專利名稱：偽造印文的檢驗(yàn)方法以及記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢驗(yàn)蓋印在文件等的印文是否用偽造印章加蓋的偽造印文的檢驗(yàn)方法以及記錄介質(zhì)，具體而言，對(duì)蓋印在文件等的比較印文的特性值進(jìn)行運(yùn)算，提供判斷偽造印文的客觀資料。
背景技術(shù)：
印章是將自己的姓名或冠名雕刻在印章面上的，印文是印章蘸印泥壓蓋的痕跡。 印章源于古代的兩河流域文明，當(dāng)時(shí)的人們?yōu)榱吮硎咀约旱乃袡?quán)，用石頭、黏土、骨頭、貝殼等制造了印章。中國從周朝開始使用了印章，韓國在大同江流域出土了漢四郡之一樂浪時(shí)期的印章，在雁鴨池也發(fā)現(xiàn)了新羅時(shí)代的印章。目前在韓國、日本、中國等東方社會(huì)應(yīng)用廣泛主要用來確認(rèn)本人，在西方社會(huì)也用來確認(rèn)文件受理等。因?yàn)橛≌掠羞@么多的重要的交易和確認(rèn)本人的功能，偽造印章的犯罪也日漸增多。過去偽造印章的方法有，現(xiàn)在半透明紙上加蓋印章后，將印文面翻過來貼在要復(fù)制的印章后，用手工方法雕刻。但是，這種方法制作的印章與原件印章有較大的出入，最近幾乎都不使用。最近較常用的偽造技術(shù)為照相平版術(shù)(photolithography)，先拍攝加蓋原件印章的印文后，在金屬板或樹脂板進(jìn)行蝕刻制作復(fù)制印章。用這種方法制作的復(fù)制印章或通過復(fù)制印章蓋印的印文由于照片拍攝過程中經(jīng)常出錯(cuò)，與原件印章有較多的差異。最近，不拍攝印文而直接掃描后打印在菲林上，然后將該打印件緊緊貼在感光劑 (Photoactive compound,PAC)上洗印后，通過溶媒(solvent)溶化制作復(fù)制印章。通過這種方法制作的復(fù)制印章以及通過復(fù)制印章蓋印的印文規(guī)格幾乎相同，很難與原件印章或原件印文區(qū)分。但是，通過這種方法制作的復(fù)制印章，也會(huì)出現(xiàn)紫外線曝光過多、曝光過少、溶媒溶解過多或過少等細(xì)微的錯(cuò)誤。最近，由于計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)達(dá)，利用印章雕刻機(jī)復(fù)制的也較多。這種技術(shù)屬于 CAM (computer aided manufacturing)的一種，利用掃描儀將需要復(fù)制的印章輸入到計(jì)算機(jī)后，將尺寸與目標(biāo)印章相同的材料安裝在機(jī)器上，對(duì)準(zhǔn)尺寸后給計(jì)算機(jī)下達(dá)指令。這時(shí)， 連接在計(jì)算機(jī)的鉆孔機(jī)或激光雕刻機(jī)按輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)行雕刻。通過這種方法制作的偽造印章非常精巧，幾乎達(dá)到以假亂真的程度，但是對(duì)準(zhǔn)尺寸的過程或復(fù)制印章的放置上稍微有些差池，就有可能發(fā)生誤差。印文的偽造識(shí)別技術(shù)主要有，利用顯微鏡等設(shè)備比較觀察印文上出現(xiàn)的細(xì)微的瑕疵、凹痕、凸出的部位等，或在相同的條件下放大拍攝原件印文和比較印文后，重疊觀察的疊加(superimpose)檢驗(yàn)法。過去，主要采用了利用負(fù)片(Negative Film)的照相學(xué)方法， 但是最近多采用VSC5000等影像處理儀器進(jìn)行比較。除此之外，為了比較輪廓線，還采用過手動(dòng)跟蹤比較印文的方法或通過照片處理提取輪廓線的方法，但是手動(dòng)跟蹤在處理過程的再現(xiàn)上可能會(huì)存在問題，還有通過照片處理的輪廓線提取需要專用光學(xué)裝置、高超的照相技術(shù)以及數(shù)小時(shí)的作業(yè)時(shí)間。這些方法由于文字的干擾、印泥的濃淡差異等原因，很難進(jìn)行精確的觀察。而且，上述方法均是肉眼觀察法，普通人和專家的觀察結(jié)果會(huì)不同，即使是專家也需要依靠主觀的判斷，所以不同的印文鑒定人鑒定的結(jié)果可能會(huì)不同。發(fā)明技術(shù)問題的公開為了解決上述問題而研制的本發(fā)明，其目的在于提供，通過原件印章生成基準(zhǔn)印文后，對(duì)照基準(zhǔn)印文和比較印文運(yùn)算特性值，并通過運(yùn)算的特性值判斷比較印文是否為偽造印文時(shí)提供客觀依據(jù)的偽造印文的檢驗(yàn)方法以及記錄介質(zhì)。技術(shù)方案為了實(shí)現(xiàn)上述的目的，本發(fā)明提供由如下階段組成的偽造印文的檢驗(yàn)方法，具體而言，通過原件印章生成基準(zhǔn)印文，從原件印章生成對(duì)比印文的生成階段；對(duì)比上述階段中生成的基準(zhǔn)印文和對(duì)比印文，運(yùn)算對(duì)比印文對(duì)基準(zhǔn)印文的特性值，對(duì)比基準(zhǔn)印文和比較印文，運(yùn)算比較印文對(duì)基準(zhǔn)印文的特性值的運(yùn)算階段；在上述運(yùn)算階段通過基準(zhǔn)印文和對(duì)比印文的比較獲取的特性值以及通過基準(zhǔn)印文和比較印文的對(duì)比獲取的特性值進(jìn)行比較的階段組成。并且，本發(fā)明在上述運(yùn)算階段提供，對(duì)準(zhǔn)基準(zhǔn)印文和對(duì)比印文的位置和角度，運(yùn)算對(duì)比印文對(duì)基準(zhǔn)印文的特性值的偽造印文的檢驗(yàn)方法。并且，本發(fā)明還提供，上述特性值為對(duì)比基準(zhǔn)印文運(yùn)算的填充率，對(duì)比印文對(duì)基準(zhǔn)
印文的填充率的運(yùn)算式為
權(quán)利要求
1.一種偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，從原件印章生成(ST-110)基準(zhǔn)印文，通過原件印章生成(ST-120)對(duì)比印文的生成階段(ST-101)；對(duì)上述生成階段(ST-101)生成的基準(zhǔn)印文和對(duì)比印文進(jìn)行比較，運(yùn)算(ST-130)對(duì)比印文對(duì)基準(zhǔn)印文的特性值，對(duì)比基準(zhǔn)印文和比較印文運(yùn)算(ST-140)比較對(duì)基準(zhǔn)印文的特性值的運(yùn)算階段(ST-121)；在上述運(yùn)算階段(ST-121)對(duì)比基準(zhǔn)印文和對(duì)比印文取得的特性值和，對(duì)比基準(zhǔn)印文和比較印文獲得的特性值進(jìn)行比較的階段(ST-150)構(gòu)成。
2.權(quán)利要求1所述的偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，在上述運(yùn)算階段(ST-121)對(duì)準(zhǔn)(ST-131)基準(zhǔn)印文和對(duì)比印文的位置和角度，運(yùn)算(ST-130)對(duì)比印文對(duì)基準(zhǔn)印文的特性值，對(duì)準(zhǔn)(ST-141)基準(zhǔn)印文和比較印文的位置和角度，運(yùn)算(ST-140)比較印文對(duì)基準(zhǔn)印文的特性值。
3.權(quán)利要求1或2所述的偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，上述特性值為對(duì)比基準(zhǔn)印文運(yùn)算的填充率，上述基準(zhǔn)印文填充率的運(yùn)算式為
4.權(quán)利要求1或權(quán)利要求2所述的偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，上述特性值為對(duì)比基準(zhǔn)印文運(yùn)算的出錯(cuò)率，上述對(duì)比印文出錯(cuò)率的運(yùn)算式為
5.權(quán)利要求1或權(quán)利要求2所述的偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，上述特性值為對(duì)比基準(zhǔn)印文運(yùn)算的填充率和出錯(cuò)率，上述對(duì)比印文填充率的運(yùn)算式為
6.一種偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，通過原件印章輸入復(fù)數(shù)個(gè)準(zhǔn)備印文的階段 (ST-200)；按領(lǐng)域分離(ST-210)上述輸入階段所輸入的準(zhǔn)備印文，在復(fù)數(shù)個(gè)準(zhǔn)備印文中整合蓋印領(lǐng)域生成基準(zhǔn)印文的階段(ST-230)；按領(lǐng)域分離所輸入的偽造檢驗(yàn)對(duì)象比較印文的階段(ST-MO)；在上述基準(zhǔn)印文和比較印文中整合蓋印領(lǐng)域的階段(ST490)；上述的整合階段后，運(yùn)算比較印文對(duì)基準(zhǔn)印文的特性值的階段(ST-300)組成。
7.權(quán)利要求6所述的偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，整合上述基準(zhǔn)印文和比較印文的階段是求得有效像素(matching pixel count)最大值的移動(dòng)以及旋轉(zhuǎn)參數(shù)的過程，并且上述參數(shù)是通過下面的數(shù)學(xué)公式算出。 數(shù)學(xué)公式
8.權(quán)利要求6所述的偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，整合上述基準(zhǔn)印文和比較印文的階段是運(yùn)算蓋印領(lǐng)域的重疊，對(duì)準(zhǔn)基準(zhǔn)印文和對(duì)比印文的位置和角度的階段。
9.權(quán)利要求6所述的偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，上述特性值為對(duì)比基準(zhǔn)印文運(yùn)算的填充率，上述比較印文填充率的運(yùn)算式為
10.權(quán)利要求6所述的偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，上述特性值為對(duì)比基準(zhǔn)印文運(yùn)算的出錯(cuò)率，上述比較印文出錯(cuò)率的運(yùn)算式為
11.權(quán)利要求6所述的偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，上述特性值為對(duì)比基準(zhǔn)印文運(yùn)算的填充率和出錯(cuò)率，上述比較印文填充率的運(yùn)算式為
12.權(quán)利要求11所述的偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，上述出錯(cuò)率反映著填充率，反映填充率的出錯(cuò)率運(yùn)算式
13.—種記錄介質(zhì)，其特征在于，能實(shí)現(xiàn)通過原件印章輸入復(fù)數(shù)個(gè)準(zhǔn)備印文后按領(lǐng)域分離的功能；按領(lǐng)域分離的至少一個(gè)以上的準(zhǔn)備印文中整合蓋印領(lǐng)域，計(jì)算相應(yīng)的像素平均值生成基準(zhǔn)印文的功能；輸入偽造檢驗(yàn)對(duì)象比較印文后按領(lǐng)域分離的功能；比較上述基準(zhǔn)印文和比較印文，運(yùn)算表示基準(zhǔn)印文和比較印文之間相異程度的出錯(cuò)率，運(yùn)算表示印泥的濃淡或蓋印強(qiáng)度的填充率，檢驗(yàn)上述比較印文是否為偽造印文等功能的程序記錄在內(nèi)的， 可以通過計(jì)算機(jī)讀取的記錄介質(zhì)。
14.權(quán)利要求13所述的記錄介質(zhì)，其特征在于，假設(shè)脫離上述基準(zhǔn)印文面積 η(A)的比較印文蓋印領(lǐng)域的面積為n(B。ut)，比較印文的蓋印領(lǐng)域面積為η(Β)時(shí)，上述出錯(cuò)率是通過數(shù)學(xué)公式
15.一種偽造印文的檢驗(yàn)方法，其特征在于，運(yùn)算對(duì)基準(zhǔn)印文的復(fù)數(shù)個(gè)準(zhǔn)備印文的補(bǔ)正出錯(cuò)率(ε J-出錯(cuò)率(ε)/填充率(ρ)的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差，畫出正態(tài)分布曲線的階段； 運(yùn)算對(duì)基準(zhǔn)印文的比較印文補(bǔ)正出錯(cuò)率(￡ι)_出錯(cuò)率(O/填充率(P)后，反映在準(zhǔn)備印文的正態(tài)分布曲線的階段組成。
全文摘要
本發(fā)明涉及偽造印文的檢驗(yàn)方法，具體而言，通過原件印章生成(ST-110)基準(zhǔn)印文的生成階段(ST-101)；對(duì)比上述生成階段(ST-101)生成的基準(zhǔn)印文和比較印文，運(yùn)算(ST-140)比較印文對(duì)基準(zhǔn)印文的特性值的運(yùn)算階段(ST-121)組成。通過實(shí)驗(yàn)結(jié)果，不僅可以識(shí)別蝕刻在鋅板或樹脂板仿造的印章蓋印的偽造印文，還可以識(shí)別通過計(jì)算機(jī)仿刻方法仿造的印章蓋印的偽造印文。在各類刑事和民事案件中，判斷文件上所蓋印印文的偽造與否時(shí)提供客觀的依據(jù)，有效防止肉眼或顯微鏡下觀察時(shí)可能出現(xiàn)的錯(cuò)誤。
文檔編號(hào)G06K9/62GK102194125SQ20101057648
公開日2011年9月21日 申請(qǐng)日期2010年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月17日
發(fā)明者文基雄, 樸昞旭, 李仲, 李永洙, 金俊奭 申請(qǐng)人:大韓民國(管理部署:行政安全部國立科學(xué)搜查研究院長)