專利名稱：高速周邊元件擴展接口的測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)，特別有關(guān)于一種高速周邊元件擴展接口的測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著嵌入式系統(tǒng)的快速發(fā)展，使得越來越多的電子產(chǎn)品可以通過嵌入式系統(tǒng)將更多的功能加入單一微處理控制單元(Micro Controller Unit, MCU)之中，進而在更小體積的限制下實現(xiàn)更加快速的處理能力。所以開發(fā)廠商也積極的投入此一領(lǐng)域之中。為能對開發(fā)中的嵌入式系統(tǒng)進行相應(yīng)的測試，一般而言都會通過個人電腦來對嵌入式系統(tǒng)做除錯與測試的處理。在公知技術(shù)中個人電腦可以經(jīng)RS-232連接端口、通用串行總線(USB)或以太網(wǎng)絡(luò) (Ethernet)連接至嵌入式系統(tǒng)。公知技術(shù)的連接雖然方便，但是有下述的各項缺失。對于RS-232連接端口而言，其通信協(xié)議的開發(fā)最為便利，但RS-232連接端口的傳輸速度最高只有115. 21ApS。所以RS-232連接端口無法提供更為快速的測試通道。通用串行總線目前最常被采用的是2. 0的版本。在通用串行總線2. 0的規(guī)范中，其通訊傳輸速度為480Mbps。而通用串行總線所采用的是差分信號傳輸。所以相較于RS-232 連接端口而言，通用串行總線的硬件組成復雜度遠大于RS-232連接端口。而且，為能支持通用串行總線的運作，必須在個人電腦中運行相應(yīng)的驅(qū)動程序。所以在整體的開發(fā)成本上， 通用串行總線是大于RS-232連接端口。第三種方式就是通過以太網(wǎng)絡(luò)連接嵌入式系統(tǒng)?，F(xiàn)在最常使用的以太網(wǎng)絡(luò)為 cat. 5或cat. 6兩種。cat. 5的網(wǎng)絡(luò)傳輸速度可以達到100Mbps，而cat. 6的網(wǎng)絡(luò)傳輸速度可以達到1000Mbps。與通用串行總線相同的是，以太網(wǎng)絡(luò)也是通過差分信號進行傳輸。因此以太網(wǎng)絡(luò)的硬件復雜度亦大于RS-232連接端口。而以太網(wǎng)絡(luò)另外需要對應(yīng)的程序來解析所傳輸?shù)木W(wǎng)絡(luò)封包數(shù)據(jù)。所以軟件維護的成本也相對高于其他連接方式。綜合上述所言，公知技術(shù)的測試方式將受到傳輸帶寬與設(shè)備維護的限制。所以對于開發(fā)廠商而言需要一種可以提供調(diào)整傳輸帶寬與低成本的測試設(shè)備。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上的問題，本發(fā)明的主要目的在于提供一種高速周邊元件擴展接口 (Peripheral Component Interconnect Express，PCI-E，又稱新世代周邊連接介面)的測試系統(tǒng)，用以測試多個微處理控制單元。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所公開的高速周邊元件擴展接口的測試系統(tǒng)包括測試治具與測試主機。每一測試治具更包括高速周邊元件擴展接口(Peripheral Component Interconnect Express, PCI-E)橋接器與微處理控制單元，高速周邊元件擴展接口橋接器電性連接于微處理控制單元；測試主機具有多個高速周邊元件擴展接口控制器、處理單元與儲存設(shè)備，測試主機通過高速周邊元件擴展接口控制器電性連接測試治具，在儲存設(shè)備中存儲具有多個測試項目的測試列表與測試程序，處理單元執(zhí)行測試程序，處理單元根據(jù)測試程序?qū)y試項目發(fā)送至測試治具，使得測試治具所連接的微處理控制單元執(zhí)行測試項目，微處理控制單元在完成測試項目后，微處理控制單元返回一回應(yīng)信息給測試主機。本發(fā)明所提出的測試系統(tǒng)通過高速周邊元件擴展接口連接至微處理控制單元。測試主機可以通過高速周邊元件擴展接口調(diào)整不同的傳輸帶寬外，也可以針對不同的微處理控制單元進行測試。有關(guān)本發(fā)明的特征與實作，茲配合附圖作最佳實施例詳細說明如下。


圖1為本發(fā)明的架構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明的多個測試治具連接示意圖；圖3為本發(fā)明的運作流程示意圖。其中，附圖標記測試治具110高速周邊元件擴展接口橋接器111微處理控制單元112測試主機120高速周邊元件擴展接口控制器121處理單元122儲存設(shè)備12具體實施例方式請參考圖1所示，其為本發(fā)明的架構(gòu)示意圖。本發(fā)明所公開的高速周邊元件擴展接口的測試系統(tǒng)包括測試治具Iio與測試主機120。測試主機120可以同時連接至少一個測試治具110。而每一測試治具110更包括高速周邊元件擴展接口(Peripheral Component Interconnect Express, PCI-E)橋接器111與微處理控制單元112。在圖1中以一個微處理控制單元112作為說明，但不以此數(shù)量為限。此外，本發(fā)明可以如圖2所示將多個測試治具110同時連接至測試主機120。高速周邊元件擴展接口橋接器111電性連接于微處理控制單元112與測試主機120。高速周邊元件擴展接口橋接器111通過內(nèi)部整合電路(I2C)總線或序列周邊介面(Serial Peripheral Interface Bus，SPI)總線與微處理控制單元112 電性連接。在測試主機120中包括至少一個高速周邊元件擴展接口控制器121、處理單元122 與儲存設(shè)備123。測試主機120通過高速周邊元件擴展接口控制器121電性連接測試治具 110。儲存設(shè)備123中存儲具有多個測試項目的測試列表與測試程序。其中，測試項目的種類包括設(shè)備過壓、信號中斷、回應(yīng)時間超過預設(shè)值、接口版本測試、電力測試、系統(tǒng)管理總線、JTAG測試、喚醒測試、預重設(shè)測試、差分時鐘脈沖及數(shù)據(jù)的測試與/或帶寬測試。測試程序開始運行時，測試程序會依序選擇測試治具110的位置(slot)、確認測試治具110的編號(ID)與測試治具110的固件版本。在經(jīng)過前述步驟后，處理單元122才會致能測試治具110。處理單元122將測試項目發(fā)送至測試治具110，使得測試治具110所連接的微處理控制單元112執(zhí)行測試項目。處理單元122可以并行傳送或依序傳送等方式。 將測試項目發(fā)送至測試治具110讓微處理控制單元112進行相應(yīng)的處理。一般而言，測試治具110可以被分為兩種類型一種是需要上電才能測試，另一種是不需外部供電也可以進行測試。測試程序會根據(jù)測試治具110的種類決定相應(yīng)的測試項目。
微處理控制單元112在完成測試項目后，微處理控制單元112返回一回應(yīng)信息給測試主機120。或者，當微處理控制單元112在執(zhí)行測試項目中發(fā)生異常事件時，微處理控制單元112會向處理單元122發(fā)送中斷信息，并由處理單元122記錄所發(fā)生的錯誤信息。本發(fā)明通過高速周邊元件擴展接口控制器121可以讓微處理控制單元112與處理單元122同時進行雙向的傳輸。所以在微處理控制單元112運作中發(fā)生異常也可以發(fā)送中斷信息給處理單元122。為能清楚說明本發(fā)明的運作流程，還請參考圖3所示，其為本發(fā)明的運作流程示意圖。步驟S310 將測試治具連接至測試主機；步驟S320 在測試主機中運行測試程序，并根據(jù)測試程序決定測試治具的順序與測試項目的順序；步驟S330 測試程序選擇測試治具的位置(slot)，并分別確認測試治具的編號 (ID)與測試治具的固件版本；步驟S340 啟動測試治具，處理單元通過高速周邊元件擴展接口控制器向所選出的測試治具發(fā)送欲測試的測試項目；步驟S350 由微處理控制單元運行所接收到的測試項目；步驟S360 若是微處理控制單元運行測試項目的過程發(fā)生異常，微處理控制單元將向處理單元發(fā)送中斷信息，并由處理單元記錄所發(fā)生的錯誤信息；以及步驟S370 當微處理控制單元完成測試項目后，微處理控制單元會發(fā)送一回應(yīng)信號給測試主機，測試主機將重復上述步驟直至完成所有測試治具為止。本發(fā)明所提出的測試系統(tǒng)通過高速周邊元件擴展接口連接至微處理控制單元 112。測試主機120可以通過高速周邊元件擴展接口調(diào)整不同的傳輸帶寬外，也可以針對不同的微處理控制單元112進行測試。當然，本發(fā)明還可有其它多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種高速周邊元件擴展接口的測試系統(tǒng)，其特征在于，用以測試多個微處理控制單元，該測試系統(tǒng)包括至少一測試治具，每一該測試治具更包括一高速周邊元件擴展接口橋接器與這些微處理控制單元，該高速周邊元件擴展接口橋接器電性連接于這些微處理控制單元；以及一測試主機，其具有多個高速周邊元件擴展接口控制器、一處理單元與一儲存設(shè)備，該測試主機通過該高速周邊元件擴展接口控制器電性連接該測試治具，在該儲存設(shè)備中存儲具有多筆測試項目的一測試列表與一測試程序，該處理單元執(zhí)行該測試程序，該處理單元根據(jù)該測試程序?qū)⒃摐y試項目發(fā)送至該測試治具，使得該測試治具所連接的這些微處理控制單元執(zhí)行該測試項目，該微處理控制單元在完成該測試項目后，該微處理控制單元返回一回應(yīng)信息給該測試主機。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速周邊元件擴展接口的測試系統(tǒng)，其特征在于，該高速周邊元件擴展接口橋接器通過一內(nèi)部整合電路總線或一序列周邊介面總線與這些微處理控制單元電性連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速周邊元件擴展接口的測試系統(tǒng)，其特征在于，該處理單元以并行或依序的方式將該測試項目發(fā)送至該測試治具。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速周邊元件擴展接口的測試系統(tǒng)，其特征在于，當該微處理控制單元在執(zhí)行該測試項目中發(fā)生一異常事件，該微處理控制單元向該處理單元發(fā)送一中斷信息，并由該處理單元記錄錯誤信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的高速周邊元件擴展接口的測試系統(tǒng)，其特征在于，該異常事件包括設(shè)備過壓、信號中斷、或回應(yīng)時間超過預設(shè)值。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種高速周邊元件擴展接口的測試系統(tǒng)，用以測試多個微處理控制單元。測試系統(tǒng)包括測試治具與測試主機。每一測試治具更包括高速周邊元件擴展接口橋接器與微處理控制單元，高速周邊元件擴展接口橋接器電性連接于微處理控制單元；測試主機通過高速周邊元件擴展接口控制器電性連接測試治具，在儲存設(shè)備中存儲具有多個測試項目的測試列表，處理單元將測試項目發(fā)送至測試治具，使得測試治具所連接的微處理控制單元執(zhí)行測試項目，微處理控制單元在完成測試項目后，微處理控制單元返回一回應(yīng)信息給測試主機。
文檔編號G06F11/267GK102479136SQ20101059091
公開日2012年5月30日 申請日期2010年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月30日
發(fā)明者姜驍, 鄭全階, 金志仁, 陳志豐 申請人:英業(yè)達股份有限公司