專利名稱：一種基于2d-raid陣列的自適應(yīng)重組方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種基于2D-RAID陣列的自適應(yīng)策略。
背景技術(shù)：
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)是計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的主要組成部分，為系統(tǒng)的計(jì)算提供并保存數(shù)據(jù)。因此，如 何防止數(shù)據(jù)的丟失成為了研究的熱門問題，在過去的幾十年里，已有了大量學(xué)者對數(shù)據(jù)存 儲(chǔ)的可靠性進(jìn)行了細(xì)致的研究，提出了多種防止數(shù)據(jù)丟失的方法。其中，提高數(shù)據(jù)的可靠性的最好辦法就是通過冗余的使用。兩種最為著名的方式 就是鏡像和<m，n>碼。鏡像的方式使得為存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)提供一份或多份的復(fù)制(副本)，當(dāng)存 儲(chǔ)的數(shù)據(jù)丟失時(shí)，可以立即使用數(shù)據(jù)的副本進(jìn)行恢復(fù)或替換；<m，n>碼將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在η個(gè)不 同的磁盤中，并提供足夠的冗余信息以使當(dāng)有n-m個(gè)磁盤失效時(shí)仍然可以訪問到數(shù)據(jù)，不 會(huì)造成數(shù)據(jù)的丟失。目前最廣泛被使用的<m，n>碼是RAID的使用RAID5采用的是<n_l， n>碼；RAID6采用的是<n_2，n>碼。RAID陣列盡管可以通過冗余的方式來防止數(shù)據(jù)丟失，但是考慮如下情況陣列中 有一個(gè)磁盤失效，盡管不會(huì)造成數(shù)據(jù)丟失，但是會(huì)將剩余的磁盤置于一種低級(jí)保護(hù)(甚至 沒有保護(hù))的情況。這無疑提高了數(shù)據(jù)丟失的風(fēng)險(xiǎn)。本發(fā)明試圖提出一個(gè)自適應(yīng)的策略，該策略可以根據(jù)失效的磁盤數(shù)來對數(shù)據(jù)的存 儲(chǔ)進(jìn)行重組，最大程度上避免數(shù)據(jù)丟失情況的發(fā)生。因此，通過重組的方式，使得在不額外 增加冗余的前提下提高數(shù)據(jù)的可靠性。如上文提到的RAID陣列，在有磁盤失效的情況下， 對陣列進(jìn)行重組，使得剩余的磁盤得到最大程度上的保護(hù)。這種重組的過程會(huì)持續(xù)進(jìn)行，直 到失效磁盤被替換，陣列將恢復(fù)到原始狀態(tài)。此外，本發(fā)明提出的策略在陣列處于惡劣環(huán)境下，無法便利的進(jìn)行失效磁盤的更 換的情況下具有極大的優(yōu)勢，能夠提供最大的數(shù)據(jù)保護(hù)；在正常使用或商用中也能提供較 好的容錯(cuò)性和安全性。最早在RAID陣列中提出<m，n>碼的是<n_l，n>碼參考文獻(xiàn)Peter M. Chen, Edward K.Lee, Garth A. Gibson, Randy H.Katz, David A.Patterson. RAID :high-performance, reliable secondary storage. ACM Computing Surveys 26 (2) :145_185，1994，參考文獻(xiàn) Walter A. Burkhard,Jai Menon. Disk array storage system reliability. In Proc.23th Int. Symp. on Fault-Tolerant Computing, pp. 432-441,1993.第一次提出了 <n_2，n> 碼 的RAID6來提供雙磁盤失效的數(shù)據(jù)保護(hù)。文獻(xiàn)[]都是對雙容錯(cuò)的RAID6進(jìn)行的各種實(shí)現(xiàn) 和改進(jìn)。對自適應(yīng)策略的研究到目前為止還很少。HP-AutoRAID參考文獻(xiàn)J. Wilkes， R. Golding, C. Stealin and Τ. sullivan.The HP AutoRaid hierarchical storage system. ACM Trans. On Computer Systems 14(1) :1_29，1996實(shí)現(xiàn)了在 RAID5 和一個(gè)鏡像 存儲(chǔ)中自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)塊的遷移和管理的方式，并以此作為模式的改變。但是其主要目的是 在不影響系統(tǒng)性能的前提下，最大節(jié)省磁盤空間。因此，它主要是對數(shù)據(jù)的訪問模式進(jìn)行更改而不是針對磁盤失效進(jìn)行設(shè)計(jì)。Paris 在參考文獻(xiàn) Jehan-Francois Paris, Thomas J. Ε. Schwarz, Darrell D. Ε. Long. Self-Adaptive Disk Arrays.In Proc.8th Int. Symp. On Stabilization, Safety, and Security of Distributed Systems，pp. 469-483，2006中提出了一個(gè)通過 鏡像磁盤對陣列進(jìn)行重組來應(yīng)對磁盤失效的方法。在所有磁盤均有效的情況下，所有的數(shù) 據(jù)都保存在兩個(gè)磁盤中，一旦有磁盤失效便采用<n-l，n>碼，并以此來使所有的數(shù)據(jù)都處 于保護(hù)中；此后，Paris 在文獻(xiàn)參考文獻(xiàn) Jehan-Francois Paris，Thomas J. Ε. Schwarz, Darrell D. Ε. Long.Self-Adaptive Two-Dimensional RAID Arrays. Performance， Computing，and Communications Conference，2007，pp. 246-253，2007]中提出了一個(gè)基于 2D-RAID的自適應(yīng)策略，在陣列中有磁盤失效時(shí)，依據(jù)特定的原則進(jìn)行磁盤的重組，以達(dá)到 為所有磁盤提供保護(hù)的目的。本發(fā)明的策略正是基于該策略進(jìn)行修改和擴(kuò)充。本發(fā)明的方法主要基于Paris參考文獻(xiàn)Jehan-Francois Paris, Thomas J. Ε.Schwarz, Darrell D.Ε.Long.Self-Adaptive Two-Dimensional RAID Arrays. Performance, Computing, and Communications Conference, 2007, pp. 246-253,2007]中的 自適應(yīng)策略的思想，并在多個(gè)方面進(jìn)行了改進(jìn)以提高陣列的可靠性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種基于2D-RAID陣 列的自適應(yīng)重組方法，以提高存儲(chǔ)系統(tǒng)的可靠性。本發(fā)明采用的技術(shù)方案為基于2D-RAID存儲(chǔ)陣列，其特點(diǎn)在于采用如圖2所示的 2D-RAID系統(tǒng)，以3X3陣列為例，9個(gè)數(shù)據(jù)磁盤組織成一個(gè)陣列，3個(gè)行冗余磁盤，3個(gè)列冗 余磁盤，在原有的2D-RAID系統(tǒng)的基礎(chǔ)上增加一個(gè)全冗余磁盤。本方法具體通過以下步驟 實(shí)現(xiàn)重新組織，如圖1所示(1)初始化2D-RAID陣列，標(biāo)記數(shù)據(jù)磁盤和冗余磁盤。(2)對磁盤陣列進(jìn)行正常讀寫，讀寫過程中對磁盤陣列進(jìn)行錯(cuò)誤檢測。檢測磁盤陣 列中是否有磁盤發(fā)生失效。(3)若有磁盤磁盤失效，啟動(dòng)磁盤重組過程。(4)判斷失效磁盤數(shù)是否達(dá)到2D重組的閾值，若沒有達(dá)到閾值，采用2D重組策略 進(jìn)行陣列重組，使其符合兩個(gè)原則1.每個(gè)數(shù)據(jù)盤分屬兩個(gè)不同的冗余盤；2.任何兩個(gè)不 同冗余盤最多只包含一個(gè)相同的數(shù)據(jù)盤。；若達(dá)到閾值，采用ID重組策略進(jìn)行陣列重組，轉(zhuǎn) 化為 ID-RAID。(5)進(jìn)行修復(fù)檢測，若有磁盤替換，啟動(dòng)修復(fù)程序?qū)﹃嚵羞M(jìn)行修復(fù)。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果是本發(fā)明以降低一定的存儲(chǔ)空間利用率為代 價(jià)，將整個(gè)陣列的可靠性提高了 2到3個(gè)數(shù)量級(jí)。本發(fā)明采用優(yōu)化的自組織方法，針對惡劣條件下陣列的應(yīng)用，給出了可靠性較高 的解決方案，為數(shù)據(jù)的可靠性保障提供了有力支撐。


圖1為基于2D-RAID重組織方法流程圖示；
4
圖2為由9個(gè)數(shù)據(jù)盤和7個(gè)冗余盤組成的2D-RAID陣列示意圖；圖3為同樣的陣列4個(gè)磁盤失效時(shí)會(huì)發(fā)生數(shù)據(jù)丟失的情況；圖4a、圖4b、為文獻(xiàn)使用的策略；圖5a、圖5b、圖5c為本發(fā)明采用的2D重組策略；圖6為達(dá)到臨界條件后的陣列示意圖；圖7a為轉(zhuǎn)為RAID5的ID陣列，圖7b為轉(zhuǎn)為RAID6的ID陣列；圖8為2D重組策略的馬爾可夫過程模型；圖9為是否加上全冗余磁盤數(shù)據(jù)對比圖；圖10為修改后的重組策略數(shù)據(jù)對比圖；圖11為是否使用重組策略數(shù)據(jù)對比圖；圖12為組織成RAID6馬爾可夫過程模型；圖13為組織成RAID5馬爾可夫過程模型；圖 14 為 RAID6 和 RAID5 對比圖；圖15為陣列由重組后的2D陣列后的馬爾可夫過程模型；圖16為采用ID重組陣列之后的數(shù)據(jù)對比圖；圖17為采用完整陣列的馬爾可夫過程模型；圖18為采用完整重組策略與只采用2D重組策略的數(shù)據(jù)對比圖；圖19為修改條件后的完整重組策略與只采用2D重組策略的對比。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施方式
對本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說明。(I)2D-RAID 陣列初始化。以圖2所示為例，陣列由9個(gè)數(shù)據(jù)盤和7個(gè)冗余盤組成。7個(gè)冗余盤中，Pl到P3
分別是2D陣列中每一行的異或操作結(jié)果，即行冗余；Ql到Q3分別是2D陣列中每一列的異
或操作結(jié)果，即列冗余；PQ盤是所有9個(gè)冗余盤的異或結(jié)果，或者通過將3個(gè)行冗余異或或
3個(gè)列冗余異或的結(jié)果，稱為全冗余盤。為了與全冗余盤區(qū)分，將行冗余和列冗余統(tǒng)稱為普
通冗余盤?？梢院苋菀卓闯?，如此組織的陣列，可以實(shí)現(xiàn)完全的3容錯(cuò)，即陣列中任意3個(gè)
磁盤的損壞都不會(huì)造成數(shù)據(jù)丟失。對于4個(gè)磁盤發(fā)生失效時(shí)，只有出現(xiàn)如圖3所示的情況，
即當(dāng)數(shù)據(jù)盤、該數(shù)據(jù)盤所屬的行冗余以及列冗余和全冗余盤均失效時(shí)，才會(huì)造成數(shù)據(jù)丟失。
以9個(gè)數(shù)據(jù)盤7個(gè)冗余盤為例，一共可能有g(shù) = 9種情況會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失，而16個(gè)磁盤發(fā)生
4個(gè)磁盤失效一共有Q46 =1820種情況，那么按照圖2的方式進(jìn)行陣列的組織，在發(fā)生4個(gè)磁 1820-9
盤失效的情況下，有"^一 = 99.5%的概率不會(huì)造成數(shù)據(jù)丟失。
1 oZU(2)進(jìn)行錯(cuò)誤檢測過程。錯(cuò)誤檢測分為兩種，第一種是對磁盤陣列進(jìn)行正常讀寫，讀寫過程中對磁盤陣列 進(jìn)行錯(cuò)誤檢測。第二種是定期對磁盤陣列進(jìn)行檢測，檢測磁盤陣列中是否有磁盤發(fā)生失效。(3)啟動(dòng)磁盤重組過程。若檢測到有磁盤失效，自動(dòng)進(jìn)行磁盤重組過程。(4)根據(jù)失效磁盤數(shù)選擇相應(yīng)的重組類型。
判斷失效磁盤數(shù)是否達(dá)到2D重組的閾值，若沒有達(dá)到閾值，采用2D重組策略進(jìn)行 陣列重組，使其符合兩個(gè)原則1.每個(gè)數(shù)據(jù)盤分屬兩個(gè)不同的冗余盤；2.任何兩個(gè)不同冗 余盤最多只包含一個(gè)相同的數(shù)據(jù)盤。；若達(dá)到閾值，采用ID重組策略進(jìn)行陣列重組，轉(zhuǎn)化為 1D-RAID。若采用的2D重組策略文獻(xiàn)采用的陣列的組織形式如圖4a，該組織方式可以達(dá)到絕大多數(shù)的3容錯(cuò)情 況，只有當(dāng)數(shù)據(jù)盤與其所屬的行冗余和列冗余均失效時(shí)會(huì)造成數(shù)據(jù)丟失。文獻(xiàn)通過保證一 下兩點(diǎn)來提高陣列的可靠性1.每個(gè)數(shù)據(jù)盤分屬兩個(gè)不同的冗余盤；2.任何兩個(gè)不同冗余 盤最多只包含一個(gè)相同的數(shù)據(jù)盤。因此，當(dāng)有一個(gè)磁盤失效時(shí)(假設(shè)是冗余盤)，陣列將轉(zhuǎn) 化為如圖4b所示的情況；若失效的是數(shù)據(jù)盤，將使用該數(shù)據(jù)盤所在的一個(gè)冗余盤替換該數(shù) 據(jù)盤，將失效的數(shù)據(jù)盤內(nèi)容恢復(fù)到該冗余盤，然后再轉(zhuǎn)換成圖4b的形式。本發(fā)明所采用的2D重組策略是基于文獻(xiàn)策略的改進(jìn)，即在組織方式上增加了一 個(gè)全冗余磁盤，并且在重組的策略中做了一點(diǎn)改動(dòng)。若失效的盤是Pl到P3或者Ql到Q3等行冗余或列冗余，那么則直接采用文獻(xiàn)中 的方法進(jìn)行重組，如圖5a所示；若失效的盤是PQ，即全冗余盤，則將選擇一個(gè)行冗余或者 列冗余作為全冗余盤，并將全冗余的內(nèi)容恢復(fù)至該盤，然后按照文獻(xiàn)方法進(jìn)行重組，如圖5b 所示；若失效的盤是數(shù)據(jù)盤，則先將數(shù)據(jù)盤恢復(fù)至其所在的任意一個(gè)冗余盤上，然后按照失 效盤是冗余盤進(jìn)行重組，如圖5c所示。簡單的說，當(dāng)陣列中有一個(gè)磁盤失效時(shí)，最終都將轉(zhuǎn)化為圖5a的形式，即保證9個(gè) 數(shù)據(jù)盤和全冗余磁盤均處于有效狀態(tài)。此時(shí)的陣列符合上述的兩點(diǎn)，即每個(gè)數(shù)據(jù)盤分屬兩 個(gè)不同的普通冗余盤；任何兩個(gè)不同的普通冗余盤最多只包含一個(gè)相同的數(shù)據(jù)盤，那么此 時(shí)的陣列仍然保證100%的3容錯(cuò)，并且只有當(dāng)數(shù)據(jù)盤、該數(shù)據(jù)盤所屬的兩個(gè)普通冗余盤和 全冗余盤均失效時(shí)，才會(huì)造成數(shù)據(jù)丟失，即99. 5%的4容錯(cuò)。需要注意的是，只要符合上述 的兩點(diǎn)，當(dāng)再有磁盤失效時(shí)，可以依據(jù)此原則一直進(jìn)行重組，直到磁盤的數(shù)目無法符合上述 原則。假設(shè)一個(gè)由η2個(gè)數(shù)據(jù)盤和2η-1個(gè)冗余盤組成的陣列中的剩余普通冗余盤個(gè)數(shù)為m，
那么符合上述要求的臨界條件為C〗=「《2 "I。就是說，在達(dá)到臨界條件之前，陣列可以一直進(jìn) 行重組，并且保證100 %的3容錯(cuò)，99. 5 %的4容錯(cuò)。當(dāng)陣列達(dá)到臨界條件后，以上文陣列為例，即當(dāng)陣列中有第二個(gè)磁盤失效時(shí)，根據(jù) 失效的磁盤有不同的操作方法若失效磁盤時(shí)全冗余磁盤，則不做任何操作；若失效的磁 盤是普通冗余盤或者數(shù)據(jù)盤，則將失效磁盤的數(shù)據(jù)恢復(fù)到全冗余磁盤上。此時(shí)，陣列中已經(jīng) 沒有全冗余磁盤了。陣列由于符合上述兩點(diǎn)原則，仍能保證100%的2容錯(cuò)。若采用ID重組策略當(dāng)陣列達(dá)到臨界條件后，將轉(zhuǎn)化全冗余磁盤為普通冗余磁盤或數(shù)據(jù)盤。若此時(shí)再 有磁盤失效，則無法保證陣列的2容錯(cuò)。如圖6所示，在達(dá)到臨界點(diǎn)(即Q2和PQ失效)后， 陣列中Pl失效。那么此時(shí)，若D13和Q3失效時(shí)就會(huì)造成D13的數(shù)據(jù)丟失。因此，為了提高可靠性，陣列處于圖5的狀態(tài)下再次失效一個(gè)磁盤，將開始一個(gè)ID 轉(zhuǎn)化策略，即將陣列轉(zhuǎn)化為1D-RAID，即轉(zhuǎn)化為RAID5或RAID6。如圖7所示，需要注意的是， 此時(shí)磁盤中已經(jīng)有4個(gè)失效磁盤。其中，圖7a將陣列轉(zhuǎn)化為三個(gè)RAID5陣列；圖7b將陣 列轉(zhuǎn)化為一個(gè)RAID6陣列，與通常的RAID6陣列不同，本發(fā)明采用的RAID6陣列的異或冗余盤(即通常意義的P盤)沒有實(shí)際的物理磁盤，而是SP1和P2共同組成的一個(gè)邏輯磁盤， 其中出于對磁盤負(fù)載的考慮，P1的內(nèi)容由Dn、D12, D13、D21和D22異或得到，P2的內(nèi)容由D31、 D32、D33和D23異或得到。而P1和P2異或的結(jié)果為傳統(tǒng)RAID6中的異或磁盤P。陣列依據(jù)上 文所述從2D組織方式轉(zhuǎn)化為ID組織。由后文中可靠性分析中可以看出，采用RAID6的組 織方式陣列有較好的容錯(cuò)性。由于本發(fā)明策略不考慮降級(jí)模式下的情況，那么當(dāng)失效磁盤數(shù)達(dá)到6個(gè)時(shí)，即冗 余盤只剩下一個(gè)時(shí)，陣列將轉(zhuǎn)化為一個(gè)RAID5模式。(5)進(jìn)行修復(fù)檢測，若有磁盤替換，啟動(dòng)修復(fù)程序?qū)﹃嚵羞M(jìn)行修復(fù)。修復(fù)程序主要將丟失數(shù)據(jù)恢復(fù)到替換的磁盤上，將磁盤重新加到陣列中。本發(fā)明所涉及的重組策略的可靠性分析如下一個(gè)系統(tǒng)的可靠性被定義成一個(gè)初始可操作的獨(dú)立系統(tǒng)在已給時(shí)間t內(nèi)的成活 概率，t為任何目標(biāo)的生命期。記系統(tǒng)的壽命為X，是一個(gè)非負(fù)的隨機(jī)變量，相應(yīng)的分布函數(shù) 為F (t) = {χ < 11 χ > 0}，則系統(tǒng)的平均壽命為EX= ￡ tdF{t) = ^tf (t)dt其中f(t)是X的相應(yīng)的密度函數(shù)。本發(fā)明中的“成活”意味著所有的用戶數(shù)據(jù)都是 可用的或者是可恢復(fù)的，因此在時(shí)刻t的可靠性是系統(tǒng)在時(shí)刻t沒有任何數(shù)據(jù)丟失的系統(tǒng) 比例。因此用某一時(shí)刻數(shù)據(jù)無丟失的概率來衡量可靠性，用平均直到數(shù)據(jù)丟失時(shí)間(MTTDL) 來表示系統(tǒng)的平均壽命。為了方便可靠性分析，對系統(tǒng)進(jìn)行一系列假定，系統(tǒng)模型由一系列一個(gè)磁盤陣列 組成，磁盤陣列中的每個(gè)磁盤的失效模式相互獨(dú)立。假定磁盤失效率是一個(gè)服從指數(shù)分布 的參數(shù)為λ的隨機(jī)變量X，磁盤修復(fù)率是一個(gè)服從指數(shù)分布的參數(shù)為μ的隨機(jī)變量Y。那 么
權(quán)利要求
1.一種基于2D-RAID陣列的自適應(yīng)策略，其特征在于步驟如下(1)將磁盤陣列組織成N*N的2D陣列形式，存儲(chǔ)用戶數(shù)據(jù)的磁盤稱為數(shù)據(jù)盤，存儲(chǔ)冗 余校驗(yàn)信息數(shù)據(jù)的磁盤稱為冗余盤，2D陣列中每一行或每一列的若干數(shù)據(jù)盤對應(yīng)一個(gè)冗余 盤，所述冗余盤中存放的數(shù)據(jù)依據(jù)對應(yīng)行或列的若干數(shù)據(jù)盤中的數(shù)據(jù)進(jìn)行異或運(yùn)算得出； 陣列中每一個(gè)數(shù)據(jù)盤分別對應(yīng)一個(gè)行冗余盤和一個(gè)列冗余盤；(2)在陣列中有磁盤發(fā)生失效時(shí)，對陣列中的未失效的磁盤依據(jù)未失效的磁盤中的數(shù) 據(jù)盤分別對應(yīng)兩個(gè)冗余盤、兩個(gè)冗余盤的數(shù)據(jù)計(jì)算最多只包含同一個(gè)的數(shù)據(jù)盤數(shù)據(jù)的原則 進(jìn)行重新排列，以提高整個(gè)陣列的可靠性；(3)當(dāng)陣列中的失效磁盤數(shù)達(dá)到某一閾值時(shí)，根據(jù)對陣列可靠性的需求將陣列從2D陣 列轉(zhuǎn)為ID陣列RAID6或者多個(gè)ID陣列RAID5。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于2D-RAID陣列的自適應(yīng)策略，其特征在于所述的步驟 (2)中，在陣列中有磁盤發(fā)生失效時(shí)，對陣列中的未失效的磁盤依據(jù)未失效的磁盤中的數(shù)據(jù) 盤分別對應(yīng)兩個(gè)冗余盤、兩個(gè)冗余盤的數(shù)據(jù)計(jì)算最多只包含同一個(gè)的數(shù)據(jù)盤數(shù)據(jù)的原則， 其原則具體為(2. 1)每個(gè)數(shù)據(jù)盤分別對應(yīng)兩個(gè)不同的冗余盤；(2. 2)任何兩個(gè)不同的冗余盤，所存儲(chǔ)的冗余信息數(shù)據(jù)的計(jì)算過程中最多只包含同一 個(gè)數(shù)據(jù)盤的數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于2D-RAID陣列的自適應(yīng)策略，其特征在于所述的步驟 (2)中從2D陣列轉(zhuǎn)為ID陣列RAID6，具體為下兩種方式之一1)轉(zhuǎn)化成多個(gè)ID-陣列RAID5；或者2)轉(zhuǎn)化成一個(gè)ID-陣列RAID6。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種基于2D-RAID陣列的自適應(yīng)重組方法，該重組方法提出了一個(gè)利用2D-RAID陣列可靠性的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與恢復(fù)策略。該策略在陣列發(fā)生磁盤失效的情況下對剩余有效磁盤的排布進(jìn)行重新排列，以降低額外磁盤失效帶來的潛在影響，有效提高陣列中的剩余有效磁盤的可靠性級(jí)別。此外，本發(fā)明給出了上述策略在3×3的2D-RAID陣列中的使用方法，以及2D陣列向1D陣列的轉(zhuǎn)化方法。通過可靠性分析，可以看出本發(fā)明能夠?qū)㈥嚵械钠骄鶖?shù)據(jù)丟失時(shí)間提高2到3個(gè)數(shù)量級(jí)，本發(fā)明能大幅提高處于惡劣環(huán)境下的磁盤陣列的數(shù)據(jù)可靠性。本發(fā)明方法的主要流程如附圖所示。
文檔編號(hào)G06F11/00GK102129354SQ20101059297
公開日2011年7月20日 申請日期2010年12月8日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月8日
發(fā)明者何兵, 張繼, 王莉莉, 趙沁平, 郝愛民 申請人:北京航空航天大學(xué)