專利名稱：觸摸板和觸摸板中的坐標檢測方法
技術領域：
這里所討論的實施方式的特定方面涉及一種觸摸板和觸摸板中的坐標檢測方法。
背景技術：
電阻觸摸板是通過將各包括透明導電膜的上層和下層相對置而形成的。當用手 指、筆等推動觸摸板時，電阻觸摸板通過由于上層的導電膜與下層的導電膜的接觸而引起 的導電來檢測接觸點的坐標。日本專利申請公開No. 2005-182737(文獻1)公開了一種由透明導電聚合物形成 導電膜的電阻觸摸板。日本專利申請公開No. 2008-135291(文獻2)公開了一種由導電聚 合物和金屬氧化物形成導電膜的電阻觸摸板。在將導電膜分割成多個區(qū)域并檢測每個區(qū)域中的觸摸的多點輸入觸摸板中，由于 在每個區(qū)域中進行用于坐標檢測的電壓的釋放，因而存在難以進行高速檢測操作的情況。通過滑動觸摸了觸摸板的手指等而在觸摸板上進行描畫。在這樣的描畫模式中， 當觸摸板的處理速度慢時，妨礙了平滑的描畫。當在導電膜的分割區(qū)域中存在包括引出布線的區(qū)域時，有時會在每個區(qū)域中改變 下拉電阻值和濾波器的屏蔽頻率。當改變下拉電阻值和濾波器的屏蔽頻率的次數變大時， 有可能使觸摸板的操作速度變慢。當同時觸摸了引出布線和引出布線以外的區(qū)域時，可能會判定進行了非意圖的輸 入，從而可能發(fā)生觸摸板的錯誤操作。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的是提供一種能夠提高觸摸板的操作速度的觸摸板和觸摸板中的坐 標檢測方法，或者提供一種能夠提高坐標檢測的精度的觸摸板和觸摸板中的坐標檢測方法。根據本發(fā)明的一個方面，提供一種觸摸板，包括第一導電膜，被分割成彼此絕緣 的多個區(qū)域 ’第二導電膜，與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；彼此相對 的一對電極，設置在所述第二導電膜上；彼此相對的另一對電極，設置在所述第二導電膜 上；和控制單元，被構成為在每個區(qū)域中判定所述第一導電膜是否與所述第二導電膜接觸， 在所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的情況下，通過向所述一對電極施加電壓，檢測 所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的X坐標和Y坐標中的一個，在每個區(qū)域中檢 測了 X坐標和Y坐標中的一個之后，釋放向所述一對電極施加的電壓，并且在釋放了向所述 一對電極施加的電壓之后，通過向所述另一對電極施加電壓，在每個區(qū)域中檢測X坐標和Y 坐標中的另一個。利用上述觸摸板，可以通過減少放電的次數而提高觸摸板的操作速度。 在上述結構中，在所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述多個區(qū)域中的某個區(qū) 域中接觸的情況下，所述控制單元可以在所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的區(qū)域中檢測X坐標和Y坐標中的一個，然后在所述多個區(qū)域中的、與所述第一導電膜與所述第二導 電膜接觸的區(qū)域不同的區(qū)域中判定所述第一導電膜是否與所述第二導電膜接觸。利用上述結構，可以通過減少放電的次數而提高觸摸板的操作速度。在上述結構中，所述控制單元可以在每個區(qū)域中判定所述第一導電膜是否與所述 第二導電膜接觸之后，在每個區(qū)域中檢測X坐標和Y坐標中的一個。利用上述結構，可以通過減少放電的次數而提高觸摸板的操作速度。而且，不必重 復被觸摸檢查和X坐標與Y坐標中的一個的檢測。因此可以進一步提高觸摸板的操作速度。在上述結構中，當所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸時，所述控制單元可以 記憶所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的區(qū)域，并且在所記憶的區(qū)域中檢測X坐標和 Y坐標。利用上述結構，可以進一步提高觸摸板的操作速度。根據本發(fā)明的另一個方面，提供一種觸摸板，包括第一導電膜，被分割成彼此絕 緣的多個區(qū)域；第二導電膜，與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；和控制 單元，被構成為在所述控制單元輸出了所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的坐標 時，在輸出坐標的處理的下一處理中，在輸出了坐標的區(qū)域和與輸出坐標的區(qū)域相鄰的區(qū) 域中，檢測所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的坐標，而在所述控制單元輸出了 坐標的情況下，不在在所述下一處理中輸出坐標的區(qū)域和與在所述下一處理中輸出坐標的 區(qū)域相鄰的區(qū)域以外的區(qū)域中檢測坐標。利用上述觸摸板，與依次在每個分割區(qū)域中執(zhí)行坐標檢測的情況相比，可以提高 觸摸板的操作速度。在上述結構中，所述控制單元可以在所述下一處理中在沿著根據輸出坐標的處理 而判定的方向的每個區(qū)域中檢測所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的坐標。利用上述結構，可以提高觸摸板的操作速度。根據本發(fā)明的另一個方面，提供一種觸摸板，包括第一導電膜，被分割成彼此絕 緣的多個區(qū)域；第二導電膜，與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；和控制 單元，被構成為在每個組中檢測所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的坐標，所述 組包括由所述多個區(qū)域中的第一區(qū)域的主區(qū)域構成的第一組；和由所述第一區(qū)域的引出 布線和所述多個區(qū)域中的第二區(qū)域構成的第二組。利用上述觸摸板，由于不必在每個區(qū)域中校正電位差和改變?yōu)V波器的屏蔽頻率， 因此可以提高觸摸板的操作速度。在上述結構中，所述第一組和所述第二組可以是通過將所述多個區(qū)域按照行或列 來分組而形成的；在通過將所述多個區(qū)域按照列來分組而形成所述第一組和所述第二組的 情況下，所述引出布線可以向行方向引出，在通過將所述多個區(qū)域按照行來分組而形成所 述第一組和所述第二組的情況下，所述引出布線可以向列方向引出。利用上述結構，可以提高觸摸板的操作速度。根據本發(fā)明的另一個方面，提供一種觸摸板，包括第一導電膜，被分割成彼此絕 緣的多個區(qū)域；第二導電膜，與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；和控制 單元，被構成為在多個組中的每個組中判定所述第一導電膜是否與所述第二導電膜接觸， 在所述多個組中的、所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的組中檢測所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的坐標，而不在所述第一導電膜與所述第二導電膜不接觸的組中 檢測坐標，其中每個組由所述多個區(qū)域中的一些區(qū)域構成。利用上述觸摸板，與在每個區(qū)域中執(zhí)行被觸摸檢查和坐標檢測的情況相比，被觸 摸檢查和坐標檢測的次數減少。因此可以提高觸摸板的操作速度。在上述結構中，所述多個組可以包括由所述多個區(qū)域中的第一區(qū)域的主區(qū)域構 成的第一組；和由所述第一區(qū)域的引出布線和所述多個區(qū)域中的第二區(qū)域構成的第二組。利用上述結構，由于不必在每個區(qū)域中校正電位差和改變?yōu)V波器的屏蔽頻率，因 此可以提高觸摸板的操作速度。在上述結構中，所述第一組和所述第二組可以是通過將所述多個區(qū)域按照行或列 來分組而形成的；在通過將所述多個區(qū)域按照列來分組而形成所述第一組和所述第二組的 情況下，所述引出布線可以向行方向引出，在通過將所述多個區(qū)域按照行來分組而形成所 述第一組和所述第二組的情況下，所述引出布線可以向列方向引出。利用上述結構，可以進一步提高觸摸板的操作速度。在上述結構中，觸摸板還可以包括被連接到所述第一組和所述第二組的濾波器， 這些濾波器的屏蔽頻率彼此不同。利用上述結構，由于不必在每個區(qū)域中改變?yōu)V波器的屏蔽頻率，因此可以進一步 提高觸摸板的操作速度。在上述結構中，觸摸板還可以包括組合單元，該組合單元將響應于所述第一導電 膜與所述第二導電膜的接觸而從構成各個組的一些區(qū)域發(fā)送的信號組合成一個信號；所述 控制單元響應于由所述組合單元組合的所述一個信號的接收，在由該一些區(qū)域構成的組中 判定所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸。利用上述結構，可以利用簡單的結構自動地判定第一導電膜與第二導電膜接觸的 組并檢測坐標。根據本發(fā)明的另一個方面，提供一種觸摸板，包括第一導電膜，被分割成彼此絕 緣的多個區(qū)域；第二導電膜，與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；和控制 單元，被構成為在所述第一導電膜與所述第二導電膜在第一區(qū)域、第二區(qū)域和位于所述第 一區(qū)域和所述第二區(qū)域之間的第三區(qū)域的引出布線中接觸，并且第一坐標與第二坐標之 差、第一坐標與第三坐標之差在給定范圍內的情況下，輸出根據所述第一坐標和所述第二 坐標計算的第四坐標，其中，所述第一區(qū)域、所述第二區(qū)域和所述第三區(qū)域包括在所述多個 區(qū)域中，所述第一坐標是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第一區(qū)域中接觸的點的 坐標，所述第二坐標是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第二區(qū)域中接觸的點的坐 標，所述第三坐標是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第三區(qū)域的引出布線中接觸 的點的坐標。利用上述觸摸板，即使在多個區(qū)域和引出布線中檢測出坐標，也輸出基于所檢測 的坐標而計算的坐標。因此可以提高坐標檢測的精度。特別是，由于忽略引出布線中的輸 入并判定在單個點進行了輸入，因此可以防止錯誤操作。在上述結構中，所述控制單元可以輸出所述第一坐標和所述第二坐標的平均坐標 作為所述第四坐標。利用上述結構，可以提高坐標檢測的精度。
在上述結構中，所述控制單元可以根據第五坐標和所述第四坐標計算第六坐標， 并且輸出根據所述第四坐標和所述第六坐標計算的所述第五坐標；所述第五坐標是所述第 一導電膜與所述第二導電膜在所述第三區(qū)域的主區(qū)域中接觸的點的坐標。利用上述結構，即使在兩個點檢測出坐標，也可以輸出實際進行了輸入的點的坐 標。因此可以提高觸摸板的坐標檢測精度，防止錯誤操作。 在上述結構中，所述控制單元可以將所述第四坐標和所述第五坐標的平均坐標設 置為第六坐標。利用上述結構，可以提高觸摸板中的坐標檢測精度，防止錯誤操作。根據本發(fā)明的一個方面，提供一種觸摸板中的坐標檢測方法，包括以下步驟在每 個區(qū)域中判定第一導電膜是否與第二導電膜接觸，所述第一導電膜被分割成彼此絕緣的多 個區(qū)域，所述第二導電膜與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；當所述第一 導電膜與所述第二導電膜接觸時，通過向設置在所述第二導電膜上的一對電極施加電壓， 檢測所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的X坐標和Y坐標中的一個，所述一對電 極彼此相對；在每個區(qū)域中檢測了 X坐標和Y坐標中的一個之后，釋放向所述一對電極施加 的電壓；以及在釋放了向所述一對電極施加的電壓之后，通過向彼此相對的另一對電極施 加電壓，在每個區(qū)域中檢測X坐標和Y坐標中的另一個。利用上述坐標檢測方法，可以通過減少放電的次數而提高觸摸板的操作速度。根據本發(fā)明的另一個方面，提供一種觸摸板中的坐標檢測方法，包括以下步驟輸 出第一導電膜與第二導電膜接觸的點的坐標，所述第一導電膜被分割成彼此絕緣的多個區(qū) 域，所述第二導電膜與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；在上述輸出步驟 之后，在通過上述輸出步驟輸出了坐標的區(qū)域和與輸出坐標的區(qū)域相鄰的區(qū)域中，檢測所 述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的坐標；以及在上述輸出步驟中輸出了坐標的情 況下，不在通過上述檢測步驟檢測了坐標的區(qū)域和與通過上述檢測步驟檢測了坐標的區(qū)域 相鄰的區(qū)域以外的區(qū)域中檢測坐標。利用上述坐標檢測方法，與依次對所有分割區(qū)域執(zhí)行坐標檢測的情況相比，可以 提高觸摸板的操作速度。根據本發(fā)明的另一個方面，提供一種觸摸板中的坐標檢測方法，包括以下步驟在 由多個區(qū)域中的第一區(qū)域的主區(qū)域構成的第一組中檢測第一導電膜與第二導電膜接觸的 點的坐標，所述第一導電膜被分割成彼此絕緣的所述多個區(qū)域，所述第二導電膜與所述第 一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；以及在由所述第一區(qū)域的引出布線和所述多個 區(qū)域中的第二區(qū)域構成的第二組中檢測坐標。利用上述坐標檢測方法，由于不必在每個區(qū)域中校正電位差和改變?yōu)V波器的屏蔽 頻率，因此可以提高觸摸板的操作速度。根據本發(fā)明的另一個方面，提供一種觸摸板中的坐標檢測方法，包括以下步驟在 多個組中的每個組中判定第一導電膜是否與第二導電膜接觸，所述第一導電膜被分割成彼 此絕緣的多個區(qū)域，所述第二導電膜與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離， 所述多個組由所述多個區(qū)域中的一些區(qū)域構成；在所述多個組中的、所述第一導電膜與所 述第二導電膜接觸的組中檢測所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的坐標；以及不 在所述多個組中的、所述第一導電膜與所述第二導電膜不接觸的組中檢測坐標。
利用上述坐標檢測方法，與在每個區(qū)域中執(zhí)行被觸摸檢查和坐標檢測的情況相 比，被觸摸檢查和坐標檢測的次數減少。因此可以提高觸摸板的操作速度。根據本發(fā)明的另一個方面，提供一種觸摸板中的坐標檢測方法，包括以下步驟在 第一導電膜與第二導電膜在第一區(qū)域、第二區(qū)域和位于所述第一區(qū)域和所述第二區(qū)域之間 的第三區(qū)域的引出布線中接觸的情況下，判定第一坐標與第二坐標之差、以及第一坐標與 第三坐標之差是否在給定范圍內，所述第一導電膜被分割成彼此絕緣的多個區(qū)域，所述第 二導電膜與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；以及當所述第一坐標與所述 第二坐標之差、以及所述第一坐標與所述第三坐標之差在給定范圍內時，輸出根據所述第 一坐標和所述第二坐標計算的第四坐標，其中，所述第一區(qū)域、所述第二區(qū)域和所述第三區(qū) 域包括在所述多個區(qū)域中，所述第一坐標是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第一 區(qū)域中接觸的點的坐標，所述第二坐標是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第二區(qū) 域中接觸的點的坐標，所述第三坐標是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第三區(qū)域 的引出布線中接觸的點的坐標。利用上述坐標檢測方法，即使在多個區(qū)域和引出布線中檢測出坐標，也輸出基于 所檢測的坐標而決定的坐標。因此可以提高觸摸板中的坐標檢測的精度。特別是，由于忽 略引出布線中的輸入并判定在單個點進行了輸入，因此可以防止錯誤操作。本發(fā)明的目的和優(yōu)點可以通過權利要求書中特別指出的要素和組合來實現和獲得。應當理解，上述的概括性說明和下述的詳細說明是解釋性的，不限制本發(fā)明的范圍。


圖IA和圖IB是示出觸摸板的構成的透視圖，圖IC是示出觸摸板的構成的平面圖。圖2是示出第一實施方式所涉及的觸摸板的框圖。圖3是示出區(qū)域選擇單元20的構成的圖。圖4是示出比較例所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖5是示出被觸摸檢查的流程圖。圖6是示出第一實施方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖7是示出第一實施方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖8是示出第一實施方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖9是示出第一實施方式的變形所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖IOA和圖IOB是示出第二實施方式所涉及的觸摸板的平面圖。圖11是示出第二實施方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖12是示出第二實施方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖13是示出第二實施方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖14是示出第二實施方式的變形所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖15是示出第二實施方式的變形所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖16是示出第二實施方式的變形所涉及的觸摸板的控制的流程圖。
圖17是示出第二實施方式的變形所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖18是示出第二實施方式的變形所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖19是示出第二實施方式的變形所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖20是示出第二實施方式的變形所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖21是示出第二實施方式的變形所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖22是示出第二實施方式的變形所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖23A是示出設置有引出布線的觸摸板300的平面圖，圖2 是示出包括引出布 線的區(qū)域的放大圖。圖M是示出第三實施方式所涉及的觸摸板的區(qū)域選擇單元和濾波單元的框圖。圖25是示出第三實施方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖2隊 ^C是示出第四實施方式所涉及的區(qū)域選擇單元的圖。圖27是示出第四實施方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖28A是示出第五實施方式所涉及的觸摸板的引出布線的放大圖，圖28B是示出 第五實施方式的變形所涉及的觸摸板的包括引出布線的區(qū)域的放大圖。圖四是示出第五實施方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。
具體實施例方式以下參照附圖對本發(fā)明的實施方式進行說明。[第一實施方式]以下將對觸摸板的構成進行說明。圖IA和圖IB是示出觸摸板的構成的透視圖， 圖IC是示出觸摸板的構成的平面圖。圖IA是示出5線電阻觸摸板的透視圖。如圖IA所示，觸摸板100設置有第一導 電膜2、第二導電膜4和電極6、8、10、12。第一導電膜2和第二導電膜4彼此相對并且彼此 分離地放置。第一導電膜2和第二導電膜4由ITOandium Tin Oxide，氧化銦錫)和有機 導電聚合物等導電材料構成。第二導電膜4設置有由Ag等金屬構成的電極6、8、10、12。電 極6、8、10、12沿著各個邊位于第二導電膜4的邊緣。S卩，電極6和8形成彼此相對的一對 電極，電極10和12形成彼此相對的另一對電極。可以對第一導電膜2和電極6、8、10、12 施加電壓。以下將對5線電阻觸摸板的原理進行說明。向電極6、8、10、12中的一個電極施加 電源電壓Vcc。這里，例如向電極6施加電源電壓Vcc。將下拉電阻與第一導電膜2連接。 當第一導電膜2與第二導電膜4接觸時，被施加了 Vcc的電極6與下拉電阻接觸，施加到下 拉電阻上的電位變高。通過下拉電阻的電位變高，檢測出第一導電膜2與第二導電膜4接 觸。這里，如果向與電極6相對的電極8施加電壓Vss，則在電極6與電極8之間產生電位 差。由于導電膜的電阻根據電極和第一導電膜2與第二導電膜4接觸的點(圖中的虛線區(qū) 域)之間的距離而改變，因此可以根據電極之間產生的電壓來檢測第一導電膜2與第二導 電膜4接觸的點的坐標。在圖IA所示的構成中，通過向電極6和電極8施加電壓來檢測X 坐標，通過向電極10和電極12施加電壓來檢測Y坐標。圖IB是示出第一實施方式所涉及的觸摸板100的透視圖，圖IC是從第一導電膜 2的上方看到的觸摸板100的平面圖。在圖IC中，示出了后述的X方向和Y方向。如圖IB和圖IC所示，第一導電膜2被分割成具有4行和4列的矩陣中的16個區(qū)域。這些區(qū)域被 稱作Fll F44。這些區(qū)域彼此絕緣并且與下拉電阻連接。從而可以在每個區(qū)域中檢測第 一導電膜2與第二導電膜4的接觸。即，第一實施方式所涉及的觸摸板100是多點輸入觸 摸板。以下對觸摸板的控制設備的構成進行說明。圖2是示出觸摸板的控制設備的構成 的框圖。如圖2所示，控制設備14設置有控制單元16、電極控制單元18、區(qū)域選擇單元20、 濾波單元22、A/D (模擬/數字)轉換單元M和接口 26。電極控制單元18與圖IA IC所示的電極6、8、10、12連接，向每個電極施加電壓 以及釋放所施加的電壓。區(qū)域選擇單元20與第一導電膜2連接，選擇第一導電膜2的分割 區(qū)域。區(qū)域選擇單元20接收響應于第一導電膜2與第二導電膜4的接觸而從所選擇的區(qū) 域發(fā)送的信號。濾波單元22例如包括多個低通濾波器。濾波單元22經由區(qū)域選擇單元20 接收從第一導電膜2發(fā)送的信號，濾除噪聲并將信號發(fā)送給A/D轉換單元24。A/D轉換單 元M將從第一導電膜2發(fā)送并且進行了濾波的信號從模擬轉換為數字。控制單元16例如是微處理器，控制電極控制單元18、區(qū)域選擇單元20和接口 26。 而且，控制單元16接收從A/D轉換單元M發(fā)送的信號，并且根據所接收的信號判定第一導 電膜2與第二導電膜4在區(qū)域Fll F44中的哪個區(qū)域中接觸。另外，控制單元16輸出第 一導電膜2與第二導電膜4接觸的點的坐標。即，控制單元16基于所接收的信號而執(zhí)行坐 標轉換。接口 26向與觸摸板100連接的計算機等外部裝置輸出從控制單元16輸出的坐標 in息ο以下將對區(qū)域選擇單元20的構成進行說明。圖3是示出區(qū)域選擇單元20的構成 的圖。如圖3所示，區(qū)域Fll F14與多路器30連接，區(qū)域F21 FM與多路器32連 接，區(qū)域F31 FiM與多路器；34連接，區(qū)域F41 F44與多路器36連接。多路器30 36 中的每一個接收從與其連接的區(qū)域發(fā)送的信號，并且接收從控制單元16發(fā)送的選擇信號。 多路器30 36中的每個的輸出側與濾波單元22連接，并且經由晶體管38和下拉電阻40 與地連接。即，輸出側與晶體管38的集電極連接。晶體管38的發(fā)射極經由下拉電阻40與 地連接，來自控制單元16的信號被輸入到晶體管38的基極。由多路器30 36從各區(qū)域 接收的信號中的、由選擇信號選擇的信號被發(fā)送給濾波單元22，并且經由晶體管38輸入到 下拉電阻40。由此，向下拉電阻40提供高電位，檢測出第一導電膜2與第二導電膜4的接 觸。以下將對第一實施方式所涉及的觸摸板的控制進行說明。在說明第一實施方式之 前對比較例進行說明。圖4是示出比較例所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖IB和圖IC 所示的第一導電膜2的分割區(qū)域的位于第m行第η列的區(qū)域表示為Fmn。如圖4所示，控制單元16通過將行號m設置為1、將列號η設置為1，控制區(qū)域選 擇單元20以選擇作為處理對象的區(qū)域Fll (步驟Si)。在步驟Sl之后，控制單元16在區(qū)域 Fmn中檢查第一導電膜2與第二導電膜4是否接觸(步驟S2)。這意味著從區(qū)域Fll開始 在每個區(qū)域Fmn中進行檢查。此后，在流程圖中，將第一導電膜2是否與第二導電膜4接觸 的檢查稱為“被觸摸(touch-ON)檢查”。
這里參照流程圖對被觸摸檢查進行說明。圖5是示出被觸摸檢查的流程圖。如圖5所示，電極控制單元18向電極6施加電壓Vcc (步驟S14)。在步驟S14之 后，區(qū)域選擇單元20將區(qū)域Fmn與下拉電阻R連接(步驟SM)。在步驟S15之后，控制單 元16判定下拉電阻R的電位是否為高(步驟S16)。當在步驟S16中判定為“是”時，控制 單元16判定第一導電膜2與第二導電膜4在區(qū)域Fmn中接觸(步驟S17)。當在步驟S16 中判定為“否”時，控制單元16判定第一導電膜2與第二導電膜4在區(qū)域Fmn中不接觸(步 驟S18)。此后，將第一導電膜2與第二導電膜4接觸稱為“被觸摸”。在步驟S17和S18之 后，處理結束。返回圖4對步驟S2之后的處理進行說明。在步驟S2之后，控制單元16判定第一 導電膜2與第二導電膜4在區(qū)域Fmn中是否接觸(步驟S3)。當判定為“否”時，處理轉移 到后述的步驟SlO。當判定為“是”時，電極控制單元18向電極6施加Vcc，并向電極8施加Vss (步 驟S4)。這被描述為“電極6 = Vcc,電極8 = Vss”。該描述規(guī)則適用于電極10和電極12。 在步驟S4之后，控制單元16檢測第一導電膜2與第二導電膜4接觸的點的X坐標(步驟 S5)。在步驟S5之后，控制單元16釋放對電極6和電極8施加的電壓(步驟S6)。在步驟 S6之后，電極控制單元18向電極10施加Vcc，并向電極12施加Vss (步驟S7)。在步驟S7 之后，控制單元16檢測區(qū)域Fll的Y坐標(步驟S8)。在步驟S8之后，控制單元16釋放對 電極10和電極12施加的電壓(步驟S9)。在步驟S9之后，或者當在步驟S3中判定為“否”時，控制單元16判定m是否為 MAX(步驟S10)。這里，“MAX”是指分配給分割區(qū)域的行號m的最大號。在圖IC的例子中， 當m為MAX時，m為4(m = 4)。當判定為“否”時，控制單元16控制區(qū)域選擇單元20以將 行號m加1 (步驟Sll)。在步驟Sll之后，處理返回到步驟S2，控制單元16在區(qū)域F21中 執(zhí)行步驟S2之后的處理。當在步驟SlO中判定為“是”時，意味著m為4，控制單元16判定η是否為MAX (步 驟S12)。這里，“MAX”是指分配給分割區(qū)域的列號η的最大號。即，4為η的MAX。當判定為 “否”時，控制單元16控制區(qū)域選擇單元20以將行號m設置為1，將列號η加1(步驟S13)。 在步驟S13之后，處理返回到步驟S2，控制單元16在區(qū)域F12中執(zhí)行步驟S2之后的處理。 當在步驟S13中判定為“是”時，結束處理。在圖4所示的比較例中，在每個區(qū)域中執(zhí)行被觸摸檢查(步驟S2)、X坐標的檢測 (步驟SQ和Y坐標的檢測(步驟S8)。如圖4中的步驟S6和S9所示，在X坐標的檢測和 Y坐標的檢測之間釋放電壓。釋放電壓需要一定的時間量。另外，從步驟S2開始的處理的 重復次數與區(qū)域的個數成比例地增加。結果，觸摸板的操作速度可能變慢。如上所述，在多 點輸入觸摸板中，在提高觸摸板的操作速度上存在問題。以下將對第一實施方式所涉及的觸摸板的控制進行說明。圖6和圖7是示出第一 實施方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。如圖6所示，控制單元16重設每個區(qū)域的標志(步驟S20)。在步驟S20之后，控 制單元16執(zhí)行從步驟Sl到步驟S3的處理。S卩，控制單元16從區(qū)域Fll開始針對每個區(qū) 域Fmn判定第一導電膜2與第二導電膜4是否接觸。當在步驟S3中判定為“否”時，處理 前進到后述的步驟S24。當判定為“是”時，控制單元16對被判定為處于“被觸摸”狀態(tài)的區(qū)域Fmn設置標志(步驟S21)。在步驟S21之后，控制單元16控制電極控制單元18以向電極6施加Vcc，并向電 極8施加Vss (步驟S2》。在步驟S22之后，控制單元16在區(qū)域Fmn中檢測第一導電膜2 與第二導電膜4接觸的點的X坐標(步驟S2!3)。在步驟S23之后，處理前進到步驟S24。步 驟SM S27的處理與圖4中的步驟SlO S13相同。S卩，在檢測X坐標之后，控制單元16 在與在步驟S3中被判定為處于“被觸摸”狀態(tài)的區(qū)域不同的區(qū)域中判定第一導電膜2與第 二導電膜4是否接觸。當在步驟S26中判定為“是”時，控制單元16控制電極控制單元18以釋放對電極 6和電極8施加的電壓(步驟S28)。S卩，控制單元16在每個區(qū)域Fmn中檢測了 X坐標之后 釋放對電極6和電極8施加的電壓。在步驟S28之后，處理前進到圖7中的步驟S29 (見圖 中的“A”)。如圖7所示，在步驟幻8之后，控制單元16控制電極控制單元18以向電極10施 加Vcc，并向電極12施加Vss (步驟S29)。在步驟S^之后，控制單元16將行號m設置為 1，將列號η設置為1 (步驟S30)。在步驟S30之后，控制單元16檢查是否對區(qū)域Fmn中的 一個區(qū)域設置了標志(步驟S31)。在步驟S31之后，控制單元16判定是否設置了標志(步 馬聚S32)ο當判定為“是”時，控制單元16在設置了標志的區(qū)域中檢測第一導電膜2與第二 導電膜4接觸的點的Y坐標(步驟S33)。即，控制單元16記憶第一導電膜2與第二導電膜 4接觸的區(qū)域，并且在所記憶的區(qū)域中檢測Y坐標。在步驟S33之后，或者當在步驟S32中 的判定為“否”時，處理前進到步驟S34。步驟S34 S37與步驟SlO S13相同。當在步 驟S36中判定為“是”時，控制單元16控制電極控制單元18以釋放對電極10和電極12施 加的電壓(步驟S38)。在步驟S38之后，結束處理。根據第一實施方式，由于在每個區(qū)域Fmn中檢測了 X坐標后釋放電壓、然后在每個 區(qū)域Fmn中檢測了 Y坐標后釋放電壓，因此不管區(qū)域的個數如何，釋放次數為兩次(圖6中 的步驟幻8和圖7中的步驟S38)。即，通過減少釋放次數，可以提高觸摸板的操作速度。而 且，記憶第一導電膜2與第二導電膜4接觸的區(qū)域，并且在所記憶的區(qū)域中檢測Y坐標(圖 6中的步驟S21和圖7中的步驟S33)。由于不必再次判定第一導電膜2是否與第二導電膜 4接觸，因此可以進一步提高觸摸板的操作速度。以下將對第一實施方式的變形進行說明。圖8和圖9是示出第一實施方式的變形 所涉及的觸摸板的控制的流程圖。如圖8所示，步驟S20、Sl S3和S21與圖6所示相同。當在步驟S20中判定為 “否”時，或者在步驟S21之后，處理前進到步驟S24。步驟SM S27與圖6所示相同。圖 8所示的處理與圖6所示的處理的不同在于不進行電壓的施加(步驟S2》、X坐標的檢測 (步驟S2!3)和釋放(步驟S28)。當在步驟S26中判定為“是”時，處理前進到圖9中的步 驟S29(見圖中的“B”)。如圖9所示，控制單元16控制電極控制單元18以向電極6施加Vcc，并向電極8 施加Vss (步驟S29)。在步驟S^之后，控制單元16將行號m設置為1 (m = 1)，將列號η 設置為1 (n = 1)(步驟S30)。在步驟S30之后，進行與圖7所示的步驟S31和S32相同的 處理。當在步驟S32中判定為“是”時，控制單元16檢測第一導電膜2與第二導電膜4接觸的點的X坐標(步驟S40)。在步驟S40之后，或者當在步驟S32中判定為“否”時，處理前進到步驟S24。步驟 S24 S27與圖6所示相同。當在步驟S26中判定為“是”時，控制單元16控制電極控制單 元18以釋放對電極6和電極8施加的電壓(步驟S41)。S卩，控制單元16如圖8所示在每 個區(qū)域Fmn中判定第一導電膜2是否與第二導電膜4接觸，然后如圖9所示在每個區(qū)域Fmn 中檢測X坐標。在步驟S41之后，處理前進到圖7中的步驟S29(見圖中的“A”)。在圖7 中的步驟S38之后，結束處理。根據第一實施方式的變形，在每個區(qū)域Fmn中檢測了 X坐標后釋放電壓、然后在每 個區(qū)域Fmn中檢測了 Y坐標后釋放電壓。因此不管區(qū)域的個數如何，釋放次數為兩次。從 而可以提高觸摸板的操作速度。而且，根據第一實施方式的變形，在每個區(qū)域中進行被觸摸 檢查后檢測X坐標，然后檢測Y坐標。從而不必重復進行圖6中的步驟S3 S23所述的被 觸摸檢查和X坐標的檢測。因此可以進一步提高觸摸板的操作速度。以上在第一實施方式中對在檢測Y坐標之前檢測X坐標的處理進行了說明，但也 可以在檢測X坐標之前檢測Y坐標。即，可以通過在檢測了 X坐標和Y坐標中的一個之后 釋放電壓，然后檢測X坐標和Y坐標中的另一個，從而減少釋放的次數和提高觸摸板的操作 速度。以上如圖IB和圖IC所示，利用第一導電膜2被分割成16個區(qū)域的情況進行了說 明，但第一導電膜2可以被分割成多于或少于16個的區(qū)域。另外，行數可以不同于列數。在 圖3中，同一行中的多個區(qū)域被連接到一個多路器和一個下拉電阻，但連接方法不限于此。 例如，也可以將同一列中的多個區(qū)域連接到一個多路器和一個下拉電阻。[第二實施方式]以下將對第二實施方式進行說明。圖IOA是示出第二實施方式所涉及的觸摸板 200的平面圖。圖IOB是示出第二實施方式的變形所涉及的觸摸板210的平面圖。在圖IOB 中，還示出了后述的向量的方向。以下對圖IOA中的實施方式進行說明。在多點輸入觸摸板中，有時使用單點輸入模式。觸摸板200為單點輸入模式。在 觸摸板中，有時通過滑動觸摸了觸摸板的手指而在觸摸板上進行描畫。在這樣的描畫模式 下，希望提高觸摸板的操作速度以進行平滑的描畫。以下參照圖IOA和IOB對這一點進行 說明。如圖IOA所示，觸摸板200的第一導電膜2被分割為區(qū)域Fll F44。例如，在描 畫模式下，當觸摸了區(qū)域F22時，手指從區(qū)域F22移動從而還觸摸區(qū)域F22的相鄰區(qū)域。此 時，如果從區(qū)域Fll依次進行坐標檢測，則觸摸板對于手指移動的處理速度變慢，可能難以 進行平滑描畫。在第二實施方式所涉及的觸摸板200中，當第一導電膜2與第二導電膜4在陰影 所示的區(qū)域F22中接觸時，優(yōu)先于其它區(qū)域而在區(qū)域F22和與區(qū)域F22相鄰的區(qū)域Fll F13、F21、F23和F31 F33中判定第一導電膜2與第二導電膜4的接觸。以下參照流程圖對第二實施方式所涉及的觸摸板200的動作進行更詳細的說明。 圖11 圖13是示出第二實施方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖11所示的步驟Sl S3和步驟S24 S27與此前說明的相同。當在步驟S3中 判定為“否”時，處理前進到步驟S24，而當在步驟S26中判定為“是”時，結束處理。當在步驟S3中判定為“是”時，意味著第一導電膜2與第二導電膜4在區(qū)域Fmn中接觸，則控制單 元16輸出第一導電膜2與第二導電膜4在區(qū)域Fmn中接觸的點的X坐標和Y坐標(步驟 S50)。例如按照圖4所示的步驟S4 步驟S9的處理來進行X坐標和Y坐標的輸出。在步驟S50之后，處理前進到圖12中的步驟S51(見圖中的“C”)?？刂茊卧?6 在通過步驟S3被判定為處于“被觸摸”狀態(tài)的區(qū)域Fmn中檢查第一導電膜2是否與第二導 電膜4接觸(步驟S51)。在步驟S51之后，控制單元16判定第一導電膜2是否與第二導電 膜4接觸(步驟S5》。當在步驟S52中判定為“是”時，控制單元16輸出第一導電膜2與 第二導電膜4接觸的點的X坐標和Y坐標(步驟S5!3)。S卩，當在步驟S50中控制單元16輸 出第一導電膜2與第二導電膜4接觸的點的坐標時，控制單元16在步驟S50之后的步驟中 在通過步驟S50輸出了坐標的區(qū)域Fmn中進行被觸摸檢查和坐標檢測。在步驟S53之后， 處理前進到圖14中的步驟S76(見圖12和圖14中的“Cl”)。前進到Cl后的處理將在后 述的第二實施方式的變形中進行說明。當在步驟S52中判定為“否”時，控制單元16判定m是否大于1 (步驟S54)。當判 定為“否”時，控制單元16將ρ設置為m(p = m)(步驟S55)。當在圖11的步驟S3中判定 第1行的區(qū)域處于“被觸摸”狀態(tài)時，步驟S54中的判定為“否”。當判定為“是”時，控制單 元16將ρ設置為m-1 (ρ = m-1)(步驟S56)。在步驟S55或步驟S56之后，控制單元16判定η是否大于1 (步驟S57)。當判定 為“否”時，控制單元16將q設置為η (q = n)(步驟S58)。當在圖11的步驟S3中判定第 1列的區(qū)域處于“被觸摸”狀態(tài)時，步驟S57中的判定為“否”。當判定為“是”時，控制單元 16 將 q 設置為 n-1 (q = n_l)(步驟 S59)。在步驟S58或步驟S59之后，控制單元16判定m是否小于MAX(步驟S60)。這 里，MAX是行號的最大號“4”。當判定為“否”時，控制單元16將r設置為m(r = m)(步驟 S61)。當在圖11的步驟S3中判定第4行的區(qū)域處于“被觸摸”狀態(tài)時，步驟S60中的判定 為“否”。當判定為“是”時，控制單元16將r設置為m+1 (r = m+1)(步驟S62)。在步驟S61或步驟S62之后，控制單元16判定η是否小于MAX(步驟S63)。這里， MAX是列號的最大號“4”。當在步驟S63中判定為“否”時，控制單元16將s設置為n(s = η)(步驟S64)。當在圖11的步驟S3中判定第4列的區(qū)域處于“被觸摸”狀態(tài)時，步驟S63 中的判定為“否”。當在步驟S63中判定為“是”時，控制單元16將s設置為n+1 (s = n+1) (步驟S65)。在步驟S65之后，處理前進到圖13中的步驟S66(見圖中的“D”)。 控制單元16將PP設置為P (pp = P)(步驟S66)。即，控制單元16記憶在步驟S55 或S56中設置的ρ的值。在步驟S66之后，控制單元16判定是否P等于m(p = m)且q等 于n(q = n)(步驟S67)。當判定為“否”時，控制單元16在區(qū)域Fpq中檢查第一導電膜2 是否與第二導電膜4接觸，S卩，控制單元16進行被觸摸檢查(步驟S68)。在步驟S68之后， 控制單元16在區(qū)域Fpq中判定第一導電膜2與第二導電膜4是否接觸(步驟S69)。S卩，控 制單元16在與區(qū)域Fmn相鄰的區(qū)域Fpq中判定第一導電膜2與第二導電膜4是否接觸。
當在步驟S69中判定為“是”時，控制單元16輸出第一導電膜2與第二導電膜4 在區(qū)域Fpq中接觸的點的X坐標和Y坐標(步驟S70)。S卩，控制單元16在與區(qū)域Fmn相鄰 的區(qū)域Fpq中輸出坐標。在步驟S70之后，控制單元16將m設置為p(m = ρ)，將η設置為 q(n = q)(步驟S71)。在步驟S71之后，處理返回到圖13中的步驟S51 (見圖中的“C” )。換言之，當控制單元16在與區(qū)域Fmn相鄰的區(qū)域Fpq中輸出了坐標時，不在區(qū)域Fpq以外 的區(qū)域中輸出坐標。當在步驟S67中判定為“是”時，或者當在步驟S69中判定為“否”時，控制單元16 判定P是否等于r (P = r)(步驟S72)。當判定為“否”時，控制單元16將ρ設置為ρ+1 (ρ = Ρ+1)(步驟S73)。即，區(qū)域Fpq的行成為下一行。在步驟S73之后，處理返回到步驟S67。 這意味著控制單元16在通過步驟S69被判定為處于“被觸摸”狀態(tài)的區(qū)域Fpq的下一行的 區(qū)域中執(zhí)行從步驟S67開始的處理。當在步驟S72中判定為“是”時，控制單元16判定q是否等于s (q = s)(步驟S74)。 當判定為“否”時，控制單元16將ρ設置為PP (p = pp)，并且將q設置為q+1 (q = q+1)(步 驟S7Q。這里，PP是通過步驟S69被判定為處于“被觸摸”狀態(tài)的區(qū)域Fpq的行號ρ (見步 驟 S66 和 S69)。在步驟S75之后，處理返回到步驟S67。換言之，控制單元16在通過步驟S69被判 定為處于“被觸摸”狀態(tài)的區(qū)域的同一行和下一列的區(qū)域Fpq中執(zhí)行從步驟S67開始的處 理。重復上述處理，當在步驟S74中判定為“是”時，結束處理。這意味著在與通過圖11的 步驟S50輸出了坐標的區(qū)域Fmn相鄰的區(qū)域中進行被觸摸檢查后結束處理。以下參照圖IOA對上述處理進行更具體的說明。例如，當在區(qū)域F22中輸出了坐標 時(圖11中的步驟S50)，控制單元16判定第一導電膜2與第二導電膜4是否在區(qū)域Fll 中接觸(圖13中的步驟S68和S69)。當在步驟S69中判定為“是”時，在區(qū)域Fll中輸出 坐標，處理返回到圖12中的處理。當判定為“否”時，控制單元16在區(qū)域F21中執(zhí)行從步驟 S67開始的處理(步驟S72和S7!3)。重復進行步驟S67 S73，當在區(qū)域F33中進行了處理 時，結束處理。這意味著控制單元16在區(qū)域F22和與區(qū)域F22相鄰的區(qū)域中檢測坐標，而 不在其它區(qū)域中檢測坐標。根據第二實施方式，當在區(qū)域Fmn中輸出了坐標時(圖11中的步驟S50)，在后 續(xù)步驟中(從圖12中的步驟S51開始)，控制單元16在輸出了坐標的區(qū)域Fmn和與區(qū)域 Fmn相鄰的區(qū)域Fpq中檢測第一導電膜2與第二導電膜4接觸的點的坐標(圖13中的步 驟S68 S70)。而且，當控制單元16在區(qū)域Fmn中輸出了坐標時(圖11中的步驟S50)， 在區(qū)域Fmn和與區(qū)域Fmn相鄰的區(qū)域Fpq以外的區(qū)域中不進行被觸摸檢查(圖13中的步 驟S72和S74)。這意味著控制單元16不在區(qū)域Fmn和與Fmn相鄰的區(qū)域Fpq以外的區(qū)域 中檢測坐標。而且，當在區(qū)域Fpq中輸出了坐標時，意味著在步驟S69中判定為“是”，控制 單元16不在區(qū)域Fmn和與Fmn相鄰的區(qū)域中的、已經進行了被觸摸檢查的區(qū)域以外的區(qū)域 中檢測坐標。這意味著觸摸板200是單點輸入觸摸板。如上所述，由于優(yōu)先于其它區(qū)域而在以前檢測過坐標的區(qū)域及其相鄰區(qū)域中檢測 坐標，因此，與依次在所有分割區(qū)域中進行坐標檢測的情況相比，能夠提高觸摸板的操作速 度。而且，在檢測了坐標時，不在已經進行了被觸摸檢查的區(qū)域以外的區(qū)域中進行坐標檢 測。結果，可以提高觸摸板的操作速度，并且可以在描畫模式下實現對于輸入的平滑描畫。 另外，第二實施方式所涉及的觸摸板200可以處理精細的描畫。以下對第二實施方式的變形進行說明。如圖IOB所示，設想如下情況第一導電膜 2與第二導電膜4在圖中陰影所示的區(qū)域F22中接觸，然后，按壓觸摸板的手指滑動，第一 導電膜2與第二導電膜4還在與區(qū)域F22相鄰的區(qū)域中接觸。在第二實施方式的變形所涉及的觸摸板210中，當手指按壓觸摸板并從區(qū)域F22滑動到區(qū)域F13時，在區(qū)域F22和沿著 從區(qū)域F22到區(qū)域F13的方向的區(qū)域F12、F13和F23中判定第一導電膜2與第二導電膜4 是否接觸。區(qū)域F12、F13和F23用斜線示出。以下參照流程圖對第二實施方式的變形所涉及的觸摸板的控制進行更詳細的說 明。圖14 圖22是示出第二實施方式的變形所涉及的觸摸板的控制的流程圖。圖11所 示的控制也在第二實施方式的變形中執(zhí)行。如圖14和圖12所示，在圖12中的步驟S53之后，處理前進到圖14中的步驟 S76 (見圖中的“Cl” )?？刂茊卧?6檢測從區(qū)域Fmn朝向與Fmn相鄰并且輸出了坐標的區(qū) 域的向量(步驟S76)。換言之，控制單元16基于在區(qū)域Fmn和相鄰區(qū)域中的坐標的輸出來 判定方向。在步驟S76之后，控制單元16判定在步驟S76中判定的向量的方向是否為 0° 90° (步驟S77)。當判定為“是”時，處理前進到圖15中的步驟S80(見圖中的‘ ”)。當判定為“否”時，控制單元16判定在步驟S76中判定的向量的方向是否為90° 180° (步驟S78)。當判定為“是”時，處理前進到圖17中的步驟S80(見圖中的“F”)。當判定為“否”時，控制單元16判定在步驟S76中判定的向量的方向是否為 180° 270° (步驟S79)。當判定為“是”時，處理前進到圖19中的步驟S80 (見圖中的 “G，，)。當判定為“否”時，控制單元16判定在步驟S76中判定的向量的方向是否為 270° 360°，并且處理前進到圖21中的步驟S80(見圖中的“H”)。以下將對向量的方向為0° 90°的情況進行說明。圖15和圖16是示出向量的方 向為0° 90°的情況下的控制的流程圖。如圖15所示，控制單元16在通過圖11中的步驟S50輸出了坐標的區(qū)域Fmn中進 行被觸摸檢查(步驟S80)。在步驟S81之后，控制單元16判定區(qū)域Fmn是否處于“被觸摸” 狀態(tài)。當判定為“是”時，控制單元16輸出X坐標和Y坐標(步驟S8》。在步驟S82之后， 處理返回到圖13中的步驟S66(見圖中的“D”)。當在步驟S81中判定為“否”時，控制單元16判定m是否大于1 (步驟S83)。當判 定為“否”時，意味著區(qū)域Fmn位于第1行，則控制單元16判定η是否小于MAX (步驟S84)。 當判定為“是”時，處理前進到后述的圖16中的步驟S94(見圖中的“J”)。當判定為“否” 時，意味著區(qū)域Fmn位于第4列，則處理結束(見圖15中的“K”和圖16)。當在步驟S83中判定為“是”時，控制單元16在區(qū)域Fm-In中進行被觸摸檢查(步 驟S邪)。即，控制單元16在區(qū)域Fmn的上一行的區(qū)域中執(zhí)行被觸摸檢查。在步驟S85之 后，控制單元16判定區(qū)域Fm-In是否處于“被觸摸”狀態(tài)(步驟S86)。當判定為“是”時，控制單元16輸出X坐標和Y坐標(步驟S87)。在步驟S87之 后，控制單元16將m設置為m-l(m = m-l)(步驟S88)。在步驟S88之后，處理返回到圖13 中的步驟S66(見圖中的“D”)。當在步驟S86中判定為“否”時，處理前進到圖16中的步 驟S89(見圖中的“I”)。如圖16所示，當在步驟S86中判定為“否”時，控制單元16判定η是否小于MAX (步 驟S89)。當判定為“否”時，結束處理。當判定為“是”時，控制單元16在區(qū)域Fm-ln+Ι中 進行被觸摸檢查(步驟S90)。這意味著控制單元16在區(qū)域Fmn的上一行和下一列的區(qū)域中執(zhí)行被觸摸檢查?？刂茊卧?6判定區(qū)域Fm-ln+Ι是否處于“被觸摸”狀態(tài)(步驟S91)。當判定為“是”時，控制單元16輸出X坐標和Y坐標(步驟S9》。在步驟S92之 后，控制單元16將m設置為m-1 (m = m_l)，將η設置為η+1 (η = n+1)(步驟S93)。在步驟 S93之后，處理返回到圖14中的步驟S76(見圖中的“Cl”)。當在步驟S91中判定為“否”時，控制單元16在區(qū)域Fmn+1中進行被觸摸檢查(步 驟S94)。當在圖15中的步驟S84中判定為“是”時，控制單元16執(zhí)行步驟S94的處理。艮口， 控制單元16在區(qū)域Fmn的下一列的區(qū)域中執(zhí)行被觸摸檢查。在步驟S94之后，控制單元16 判定區(qū)域Fmn+1是否處于“被觸摸”狀態(tài)(步驟S95)。當判定為“是”時，控制單元16輸出X坐標和Y坐標(步驟S96)。在步驟S96之 后，控制單元16將η設置為η+1 (η = η+l)(步驟S97)。在步驟S97之后，處理返回到圖14 中的步驟S76(見圖中的“Cl”)。當在步驟S95中判定為“否”時，結束處理。以下將對向量的方向為90° 180°的情況進行說明。圖17和圖18是示出向量的 方向為90° 180°的情況下的控制的流程圖。對于與圖15和圖16所示的處理相同的處 理將省略說明。當在圖17中的步驟S83中判定為“否”時，控制單元16判定η是否小于1 (步驟 S98)。當判定為“是”時，處理前進到后述的圖18中的步驟S105(見圖中的“L”)。當判定 為“否”時，處理結束(見圖17中的“M”和圖18)。當在步驟S83中判定為“是”時，控制單元16在區(qū)域Fm-In中進行被觸摸檢查(步 驟S99)，判定區(qū)域Fm-In是否處于“被觸摸”狀態(tài)(步驟S100)。S卩，控制單元16在區(qū)域Fmn 的上一行的區(qū)域中執(zhí)行被觸摸檢查。當判定為“是”時，執(zhí)行步驟S87和S88，處理返回到圖 14中的步驟S76。當判定為“否”時，處理前進到圖18中的步驟SlOl (見圖中的“N”)。如圖18所示，在步驟SlOO之后，控制單元16判定η是否大于1(步驟S101)。當 判定為“否”時，結束處理。當判定為“是”時，控制單元16在區(qū)域Fm-In-I中進行被觸摸 檢查(步驟S102)，判定區(qū)域Fm-In-I是否處于“被觸摸”狀態(tài)(步驟S103)。即，控制單元 16在區(qū)域Fmn的上一行和上一列的區(qū)域中執(zhí)行被觸摸檢查。當在步驟S103中判定為“是”時，控制單元16輸出坐標(步驟S9》，將m設置為 m-1 (m = m-1)，將η設置為η_1 (η = n-1)(步驟S104)。然后，處理返回到圖14中的步驟 S76(見圖中的“Cl”)。當在步驟S103中判定為“否”時，控制單元16在區(qū)域Fmn-I中進行被觸摸檢查 (步驟S105)，判定區(qū)域Fmn-I是否處于“被觸摸”狀態(tài)(步驟S106)。S卩，控制單元16在區(qū) 域Fmn的上一列的區(qū)域中執(zhí)行被觸摸檢查。更具體地說，例如當在圖11的步驟S50中在區(qū) 域F22中輸出了坐標時，在步驟S105中在區(qū)域F21中進行被觸摸檢查。當在步驟S106中 判定為“是”時，控制單元16輸出坐標(步驟S96)，將η設置為n-1 (步驟S107)。當在步 驟S106中判定為“否”時，結束處理。以下將對向量的方向為180° 270°的情況進行說明。圖19和圖20是示出向 量的方向為180° 270°的情況下的控制的流程圖。對于與前述處理相同的處理將省略 說明。如圖19和圖20所示，當向量的方向為180° 270 °時，控制單元16在區(qū)域 Fmn的下一行的區(qū)域Fm+ln(圖19中的步驟S109)、區(qū)域Fmn的下一行和上一列的區(qū)域Fm+ln-1 (圖20中的步驟Sl 12)、以及區(qū)域Fmn的上一列的區(qū)域Fmn-I (圖20中的步驟S105)
中進行被觸摸檢查。以下將對向量的方向為270° 360°的情況進行說明。圖21和圖22是示出向 量的方向為270° 360°的情況下的控制的流程圖。對于與前述處理相同的處理將省略 說明。如圖21和圖22所示，當向量的方向為270° 360 °時，控制單元16在區(qū)域 Fmn的下一行的區(qū)域Fm+ln(圖21中的步驟S109)、區(qū)域Fmn的下一行和下一列的區(qū)域 Fm+ln+1 (圖22中的步驟Sl 12)、以及區(qū)域Fmn的下一列的區(qū)域Fmn+1 (圖22中的步驟S105)
中進行被觸摸檢查。參照圖IOB對上述處理進行更具體的說明。例如，當在區(qū)域F22中輸出了坐標(圖 11中的步驟S50)并且在區(qū)域F33中輸出了坐標(圖13中的步驟S70)時，控制單元16根 據輸出坐標的操作來計算方向(圖14中的步驟S76)。這里，方向為270° 360° (步驟S79 中為““否”)?？刂茊卧?6判定第一導電膜2與第二導電膜4是否在區(qū)域F22中接觸(圖 21中的步驟S80和S81)。當判定為“是”時，在區(qū)域F22中輸出坐標，處理返回到圖14中 的步驟S76。當判定為“否”時，在區(qū)域F32、F33和F23中執(zhí)行被觸摸檢查(圖22中的步驟 S109、圖22中的步驟S112*S95)。當在步驟S95中判定為“否”時，結束處理。即，控制單 元16在區(qū)域F22和從區(qū)域F22沿著270° 360°的方向的區(qū)域中檢測坐標，而不在其它 區(qū)域中檢測坐標。根據第二實施方式的變形，當在區(qū)域Fmn中輸出了坐標時(圖11中的步驟S50)， 在后續(xù)步驟中(從圖12中的步驟S51開始)，控制單元16在沿著根據圖14中的操作判定 的方向的區(qū)域中檢測坐標。從而可以提高觸摸板的操作速度。特別是，當觸摸板被手指滑 動著按壓時，例如可以在描畫輸入模式下對輸入進行平滑的描畫。在圖IOB所示的例子中，向量的方向包括沿著觸摸板210的邊的方向的4個方向， 但不限于該例子。即，該方向可以多于或少于4個方向，并且不必沿著觸摸板的邊。在第二 實施方式和第二實施方式的變形中，在與區(qū)域Fmn相鄰的區(qū)域中檢測坐標，但檢測坐標的 區(qū)域不限于此。例如，可以在離區(qū)域Fmn兩行和/或兩列內的區(qū)域中檢測坐標，或者在離區(qū) 域Fmn三行和/或三列內的區(qū)域中檢測坐標。即，可以通過在與區(qū)域Fmn相鄰的區(qū)域中檢 測坐標而提高觸摸板的操作速度。[第三實施方式]現在將對第三實施方式進行說明。說明設置有引出布線的觸摸板。圖23A是示出 設置有引出布線的觸摸板300的平面圖，圖2 是示出包括引出布線的區(qū)域的放大圖(見 圖23A中的虛線區(qū)域)。如圖23A和圖2 所示，第一導電膜2被分割成多個區(qū)域，每個區(qū)域都設置有用于 連接到下拉電阻的布線41。布線41設置成沿著觸摸板的上邊和下邊。因此，區(qū)域F21 FM和區(qū)域F31 F34分別都具有向列方向引出的引出布線。即，例如圖2 所示，區(qū)域 F31 (第一區(qū)域)包括主區(qū)域F31a和引出布線F31b。引出布線F31b與區(qū)域F41相鄰地形 成。換言之，引出布線F31b形成在區(qū)域F41與F42之間。相反，區(qū)域F41 (第二區(qū)域)不設 置引出布線，因為其與觸摸板的下邊接觸。區(qū)域F21 F24的各個引出布線被引出到上邊， 并且區(qū)域Fll F14不設置引出布線。
由于引出布線F31b的寬度小于主區(qū)域F31a的寬度，因此，引出布線F31b的電阻 高于主區(qū)域F31a的電阻。因此，區(qū)域F31的電阻高于區(qū)域F41的電阻。結果，在供給區(qū)域 F31中的下拉電阻的電位與供給區(qū)域F41中的下拉電阻的電位之間產生電位差。例如，有時 通過改變下拉電阻的值來校正電位差，從而使從區(qū)域F31發(fā)送的信號的電位與從區(qū)域F41 發(fā)送的信號的電位相同。作為校正方法，有時對從區(qū)域F31發(fā)送的信號施加偏移電壓。而 且，為了濾除從區(qū)域F31發(fā)送的信號中產生的噪聲，使濾波器的屏蔽頻率在濾波器與區(qū)域 F31連接的情況與濾波器與區(qū)域F41連接的情況之間不同。更具體地說，在濾波器與區(qū)域 F31連接的情況下，與濾波器和區(qū)域F41連接的情況相比，將濾波器的通過頻帶設置在低頻 側。但是，如果改變下拉電阻的電阻值或者濾波器的屏蔽頻率的次數增加，則存在觸 摸板的操作速度變慢的可能性。特別是，在改變屏蔽頻率之后直到濾波器穩(wěn)定動作之前，需 要一定的時間量。因此，如果依次在多個區(qū)域中檢測坐標，則存在觸摸板的操作速度變慢的 可能性。以下將對第三實施方式所涉及的觸摸板進行說明。在第三實施方式所涉及的觸摸 板中，按照行將多個區(qū)域分組，按組檢測坐標。即，區(qū)域F21 F24的主區(qū)域形成一組(第 一組)，區(qū)域F31 F34的主區(qū)域形成一組(第一組)，區(qū)域Fll F14和區(qū)域F21 FM 的引出布線形成一組(第二組)，區(qū)域F41 F44和區(qū)域F31 F34的引出布線形成一組 (第二組)。以下將對第三實施方式所涉及的觸摸板的區(qū)域選擇單元和濾波單元進行說明。圖 24是示出第三實施方式所涉及的觸摸板的區(qū)域選擇單元和濾波單元的框圖(見圖2)。如圖M所示，區(qū)域選擇單元20設置有多路器30、32、；34和36。濾波單元22設置 有濾波器42、44、46和48。濾波器42 48是低通濾波器。按行將區(qū)域Fll F44分組。這些組被連接到各個多路器30 36。多路器30、 32,34和36分別與濾波器42、44、46和48連接。多路器接收從各區(qū)域發(fā)送的信號和從控制 單元16發(fā)送的選擇信號(見圖幻。多路器30可以利用選擇信號從由區(qū)域Fll F14發(fā)送 的信號中選擇從檢測坐標的區(qū)域發(fā)送的信號。多路器32 36同樣如此。即，區(qū)域選擇單 元20可以從位于同一行的組中選擇區(qū)域。連接到第一組的濾波器44和46的通過頻帶與連接到第二組的濾波器42和48的 通過頻帶相比，位于低頻側。這意味著第一組和第二組被連接到屏蔽頻率彼此不同的濾波
ο以下將對第三實施方式所涉及的觸摸板的控制進行說明。圖25是示出第三實施 方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。如圖25所示，控制單元16在第1行中執(zhí)行被觸摸檢查(步驟S120)。在步驟S120 之后，控制單元16在位于第1行的每個區(qū)域中檢測X坐標和Y坐標(步驟S121)。這意味 著控制單元16執(zhí)行圖4所示的步驟S4 步驟S9的處理。在步驟S121之后，控制單元16在第2行中執(zhí)行被觸摸檢查(步驟S122)。在步驟 S122之后，控制單元16在位于第2行的每個區(qū)域中檢測X坐標和Y坐標(步驟S12!3)。在 步驟S123之后，控制單元16在第3行和第4行中執(zhí)行相同的處理(步驟SlM S127)，結 束處理。
根據第三實施方式，將多個區(qū)域分成包括引出布線的組和不包括引出布線的組， 并且將這些組與屏蔽頻率彼此不同的濾波器連接?？刂茊卧?6在每個組中檢測坐標。因 此，由于不需要在每個區(qū)域中校正電位差和改變?yōu)V波器的屏蔽頻率，因此可以提高觸摸板 的操作速度。如圖M所示，在第三實施方式中，將各組連接到不同的濾波器，但結構不限于該 實施方式。例如，如圖23A所示，由于區(qū)域F21 FM和區(qū)域F31 F34設置有引出布線， 因此它們的電阻變高。從而，可以將區(qū)域F21 F34連接到同一濾波器。另外，可以將沒有 設置引出布線的區(qū)域Fll F14和區(qū)域F41 F44連接到同一濾波器。從而，由于可以減 少濾波器的個數，因此可以減小觸摸板的尺寸和降低成本。如圖23A所示，在第三實施方式 中，引出布線被引出到列方向，但也可以引出到行方向。這種情況下，按列來將區(qū)域分組。而 且，可以將引出布線引出到行方向和列方向以外的方向。[第四實施方式]以下將對第四實施方式進行說明。在第四實施方式所涉及的觸摸板中，例如如圖 23A所示，第一導電膜2被分割成多個區(qū)域，而區(qū)域F21 F24以及區(qū)域F31 F34分別包 括引出到列方向的引出布線。區(qū)域Fll F44按行分組。S卩，區(qū)域F21 F24的主區(qū)域形 成一組(第一組)，區(qū)域F31 F34的主區(qū)域形成一組(第一組)。區(qū)域Fll F14和區(qū)域 F21 F24的引出布線形成一組(第二組)，區(qū)域F41 F44和區(qū)域F31 F34的引出布線 形成一組(第二組)。以下將對第四實施方式所涉及的區(qū)域選擇單元進行說明。圖26A 26C是示出第 四實施方式所涉及的區(qū)域選擇單元的圖。在各圖中，示出了與區(qū)域Fll F14有關的區(qū)域 選擇單元20的部分。如圖26A所示，區(qū)域選擇單元20的多路器30與區(qū)域Fll F14連接。這意味著 將區(qū)域按行分組并連接到一個多路器。而且，多路器30接收響應于第一導電膜2與第二導 電膜4的接觸而從區(qū)域Fll F14發(fā)送的信號和從控制單元16發(fā)送的選擇信號。另外，從 區(qū)域Fll F14發(fā)送的信號被輸入二極管50。二極管50的輸出側通過節(jié)點51連接到一條 布線。換言之，節(jié)點51用作將響應于第一導電膜2與第二導電膜4的接觸而從區(qū)域Fll F14發(fā)送的信號組合成一個信號(以下稱為“組合信號”)的組合單元。二極管50防止輸 出側的信號逆流到輸入側。例如，二極管50防止從區(qū)域Fll發(fā)送的信號逆流而進入與區(qū)域 F12 F14連接的布線。從區(qū)域Fll F14發(fā)送的信號經由二極管50被輸入濾波單元22 并且被輸入控制單元16 (見圖2)?？刂茊卧?6可以通過接收組合信號而在區(qū)域Fll F14中的至少一個區(qū)域中檢 測第一導電膜2與第二導電膜4的接觸。換言之，控制單元16響應于組合信號的接收而在 由區(qū)域Fll F14構成的組中判定第一導電膜2與第二導電膜4接觸。區(qū)域F21 F24、區(qū)域F31 FiM和區(qū)域F41 F44形成各個組，并且被連接到與 這些組對應的多路器和濾波器。以下將對第四實施方式所涉及的觸摸板的控制進行說明。圖27是示出第四實施 方式所涉及的觸摸板的控制的流程圖。如圖27所示，控制單元16將m設置為l(m= 1)(步驟S130)。在步驟S130之后， 控制單元16在第m列中執(zhí)行被觸摸檢查(步驟S131)。在步驟S131之后，控制單元16判定第m列是否處于“被觸摸”狀態(tài)(步驟S132)。即，控制單元16在每個組中判定第一導電 膜2與第二導電膜4是否接觸。當判定為“否”時，處理前進到后述的步驟S139。當判定為“是”時，控制單元16將η設置為l(n = 1)(步驟S133)。在步驟S133 之后，控制單元16在區(qū)域Fmn中執(zhí)行被觸摸檢查(步驟S134)，判定區(qū)域Fmn是否處于“被 觸摸”狀態(tài)(步驟S135)。當判定為“是”時，控制單元16在區(qū)域Fmn中檢測坐標(步驟S136)。在步驟S136 之后，或者當在步驟S135中判定為“否”時，控制單元16判定η是否等于MAX (η = MAX)(步 驟S137)。當判定為“是”時，控制單元16將η設置為η+1 (η = n+1)(步驟S138)，處理返 回到步驟S134。這意味著在位于通過步驟S132判定是否處于“被觸摸”狀態(tài)的第m列的 區(qū)域中的、以前執(zhí)行了從步驟S134到步驟S136的處理的區(qū)域的下一行的區(qū)域中執(zhí)行步驟 S134 步驟S136的處理。當在步驟S137中判定為“否”時，控制單元16判定m是否等于MAX(m = MAX)(步 驟S139)。當判定為“是”時，控制單元16將m設置為m+1 (m = m+1)(步驟S140)，處理返 回到步驟S131。這意味著在通過步驟S132判定了是否處于“被觸摸”狀態(tài)的列的下一列中 執(zhí)行步驟S131 步驟S139的處理。當在步驟S139中判定為“是”時，結束處理。根據第四實施方式，控制單元16在每個組中判定第一導電膜2與第二導電膜4是 否接觸(在圖27的步驟S131和S132中判定為“是”的情況)，并且在第一導電膜2與第二 導電膜4接觸的組中檢測坐標(步驟S134)。而且，控制單元16不在第一導電膜2不與第 二導電膜4接觸的組中檢測坐標(步驟S132中判定為“否”的情況)。從而，與依次在每個 區(qū)域中執(zhí)行被觸摸檢查和坐標檢測的情況相比，執(zhí)行被觸摸檢查和坐標檢測的次數少。因 此可以提高觸摸板的操作速度。特別是，當如圖23A和2 所示形成引出布線時，可以將多個區(qū)域分割成包括引出 布線的組和不包括引出布線的組，并且可以將這些組與屏蔽頻率彼此不同的濾波器連接。 因此，由于不需要針對每個區(qū)域校正電位差并改變?yōu)V波器的屏蔽頻率，因此可以進一步提 高觸摸板的操作速度。節(jié)點51將從形成一個組的區(qū)域發(fā)送的信號組合成一個信號，控制單元16根據組 合信號的接收而在組中判定第一導電膜2與第二導電膜4接觸。因此，可以利用簡單的結 構自動地判定第一導電膜2與第二導電膜4接觸的組并檢測坐標。在第四實施方式中，對按行將多個區(qū)域分組的情況進行了說明，但分組規(guī)則不限 于該實施方式。例如，可以按列來將區(qū)域分組。即，可以由多個區(qū)域中的一些區(qū)域來形成每 個組。而且，在第四實施方式中，將多個區(qū)域分割成包括引出布線的組和不包括引出布線的 組，但分組規(guī)則不限于該實施方式。以下將對第四實施方式的變形進行說明。圖26B和26C是示出第四實施方式的變 形所涉及的區(qū)域選擇單元的圖。如圖26B所示，可以使用半導體開關52來代替二極管50。這種情況下，控制信號 從控制單元16輸入到半導體開關52。如圖26C所示，可以使用磁開關M來代替二極管50。這種情況下，控制信號從控 制單元16輸入到磁開關M。[第五實施方式]
以下將對第五實施方式進行說明。圖28A是示出第五實施方式所涉及的觸摸板的 包括引出布線的區(qū)域的放大圖(見圖23A中的虛線區(qū)域)。如圖28A所示，區(qū)域F31包括主區(qū)域F31a和引出布線F31b。引出布線F31b位于 區(qū)域F41與區(qū)域F42之間。這里，設想如斜線所示第一導電膜2與第二導電膜4在區(qū)域F41、F42和引出布線 31b中接觸的情況。這例如是手指等在第一導電膜2中觸摸了跨過區(qū)域F41、引出布線F31b 和區(qū)域F42的點的情況。這種情況下，即使用戶意圖輸入單個點，也存在被判定為輸入了三 個點的情況。從而可能被判定為在區(qū)域F31中進行了輸入，發(fā)生觸摸板的錯誤操作。當各區(qū)域中的坐標之差在給定范圍內時，第五實施方式所涉及的觸摸板判定輸入 了單個點并輸出坐標。參照流程圖進行詳細說明。圖四是示出第五實施方式所涉及的觸 摸板的控制的流程圖。如圖四所示，控制單元16(見圖2~)在區(qū)域Fmn中執(zhí)行被觸摸檢查(步驟S141)， 判定區(qū)域Fmn是否處于“被觸摸”狀態(tài)(步驟S142)。這意味著控制單元16在每個區(qū)域中 判定第一導電膜2與第二導電膜4是否接觸。如果判定為“是”，則控制單元16在區(qū)域Fmn中檢測第一導電膜2與第二導電膜4 接觸的點的X坐標和Y坐標(步驟S143)。在步驟S143之后，控制單元16判定所檢測的X 坐標之差和所檢測的Y坐標之差是否在給定范圍內(步驟S144)。當判定為“是”時，控制 單元16根據在步驟S144中判定了是否位于給定范圍內的坐標來計算坐標，并輸出所計算 的坐標(步驟S140。在步驟S145之后，當在步驟S142中判定為“否”時，或者當在步驟 S144中判定為“否”時，結束處理。以下參照圖28A的例子對步驟S144和S145的處理進行具體說明。這里，在區(qū)域 F41 (第一區(qū)域)中檢測的X坐標和Y坐標(第一坐標)被分別描述為X(F41)和Y(F41)。 同樣，在區(qū)域F42(第二區(qū)域)中檢測的坐標(第二坐標)被描述為X(F42)和Y(F42)。另 外，在區(qū)域F31(第三區(qū)域)的引出布線F31b中檢測的坐標(第三坐標)被描述為X(F31b) 禾口 Y(F31b) ο當步驟S144中的給定范圍為α時，控制單元16判定是否| X (F41)-X (F42) |小于 α、|X(F42)_X(F31b) | 小于 α、| Y (F41)-Y (F42) | 小于 α、| Y (F42)-Y (F31b) | 小于 α (步 驟S144)。當所檢測的坐標滿足上述關系時，控制單元16判定輸入了單個點，并且輸出根 據X(F41)、X(F31b)和X(F42)計算的X坐標(第四坐標)。另外，控制單元16輸出根據 Y(F41)、Y(F31b)和Y(F42)計算的Y坐標(第四坐標)(步驟S145)。即，控制單元16輸出 基于所檢測的三個坐標的坐標。根據第五實施方式，即使在多個區(qū)域和引出布線中檢測出坐標，也輸出基于所檢 測的坐標而計算的坐標。因此可以提高觸摸板的坐標檢測的精度。特別是，由于忽略引出 布線中的輸入而判定在單個點進行了輸入，因此可以防止錯誤操作。在步驟S145中，控制單元16輸出例如在區(qū)域F41和F42中檢測的坐標的平均坐 標。另外，控制單元16可以輸出平均坐標以外的坐標。以上對在X坐標和Y坐標中給定范 圍為α的情況進行了說明。但是，給定范圍可以在X坐標和Y坐標之間不同。以下將對第五實施方式的變形進行說明。圖28Β是示出第五實施方式的變形所涉 及的觸摸板的引出布線的放大圖(見圖23Α中的虛線區(qū)域)。
如圖^B中的陰影所示，設想除了圖28A所述的區(qū)域F41、F42以及區(qū)域F31的引 出布線31b以外，第一導電膜2與第二導電膜4還在區(qū)域F31的主區(qū)域F31a中接觸的情 況。這種情況下，如圖中的黑點所示，可能輸出在斜線所指示的區(qū)域和陰影所指示的區(qū)域中 檢測的坐標的平均坐標。這種情況下，不輸出在陰影區(qū)域進行了實際輸入的點的坐標。因 此，可以判定進行了非意圖的輸入，從而可能發(fā)生觸摸板的錯誤操作。在第五實施方式的變 形中，輸出進行了實際輸入的點的坐標。以下將參照圖四所示的流程圖和圖^B的例子進 行更詳細的說明。由于已經對圖四中的步驟S141和S142進行了說明，因此省略該說明。在步驟 S142 之后，控制單元 16 檢測 X (F41)、Y (F41)、X (F42)、Y (F42)、X (F31b)、Y (F31b)、X (F31a) 和Y(F31a)(步驟S143)。X(F31a)和Y(F31a)是第一導電膜2與第二導電膜4在區(qū)域F31 的主區(qū)域F31a中接觸的點的坐標(第五坐標)。在步驟S143之后，控制單元16判定所檢測的X坐標之差和所檢測的Y坐標之差 是否在給定范圍內(步驟S144)。當判定為“是”時，控制單元16如圖28A和圖四所述， 根據在區(qū)域F41、F42和區(qū)域F31的引出布線F31b中檢測的坐標來計算一個坐標。所檢測 的X坐標和Y坐標被描述為X(F41，F42)和Y(F41，F42)。而且，控制單元16計算圖28B所 示的黑點的坐標X和y (第六坐標)。坐標X是X(F31a)和X(F41，F42)的平均，坐標y是 Y(F31a)禾口 Y(F41，F42)的平均?？刂茊卧?6根據X(F41，F42)、χ、Y(F41，F42)和y計算并輸出作為第一導電膜2 與第二導電膜4在主區(qū)域F31a中實際接觸的點的坐標的X(F31a)和Y(F31a)(步驟S145)。 更具體地說，通過方程X(F41a) = 2x-X(F41, F42)來計算X (F41a)，通過方程Y (F41a)= 2y-Y(F41,F42)來計算Y(F41a)。在步驟S145之后，結束處理。根據第五實施方式的變形，即使如圖28B所示在兩個點檢測出坐標，也可以輸出 實際進行了輸入的點的坐標。因此可以提高觸摸板的坐標檢測精度，防止錯誤操作。這里所述的所有例子和條件性語言都是為了教導目的，以幫助讀者理解本發(fā)明和 由發(fā)明人貢獻的概念以促進技術進步，應當被解釋為不限于這些具體記載的例子和條件， 這些例子在說明書中的組織也不涉及本發(fā)明的優(yōu)劣的展示。盡管詳細說明了本發(fā)明的實施 方式，但應當理解，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以對本發(fā)明進行各種改變、 替換和變更。
權利要求
1.一種觸摸板，包括第一導電膜，被分割成彼此絕緣的多個區(qū)域；第二導電膜，與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；彼此相對的一對電極，設置在所述第二導電膜上；彼此相對的另一對電極，設置在所述第二導電膜上；和控制單元，被構成為在每個區(qū)域中判定所述第一導電膜是否與所述第二導電膜接觸， 在所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的情況下，通過向所述一對電極施加電壓，檢測 所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的X坐標和Y坐標中的一個，在每個區(qū)域中檢 測了 X坐標和Y坐標中的一個之后，釋放向所述一對電極施加的電壓，并且在釋放了向所述 一對電極施加的電壓之后，通過向所述另一對電極施加電壓，在每個區(qū)域中檢測X坐標和Y 坐標中的另一個。
2.根據權利要求1所述的觸摸板，其中，在所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述 多個區(qū)域中的某個區(qū)域中接觸的情況下，所述控制單元在所述第一導電膜與所述第二導電 膜接觸的區(qū)域中檢測X坐標和Y坐標中的一個，然后在所述多個區(qū)域中的、與所述第一導電 膜與所述第二導電膜接觸的區(qū)域不同的區(qū)域中判定所述第一導電膜是否與所述第二導電 膜接觸。
3.根據權利要求1所述的觸摸板，其中，所述控制單元在每個區(qū)域中判定所述第一導 電膜是否與所述第二導電膜接觸之后，在每個區(qū)域中檢測X坐標和Y坐標中的一個。
4.根據權利要求1至3的任意一個所述的觸摸板，其中，當所述第一導電膜與所述第二 導電膜接觸時，所述控制單元記憶所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的區(qū)域，并且在 所記憶的區(qū)域中檢測X坐標和Y坐標。
5.一種觸摸板，包括第一導電膜，被分割成彼此絕緣的多個區(qū)域； 第二導電膜，與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；和 控制單元，被構成為在所述控制單元輸出了所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的 點的坐標時，在輸出坐標的處理的下一處理中，在輸出了坐標的區(qū)域和與輸出坐標的區(qū)域 相鄰的區(qū)域中，檢測所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的坐標，而在所述控制單 元輸出了坐標的情況下，不在在所述下一處理中輸出坐標的區(qū)域和與在所述下一處理中輸 出坐標的區(qū)域相鄰的區(qū)域以外的區(qū)域中檢測坐標。
6.根據權利要求5所述的觸摸板，其中，所述控制單元在所述下一處理中在沿著根據 輸出坐標的處理而判定的方向的每個區(qū)域中檢測所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸 的點的坐標。
7.一種觸摸板，包括第一導電膜，被分割成彼此絕緣的多個區(qū)域； 第二導電膜，與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；和 控制單元，被構成為在每個組中檢測所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的坐 標，所述組包括由所述多個區(qū)域中的第一區(qū)域的主區(qū)域構成的第一組；和由所述第一區(qū) 域的引出布線和所述多個區(qū)域中的第二區(qū)域構成的第二組。
8.根據權利要求7所述的觸摸板，其中，所述第一組和所述第二組是通過將所述多個區(qū)域按照行或列來分組而形成的組；所述引出布線向行方向或列方向引出。
9.一種觸摸板，包括第一導電膜，被分割成彼此絕緣的多個區(qū)域；第二導電膜，與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；和控制單元，被構成為在多個組中的每個組中判定所述第一導電膜是否與所述第二導電 膜接觸，在所述多個組中的、所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的組中檢測所述第一 導電膜與所述第二導電膜接觸的點的坐標，而不在所述第一導電膜與所述第二導電膜不接 觸的組中檢測坐標，其中每個組由所述多個區(qū)域中的一些區(qū)域構成。
10.根據權利要求9所述的觸摸板，其中，所述多個組包括由所述多個區(qū)域中的第一 區(qū)域的主區(qū)域構成的第一組；和由所述第一區(qū)域的引出布線和所述多個區(qū)域中的第二區(qū)域 構成的第二組。
11.根據權利要求9或10所述的觸摸板，其中，所述第一組和所述第二組是通過將所述 多個區(qū)域按照行或列來分組而形成的；在通過將所述多個區(qū)域按照列來分組而形成所述第一組和所述第二組的情況下，所述 引出布線向行方向引出，在通過將所述多個區(qū)域按照行來分組而形成所述第一組和所述第 二組的情況下，所述引出布線向列方向引出。
12.根據權利要求9或10所述的觸摸板，還包括被連接到所述第一組和所述第二組的 濾波器，這些濾波器的屏蔽頻率彼此不同。
13.根據權利要求9或10所述的觸摸板，還包括組合單元，該組合單元將響應于所述第 一導電膜與所述第二導電膜的接觸而從構成各個組的一些區(qū)域發(fā)送的信號組合成一個信 號；所述控制單元響應于由所述組合單元組合的所述一個信號的接收，在由該一些區(qū)域構 成的組中判定所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸。
14.一種觸摸板，包括第一導電膜，被分割成彼此絕緣的多個區(qū)域；第二導電膜，與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；和控制單元，被構成為在所述第一導電膜與所述第二導電膜在第一區(qū)域、第二區(qū)域和位 于所述第一區(qū)域和所述第二區(qū)域之間的第三區(qū)域的引出布線中接觸，并且第一坐標與第二 坐標之差、第一坐標與第三坐標之差在給定范圍內的情況下，輸出根據所述第一坐標和所 述第二坐標計算的第四坐標，其中，所述第一區(qū)域、所述第二區(qū)域和所述第三區(qū)域包括在所述多個區(qū)域中，所述第一 坐標是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第一區(qū)域中接觸的點的坐標，所述第二坐 標是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第二區(qū)域中接觸的點的坐標，所述第三坐標 是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第三區(qū)域的引出布線中接觸的點的坐標。
15.根據權利要求14所述的觸摸板，其中，所述控制單元輸出所述第一坐標和所述第 二坐標的平均坐標作為所述第四坐標。
16.根據權利要求14或15所述的觸摸板，其中，所述控制單元根據所述第五坐標和所 述第四坐標計算第六坐標，并且輸出根據所述第四坐標和所述第六坐標計算的所述第五坐標；所述第五坐標是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第三區(qū)域的主區(qū)域中接觸 的點的坐標。
17.根據權利要求16所述的觸摸板，其中，所述控制單元將所述第四坐標和所述第五 坐標的平均坐標設置為所述第六坐標。
18.一種觸摸板中的坐標檢測方法，包括以下步驟在每個區(qū)域中判定第一導電膜是否與第二導電膜接觸，所述第一導電膜被分割成彼此 絕緣的多個區(qū)域，所述第二導電膜與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；當所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸時，通過向設置在所述第二導電膜上的一對 電極施加電壓，檢測所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的X坐標和Y坐標中的一 個，所述一對電極彼此相對；在每個區(qū)域中檢測了 X坐標和Y坐標中的一個之后，釋放向所述一對電極施加的電壓；以及在釋放了向所述一對電極施加的電壓之后，通過向彼此相對的另一對電極施加電壓， 在每個區(qū)域中檢測X坐標和Y坐標中的另一個。
19.一種觸摸板中的坐標檢測方法，包括以下步驟輸出第一導電膜與第二導電膜接觸的點的坐標，所述第一導電膜被分割成彼此絕緣的 多個區(qū)域，所述第二導電膜與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；在上述輸出步驟之后，在通過上述輸出步驟輸出了坐標的區(qū)域和與輸出坐標的區(qū)域相 鄰的區(qū)域中，檢測所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的點的坐標；以及在上述輸出步驟中輸出了坐標的情況下，不在通過上述檢測步驟檢測了坐標的區(qū)域和 與通過上述檢測步驟檢測了坐標的區(qū)域相鄰的區(qū)域以外的區(qū)域中檢測坐標。
20.一種觸摸板中的坐標檢測方法，包括以下步驟在由多個區(qū)域中的第一區(qū)域的主區(qū)域構成的第一組中檢測第一導電膜與第二導電膜 接觸的點的坐標，所述第一導電膜被分割成彼此絕緣的所述多個區(qū)域，所述第二導電膜與 所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；以及在由所述第一區(qū)域的引出布線和所述多個區(qū)域中的第二區(qū)域構成的第二組中檢測坐標。
21.一種觸摸板中的坐標檢測方法，包括以下步驟在多個組中的每個組中判定第一導電膜是否與第二導電膜接觸，所述第一導電膜被分 割成彼此絕緣的多個區(qū)域，所述第二導電膜與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜 分離，所述多個組由所述多個區(qū)域中的一些區(qū)域構成；在所述多個組中的、所述第一導電膜與所述第二導電膜接觸的組中檢測所述第一導電 膜與所述第二導電膜接觸的點的坐標；以及不在所述多個組中的、所述第一導電膜與所述第二導電膜不接觸的組中檢測坐標。
22.一種觸摸板中的坐標檢測方法，包括以下步驟在第一導電膜與第二導電膜在第一區(qū)域、第二區(qū)域和位于所述第一區(qū)域和所述第二區(qū) 域之間的第三區(qū)域的引出布線中接觸的情況下，判定第一坐標與第二坐標之差、以及第一 坐標與第三坐標之差是否在給定范圍內，所述第一導電膜被分割成彼此絕緣的多個區(qū)域，所述第二導電膜與所述第一導電膜相對并且與所述第一導電膜分離；以及當所述第一坐標與所述第二坐標之差、以及所述第一坐標與所述第三坐標之差在給定 范圍內時，輸出根據所述第一坐標和所述第二坐標計算的第四坐標，其中，所述第一區(qū)域、所述第二區(qū)域和所述第三區(qū)域包括在所述多個區(qū)域中，所述第一 坐標是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第一區(qū)域中接觸的點的坐標，所述第二坐 標是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第二區(qū)域中接觸的點的坐標，所述第三坐標 是所述第一導電膜與所述第二導電膜在所述第三區(qū)域的引出布線中接觸的點的坐標。
全文摘要
本發(fā)明提供一種觸摸板和觸摸板中的坐標檢測方法，觸摸板包括第一導電膜，被分割成彼此絕緣的多個區(qū)域；第二導電膜，與第一導電膜相對并且與第一導電膜分離；彼此相對的一對電極，設置在第二導電膜上；彼此相對的另一對電極，設置在第二導電膜上；和控制單元，在每個區(qū)域中判定第一導電膜是否與第二導電膜接觸，在第一導電膜與第二導電膜接觸的情況下，通過向所述一對電極施加電壓，檢測第一導電膜與第二導電膜接觸的點的X坐標和Y坐標中的一個，在每個區(qū)域中檢測了X坐標和Y坐標中的一個之后，釋放向所述一對電極施加的電壓，并且在釋放了電壓之后，通過向所述另一對電極施加電壓，在每個區(qū)域中檢測X坐標和Y坐標中的另一個。
文檔編號G06F3/041GK102103431SQ201010600000
公開日2011年6月22日 申請日期2010年12月17日 優(yōu)先權日2009年12月18日
發(fā)明者一川大輔, 吉房和幸, 櫻井聰, 羽山正伸 申請人:富士通電子零件有限公司