffset，也就是Coffset = 1023-1017 = 6。然后，依據(jù)補(bǔ)償值Coffset調(diào)整掃描線S2上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值，也就是掃描線S2上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值都加上6。依此類推，逐一校正每一條掃描在線所有感測(cè)點(diǎn)的特征值，而獲得校正后的特征值如圖7所示。由圖7所示特征值可以找出有兩個(gè)相對(duì)極大值，分別出現(xiàn)在掃描線S6與感測(cè)線D6交會(huì)處，以及出現(xiàn)在掃描線S3與感測(cè)線D6交會(huì)處。因此，經(jīng)過校正后更可以精確辨識(shí)出此兩個(gè)觸碰點(diǎn)的位置。應(yīng)用本實(shí)施例者可以視其設(shè)計(jì)需求而改用其它校正方法來校正圖6所示特征值。 例如，計(jì)算第i條掃描線Si上所有感測(cè)點(diǎn)的平均特征值，然后計(jì)算該平均特征值與基準(zhǔn)特征值CO的差值作為補(bǔ)償值Coffset，最后依據(jù)補(bǔ)償值Coffset調(diào)整該第i條掃描線Si上所
11有感測(cè)點(diǎn)的特征值。例如，計(jì)算第2條掃描線S2上所有感測(cè)點(diǎn)的平均特征值，S卩(1039+104 1+1048+1054+1106+1236+1119+1045+1041+1038+1037+1023)/12 = 1069。然后計(jì)算此平均特征值與基準(zhǔn)特征值CO的差值作為補(bǔ)償值Coffset，也就是Coffset = 1023-1069 = -46。 然后，依據(jù)補(bǔ)償值Coffset調(diào)整掃描線Sl上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值，也就是掃描線Sl上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值都加上-46。依此類推，其余條掃描線上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值的校正過程不再贅述。前述實(shí)施例雖以電容值作為要感測(cè)的特征值，然而本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)方式不以此為限。例如，以電阻值作為要感測(cè)的特征值。當(dāng)手指、觸控筆等外物壓按觸控面板100時(shí)，圖2 所示第一導(dǎo)電層113與/或第二導(dǎo)電層123會(huì)因?yàn)橥馕锸┘拥膲毫Χa(chǎn)生局部形變，使得第一導(dǎo)電層113與第二導(dǎo)電層123的壓按處相互電性碰觸。因此，控制器10可以進(jìn)行上述差動(dòng)辨識(shí)方法而計(jì)算出觸控面板100每一個(gè)感測(cè)點(diǎn)的電阻值，進(jìn)而精確辨識(shí)出在觸控面板 100上單點(diǎn)、兩點(diǎn)甚至更多觸碰點(diǎn)的坐標(biāo)信息。須強(qiáng)調(diào)的是，前述差動(dòng)辨識(shí)方法可以應(yīng)用于任何形式的觸控面板，而不限于圖2 所示的觸控面板100。例如，圖8是依照本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例說明圖1所示觸控面板100的組合圖。圖8所示觸控面板100大部分結(jié)構(gòu)相似于圖2所示觸控面板100，因此圖8可以參照?qǐng)D2的相關(guān)說明。與圖2不同之處，在于圖8所示觸控面板100的第二導(dǎo)電層123是圖形化的ITO膜層(或是其它透明導(dǎo)電材質(zhì))。第二導(dǎo)電層123具有多條感測(cè)線，而圖8的第二導(dǎo)電層123僅繪示5條感測(cè)線作為代表?？刂破?0透過第二電極124電性連接至所有感測(cè)線。每一條感測(cè)線與第一導(dǎo)電層113之間形成多個(gè)感測(cè)電容，而每一個(gè)感測(cè)電容可以作為一個(gè)感測(cè)點(diǎn)，如圖4所示。因此，圖8所示觸控面板100也可進(jìn)行上述差動(dòng)辨識(shí)方法， 以辨識(shí)出在觸控面板100上單點(diǎn)、兩點(diǎn)甚至更多觸碰點(diǎn)的坐標(biāo)信息。綜上所述，上述實(shí)施例所揭露的差動(dòng)辨識(shí)方法采用全平面掃描方式，可以計(jì)算出每一個(gè)感測(cè)點(diǎn)的特征值，因此能夠精確辨識(shí)出在觸控面板上單點(diǎn)、兩點(diǎn)甚至更多觸碰點(diǎn)的坐標(biāo)信息，且無鬼點(diǎn)問題。
權(quán)利要求
1.一種觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法，該觸控面板沿一第一軸向與一第二軸向各自具有多個(gè)掃描電極與多個(gè)感測(cè)電極，該差動(dòng)辨識(shí)方法包括在該多個(gè)掃描電極中選擇第i個(gè)掃描電極，以提供一驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極， 其中i為整數(shù)；在提供該驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極的期間，感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極中第j個(gè)感測(cè)電極與相鄰近的另一個(gè)感測(cè)電極的特征差值A(chǔ)C(i，j)，其中j為整數(shù)；在提供該驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極的期間，感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極中第k個(gè)感測(cè)電極與一參考特征值的特征差值A(chǔ)Ci，其中k為整數(shù)；將該觸控面板的多個(gè)感測(cè)點(diǎn)中的一個(gè)基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)的特征值設(shè)定為一基準(zhǔn)特征值；以及使用該基準(zhǔn)特征值、多個(gè)特征差值A(chǔ)Ci與多個(gè)特征差值A(chǔ)C(i，j)計(jì)算該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)的特征值。
2.如權(quán)利要求1所述的觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法，其特征在于該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)的特征值為電容值、電流值或電壓值。
3.如權(quán)利要求1所述的觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法，其特征在于所述計(jì)算該觸控面板的多個(gè)感測(cè)點(diǎn)的特征值的步驟包括計(jì)算AC[i] = ACi-ACi+l，其中AC[i]表示第i個(gè)與第i+Ι個(gè)掃描電極的特征差值；如果該基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)位于第j列，則使用該基準(zhǔn)特征值計(jì)算C(i+1，j) = C(i,j)"AC[i] 或計(jì)算C(i_l，j) = C(i，j) + AC[i]，其中C(i，j)表示該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)中第i行第j列感測(cè)點(diǎn)的特征值；以及計(jì)算 C(i，j+1) = C(i，j)-AC(i, j)或計(jì)算 C(i，j-1) = C(i，j) + AC(i, j)。
4.如權(quán)利要求3所述的觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法，其特征在于該觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法進(jìn)一步包括計(jì)算第i條掃描線上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值中最小特征值與該基準(zhǔn)特征值的差值，作為一補(bǔ)償值；以及依據(jù)該補(bǔ)償值調(diào)整該第i條掃描線上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值。
5.如權(quán)利要求3所述的觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法，其特征在于該觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法進(jìn)一步包括計(jì)算第i條掃描線上所有感測(cè)點(diǎn)的一平均特征值；計(jì)算該平均特征值與該基準(zhǔn)特征值的差值，作為一補(bǔ)償值；以及依據(jù)該補(bǔ)償值調(diào)整該第i條掃描線上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值。
6.如權(quán)利要求1所述的觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法，其特征在于感測(cè)特征差值A(chǔ)Ci的步驟包括感測(cè)所述第k個(gè)感測(cè)電極與該觸控面板的一閑置感測(cè)電極的特征差值A(chǔ)Ci。
7.如權(quán)利要求1所述的觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法，其特征在于感測(cè)特征差值A(chǔ)Ci的步驟包括感測(cè)所述第k個(gè)感測(cè)電極與一參考電容器的特征差值A(chǔ)Ci。
8.如權(quán)利要求1所述的觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法，其特征在于感測(cè)特征差值A(chǔ)Ci的步驟所述第k個(gè)感測(cè)電極是該多個(gè)感測(cè)電極中的邊緣電極。
9.如權(quán)利要求1所述的觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法，其特征在于在該多個(gè)掃描電極中選擇第i個(gè)掃描電極的步驟，是以循序方式選擇下一個(gè)掃描電極。
10.如權(quán)利要求1所述的觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法，其特征在于該觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法進(jìn)一步包括如果在該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)中，一第一感測(cè)點(diǎn)的特征值大于與該第一感測(cè)點(diǎn)相鄰接的所有感測(cè)點(diǎn)的特征值，則決定該第一感測(cè)點(diǎn)為一觸碰點(diǎn)。
11.一種觸控面板，其包括一第一導(dǎo)電層；多個(gè)掃描電極，沿一第一軸向配置在該第一導(dǎo)電層的一側(cè)；一第二導(dǎo)電層；多個(gè)感測(cè)電極，沿一第二軸向配置在該第二導(dǎo)電層的一側(cè)；以及一控制器；其特征在于該控制器在該多個(gè)掃描電極中選擇第i個(gè)掃描電極，以提供一驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極，其中在提供該驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極的期間，該控制器感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極中第j個(gè)感測(cè)電極與相鄰近的另一個(gè)感測(cè)電極的特征差值A(chǔ)C(Lj)；在提供該驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極的期間，該控制器感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極中第k個(gè)感測(cè)電極與一參考特征值的特征差值A(chǔ)Ci，前述i、j、k為整數(shù)；該控制器將該觸控面板的多個(gè)感測(cè)點(diǎn)中的一個(gè)基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)的特征值設(shè)定為一基準(zhǔn)特征值；以及該控制器使用該基準(zhǔn)特征值、多個(gè)特征差值A(chǔ)Ci與多個(gè)特征差值A(chǔ)C(i，j)計(jì)算該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)的特征值。
12.如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)的特征值為電容值、電流值或電壓值。
13.如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于該控制器計(jì)算AC[i]= Δ Ci-Δ Ci+1，而Δ C[i]表示第i個(gè)與第i+1個(gè)掃描電極的特征差值；如果該基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)位于第j列，則該控制器使用該基準(zhǔn)特征值計(jì)算C(i+1，j) =C(i，j)-AC[i]或計(jì)算C(i_l， j) = C(i，j) + AC[i]，而C(i，j)表示該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)中第i行第j列感測(cè)點(diǎn)的特征值；以及該控制器計(jì)算 C(i，j+1) = C(i，j)-AC(i, j)或計(jì)算 C(i，j-1) = C(i，j) + AC(i, j)。
14.如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于該控制器還計(jì)算第i條掃描線上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值中最小特征值與該基準(zhǔn)特征值的差值，作為一補(bǔ)償值；以及該控制器依據(jù)該補(bǔ)償值調(diào)整該第i條掃描線上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值。
15.如權(quán)利要求13所述的觸控面板，其特征在于該控制器還計(jì)算第i條掃描線上所有感測(cè)點(diǎn)的一平均特征值；該控制器計(jì)算該平均特征值與該基準(zhǔn)特征值的差值，作為一補(bǔ)償值；以及該控制器依據(jù)該補(bǔ)償值調(diào)整該第i條掃描線上所有感測(cè)點(diǎn)的特征值。
16.如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于該控制器感測(cè)所述第k個(gè)感測(cè)電極與該觸控面板的一閑置感測(cè)電極的特征差值A(chǔ)Ci。
17.如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于該控制器感測(cè)所述第k個(gè)感測(cè)電極與一參考電容器的特征差值A(chǔ)Ci。
18.如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于所述第k個(gè)感測(cè)電極是該多個(gè)感測(cè)電極中的邊緣電極。
19.如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于該控制器是以循序方式選擇下一個(gè)掃描電極。
20.如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于該控制器進(jìn)一步比較該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)的特征值，其中如果在該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)中，一第一感測(cè)點(diǎn)的特征值大于與該第一感測(cè)點(diǎn)相鄰接的所有感測(cè)點(diǎn)的特征值，則該控制器決定該第一感測(cè)點(diǎn)為一觸碰點(diǎn)。
21.如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于該第一導(dǎo)電層為碳納米管膜。
22.如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于該第二導(dǎo)電層為碳納米管膜。
23.如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于該第二導(dǎo)電層為銦錫氧化物膜。
24.如權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于該觸控面板進(jìn)一步包括一介電層結(jié)構(gòu)，配置在該第一導(dǎo)電層與該第二導(dǎo)電層之間。
全文摘要
本發(fā)明公開一種觸控面板及其差動(dòng)辨識(shí)方法。該觸控面板的差動(dòng)辨識(shí)方法包括下述步驟在多個(gè)掃描電極中選擇第i個(gè)掃描電極，以提供一驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極；在提供該驅(qū)動(dòng)信號(hào)到所述第i個(gè)掃描電極的期間，感測(cè)多個(gè)感測(cè)電極中相鄰近的兩個(gè)感測(cè)電極的特征差值，以及感測(cè)該多個(gè)感測(cè)電極中第k個(gè)感測(cè)電極與一參考特征值的特征差值ΔCi，其中第j個(gè)與第j+1個(gè)感測(cè)電極的特征差值表示為ΔC(i，j)；將觸控面板的多個(gè)感測(cè)點(diǎn)中的一個(gè)基準(zhǔn)感測(cè)點(diǎn)的特征值設(shè)定為一基準(zhǔn)特征值；以及使用該基準(zhǔn)特征值、該些特征差值ΔCi與該些特征差值ΔC(i，j)計(jì)算該多個(gè)感測(cè)點(diǎn)的特征值。該觸控面板可以精確辨識(shí)出單點(diǎn)、兩點(diǎn)甚至更多觸碰點(diǎn)的坐標(biāo)信息。
文檔編號(hào)G06F3/044GK102193693SQ20101012624
公開日2011年9月21日 申請(qǐng)日期2010年3月17日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月17日
發(fā)明者施博盛, 鄭建勇, 陳柏仰 申請(qǐng)人:群創(chuàng)光電股份有限公司, 群康科技(深圳)有限公司