專利名稱：觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)，特別是涉及一種應(yīng)用于判斷觸控面板上一個(gè)或一個(gè)以上觸控點(diǎn)的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
觸控面板讓使用者直接透過觸控方式進(jìn)行操作，其人性化的操作介面更是市場普及的原因。觸控面板的技術(shù)近幾年來不斷蓬勃發(fā)展，其成長力道更是不容忽視，近日更隨著 iPAD上市及Window 7的普及化，觸控面板幾乎已成為現(xiàn)今資訊產(chǎn)品基本配備。觸控面板在目前主流市場中，主要可分為電阻式(resistive)及電容式 (capacitive)。電阻式觸控面板是由氧化銦錫(Indium Tin Oxide, I TO)玻璃及ITO薄膜堆迭而成，必需借由施加外力使ITO薄膜與ITO玻璃接觸導(dǎo)電，并進(jìn)一步計(jì)算處理以判定觸控點(diǎn)的位置，但其缺點(diǎn)是在長時(shí)間使用后，觸控面板易因外力按壓而易刮傷其表面，并造成使用壽命短的問題。電容式觸控面板的操作原理則是在未觸碰觸控面板前，面板上各點(diǎn)電位相同，在觸碰面板后人體會(huì)與觸控面板間產(chǎn)生微弱電流并形成電容場，感測器即可分析以取得觸控點(diǎn)的所在位置。當(dāng)使用者進(jìn)一步于觸控面板上滑動(dòng)觸碰，遂可繪出使用者的觸碰路徑。然而電容式觸控面板主要的缺點(diǎn)在于對環(huán)境敏感度高，因此當(dāng)環(huán)境溫度、濕度或環(huán)境電場改變時(shí)，都會(huì)造成電容式觸控面板的信號(hào)漂移或產(chǎn)生雜信，直接影響電容式觸控面板的準(zhǔn)確度。此外，進(jìn)一步改良自電容式觸控面板的投射式電容觸控面板，其具有多點(diǎn)觸控的特性，亦即可于觸控面板上提供一個(gè)以上的觸控點(diǎn)，但是支援多點(diǎn)觸控的觸控面板，卻在判斷觸控點(diǎn)位置時(shí)易有產(chǎn)生鬼點(diǎn)的問題。圖1為現(xiàn)有習(xí)知的鬼點(diǎn)形成的示意圖。然而，如圖1所示，現(xiàn)有習(xí)知技術(shù)中支援多點(diǎn)觸控的觸控面板是將縱向坐標(biāo)及橫向坐標(biāo)分別以兩感測板進(jìn)行感測。因此當(dāng)使用者以兩指觸碰觸控面板時(shí)，兩觸控點(diǎn)會(huì)分別于縱向及橫向各產(chǎn)生兩波峰，交會(huì)計(jì)算后則會(huì)產(chǎn)生四個(gè)觸控點(diǎn)，其中兩個(gè)為真實(shí)觸控點(diǎn)101、102，其余兩個(gè)則為假性觸控點(diǎn)103、104，即所謂的鬼點(diǎn)((ihostPoint)，其容易造成系統(tǒng)的誤判。若更進(jìn)一步于三點(diǎn)觸控的情形下，就會(huì)衍生出六個(gè)假性觸控點(diǎn)，這也說明了在越多觸控點(diǎn)的情形下，鬼點(diǎn)對系統(tǒng)造成的誤判也更為嚴(yán)重。由此可見，上述現(xiàn)有的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)在產(chǎn)品、方法與使用上，顯然仍存在有不便與缺陷，而亟待加以進(jìn)一步改進(jìn)。為了解決上述存在的問題，相關(guān)廠商莫不費(fèi)盡心思來謀求解決之道，但長久以來一直未見適用的設(shè)計(jì)被發(fā)展完成，而一般產(chǎn)品及方法又沒有適切的結(jié)構(gòu)及方法能夠解決上述問題，此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問題。因此如何能創(chuàng)設(shè)一種新的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)，實(shí)屬當(dāng)前重要研發(fā)課題之一，亦成為當(dāng)前業(yè)界極需改進(jìn)的目標(biāo)。有鑒于上述現(xiàn)有的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)存在的缺陷，本發(fā)明人基于從事此類產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造多年豐富的實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)及專業(yè)知識(shí)，并配合學(xué)理的運(yùn)用，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種新的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)，能夠改進(jìn)一般現(xiàn)有的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)，使其更具有實(shí)用性。經(jīng)過不斷的研究、設(shè)計(jì)，并經(jīng)過反復(fù)試作樣品及改進(jìn)后， 終于創(chuàng)設(shè)出確具實(shí)用價(jià)值的本發(fā)明。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于，克服現(xiàn)有的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)存在的缺陷，而提供一種新的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)，所要解決的技術(shù)問題是使其透過感測器所得的感測值及其差值，利用重心計(jì)算以準(zhǔn)確得知各觸控點(diǎn)的位置，且使用上沒有觸控點(diǎn)數(shù)目的限制，可應(yīng)用于單點(diǎn)或多點(diǎn)觸控面板，非常適于實(shí)用。本發(fā)明的另一目的在于，克服現(xiàn)有的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)存在的缺陷，而提供一種新的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)，所要解決的技術(shù)問題是使其直接準(zhǔn)確得知各觸控點(diǎn)的位置，故使用上無現(xiàn)有習(xí)知產(chǎn)生鬼點(diǎn)的疑慮，從而更加適于實(shí)用。本發(fā)明的再一目的在于，克服現(xiàn)有的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)存在的缺陷，而提供一種新的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)，所要解決的技術(shù)問題是使其借由每隔一段時(shí)間即進(jìn)行預(yù)設(shè)臨界值的校正，因此可減少觸控面板受環(huán)境因素的影響而造成誤判觸控點(diǎn)的情形，進(jìn)而可提升其精確度，從而更加適于實(shí)用。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出的一種觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法，其包括以下步驟一取樣步驟，取得該觸控面板上每一感測器的一第一感測值并儲(chǔ)存該些第一感測值；一差值計(jì)算步驟，取得每一該感測器的一第二感測值，再取得每一該感測器的一差值，其中該差值是將每一該感測器所測得的該第二感測值與該第一感測值相減而得；一差值比較步驟，將每一該差值分別與一預(yù)設(shè)臨界值進(jìn)行比較，并定義一被觸感測器，該被觸感測器的該差值大于該預(yù)設(shè)臨界值，且大于臨近的每一該感測器的該差值；一判斷區(qū)取樣步驟，取得一判斷區(qū)內(nèi)每一該感測器的每一該差值，該判斷區(qū)以該被觸感測器為中心；以及一重心計(jì)算步驟，借由該判斷區(qū)取樣步驟所取得的每一該差值計(jì)算一重心位置，其中該重心位置包含一縱向坐標(biāo)與一橫向坐標(biāo)；所述的重心位置即為一觸控點(diǎn)的位置。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。前述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法，其中所述的判斷區(qū)是由環(huán)繞該被觸感測器的該些感測器所形成。前述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法，其中所述的縱向坐標(biāo)是由該判斷區(qū)內(nèi)的每一該差值乘以其縱向相對位置坐標(biāo)再除以該些差值的總和；以及，該橫向坐標(biāo)是由該判斷區(qū)內(nèi)的每一該差值乘以其橫向相對位置坐標(biāo)再除以該些差值的總和。前述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法，其中所述的預(yù)設(shè)臨界值是由一區(qū)域內(nèi)的每一該感測器的每一該差值計(jì)算一平均值和一標(biāo)準(zhǔn)差，并將該平均值及該標(biāo)準(zhǔn)差依照一比例相加而得。前述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法，其中所述的區(qū)域包含該觸控面板上的每一該感測器。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出的一種觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)，其利用該觸控面板上的各感測器判斷實(shí)際觸控點(diǎn)的位置，包括一取樣模塊，電性連接于該觸控面板，并取得該觸控面板上每一該感測器的一第一感測值并儲(chǔ)存該些第一感測值；一差值計(jì)算模塊，電性連接于該取樣模塊，并取得每一該感測器的一第二感測值，再取得每一該感測器的一差值，該差值是將每一該感測器所測得的該第二感測值與該第一感測值相減而得；一差值比較模塊，電性連接于該差值計(jì)算模塊， 將每一該差值分別與一預(yù)設(shè)臨界值進(jìn)行比較，并定義一被觸感測器，該被觸感測器的該差值大于該預(yù)設(shè)臨界值，且大于臨近的每一該感測器的該差值；一判斷區(qū)取樣模塊，電性連接于該差值比較模塊，用以取得一判斷區(qū)內(nèi)每一該感測器的每一該差值，該判斷區(qū)是以該被觸感測器為中心；以及一重心計(jì)算模塊，借由該判斷區(qū)取樣模塊所取得的每一該差值計(jì)算一重心位置，該重心位置包含一縱向坐標(biāo)與一橫向坐標(biāo)；所述的重心位置即為一觸控點(diǎn)的位置。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。前述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)，其中所述的判斷區(qū)是由環(huán)繞該被觸感測器的該些感測器所形成。前述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)，其中所述的縱向坐標(biāo)是由該判斷區(qū)內(nèi)的每一該差值乘以其縱向相對位置坐標(biāo)再除以該些差值的總和；以及，該橫向坐標(biāo)是由該判斷區(qū)內(nèi)的每一該差值乘以其橫向相對位置坐標(biāo)再除以該些差值的總和。前述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)，其中所述的預(yù)設(shè)臨界值是由一區(qū)域內(nèi)的每一該感測器的每一該差值計(jì)算一平均值和一標(biāo)準(zhǔn)差，并將該平均值及該標(biāo)準(zhǔn)差依照一比例相加而得。前述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)，其中所述的區(qū)域包含該觸控面板上的每一該感測器。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點(diǎn)和有益效果。由以上可知，為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供了一種觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法，包括下列步驟一取樣步驟，取得觸控面板上每一感測器的一第一感測值并儲(chǔ)存此些第一感測值；一差值計(jì)算步驟，取得每一感測器的一第二感測值，再取得每一感測器的一差值，其中差值是將每一感測器所測得的第二感測值與第一感測值相減而得；一差值比較步驟，將每一差值分別與一預(yù)設(shè)臨界值進(jìn)行比較，并定義一被觸感測器，被觸感測器的差值大于預(yù)設(shè)臨界值，且大于臨近的每一感測器的差值；一判斷區(qū)取樣步驟，取得一判斷區(qū)內(nèi)每一感測器的每一差值，判斷區(qū)是以被觸感測器為中心；以及一重心計(jì)算步驟，借由判斷區(qū)取樣步驟所取得的每一差值計(jì)算一重心位置，其中重心位置包含一縱向坐標(biāo)與一橫向坐標(biāo)；所述的重心位置即為一觸控點(diǎn)的位置。為達(dá)上述功效，本發(fā)明另提供一種觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)，利用觸控面板上的各感測器判斷實(shí)際觸控點(diǎn)的位置，包括一取樣模塊，電性連接于觸控面板，并取得觸控面板上每一感測器的一第一感測值并儲(chǔ)存此些第一感測值；一差值計(jì)算模塊，電性連接于取樣模塊，并取得每一感測器的一第二感測值，再取得每一感測器的一差值，差值是將每一感測器所測得的第二感測值與第一感測值相減而得；一差值比較模塊，電性連接于差值計(jì)算模塊，將每一差值分別與一預(yù)設(shè)臨界值進(jìn)行比較，并定義一被觸感測器，被觸感測器的差值大于預(yù)設(shè)臨界值，且大于臨近的每一感測器的差值；一判斷區(qū)取樣模塊，電性連接于差值比較模塊，用以取得一判斷區(qū)內(nèi)每一感測器的每一差值，判斷區(qū)是以被觸感測器為中心； 以及一重心計(jì)算模塊，借由判斷區(qū)取樣模塊所取得的每一差值計(jì)算一重心位置，重心位置包含一縱向坐標(biāo)與一橫向坐標(biāo)；所述的重心位置即為一觸控點(diǎn)的位置。借由上述技術(shù)方案，本發(fā)明觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)至少具有下列優(yōu)點(diǎn)及有益效果一、可用以取得單點(diǎn)或兩點(diǎn)以上的觸控點(diǎn)的位置，以提升觸控面板的準(zhǔn)確性。二、因可判斷并取得觸控點(diǎn)的實(shí)際位置，所以可免去鬼點(diǎn)產(chǎn)生的疑慮。三、可避免觸控面板因受環(huán)境因素影響而造成的誤判，進(jìn)而提升觸控面板的精確度。綜上所述，本發(fā)明是有關(guān)于一種觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)，該方法包括下列步驟取樣步驟；差值計(jì)算步驟；差值比較步驟；判斷區(qū)取樣步驟；以及重心計(jì)算步驟，經(jīng)由上述步驟所得的重心位置即為一觸控點(diǎn)的位置。本發(fā)明可克服現(xiàn)有習(xí)知觸控面板判斷觸控點(diǎn)易產(chǎn)生鬼點(diǎn)的問題，并可應(yīng)用于各式觸控面板。本發(fā)明在技術(shù)上有顯著的進(jìn)步，并具有明顯的積極效果，誠為一新穎、進(jìn)步、實(shí)用的新設(shè)計(jì)。上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段， 而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實(shí)施例，并配合附圖，詳細(xì)說明如下。


圖1為現(xiàn)有習(xí)知的鬼點(diǎn)形成的示意圖。圖2為本發(fā)明的一種觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)的系統(tǒng)架構(gòu)實(shí)施例圖。圖3為本發(fā)明的一種判斷區(qū)的實(shí)施例示意圖。圖4為本發(fā)明的一種觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法的方法流程實(shí)施例圖。圖5為本發(fā)明的一種重心位置計(jì)算的實(shí)施例示意圖。101、102 真實(shí)觸控點(diǎn)103、104 假性觸控點(diǎn)10:觸控面板20 取樣模塊30 差值計(jì)算模塊40 差值比較模塊41 被觸感測器50 判斷區(qū)取樣模塊51 判斷區(qū)60 重心計(jì)算模塊
具體實(shí)施例方式為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明為達(dá)成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例，對依據(jù)本發(fā)明提出的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)其具體實(shí)施方式
、結(jié)構(gòu)、方法、步驟、特征及其功效，詳細(xì)說明如后。有關(guān)本發(fā)明的前述及其他技術(shù)內(nèi)容、特點(diǎn)及功效，在以下配合參考圖式的較佳實(shí)施例的詳細(xì)說明中將可清楚的呈現(xiàn)。為了方便說明，在以下的實(shí)施例中，相同的元件以相同的編號(hào)表示。圖2為本發(fā)明的一種觸控面板10上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)的系統(tǒng)架構(gòu)實(shí)施例圖。圖 3為本發(fā)明的一種判斷區(qū)51的實(shí)施例示意圖。圖4為本發(fā)明的一種觸控面板10上的觸控點(diǎn)判斷方法的方法流程實(shí)施例圖。圖5為本發(fā)明的一種重心位置計(jì)算的實(shí)施例示意圖。如圖2所示，本實(shí)施例為一種觸控面板10上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)，其包括一取樣模塊20 ；—差值計(jì)算模塊30 ；—差值比較模塊40 ；—判斷區(qū)取樣模塊50 ；以及一重心計(jì)算模塊60。其中，觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)可利用觸控面板10上的各感測器判斷實(shí)際觸控點(diǎn)的位置。如圖3所示，觸控面板10其包括復(fù)數(shù)個(gè)感測器，且感測器可以排列成陣列的形狀， 每一感測器可用以偵測觸控面板10的狀態(tài)并以感測值表示。又如圖2所示，取樣模塊20電性連接于觸控面板10，取樣模塊20負(fù)責(zé)取得觸控面板10上每一感測器的一第一感測值并儲(chǔ)存之。第一感測值為觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)進(jìn)行觸控點(diǎn)判斷的初始值，例如第一感測值可被定義為觸控面板10剛被啟動(dòng)而未受外界干擾下所測得的感測值，也可被定義為觸控面板10 長時(shí)間運(yùn)作時(shí)，每間隔一時(shí)段再次進(jìn)行取樣的感測值，借此可校正環(huán)境因素對于觸控面板 10的影響。差值計(jì)算模塊30則電性連接于取樣模塊20，其用以取得每一感測器的一第二感測值，并計(jì)算每一感測器的一差值。第二感測值定義為后續(xù)測得的感測值，而差值則是將每一感測器所測得的第二感測值與第一感測值相減而得。差值比較模塊40則電性連接于差值計(jì)算模塊30，并且差值比較模塊40內(nèi)設(shè)有一預(yù)設(shè)臨界值。借由將差值計(jì)算模塊30輸出的每一差值與預(yù)設(shè)臨界值比較，當(dāng)差值大于預(yù)設(shè)臨界值時(shí)，可判斷此差值對應(yīng)的感測器可能是被觸碰的感測器。在這些被觸碰的感測器中， 當(dāng)某一感測器的差值大于預(yù)設(shè)臨界值，且又大于臨近每一感測器的差值時(shí)，則定義此感測器為被觸感測器41 (請同時(shí)參閱圖3所示)。其中，預(yù)設(shè)臨界值是由一區(qū)域內(nèi)的每一感測器的每一差值計(jì)算一平均值和一標(biāo)準(zhǔn)差，并將平均值及標(biāo)準(zhǔn)差依照一比例相加而得，又此區(qū)域包含的感測器可以是觸控面板10上的部分感測器，也可以是包含觸控面板10上的每一感測器。判斷區(qū)取樣模塊50電性連接于差值比較模塊40，主要用于取得一判斷區(qū)51 (請同時(shí)參閱圖3所示)內(nèi)每一感測器的每一差值，又判斷區(qū)51是以被觸感測器41為中心劃定之，并且判斷區(qū)51是由環(huán)繞被觸感測器41的感測器所形成。重心計(jì)算模塊60電性連接于判斷區(qū)取樣模塊50，又重心計(jì)算模塊60借由判斷區(qū)取樣模塊50所取得的每一差值計(jì)算一重心位置，所述的重心位置即為觸控面板10上的一觸控點(diǎn)的位置。如圖4所示，接續(xù)以本系統(tǒng)的運(yùn)作方法加以說明。其中，一種觸控面板10上的觸控點(diǎn)判斷方法包括下列步驟一取樣步驟(SlO)；—差值計(jì)算步驟(S20)；—差值比較步驟 (S30)；一判斷區(qū)取樣步驟(S40)；以及一重心計(jì)算步驟(S50)，經(jīng)由上述步驟所得的重心位置即為一觸控點(diǎn)的位置。取樣步驟(SlO)借由取樣模塊20取得觸控面板10上每一感測器的第一感測值并儲(chǔ)存第一感測值。當(dāng)觸控面板10被啟動(dòng)時(shí)，或每經(jīng)過一段時(shí)間后，取樣模塊20便會(huì)取得感測器所測得的感測值以作為第一感測值并儲(chǔ)存之。
差值計(jì)算步驟(S20)差值計(jì)算模塊30用以取得每一感測器的第二感測值。其中， 第二感測值為后續(xù)感測器測得的感測值。在取得第二感測值后，差值計(jì)算模塊30便將第二感測值與第一感測值相減以取得每一感測器的差值。由于開機(jī)后感測器會(huì)受到外界環(huán)境的影響，以使得第二感測值勢必與第一感測值有所差異，然而其差異除了導(dǎo)因于感測器被觸碰外，亦可能來自于外界環(huán)境例如濕度、溫度改變、帶電體靠近等而造成所謂的雜信。差值比較步驟(S30)為進(jìn)而有效地判別觸控點(diǎn)的信號(hào)與雜信的差異，差值比較模塊40遂定義一個(gè)預(yù)設(shè)臨界值，并將差值計(jì)算模塊30所得的每一差值分別與預(yù)設(shè)臨界值進(jìn)行比較，當(dāng)差值小于或等于預(yù)設(shè)臨界值，則可判定此感測器接收到的感測值為雜信。反之，如果某一感測器的差值大于預(yù)設(shè)臨界值，但因觸控點(diǎn)附近的感測器所對應(yīng)的差值皆可能大于預(yù)設(shè)臨界值，故當(dāng)此感測器的差值大于其周圍的每一感測器的差值時(shí)， 定義此感測器為被觸感測器41。其中，預(yù)設(shè)臨界值可由某一區(qū)域內(nèi)的每一感測器的每一差值計(jì)算一平均值和一標(biāo)準(zhǔn)差，并將平均值及標(biāo)準(zhǔn)差依照一比例相加而得。又區(qū)域內(nèi)的感測器可以是觸控面板10上的部分感測器，也可以是包含觸控面板10上的每一感測器。判斷區(qū)取樣步驟(S40)判斷區(qū)取樣模塊50用以取得一判斷區(qū)51，判斷區(qū)51以被觸感測器41為中心并包括環(huán)繞被觸感測器41的感測器。其中，判斷區(qū)取樣模塊50于判斷區(qū)51內(nèi)取得每一感測器的每一差值。由于被觸感測器41僅是大略的觸控點(diǎn)，為了更精確取得實(shí)際觸控點(diǎn)的位置，遂以被觸感測器41為中心定義判斷區(qū)51的范圍，以進(jìn)一步計(jì)算出觸控點(diǎn)的實(shí)際位置。如圖3所示，例如以被觸感測器41為中心，將其上下左右與四個(gè)角落共九點(diǎn)的 3X3矩陣作為判斷區(qū)51，并取得在判斷區(qū)51內(nèi)每一感測器的差值。另外，也可進(jìn)一步擴(kuò)大判斷區(qū)51的范圍，由前述的3X3矩陣再外推至5X5矩陣。重心計(jì)算步驟(S50)可借由判斷區(qū)取樣步驟所取得的每一差值利用重心計(jì)算模塊60計(jì)算其重心位置，其中重心位置包含一縱向坐標(biāo)與一橫向坐標(biāo)。縱向坐標(biāo)是由判斷區(qū) 51內(nèi)的每一差值乘以其縱向相對位置坐標(biāo)再除以差值的總和，而橫向坐標(biāo)是由判斷區(qū)51 內(nèi)的每一差值乘以其橫向相對位置坐標(biāo)再除以差值的總和。如圖5所示，舉例來說，若判斷區(qū)51是由一 3X3矩陣所構(gòu)成，且在判斷區(qū)51內(nèi)每一感測器所得的差值大小為a至i，而且在3X3矩陣中感測器的橫向相對坐標(biāo)為Xp X2及 X3，而縱向相對坐標(biāo)為Y1J2及Y3。因此判斷區(qū)51內(nèi)的重心位置(Χ，Υ)的計(jì)算方式如下所示
權(quán)利要求
1.一種觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法，其特征在于其包括以下步驟一取樣步驟，取得該觸控面板上每一感測器的一第一感測值并儲(chǔ)存該些第一感測值； 一差值計(jì)算步驟，取得每一該感測器的一第二感測值，再取得每一該感測器的一差值， 其中該差值是將每一該感測器所測得的該第二感測值與該第一感測值相減而得；一差值比較步驟，將每一該差值分別與一預(yù)設(shè)臨界值進(jìn)行比較，并定義一被觸感測器， 該被觸感測器的該差值大于該預(yù)設(shè)臨界值，且大于臨近的每一該感測器的該差值；一判斷區(qū)取樣步驟，取得一判斷區(qū)內(nèi)每一該感測器的每一該差值，該判斷區(qū)是以該被觸感測器為中心；以及一重心計(jì)算步驟，借由該判斷區(qū)取樣步驟所取得的每一該差值計(jì)算一重心位置，其中該重心位置包含一縱向坐標(biāo)與一橫向坐標(biāo)； 所述的重心位置即為一觸控點(diǎn)的位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法，其特征在于其中所述的判斷區(qū)是由環(huán)繞該被觸感測器的該些感測器所形成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法，其特征在于其中所述的縱向坐標(biāo)是由該判斷區(qū)內(nèi)的每一該差值乘以其縱向相對位置坐標(biāo)再除以該些差值的總和； 以及，該橫向坐標(biāo)是由該判斷區(qū)內(nèi)的每一該差值乘以其橫向相對位置坐標(biāo)再除以該些差值的總和。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法，其特征在于其中所述的預(yù)設(shè)臨界值是由一區(qū)域內(nèi)的每一該感測器的每一該差值計(jì)算一平均值和一標(biāo)準(zhǔn)差，并將該平均值及該標(biāo)準(zhǔn)差依照一比例相加而得。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法，其特征在于其中所述的區(qū)域包含該觸控面板上的每一該感測器。
6.一種觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)，其特征在于利用該觸控面板上的各感測器判斷實(shí)際觸控點(diǎn)的位置，包括一取樣模塊，電性連接于該觸控面板，并取得該觸控面板上每一該感測器的一第一感測值并儲(chǔ)存該些第一感測值；一差值計(jì)算模塊，電性連接于該取樣模塊，并取得每一該感測器的一第二感測值，再取得每一該感測器的一差值，該差值是將每一該感測器所測得的該第二感測值與該第一感測值相減而得；一差值比較模塊，電性連接于該差值計(jì)算模塊，將每一該差值分別與一預(yù)設(shè)臨界值進(jìn)行比較，并定義一被觸感測器，該被觸感測器的該差值大于該預(yù)設(shè)臨界值，且大于臨近的每一該感測器的該差值；一判斷區(qū)取樣模塊，電性連接于該差值比較模塊，用以取得一判斷區(qū)內(nèi)每一該感測器的每一該差值，該判斷區(qū)是以該被觸感測器為中心；以及一重心計(jì)算模塊，借由該判斷區(qū)取樣模塊所取得的每一該差值計(jì)算一重心位置，該重心位置包含一縱向坐標(biāo)與一橫向坐標(biāo)； 所述的重心位置即為一觸控點(diǎn)的位置。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)，其特征在于其中所述的判斷區(qū)是由環(huán)繞該被觸感測器的該些感測器所形成。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)，其特征在于其中所述的縱向坐標(biāo)是由該判斷區(qū)內(nèi)的每一該差值乘以其縱向相對位置坐標(biāo)再除以該些差值的總和； 以及，該橫向坐標(biāo)是由該判斷區(qū)內(nèi)的每一該差值乘以其橫向相對位置坐標(biāo)再除以該些差值的總和。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)，其特征在于其中所述的預(yù)設(shè)臨界值是由一區(qū)域內(nèi)的每一該感測器的每一該差值計(jì)算一平均值和一標(biāo)準(zhǔn)差，并將該平均值及該標(biāo)準(zhǔn)差依照一比例相加而得。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷系統(tǒng)，其特征在于其中所述的區(qū)域包含該觸控面板上的每一該感測器。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)于一種觸控面板上的觸控點(diǎn)判斷方法及其系統(tǒng)，該方法包括下列步驟取樣步驟；差值計(jì)算步驟；差值比較步驟；判斷區(qū)取樣步驟；以及重心計(jì)算步驟，經(jīng)由上述步驟所得的重心位置即為一觸控點(diǎn)的位置。本發(fā)明可克服現(xiàn)有習(xí)知觸控面板判斷觸控點(diǎn)易產(chǎn)生鬼點(diǎn)的問題，并可應(yīng)用于各式觸控面板。
文檔編號(hào)G06F3/041GK102262470SQ201010192149
公開日2011年11月30日 申請日期2010年5月28日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月28日
發(fā)明者張琦棟, 王淳恒 申請人:安國國際科技股份有限公司