專利名稱：計算機測試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)及方法，尤指一種計算機測試系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
計算機產(chǎn)品生產(chǎn)完畢后，都必須對其進行反復(fù)開關(guān)機以檢測計算機產(chǎn)品的穩(wěn)定性。如一種計算機測試系統(tǒng)，用于測試至少一計算機，該計算機包括一對開機引腳及一開機信號產(chǎn)生引腳，所述計算機測試系統(tǒng)包括一與被測計算機開機引腳相連的開關(guān)模塊及一單片機，所述開關(guān)模塊包括至少一芯片，所述芯片包括至少一與所述單片機相連的輸入引腳及與每一輸入引腳對應(yīng)的一對輸出引腳，該對輸出引腳與一臺被測計算機的開機引腳相連，所述單片機還與所述計算機開機信號引腳相連以檢測被測計算機的開關(guān)機狀態(tài)，所述單片機輸出開機信號/關(guān)機信號至所述芯片的輸入引腳以控制所述芯片的輸出引腳的導(dǎo)通及斷開狀態(tài)，從而測試所述計算機開機/關(guān)機性能。然而，傳統(tǒng)的計算機測試系統(tǒng)及方法僅能檢測計算機是否能通過反復(fù)的開關(guān)機測試，不能控制被測計算機所處的外在環(huán)境，通過測試的計算機在外在環(huán)境條件改變后(如溫度及濕度改變后)可能不能正常工作，因而測試結(jié)果仍不夠可靠。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種測試結(jié)果較可靠的計算機測試系統(tǒng)及方法。一種計算機測試系統(tǒng)，包括一與被測計算機相連的單片機，所述單片機控制并監(jiān)測所述被測計算機的狀態(tài)，所述計算機測試系統(tǒng)還包括一恒溫恒濕箱及一測試主控設(shè)備， 所述被測計算機放置于所述恒溫恒濕箱內(nèi)以便在預(yù)設(shè)的溫度濕度條件下運行，所述測試主控設(shè)備與所述恒溫恒濕箱相連并發(fā)出指令控制所述恒溫恒濕箱的溫度及濕度，所述單片機與所述測試主控設(shè)備相連并監(jiān)測到的信息傳送給所述測試主控設(shè)備。一種計算機測試方法，包括以下步驟將至少一被測計算機放置于一恒溫恒濕箱內(nèi)；將一測試主控設(shè)備連接至所述恒溫恒濕箱；將一單片機連接至所述被測計算機；所述測試主控設(shè)備發(fā)出指令控制所述恒溫恒濕箱的溫度及濕度；所述單片機發(fā)出信號使所述被測計算機開機或關(guān)機；所述單片機檢測所述被測計算機的狀態(tài)信息；及將檢測到的被測計算機的狀態(tài)信息傳送給所述測試主控設(shè)備。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明計算機測試系統(tǒng)及方法在利用單片機控制測試被測計算機的同時還利用一測試主控設(shè)備控制被測計算機所處的外部環(huán)境條件，對被測計算機的測試更為嚴格，測試結(jié)果更可靠。


圖1是本發(fā)明計算機測試系統(tǒng)較佳實施方式的組成圖。圖2是圖1中測試主控設(shè)備的具體組成圖。圖3是本發(fā)明計算機測試方法較佳實施方式的流程圖。
主要元件符號說明
權(quán)利要求
1.一種計算機測試系統(tǒng)，包括一與一被測計算機相連的單片機，所述單片機控制并監(jiān)測所述被測計算機的狀態(tài)，其特征在于所述計算機測試系統(tǒng)還包括一恒溫恒濕箱及一測試主控設(shè)備，所述被測計算機放置于所述恒溫恒濕箱內(nèi)而在所述恒溫恒濕箱設(shè)置的溫度濕度條件下運行，所述測試主控設(shè)備與所述恒溫恒濕箱相連并發(fā)出指令控制所述恒溫恒濕箱的溫度及濕度，所述單片機與所述測試主控設(shè)備相連并監(jiān)測到的信息傳送給所述測試主控設(shè)備。
2.如權(quán)利要求1所述的計算機測試系統(tǒng)，其特征在于所述測試主控設(shè)備通過一通用接口總線通訊卡與所述恒溫恒濕箱及所述單片機相連。
3.如權(quán)利要求2所述的計算機測試系統(tǒng)，其特征在于所述計算機測試系統(tǒng)還包括一為所述被測計算機提供工作電壓的程控電源，所述測試主控設(shè)備通過所述通用接口總線通訊卡與所述程控電源相連以輸出指令開啟或關(guān)閉所述程控電源或調(diào)控所述程控電源的輸出電壓。
4.如權(quán)利要求3所述的計算機測試系統(tǒng)，其特征在于所述計算機測試系統(tǒng)還包括一與所述被測計算機相連的數(shù)據(jù)采集卡，所述數(shù)據(jù)采集卡用于測取所述被測計算機的環(huán)境溫度、濕度以及所述被測計算機的各測試點的電壓并將測取數(shù)據(jù)通過所述單片機傳送給所述測試主控設(shè)備。
5.如權(quán)利要求4所述的計算機測試系統(tǒng)，其特征在于所述測試主控設(shè)備包括一測試流程控制模塊及一與該測試流程控制模塊相連的參數(shù)配置模塊，所述測試流程控制模塊根據(jù)所述參數(shù)配置模塊設(shè)置的參數(shù)控制測試流程。
6.如權(quán)利要求5所述的計算機測試系統(tǒng)，其特征在于所述測試主控設(shè)備還包括一與所述測試流程控制模塊相連的恒溫恒濕箱控制模塊，所述恒溫恒濕箱控制模塊用于控制所述恒溫恒濕箱的溫度及濕度。
7.如權(quán)利要求5所述的計算機測試系統(tǒng)，其特征在于所述測試主控設(shè)備還包括一與所述測試流程控制模塊相連的電源控制模塊，所述電源控制模塊用于控制所述程控電源的開啟或關(guān)閉以及調(diào)節(jié)所述程控電源的輸出電壓。
8.如權(quán)利要求5所述的計算機測試系統(tǒng)，其特征在于所述測試主控設(shè)備還包括一與所述測試流程控制模塊相連的數(shù)據(jù)接收模塊，所述數(shù)據(jù)接收模塊用于接收所述數(shù)據(jù)采集卡將采集的數(shù)據(jù)。
9.一種計算機測試方法，包括以下步驟將至少一被測計算機放置于一恒溫恒濕箱內(nèi)；將一測試主控設(shè)備連接至所述恒溫恒濕箱；將一單片機連接至所述被測計算機；所述測試主控設(shè)備發(fā)出指令控制所述恒溫恒濕箱的溫度及濕度；所述單片機發(fā)出信號使所述被測計算機開機或關(guān)機；所述單片機檢測所述被測計算機的狀態(tài)信息；及將檢測到的被測計算機的狀態(tài)信息傳送給所述測試主控設(shè)備。
10.如權(quán)利要求9所述的計算機測試方法，其特征在于所述計算機測試方法還包括將一程控電源連接至所述被測計算機及輸出指令控制所述程控電源開機或關(guān)機的步驟。
全文摘要
一種計算機測試系統(tǒng)，包括一與被測計算機相連的單片機，所述單片機控制并監(jiān)測所述被測計算機的狀態(tài)，所述計算機測試系統(tǒng)還包括一恒溫恒濕箱及一測試主控設(shè)備，所述被測計算機放置于所述恒溫恒濕箱內(nèi)以便在預(yù)設(shè)的溫度濕度條件下運行，所述測試主控設(shè)備與所述恒溫恒濕箱相連并發(fā)出指令控制所述恒溫恒濕箱的溫度及濕度，所述單片機與所述測試主控設(shè)備相連并監(jiān)測到的信息傳送給所述測試主控設(shè)備。本發(fā)明還揭示了一種基于上述計算機測試系統(tǒng)的計算機測試方法。本發(fā)明計算機測試系統(tǒng)及計算機測試方法可對被測計算機進行較嚴格的測試，測試結(jié)果更可靠。
文檔編號G06F11/22GK102567155SQ201010614589
公開日2012年7月11日 申請日期2010年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月30日
發(fā)明者謝杏平, 謝玲玉 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司