專利名稱：接口測(cè)試輔助裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種接口測(cè)試輔助裝置，特別涉及一種串行連接小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口 (Serial Attached Small Computer SystemInterface ；簡(jiǎn)稱 SAS接口)的接口測(cè)試輔助裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)今主機(jī)板的硬盤接口已漸漸從并行式ATA (AdvancedTechnology Attachment, 高階配置)接口演變成傳輸速度較快的SAS接口，以提高計(jì)算機(jī)的效能。主機(jī)板在裝配完成之后，需經(jīng)過全面的功能測(cè)試，其中包括對(duì)主機(jī)板上各種接口的測(cè)試。在對(duì)主機(jī)板的SAS接口進(jìn)行測(cè)試時(shí)，通常是通過連接SAS硬盤至主機(jī)板的SAS接口來進(jìn)行測(cè)試。但由于硬盤的價(jià)格一般較高，而且在受到震動(dòng)時(shí)也容易損壞硬盤，從而影響測(cè)試結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種能夠替代SAS硬盤來測(cè)試主機(jī)板的接口測(cè)試輔助裝置。一種接口測(cè)試輔助裝置，該接口測(cè)試輔助裝置用于輔助測(cè)試一待測(cè)板上的SAS接口。所述接口測(cè)試輔助裝置包括一內(nèi)存、一供電單元、一處理器以及至少一用于連接所述待測(cè)板上的SAS接口的測(cè)試SAS接口。所述供電單元為所述內(nèi)存及所述處理器供電，所述內(nèi)存與所述處理器相連，所述處理器與所述測(cè)試SAS接口相連，所述處理器用于通過所述測(cè)試SAS接口與待測(cè)板上的SAS接口接收來自待測(cè)板的串行數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)寫入所述內(nèi)存，以及讀出內(nèi)存內(nèi)的數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換成串行數(shù)據(jù)從所述測(cè)試SAS接口與待測(cè)板上的SAS接口輸出給待測(cè)板。本發(fā)明提供的接口測(cè)試輔助裝置通過利用不會(huì)受震動(dòng)影響的內(nèi)存來代替測(cè)試用 SAS硬盤，從而能夠避免因震動(dòng)而影響測(cè)試效果的情況發(fā)生，并可降低測(cè)試成本。


圖1為本發(fā)明實(shí)施方式的接口測(cè)試輔助裝置與待測(cè)板連接的示意圖。主要元件符號(hào)說明接口測(cè)試輔助裝置100承載體10內(nèi)存20內(nèi)存插槽30處理器40供電單元50電源接口51
第一輸入端510第二輸入端511第一輸出端512第二輸出端513電壓轉(zhuǎn)換器52測(cè)試SAS 接口60待測(cè)板200
待測(cè)板SAS 接口210數(shù)據(jù)線8電源線9第一電壓源Vl第二電壓源V具體實(shí)施例方式請(qǐng)參閱圖1，為本發(fā)明提供的接口測(cè)試輔助裝置100。該接口測(cè)試輔助裝置100用于代替SAS硬盤來測(cè)試一待測(cè)板200上的待測(cè)板SAS接口 210。本實(shí)施方式中，所述待測(cè)板 200是計(jì)算機(jī)的主機(jī)板。所述待測(cè)板200內(nèi)裝載有一測(cè)試程序。所述待測(cè)板200上包括第一電壓源Vl及第二電壓源V2。本實(shí)施方式中，所述第一電壓源Vl提供5V的電壓，所述第二電壓源V2提供3. 3V的電壓。所述接口測(cè)試輔助裝置100包括承載體10、內(nèi)存20、內(nèi)存插槽30、處理器40、供電單元50以及一用于連接所述待測(cè)板SAS接口 210的測(cè)試SAS接口
60。所述測(cè)試SAS接口 60數(shù)量還可以為多個(gè)，以同時(shí)測(cè)試待測(cè)板200上多個(gè)待測(cè)板SAS接□。所述內(nèi)存20插于所述內(nèi)存插槽30上，所述內(nèi)存插槽30與所述處理器40連接，所述處理器40與所述測(cè)試SAS接口 60連接。所述供電單元50分別與所述內(nèi)存插槽30及處理器40連接，從而為處理器40及插于所述內(nèi)存插槽30上的內(nèi)存20供電。本實(shí)施方式中，所述承載體10是一電路板。所述內(nèi)存插槽30、處理器40、供電單元50及測(cè)試SAS接口 60集成于所述承載體10上。所述內(nèi)存20具有一定的存儲(chǔ)容量，用于模擬硬盤的存儲(chǔ)功能。本實(shí)施方式中， 所述內(nèi)存20是第二代雙倍速率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(double-data-rate synchronous dynamic random accessmemory generation 2，■禾爾 DDR2)。當(dāng)M，內(nèi)# 20 iii^T 以ill 一代DDR、第三代DDR3或其他型號(hào)的內(nèi)存條。本實(shí)施方式中，所述內(nèi)存插槽30用于方便內(nèi)存20的更換及容量的擴(kuò)充。當(dāng)然，也可以不采用內(nèi)存插槽30，而直接將內(nèi)存20固定在承載體10上，并在承載體10上鋪設(shè)用于連接內(nèi)存20與處理器40及供電單元50的印刷電路。所述處理器40用于通過所述測(cè)試SAS接口 60與待測(cè)板200上的待測(cè)板SAS接口 210接收來自待測(cè)板200的串行數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)寫入所述內(nèi)存20，以及讀出內(nèi)存20 內(nèi)的數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換成串行數(shù)據(jù)從所述測(cè)試SAS接口 60與待測(cè)板SAS接口 210輸出給待測(cè)板 200。本實(shí)施方式中，所述處理器40采用賽靈思公司生產(chǎn)的Spartan系列的XC3S1400A型號(hào)芯片。當(dāng)所述內(nèi)存20采用DDR3時(shí)，所述處理器40采用賽靈思公司生產(chǎn)的Spartan系列的XC6SLX150T型號(hào)芯片。所述測(cè)試SAS接口 60通過數(shù)據(jù)線8連接至待測(cè)板200上的待測(cè)板 SAS 接口 210。所述供電單元50可以是承載體10上的電壓源，或是一將外部電源引入的連接電路。本實(shí)施方式中，為了無需額外設(shè)置電壓源，所述供電單元50是一將第一電壓源Vl及第二電壓源V2引入的連接電路。所述供電單元50包括電源接口 51及電壓轉(zhuǎn)換器52。所述電源接口 51包括第一輸入端510、第二輸入端511、第一輸出端512及第二輸出端513。在測(cè)試時(shí)第一輸入端 510、第二輸入端511分別通過電源線9連接至待測(cè)板200上的第一電壓源Vl及第二電壓源V2。所述第一輸出端512輸出第一電壓源Vl提供的電壓，所述第二輸出端513輸出第二電壓源V2提供的電壓。所述第一輸出端512通過所述電壓轉(zhuǎn)換器52與所述內(nèi)存插槽30相連。所述第二輸出端513與所述處理器40相連。由于主機(jī)板上一般都具有3. 3V、5V、12V三種類型的電壓源，而所述DDR2的工作電壓是1. 8V，無法直接采用主機(jī)板上的電壓源。所以通過所述電壓轉(zhuǎn)換器52將所述第一電壓源Vl提供的電壓轉(zhuǎn)化為內(nèi)存 20的工作電壓。若所述內(nèi)存20是DDR3，則所述電壓轉(zhuǎn)換器52將5V轉(zhuǎn)化為DDR3的工作電壓 1. 5V。由于本實(shí)施方式中，所述處理器40采用XC3S1400A型號(hào)的芯片，而XC3S1400A型號(hào)芯片的工作電壓是3. 3V，與所述第二輸出端513輸出的電壓相同，中間無需設(shè)置電壓轉(zhuǎn)換器。測(cè)試開始之前，將內(nèi)存20插入所述內(nèi)存插槽30，通過數(shù)據(jù)線8將所述測(cè)試SAS接口 60連接至待測(cè)板200上的待測(cè)板SAS接口 210，通過電源線9將所述電源接口 51連接至待測(cè)板200上的第一電壓源Vl及第二電壓源V2。測(cè)試時(shí)，所述待測(cè)板200內(nèi)的測(cè)試程序先向所述接口測(cè)試輔助裝置100的測(cè)試SAS 接口 60發(fā)送串行數(shù)據(jù)，所述處理器40將所述測(cè)試SAS接口 60接收的串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為并行數(shù)據(jù)后傳輸至所述內(nèi)存20，向所述內(nèi)存20寫入數(shù)據(jù)。爾后，所述待測(cè)板200的測(cè)試程序向所述內(nèi)存20發(fā)出一讀出命令。所述內(nèi)存20通過所述處理器40將內(nèi)存20內(nèi)的數(shù)據(jù)輸出給待測(cè)板200。所述所述待測(cè)板200的測(cè)試程序通過比較寫入的數(shù)據(jù)及讀出的數(shù)據(jù)是否相同， 從而實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)板200的測(cè)試板SAS接口的測(cè)試。本發(fā)明提供的SAS接口測(cè)試輔助裝置通過利用不會(huì)受震動(dòng)影響的內(nèi)存來代替測(cè)試用SAS硬盤，從而能夠避免因震動(dòng)而影響測(cè)試效果的情況發(fā)生，并可降低測(cè)試成本?？梢岳斫獾氖?，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思做出其它各種相應(yīng)的改變與變形，而所有這些改變與變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種接口測(cè)試輔助裝置，該接口測(cè)試輔助裝置用于輔助測(cè)試一待測(cè)板上的SAS接口，所述接口測(cè)試輔助裝置包括一內(nèi)存、一供電單元、一處理器以及至少一用于連接所述待測(cè)板上的SAS接口的測(cè)試SAS接口，所述供電單元為所述內(nèi)存及所述處理器供電，所述內(nèi)存與所述處理器相連，所述處理器與所述測(cè)試SAS接口相連，所述處理器用于通過所述測(cè)試 SAS接口與待測(cè)板上的SAS接口接收來自待測(cè)板的串行數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)寫入所述內(nèi)存，以及讀出內(nèi)存內(nèi)的數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換成串行數(shù)據(jù)從所述測(cè)試SAS接口與待測(cè)板上的SAS接口輸出給待測(cè)板。
2.如權(quán)利要求1所述的接口測(cè)試輔助裝置，其特征在于，所述內(nèi)存為雙倍速率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器。
3.如權(quán)利要求1所述的接口測(cè)試輔助裝置，其特征在于，所述供電單元采用電壓源為所述內(nèi)存及所述處理器供電。
4.如權(quán)利要求1所述的接口測(cè)試輔助裝置，其特征在于，所述供電單元采用電源接口與外部電源連接。
5.如權(quán)利要求4所述的接口測(cè)試輔助裝置，其特征在于，所述外部電源為所述待測(cè)板上的電壓源。
6.如權(quán)利要求4所述的接口測(cè)試輔助裝置，其特征在于，所述供電單元還包括電壓轉(zhuǎn)換器，用于為所述內(nèi)存或處理器提供工作電壓。
7.如權(quán)利要求6所述的接口測(cè)試輔助裝置，其特征在于，所述電壓轉(zhuǎn)換器連接于電源接口及內(nèi)存之間，用于將電源接口上的電壓轉(zhuǎn)換成所述內(nèi)存工作的電壓。
8.如權(quán)利要求1所述的接口測(cè)試輔助裝置，其特征在于，接口測(cè)試輔助裝置還包括一與內(nèi)存相適配的內(nèi)存插槽，所述內(nèi)存通過所述內(nèi)存插槽與所述供電單元及所述處理器相連接。
9.如權(quán)利要求1所述的接口測(cè)試輔助裝置，其特征在于，所述接口測(cè)試輔助裝置還包括承載體，所述內(nèi)存、處理器、供電單元及測(cè)試SAS接口集成于所述承載體上。
10.如權(quán)利要求8所述的接口測(cè)試輔助裝置，其特征在于，所述接口測(cè)試輔助裝置還包括承載體，所述內(nèi)存插槽、處理器、供電單元及測(cè)試SAS接口集成于所述承載體上。
全文摘要
本發(fā)明提供一種接口測(cè)試輔助裝置，該接口測(cè)試輔助裝置用于輔助測(cè)試一待測(cè)板上的SAS接口。接口測(cè)試輔助裝置包括一內(nèi)存、一供電單元、一處理器以及至少一用于連接待測(cè)板上的SAS接口的測(cè)試SAS接口。供電單元為內(nèi)存及處理器供電，內(nèi)存與處理器相連，處理器與測(cè)試SAS接口相連。處理器用于通過測(cè)試SAS接口與待測(cè)板上的SAS接口接收來自待測(cè)板的串行數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)寫入內(nèi)存，以及讀出內(nèi)存內(nèi)的數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換成串行數(shù)據(jù)從測(cè)試SAS接口與待測(cè)板上的SAS接口輸出給待測(cè)板。本發(fā)明提供的接口測(cè)試輔助裝置通過利用不會(huì)受震動(dòng)影響的內(nèi)存來代替測(cè)試用SAS硬盤，從而能夠避免因震動(dòng)而影響測(cè)試效果的情況發(fā)生，并可降低測(cè)試成本。
文檔編號(hào)G06F11/26GK102222030SQ201010147729
公開日2011年10月19日 申請(qǐng)日期2010年4月15日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月15日
發(fā)明者范朝宗, 黃立人 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司