專利名稱：觸控面板檢查裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及觸控面板檢查裝置，詳細(xì)而言涉及如下所述的觸控面板檢查裝置可 通過使用非接觸方式的供電電極及檢測電極，能迅速且有效地實施在觸控面板形成的配線 的導(dǎo)通及短路檢查，而不損傷觸控面板。其中，本發(fā)明不限于所謂的觸控面板，也可針對如同觸控面板一樣具有在X軸方 向及Y軸方向排列成矩陣狀的配線的檢查對象物而實施檢查。
背景技術(shù)：
以往，對于被稱為觸控面板(或觸控屏幕、觸控畫面)的具有在ITO膜上形成的在 X軸方向及Y軸方向上配置成矩陣狀的配線的檢查對象物，分別使觸頭(針狀的導(dǎo)通探針) 與配置于X軸方向與Y軸方向的各配線接觸而實施各配線的導(dǎo)通以及與相鄰的配線的短路檢查。但是，在如此使觸頭與各配線接觸來實施檢查的方法中存在下述問題在ITO膜 上形成的配線與觸頭間不具穩(wěn)定性，因氧化膜引起的接觸電阻的不穩(wěn)定性而無法準(zhǔn)確測定 電特性。并且，因為觸頭與檢查對象的配線被壓接，因而存在觸頭接觸配線而引起的凹痕形 成的問題。另一方面，如專利文獻(xiàn)1中公開，已知有準(zhǔn)確地檢查觸控面板整體的電阻值等電 特性的檢查技術(shù)，該觸控面板能精度良好地檢測組裝后的觸控面板上的預(yù)定的觸控輸入位 置。如此，已公開有檢查組裝后的觸控面板的功能的電特性的技術(shù)。但是，并未公開檢查如上述組裝前的配線的導(dǎo)通及短路的技術(shù)。并且，作為具有在表面上形成的配線的玻璃基板，存在等離子顯示面板(PDP)等。 PDP的玻璃基板在單方向上形成有多個條狀的配線。在制造工序中，需要檢查多個排列在單 方向上的配線的導(dǎo)通及短路。作為這種PDP的檢查裝置，已提出了如專利文獻(xiàn)2所公開的非接觸檢查技術(shù)。在 該專利文獻(xiàn)2所公開的非接觸檢查技術(shù)中，將信號供給到成為檢查對象的配線，并比較從 該配線所檢測到的信號與從距離該配線間隔4或5個圖形的配線所檢測到的信號，來檢測 差分以實施檢查。但是，這種專利文獻(xiàn)2所公開的技術(shù)，可針對并列設(shè)置在單方向的配線實施檢查， 但無法檢查如觸控面板一樣在X軸方向與y軸方向配置成矩陣狀的配線。現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)1 日本特開2005-274225號公報專利文獻(xiàn)2 日本特開2006-200992號公報

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于以上實際情況作出的，其提供一種觸控面板檢查裝置，即使檢查對
3象物為如具有在X軸方向及1軸方向配置成矩陣狀的配線的觸控面板一樣的檢查物，也能 通過以非接觸檢查方式實施檢查，來縮短檢查時間而有效地實施檢查。技術(shù)方案1所述的發(fā)明提供一種觸控面板檢查裝置，檢測具有χ軸配線和y軸配 線的檢查物的上述X軸配線和y軸配線的導(dǎo)通及短路，所述X軸配線，并列設(shè)置有多個棒狀 配線，所述y軸配線，與上述χ軸配線成矩陣狀而配置，且并列設(shè)置有多個棒狀配線，其特征 在于，包括第一信號供給機(jī)構(gòu)，供給用于實施成為上述檢查對象的χ軸配線的導(dǎo)通檢查的 交流信號；第二信號供給機(jī)構(gòu)，供給用于實施成為上述檢查對象的y軸配線的導(dǎo)通檢查的 交流信號；第三信號供給機(jī)構(gòu)，供給用于實施成為上述檢查對象的χ軸配線與相鄰的y軸 配線之間的短路檢查的交流信號；檢查探頭部，具有多個供電部，為了檢查上述檢查對象 的配線的導(dǎo)通以及短路而供給來自各供給機(jī)構(gòu)的交流信號；和多個驗電部，檢測來自該配 線的電信號；移動機(jī)構(gòu)，使上述檢查探頭部在上述檢查物的表面上沿預(yù)定軸方向移動；連 接機(jī)構(gòu)，將上述檢查探頭部的多個供電部及該多個驗電部與上述第一至第三信號供給機(jī)構(gòu) 電連接；共用電極部，相對于上述多個χ軸配線的一端部和上述多個y軸配線的一端部均 以非接觸的方式配置，并分別與上述第一信號供給機(jī)構(gòu)的一端及上述第二信號供給機(jī)構(gòu)的 一端電連接；和判定機(jī)構(gòu)，根據(jù)來自上述檢查探頭部的檢測信號，實施χ軸配線和y軸配線 各自的導(dǎo)通及短路檢查；并且，上述檢查探頭部，包括第一供電部，以非接觸的方式配置 于成為上述檢查對象的χ軸配線的另一端部上，并且與上述第一信號供給機(jī)構(gòu)的另一端電 連接；第一驗電部，以非接觸的方式配置于上述χ軸配線上，用于檢測成為上述檢查對象的 χ軸配線的電信號；多個第二供電部，分別以非接觸的方式配置于上述多個y軸配線的另一 端部上，并與上述第二信號供給機(jī)構(gòu)的另一端或上述第三信號供給機(jī)構(gòu)的一端電連接；多 個第二驗電部，分別以非接觸的方式配置于上述多個y軸配線上，并檢測上述第二信號供 給機(jī)構(gòu)和/或上述第三信號供給機(jī)構(gòu)所供給的交流信號引起的電信號；和第三供電部，與 上述第三信號供給機(jī)構(gòu)的另一端電連接，并與成為上述檢查對象的χ軸配線以非接觸的方 式進(jìn)行配置。技術(shù)方案2所述的發(fā)明，提供如技術(shù)方案1所述的觸控面板檢查裝置，其特征在 于，上述第二信號供給機(jī)構(gòu)向多個第二供電部供給的交流信號，分別是不同頻率的交流信 號。技術(shù)方案3所述的發(fā)明，提供如技術(shù)方案1或2所述的觸控面板檢查裝置，其特征 在于，第一至第三信號供給機(jī)構(gòu)所供給的交流信號均是不同頻率的交流信號。技術(shù)方案4所述的發(fā)明，提供如技術(shù)方案1所述的觸控面板檢查裝置，其特征在 于，上述移動機(jī)構(gòu)沿在上述y軸配線所延伸設(shè)置的y軸方向移動。通過提供所述發(fā)明，可悉數(shù)解決上述問題。根據(jù)技術(shù)方案1至4中任一項所述的發(fā)明，可提供一種觸控面板檢查裝置，即使檢 查對象物為如具有在X軸方向及y軸方向配置成矩陣狀的配線的觸控面板一樣的檢查物， 也能通過以非接觸檢查方式實施檢查，來縮短檢查時間而有效地實施檢查。


圖1是表示成為本發(fā)明檢查對象的觸控面板的一實施方式的簡要俯視圖。圖2是用于說明本檢查裝置的檢查方法的簡要示意圖。
圖3是表示用于說明本檢查裝置的檢查方法的交流信號與從圖形(配線)檢測到 的交流信號的圖表。圖4表示本發(fā)明檢查裝置的檢查探頭部3與共用電極部6的一實施方式。圖5是表示本檢查裝置實施檢查時的狀態(tài)的簡要俯視圖。圖6是表示實施χ軸配線的導(dǎo)通檢查時的簡要俯視圖。其中，檢查對象的χ軸配 線表示圖1的Line :X6。圖7是表示實施y軸配線的導(dǎo)通檢查時的簡要俯視圖。其中，檢查對象的y軸配 線表示圖1的Line :Y1。圖8是表示實施χ軸配線與y軸配線的短路檢查時的簡要俯視圖。其中，檢查對 象的X軸配線表示圖1的Line :Xl，y軸配線表示圖1的Line =Yl0圖9是表示實施y軸配線的導(dǎo)通檢查時的簡要俯視圖。其中，檢查對象的y軸配 線表示圖1的Line :Y8。標(biāo)號的說明21…第一信號供給機(jī)構(gòu)22...第二信號供給機(jī)構(gòu)23…第三信號供給機(jī)構(gòu)3…檢查探頭部71…第一供電部72…第二供電部73…第三供電部81…第一驗電部82…第二驗電部
具體實施例方式以下說明實施本發(fā)明的優(yōu)選方式。 本檢查裝置可提高針對如觸控面板一樣具有χ軸方向與y軸方向的配置成矩陣狀 的多個配線的基板、玻璃基板的檢查效率。首先說明成為本檢查裝置的檢查對象的觸控面板。圖1是表示成為本發(fā)明檢查對象的觸控面板的一實施方式的簡要俯視圖。該圖1 的觸控面板TP中，在玻璃基板上分別配置有多個配置于X軸方向的X軸配線與配置于y軸 方向的y軸配線。該圖1中，χ軸配線形成有14條(以符號所示的Line :X1 Line :X14)， y軸配線形成有8條(以符號所示的Line =Yl Line :Y8)。觸控面板TP的χ軸配線與y軸配線，以由所述配線覆蓋畫面上的觸控區(qū)域(被Pl 與P2覆蓋的部分)的方式而配置，如圖1所示通過1條χ軸配線(及y軸配線)反復(fù)形成 寬幅部與窄幅部，形成為覆蓋整個觸控區(qū)域。通過這樣形成，在使用觸控面板TP時，可檢測 被觸碰的部位(接觸部位)是位于哪個χ軸配線與哪個y軸配線。另外，χ軸配線與y軸配線并非各限定為14條與8條，可由觸控面板制造商適當(dāng) 調(diào)整。并且，寬幅部與窄幅部的長度、其大小也能由觸控面板制造商適當(dāng)調(diào)整。所述χ軸配線與y軸配線，其一端形成有標(biāo)簽(tag)部T，使其可與驅(qū)動器等電子零件連接，并分別延伸形成與其它電子零件電連接的電連接部(標(biāo)簽部T)。該標(biāo)簽部T形 成于在俯視圖中脫離觸控區(qū)域(Pl P2)的部位，且該標(biāo)簽部T能電連接。圖1的觸控面 板TP中，在面對紙面時的右側(cè)分別形成有(χ軸配線與y軸配線的)標(biāo)簽部T。該標(biāo)簽部T 可在觸控區(qū)域以外的部位形成一處，也可使χ軸配線與y軸配線的標(biāo)簽部T分別形成于周 緣部。本檢查裝置(未圖示)具有第一信號供給機(jī)構(gòu)21、第二信號供給機(jī)構(gòu)22、第三信 號供給機(jī)構(gòu)23、檢查探頭部3、移動機(jī)構(gòu)、連接機(jī)構(gòu)、共用電極部6和判定機(jī)構(gòu)。第一信號供給機(jī)構(gòu)21供給用于實施成為檢查對象的χ軸配線的導(dǎo)通檢查的第一 交流信號。第一信號供給機(jī)構(gòu)21是將相位180度不同的兩種交流電源經(jīng)由地線連接而構(gòu) 成的(參考圖2所示的電源PWl與電源PW2)。該第一信號供給機(jī)構(gòu)21的一端與共用電極部6電連接，其另一端與第一供電部71 電連接。因此，第一信號供給機(jī)構(gòu)21經(jīng)由共用電極部6和第一供電部71，將用于檢查的交 流信號供給到χ軸配線。第二信號供給機(jī)構(gòu)22供給用于實施成為檢查對象的y軸配線的導(dǎo)通檢查的第二 交流信號。該第二信號供給機(jī)構(gòu)22與第一信號供給機(jī)構(gòu)21相同地是將相位180度不同的 兩種交流電源經(jīng)由地線連接而構(gòu)成的。該第二信號供給機(jī)構(gòu)22的一端與共用電極部6電 連接，其另一端與第二供電部72電連接。因此，第二信號供給機(jī)構(gòu)22經(jīng)由共用電極部6和 第二供電部72將用于檢查的交流信號供給到y(tǒng)軸配線。該第二信號供給機(jī)構(gòu)22設(shè)為可針對在觸控面板TP形成的全部y軸配線實施導(dǎo)通 檢查。具體而言，則有設(shè)定與y軸配線數(shù)量相等的不同頻率的交流信號，并分別將各種頻率 的交流信號供給到y(tǒng)軸配線的方法，也可將2個不同頻率的交流信號交替地供給到相鄰的 y軸配線。另外，該第二信號供給機(jī)構(gòu)22，優(yōu)選準(zhǔn)備相等于不同頻率的交流信號數(shù)量的多個 交流信號源。第三信號供給機(jī)構(gòu)23供給用于實施成為檢查對象的χ軸配線與相鄰而配置的y 軸配線之間的短路檢查的第三交流信號。該第三信號供給機(jī)構(gòu)23的一端與第二供電部72電連接，其另一端與第三供電部 73電連接。因此，第三信號供給機(jī)構(gòu)23經(jīng)由第二供電部72和第三供電部73，檢查χ軸配 線與y軸配線的短路。以下使用簡要示意圖說明本檢查裝置的檢查原理。圖2是用于說明本檢查裝置的 檢查方法的示意圖。本檢查裝置將供電部A與供電部B以物理上非接觸的方式配置于配線 W的兩端部，以用于檢查在玻璃基板上形成的配線W的導(dǎo)通。從供給180度不同的交流信號 的交流電源PWl和交流電源PW2，將頻率相同且相位180度不同的交流信號分別供給到該供 電部A和供電部B (參考圖3)。從2個交流電源PW1、PW2供給的交流信號，將用于檢查的交流信號供給到供電部 A (或供電部B)，從供電部A (或供電部B)將該交流信號供給到配線W時，因為配線W與供 電部A靜電電容耦合，因而在配線W產(chǎn)生相位前進(jìn)90度的電流。此時，因為供電部A和供 電部B將相位180度不同的交流信號供給到配線W，因而當(dāng)配線W不存在不良時(導(dǎo)通狀態(tài) 良好時)，因從2個供電部供給的交流信號的影響而信號互相抵消(參考圖3所示圖形施加
6電流)。因此，為了檢測在配線W產(chǎn)生的信號而配置的檢測電極部C，檢測出零電平的信號。假設(shè)，圖2所示的配線W上的電阻所示部位存在有導(dǎo)通不良(斷路不良)，則檢測 電極部C會檢測到接受從供電部A供給的交流信號影響的信號，而可檢測導(dǎo)通不良。另外，該檢測電極部在圖2實施方式中，表示2個檢測電極部(C、D)，但也可以是 僅使用一方檢測電極部的結(jié)構(gòu)，還可以是同時使用兩個檢測電極部的結(jié)構(gòu)。第一信號供給機(jī)構(gòu)21至第三信號供給機(jī)構(gòu)23所供給的交流信號，也可全部設(shè)定 成不同頻率。此時，可在檢測到導(dǎo)通或短路不良時，確定某個配線上是否存在不良。圖4表示本發(fā)明的檢查裝置的檢查探頭部3與共用電極部6的一實施方式。本發(fā) 明的檢查探頭部3，具有供給來自各供給機(jī)構(gòu)的交流信號的多個供電部和檢測來自該配線 的電信號的多個驗電部，以對檢查對象的配線的導(dǎo)通及短路進(jìn)行檢查。圖4所示的檢查探頭部3具有第一供電部71，該第一供電部71以非接觸的方式 配置于成為檢查對象的X軸配線的另一端部上，并且與第一信號供給機(jī)構(gòu)21的另一端電連 接。該第一供電部71配置成位于檢查探頭部3的χ軸配線左端。通過配置于該位置， 共用電極部6與第一供電部71可實施從χ軸配線的端點(diǎn)到端點(diǎn)的導(dǎo)通檢查。另外，該第一供電部71設(shè)置成配置于χ軸配線最端部的寬幅部上。在χ軸配線上具有以非接觸方式配置的第一驗電部81，用于檢測成為檢查對象的 X軸配線的電信號。該第一驗電部81配置于與第一供電部71相鄰的X軸配線的寬幅部上。 雖然配置該第一驗電部81的部位只要是第一供電部71與共用電極部6之間就不特別限 定，但優(yōu)選為在面板區(qū)域內(nèi)的部位。另外，第一供電部71與第一驗電部81以非接觸的方式配置于同一個χ軸配線上。第一驗電部81如上所述配置于檢查對象的χ軸配線(1條χ軸配線)上，但也能 設(shè)置第二個驗電部(輔助驗電部)而用于檢測X軸配線的電信號。圖4中，可將輔助驗電 部83配置于位于面板區(qū)域右端的χ軸配線的寬幅部上的部位。檢查探頭部3具有多個第二供電部72，該第二供電部72分別以非接觸的方式配置 于多個y軸配線的另一端部，并與第二信號供給機(jī)構(gòu)22的另一端或第三信號供給機(jī)構(gòu)23 的一端電連接。該第二供電部72設(shè)為與y軸配線的數(shù)量(圖1的實施例中為8個)相等，各第二 供電部72分別以與y軸配線物理上非接觸的方式配置。該第二供電部72連接到第二信號供給機(jī)構(gòu)22與第三信號供給機(jī)構(gòu)23，并通過連 接機(jī)構(gòu)控制與其中任一方相連接，或與雙方相連接。 檢查探頭部3具有多個第二驗電部82，該第二驗電部82分別以非接觸的方式配置 于多個y軸配線上，檢測由第二信號供給機(jī)構(gòu)22和/或第三信號供給機(jī)構(gòu)23所供給的交 流信號引起的電信號。該第二驗電部82設(shè)置成與y軸配線的數(shù)量(圖1的實施例中為8個)相等，各第 二驗電部82分別以與y軸配線物理上非接觸的方式配置。圖4所示的檢查探頭部3中，相對于4條y軸配線的第二供電部72與第二驗電部82，因y軸配線的標(biāo)簽部形狀而將第二供電部72配置于面對紙面時檢查探頭部3的上側(cè)， 并將第二驗電部82配置于相比配置有該第二供電部72的y軸配線的寬幅部而位于相鄰位 置的寬幅部的上方。針對其余4條y軸配線，第二驗電部82配置于面對紙面時檢查探頭部 3的下側(cè)，第二供電部72配置于相比配置有該第二驗電部82的y軸配線的寬幅部而位于相 鄰位置的寬幅部的上方。檢查探頭部3具有第三供電部73，該第三供電部73與第三信號供給機(jī)構(gòu)23的另 一端電連接，并且以與成為檢查對象的X軸配線非接觸的方式配置。該第三供電部73與第一供電部71及第二供電部72配置于同樣的成為檢查對象 的χ軸配線上。該第三供電部73形成為配置于觸控區(qū)域內(nèi)χ軸配線的大致中央部的寬幅 部上。在表示本檢查裝置的檢查探頭部3的圖4中，由電極部Xll表示第一供電部71， 由電極部X21表示第一驗電部81，由電極部Yl 1、電極部Y21、電極部Y31、電極部Y41、電極 部Y52、電極部Y62、電極部Y72、電極部Y82表示多個第二供電部72，由電極部Y12、電極部 Y22、電極部Y32、電極部Y42、電極部Y51、電極部Y61、電極部Y71、電極部Y81表示第二驗電 部82，由電極部X51表示第三供電部73，由電極部X91表示輔助驗電部83。所述電極部形成為具有與配線的寬幅部相同程度的大小的形狀(例如，圓形、矩 形)。檢查探頭部3由具有如上所述的電極部的板狀部材形成，該檢查探頭部3通過在 玻璃基板上移動而實施檢查。首先如圖4，該檢查探頭部3形成為具有χ軸配線的長度與y 軸配線的寬幅部的相加部分的大小。共用電極部6，相對于多個χ軸配線的一端部和上述多個y軸配線的一端部均以 非接觸的方式配置，并且分別與第一信號供給機(jī)構(gòu)的一端和第二信號供給機(jī)構(gòu)的一端電連 接。在圖5的實施方式中，χ軸配線的標(biāo)簽部T和y軸配線的標(biāo)簽部集中在玻璃基板上的 一個部位，并使所述標(biāo)簽部T以全部物理上非接觸狀態(tài)的方式配置。另外，該共用電極部6， 也能與后述的檢查探頭部同時移動，但與后述的全部配線維持非接觸狀態(tài)。本檢查裝置將檢查探頭部3在作為檢查物的玻璃基板的表面上沿預(yù)定軸方向(圖 5中y軸配線的長軸方向ν)移動。該移動機(jī)構(gòu)可使用利用了線性馬達(dá)等的在直線軌道移動 的機(jī)構(gòu)。本檢查裝置具有將檢查探頭部3的多個供電部及多個驗電部與第一至第三信號 供給機(jī)構(gòu)電連接的連接機(jī)構(gòu)。該連接機(jī)構(gòu)使用多個切換開關(guān)進(jìn)行適當(dāng)電連接。本檢查裝置具有判定機(jī)構(gòu)，該判定機(jī)構(gòu)根據(jù)來自檢查探頭部3的檢測信號，實施 各χ軸配線和y軸配線的各自的導(dǎo)通及短路檢查。該判定機(jī)構(gòu)，根據(jù)從各驗電部檢測的檢查信號，判定成為檢查對象的χ軸配線和y 軸配線的導(dǎo)通及短路。在判定成為檢查對象的χ軸配線的導(dǎo)通時，供給來自第一供電部71和共用電極部 6的交流信號，通過第一驗電部81所檢測的信號是受到從第一供電部71供給的交流信號引 起的影響，還是受到從共用電極部6供給的交流信號引起的影響中受到哪一個影響而進(jìn)行 判定。其中，受到來自任一供電部的影響而信號被抵消時，判定為導(dǎo)通良好。在判定成為檢查對象的y軸配線的導(dǎo)通時，供給來自第二供電部72和共用電極部6的交流信號，通過第二驗電部82所檢測的信號是受到從第二供電部72供給的交流信號引 起的影響，還是受到從共用電極部6供給的交流信號引起的影響中受到哪一個影響而進(jìn)行 判定。其中，受到來自任一供電部的影響而信號被抵消時，判定為導(dǎo)通良好。在判定成為檢查對象的χ軸配線和y軸配線的短路時，從第二供電部72和第三供 電部73供給第三信號供給機(jī)構(gòu)23的交流信號，通過第二驗電部82所檢測的信號是受到從 第二供電部72供給的交流信號引起的影響，還是受到從第三供電部73供給的交流信號引 起的的影響中受到哪一個影響而進(jìn)行判定。此時，存在短路不良時，來自第二供電部72和 第三供電部73的交流信號抵消，或受到來自第二供電部72的信號的影響。另外，不存在短路不良時，則受到來自第三供電部73的信號的影響。觸控面板TP的標(biāo)簽部T，因為各配線的標(biāo)簽部T多個并列配置，因而存在與相鄰的 標(biāo)簽部T短路不良的問題，特別是存在如圖1所示的y軸配線的標(biāo)簽部T產(chǎn)生短路不良的 情況。此時，通過將交流信號供給到配置于檢查對象的y軸配線與成為短路檢查對象的 y軸配線的第二供電部72，當(dāng)?shù)诙炿姴?2檢測到來自其它y軸配線的交流信號時，即檢 測到短路不良。并且，檢測y軸配線的短路的交流信號可設(shè)定為不同頻率的交流信號，也可以設(shè) 定交替地不同的頻率而檢測短路。以上說明，表示檢查探頭部3通過移動機(jī)構(gòu)而沿y軸配線的長軸方向移動時的電 極部和供電部的配置，當(dāng)檢查探頭部3沿χ軸配線的長軸方向移動時，電極部和供電部之間 的χ軸與1軸對應(yīng)被替換配置。以上是本發(fā)明的觸控面板檢查裝置的結(jié)構(gòu)。接著說明本檢查裝置的動作。將觸控面板TP配置于本檢查裝置的預(yù)定位置上，開始進(jìn)行觸控面板TP的檢查 (參考圖5)。如圖5所示，檢查探頭部3通過移動機(jī)構(gòu)而向面朝紙面時的下方移動。另外，檢查圖1的觸控面板TP時，在將第一供電部71和第一驗電部81配置于χ 軸配線上，并將各第二供電部72和第二驗電部82配置于y軸配線Line =Yl Y4的y軸配 線上的情況下，開始進(jìn)行檢查。開始進(jìn)行如上所述的檢查時，進(jìn)行χ軸配線Line =Xl的導(dǎo)通檢查和y軸配線Line Yl Y4的導(dǎo)通檢查。此時，例如實施如圖6所示的χ軸配線的導(dǎo)通檢查，并實施如圖7所示的y軸配線 的導(dǎo)通檢查。實施上述的χ軸配線和y軸配線的導(dǎo)通檢查時，實施χ軸配線(Line :X1)和所述 y軸配線(line =Yl Y8)的短路檢查。接著，檢查探頭部3沿長軸方向ν移動，以χ軸配線Line :X2作為檢查對象而進(jìn)行 檢查。此時，第一供電部71和第一驗電部81直到配置于χ軸配線Line :X2的寬幅部上為 止而移動。此時，與X軸配線Line =Xl時同樣實施導(dǎo)通檢查，實施與各y軸配線的短路檢查。χ軸配線的檢查對象成為χ軸配線Line :X14，實施該導(dǎo)通檢查時，接著，如圖9所示，實施y軸配線Line :Υ5 Υ8的導(dǎo)通檢查。在各檢查工序中，檢測不良(導(dǎo)通不良、短路不良)。以上是本發(fā)明的動作的說明。
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權(quán)利要求
一種觸控面板檢查裝置，檢測具有x軸配線和y軸配線的檢查物的所述x軸配線和y軸配線的導(dǎo)通及短路，所述x軸配線，并列設(shè)置有多個棒狀配線，所述y軸配線，與所述x軸配線成矩陣狀而配置，且并列設(shè)置有多個棒狀配線，其特征在于，包括第一信號供給機(jī)構(gòu)，供給用于實施成為所述檢查對象的x軸配線的導(dǎo)通檢查的交流信號；第二信號供給機(jī)構(gòu)，供給用于實施成為所述檢查對象的y軸配線的導(dǎo)通檢查的交流信號；第三信號供給機(jī)構(gòu)，供給用于實施成為所述檢查對象的x軸配線與相鄰的y軸配線之間的短路檢查的交流信號；檢查探頭部，具有多個供電部，為了檢查所述檢查對象的配線的導(dǎo)通以及短路而供給來自各供給機(jī)構(gòu)的交流信號；和多個驗電部，檢測來自該配線的電信號；移動機(jī)構(gòu)，使所述檢查探頭部在所述檢查物的表面上沿預(yù)定軸方向移動；連接機(jī)構(gòu)，將所述檢查探頭部的多個供電部及該多個驗電部與所述第一至第三信號供給機(jī)構(gòu)電連接；共用電極部，相對于所述多個x軸配線的一端部和所述多個y軸配線的一端部均以非接觸的方式配置，并分別與所述第一信號供給機(jī)構(gòu)的一端及所述第二信號供給機(jī)構(gòu)的一端電連接；和判定機(jī)構(gòu)，根據(jù)來自所述檢查探頭部的檢測信號，實施x軸配線和y軸配線各自的導(dǎo)通及短路檢查；并且，所述檢查探頭部，包括第一供電部，以非接觸的方式配置于成為所述檢查對象的x軸配線的另一端部上，并且與所述第一信號供給機(jī)構(gòu)的另一端電連接；第一驗電部，以非接觸的方式配置于所述x軸配線上，用于檢測成為所述檢查對象的x軸配線的電信號；多個第二供電部，分別以非接觸的方式配置于所述多個y軸配線的另一端部上，并與所述第二信號供給機(jī)構(gòu)的另一端或所述第三信號供給機(jī)構(gòu)的一端電連接；多個第二驗電部，分別以非接觸的方式配置于所述多個y軸配線上，并檢測所述第二信號供給機(jī)構(gòu)和/或所述第三信號供給機(jī)構(gòu)所供給的交流信號引起的電信號；和第三供電部，與所述第三信號供給機(jī)構(gòu)的另一端電連接，并與成為所述檢查對象的x軸配線以非接觸的方式進(jìn)行配置。
2.如權(quán)利要求1所述的觸控面板檢查裝置，其特征在于，所述第二信號供給機(jī)構(gòu)向多 個第二供電部供給的交流信號，分別是不同頻率的交流信號。
3.如權(quán)利要求1或2所述的觸控面板檢查裝置，其特征在于，第一至第三信號供給機(jī)構(gòu) 所供給的交流信號均是不同頻率的交流信號。
4.如權(quán)利要求1所述的觸控面板檢查裝置，其特征在于，所述移動機(jī)構(gòu)沿在所述y軸配 線所延伸設(shè)置的y軸方向移動。
全文摘要
本發(fā)明提供一種觸控面板檢查裝置，其特征在于，包括第一信號供給機(jī)構(gòu)，供給用于實施成為檢查對象的x軸配線的導(dǎo)通檢查的交流信號；第二信號供給機(jī)構(gòu)，供給用于實施成為上述檢查對象的y軸配線的導(dǎo)通檢查的交流信號；第三信號供給機(jī)構(gòu)，供給用于實施成為上述檢查對象的x軸配線與相鄰的y軸配線之間的短路檢查的交流信號；檢查探頭部，具有多個供電部，為了檢查上述檢查對象的配線的導(dǎo)通以及短路而供給來自各供給機(jī)構(gòu)的交流信號；和多個驗電部，檢測來自該配線的電信號；移動機(jī)構(gòu)，使上述檢查探頭部在上述檢查物的表面上沿預(yù)定軸方向移動。
文檔編號G06F3/041GK101887098SQ20101017634
公開日2010年11月17日 申請日期2010年5月12日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月14日
發(fā)明者山下宗寬 申請人:日本電產(chǎn)理德株式會社