專利名稱：不合格原因的分析顯示方法及不合格原因的分析顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種不合格原因的分析顯示方法及不合格原因的分析顯示裝置。
背景技術(shù)：
在各種產(chǎn)品的生產(chǎn)エ序中，為了以較高的合格率生產(chǎn)出高質(zhì)量的產(chǎn)品，要對生產(chǎn)エ序中的現(xiàn)象進(jìn)行分析，并基于該分析來控制生產(chǎn)エ序，這一點十分重要。對于上述方法之一，有以下方法即，在各種產(chǎn)品的生產(chǎn)エ序中，對發(fā)生不合格時的不合格原因進(jìn)行分析，并將其反饋至生產(chǎn)エ序。對于該不合格原因分析，有以下方法即，將從生產(chǎn)エ序中的制造エ藝能獲取到的制造エ藝數(shù)據(jù)、以及從檢查エ藝能獲取到的檢查數(shù)據(jù)保存至數(shù)據(jù)庫，對這些數(shù)據(jù)運用統(tǒng)計上的方法，以提取出不合格原因。在進(jìn)行這樣的不合格原因分析的情況下，常將從生產(chǎn)エ藝獲取到的數(shù)據(jù)按照產(chǎn)品単位或一定期間的批次單位進(jìn)行劃分而形成數(shù)據(jù)集，對這些數(shù)據(jù)集進(jìn)行例如像平均值、最大值、最小值、中值那樣的統(tǒng)計上的處理，使用作為各產(chǎn)品、或単位期間批次的數(shù)據(jù)集的代表值的數(shù)據(jù)。下面，將這樣的數(shù)據(jù)集的代表值記為總計數(shù)據(jù)。另外，將生成總計數(shù)據(jù)前的原來的數(shù)據(jù)記為詳細(xì)數(shù)據(jù)。例如，在專利文獻(xiàn)I (日本專利特開2003 — 114713號公報)中的分析中，將以產(chǎn)品単位來進(jìn)行累計的生產(chǎn)エ藝數(shù)據(jù)作為該產(chǎn)品的總計數(shù)據(jù)，對這些產(chǎn)品的總計數(shù)據(jù)進(jìn)行主成分分析，從而進(jìn)行不合格原因分析。利用該分析的結(jié)果，能獲得所提取出的不合格原因項目名稱的列表、以及總計數(shù)據(jù)的各種標(biāo)圖，利用該結(jié)果，來對提取項目是不合格原因的情況進(jìn)行判斷。另ー方面，近年來，隨著各種傳感器、進(jìn)行數(shù)據(jù)采集的設(shè)備的性能的提高，能夠以較短的采樣間隔來對遍及整個生產(chǎn)エ藝的利用各種傳感器所獲得的測量值進(jìn)行記錄和保存，即，能夠記錄和保存詳細(xì)數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)對于確認(rèn)生產(chǎn)エ藝中的物理現(xiàn)象是有效的，但不適合直接將其用于專利文獻(xiàn)I的不合格原因分析。其理由在于，成為總計數(shù)據(jù)之前的詳細(xì)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量極多，全部使用這些詳細(xì)數(shù)據(jù)的計算很龐大，從而無法在可實用的時間內(nèi)結(jié)束分析計算，再有雖然能在不合格原因的分析中提取出詳細(xì)數(shù)據(jù)的細(xì)微的變化，但難以掌握作為生產(chǎn)エ藝而要改進(jìn)的項目。另外，關(guān)于對操作者顯示詳細(xì)數(shù)據(jù)，像專利文獻(xiàn)2 (日本專利特開2004 — 102963號公報)那樣，除了累計而得的數(shù)據(jù)之外，還顯示將所獲取到的數(shù)據(jù)按時間序列進(jìn)行排列后所得的數(shù)據(jù)(趨勢數(shù)據(jù))，從而能詳細(xì)地確認(rèn)エ藝的現(xiàn)象。然而，需要進(jìn)行不合格原因分析的產(chǎn)品的生產(chǎn)エ藝較為復(fù)雜，所管理的項目的數(shù)量也較多，除此以外，如前所述，正在通過完善獲取詳細(xì)數(shù)據(jù)的環(huán)境，來對更多的數(shù)據(jù)項目記錄詳細(xì)數(shù)據(jù)。在以上過程中，難以容易地選擇需要操作者來確認(rèn)的數(shù)據(jù)項目、產(chǎn)品。 另外，在專利文獻(xiàn)I那樣的生產(chǎn)エ序中的不合格原因分析単元中，在實施分析吋，通過使用總計數(shù)據(jù)，能提取出不合格原因。
然而，在實際的生產(chǎn)エ序中，負(fù)載進(jìn)行不合格原因分析、改進(jìn)エ序的負(fù)責(zé)人(以下記為操作者)需要對所提取出的成為不合格原因的項目判斷最終所提取出的內(nèi)容是否是不合格的原因，并判斷是否需要制定改進(jìn)措施，進(jìn)而在設(shè)定該改進(jìn)措施的具體內(nèi)容時，確認(rèn)詳細(xì)數(shù)據(jù)，以確認(rèn)生產(chǎn)エ藝中的現(xiàn)象。此時，詳細(xì)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量較為龐大，操作者難以在其中篩選出想要確認(rèn)的數(shù)據(jù)、顯示這些數(shù)據(jù)、并確認(rèn)數(shù)據(jù)的變化。在不合格原因分析中，雖然對數(shù)據(jù)項目進(jìn)行選擇，但作為不合格而被分類的產(chǎn)品的數(shù)量較多，即使同時顯示出所有的數(shù)據(jù)，操作者也難以從中選擇出所需要的數(shù)據(jù)。此外，在專利文獻(xiàn)2中，關(guān)于所顯示出的詳細(xì)數(shù)據(jù)的選擇步驟，從多個產(chǎn)品的數(shù)據(jù)中選擇所顯示產(chǎn)品的數(shù)據(jù)的步驟并不明確，無法解決上述問題。專利文獻(xiàn)I :日本專利特開2003 — 114713號公報
專利文獻(xiàn)2 :日本專利特開2004 — 102963號公報

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的問題在于，提供ー種不合格原因的分析顯示方法及不合格原因的分析顯示裝置，所述不合格原因的分析顯示方法及不合格原因的分析顯示裝置在使用了從生產(chǎn)エ藝和檢查エ藝所獲取到的數(shù)據(jù)的不合格原因分析中，對于通過分析而作為不合格原因來提取出的數(shù)據(jù)項目，來選擇對判斷分析結(jié)果的有效性和制定生產(chǎn)エ藝的改進(jìn)措施所需要的、合適的詳細(xì)數(shù)據(jù)。為了解決上述問題，本發(fā)明的不合格原因的分析顯示方法的特征在于，包括從生產(chǎn)エ藝獲取由該生產(chǎn)エ藝所制造的產(chǎn)品中的具有多個數(shù)據(jù)項目的生產(chǎn)數(shù)據(jù)、并從檢查エ藝獲取由所述生產(chǎn)エ藝所制造的產(chǎn)品中的具有多個數(shù)據(jù)項目的檢查數(shù)據(jù)的エ序;基于所述生產(chǎn)數(shù)據(jù)和所述檢查數(shù)據(jù)、來對每個所述產(chǎn)品計算所述生產(chǎn)數(shù)據(jù)和所述檢查數(shù)據(jù)之中的至少ー個數(shù)據(jù)的代表值(以下記為總計數(shù)據(jù))的エ序；基于所述所計算出的代表值、來分析所述產(chǎn)品發(fā)生不合格的不合格原因的エ序；以及對于作為不合格原因而通過所述不合格原因的分析所提取出的所述數(shù)據(jù)項目、來顯示成為計算與該數(shù)據(jù)項目相關(guān)的代表值的基礎(chǔ)的所述至少一個數(shù)據(jù)(以下記為詳細(xì)數(shù)據(jù))的エ序，在所述進(jìn)行顯示的エ序中，使用利用統(tǒng)計方法的計算，來從成為所述不合格原因的分析對象的多個代表值之中，選擇所顯示的所述至少ー個數(shù)據(jù)。根據(jù)本發(fā)明的不合格原因的分析顯示方法，由于具有所述獲取エ序、所述計算エ序、所述分析エ序、以及所述顯示エ序，因此，在產(chǎn)品的生產(chǎn)エ序中對不合格原因進(jìn)行分析，判斷分析結(jié)果的有效性，進(jìn)而基于分析結(jié)果來制定生產(chǎn)エ藝的改進(jìn)措施，對于這樣的生產(chǎn)エ序中的一系列工作，在分析不合格原因時，能通過使用總計數(shù)據(jù)(代表值)來從整個エ藝中提取出不合格原因，此外，在需要評價分析的有效性、確認(rèn)制定改進(jìn)措施這樣的エ藝中的詳細(xì)數(shù)據(jù)的步驟中，能對操作者呈現(xiàn)合適的詳細(xì)數(shù)據(jù)(成為代表值計算的基礎(chǔ)的至少ー個數(shù)據(jù))。因此，對于高效地進(jìn)行分析、以及在其后高效地進(jìn)行確認(rèn)、應(yīng)對是有效的。
另外，在一個實施方式的不合格原因的分析顯示方法中，所述利用統(tǒng)計方法的計算是如下計算即，對于成為所述不合格原因的分析對象的產(chǎn)品，將代表值投影至特征空間上，在所投影的特征空間中的合格品或不合格品之中，選擇距離合格品或不合格品的分布的中心點最近的產(chǎn)品。根據(jù)該實施方式的不合格原因的分析顯示方法，由于所述利用統(tǒng)計方法的計算是如下計算S卩，對于成為所述不合格原因的分析對象的產(chǎn)品，將代表值投影至特征空間上，在所投影的特征空間中的合格品或不合格品之中，選擇距離合格品或不合格品的分布的中心點最近的產(chǎn)品，因此，能選擇最顯現(xiàn)出成為對象的產(chǎn)品組的特征的產(chǎn)品。另外，在一個實施方式的不合格原因的分析顯示方法中，所述特征空間是在成為不合格原因的分析對象的產(chǎn)品之中、利用所述檢查エ藝或預(yù)先設(shè)定的設(shè)定值、根據(jù)判定為合格品的產(chǎn)品的數(shù)據(jù)而求出的特征空間。根據(jù)該實施方式的不合格原因的分析顯示方法，由于所述特征空間是在成為不合 格原因的分析對象的產(chǎn)品之中、利用所述檢查エ藝或預(yù)先設(shè)定的設(shè)定值、根據(jù)判定為合格品的產(chǎn)品的數(shù)據(jù)而求出的特征空間，因此，通過設(shè)定以合格品的數(shù)據(jù)為基準(zhǔn)的特征空間，從而投影至該特征空間的不合格品的數(shù)據(jù)多與合格品的分布范圍不同。這是由于存在某種生產(chǎn)エ藝的異常，在該特征空間上，由于能較好地顯現(xiàn)出不合格品相對于合格品的特征，從而能選擇出代表該特征的不合格品，因此，能選擇出合適的不合格品。另外，在一個實施方式的不合格原因的分析顯示方法中，所述特征空間是在成為不合格原因的分析對象的產(chǎn)品之中、利用所述檢查エ藝或預(yù)先設(shè)定的設(shè)定值、根據(jù)判定為合格品的產(chǎn)品的數(shù)據(jù)而求出的主成分空間。根據(jù)該實施方式的不合格原因的分析顯示方法，由于所述特征空間是在成為不合格原因的分析對象的產(chǎn)品之中、利用所述檢查エ藝或預(yù)先設(shè)定的設(shè)定值、根據(jù)判定為合格品的產(chǎn)品的數(shù)據(jù)而求出的主成分空間，因此，主成分空間是充滿被稱為主成分的變量的空間，所述變量由原來的數(shù)據(jù)項目所合成，且互相無關(guān)，通過使用該特征空間，能較好地表示出與多個項目有關(guān)的生產(chǎn)エ藝的特征，通過在該空間內(nèi)對各基板的數(shù)據(jù)進(jìn)行評價(確定分布狀態(tài)和中心點)，能更明確地表示出生產(chǎn)エ藝的合格品與不合格品的不同。另外，由于主成分將原來的數(shù)據(jù)項目壓縮成幾個變量來進(jìn)行處理，因此，特征空間上的坐標(biāo)計算的計算量較少。另外，在一個實施方式的不合格原因的分析顯示方法中，所述利用統(tǒng)計方法的計算是如下計算即，通過對成為分析對象的合格品或不合格品中的所述不合格原因進(jìn)行分析來提取出所述數(shù)據(jù)項目，在與所述數(shù)據(jù)項目相關(guān)的代表值中，選擇成為合格品或不合格品的中值的產(chǎn)品、或最接近合格品或不合格品的平均值的產(chǎn)品。根據(jù)該實施方式的不合格原因的分析顯示方法，由于所述利用統(tǒng)計方法的計算是如下計算g卩，通過對成為分析對象的合格品或不合格品中的所述不合格原因進(jìn)行分析來提取出所述數(shù)據(jù)項目，在與所述數(shù)據(jù)項目相關(guān)的代表值中，選擇成為合格品或不合格品的中值的產(chǎn)品、或最接近合格品或不合格品的平均值的產(chǎn)品，因此，具有計算更為簡單、處理時間較少就可完成的優(yōu)點。因而，在進(jìn)行分析的產(chǎn)品數(shù)量極多的情況下是有效的。另外，在一個實施方式的不合格原因的分析顯示方法中，在成為所述不合格原因的分析對象的產(chǎn)品之中，進(jìn)ー步對使用者所選擇的范圍之中所存在的合格品或不合格品執(zhí)行所述利用統(tǒng)計方法的計算。根據(jù)該實施方式的不合格原因的分析顯示方法，由于在成為所述不合格原因的分析對象的產(chǎn)品之中，進(jìn)ー步對使用者所選擇的范圍之中所存在的合格品或不合格品執(zhí)行所述利用統(tǒng)計方法的計算，因此，能對使用者所關(guān)注的數(shù)據(jù)組進(jìn)行數(shù)據(jù)選擇。特別是由于考慮到使用者大多具有生產(chǎn)エ藝中的經(jīng)驗和知識，因此能基于該經(jīng)驗和知識來選擇數(shù)據(jù)，從而能更準(zhǔn)確地選擇詳細(xì)數(shù)據(jù)。另外，本發(fā)明的不合格原因的分析顯示裝置的特征在于，包括獲取部，該獲取部從生產(chǎn)エ藝獲取由該生產(chǎn)エ藝所制造的產(chǎn)品中的具有多個數(shù)據(jù)項目的生產(chǎn)數(shù)據(jù)，并從檢查エ藝獲取由所述生產(chǎn)エ藝所制造的產(chǎn)品中的具有多個數(shù)據(jù)項目的檢查數(shù)據(jù)；代表值計算部，該代表值計算部基于所述生產(chǎn)數(shù)據(jù)和所述檢查數(shù)據(jù)，來對每個所述產(chǎn)品計算所述生產(chǎn)數(shù)據(jù)和所述檢查數(shù)據(jù)之中的至少ー個數(shù)據(jù)的代表值； 分析部，該分析部基于所述所計算出的代表值，來分析所述產(chǎn)品發(fā)生不合格的不合格原因；以及顯示部，該顯示部對于作為不合格原因而通過所述不合格原因的分析所提取出的所述數(shù)據(jù)項目，來顯示成為計算與該數(shù)據(jù)項目相關(guān)的代表值的基礎(chǔ)的所述至少ー個數(shù)據(jù)，所述顯示部使用利用統(tǒng)計方法的計算，來從成為所述不合格原因的分析對象的多個代表值之中，選擇所顯示的所述至少ー個數(shù)據(jù)。根據(jù)本發(fā)明的不合格原因的分析顯示裝置，由于具有所述獲取部、所述代表值計算部、所述分析部、以及所述顯示部，因此，在產(chǎn)品的生產(chǎn)エ序中對不合格原因進(jìn)行分析，判斷分析結(jié)果的有效性，進(jìn)而基于分析結(jié)果來制定生產(chǎn)エ藝的改進(jìn)措施，對于這樣的生產(chǎn)エ序中的一系列工作，在分析不合格原因時，能通過使用總計數(shù)據(jù)(代表值)來從整個エ藝中提取出不合格原因，此外，在需要評價分析的有效性、確認(rèn)制定改進(jìn)措施這樣的エ藝中的詳細(xì)數(shù)據(jù)的步驟中，能對操作者呈現(xiàn)合適的詳細(xì)數(shù)據(jù)(成為代表值計算的基礎(chǔ)的至少ー個數(shù)據(jù))。因此，對于高效地進(jìn)行分析、以及在其后高效地進(jìn)行確認(rèn)、應(yīng)對是有效的。根據(jù)本發(fā)明的不合格原因的分析顯示方法，由于具有所述獲取エ序、所述計算エ序、所述分析エ序、以及所述顯示エ序，因此，對于高效地進(jìn)行分析、以及在其后高效地進(jìn)行確認(rèn)、應(yīng)對是有效的。根據(jù)本發(fā)明的不合格原因的分析顯示裝置，由于具有所述獲取部、所述代表值計算部、所述分析部、以及所述顯示部，因此，對于高效地進(jìn)行分析、以及在其后高效地進(jìn)行確認(rèn)、應(yīng)對是有效的。


圖I是表示本發(fā)明的不合格原因的分析顯示方法的一個實施方式的結(jié)構(gòu)圖。圖2是示出顯示數(shù)據(jù)的選擇步驟的流程圖。圖3是示出操作者的操作步驟的流程圖。圖4是不出不合格原因的項目的候選列表的表格。圖5是不出不合格原因的項目的候選的合格品和不合格品的分布的圖形。圖6是示出主成分得分的標(biāo)圖的圖形。
圖7A是所選擇的不合格品的詳細(xì)數(shù)據(jù)。圖7B是所選擇的合格品的詳細(xì)數(shù)據(jù)。
具體實施例方式下面，利用圖示的實施方式，對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。(實施方式I)圖I表示作為本發(fā)明的不合格原因的分析顯示裝置的一個實施方式的縱向剖視圖。如圖I所示，該不合格原因的分析顯示裝置14適用于像電子器件那樣的以產(chǎn)品為單位 來執(zhí)行生產(chǎn)エ藝的產(chǎn)品的生產(chǎn)エ序11。生產(chǎn)エ序11包括生產(chǎn)エ藝12和檢查エ藝13。生產(chǎn)エ藝12是對每個產(chǎn)品執(zhí)行規(guī)定的エ藝的方式，檢查エ藝13是對每個產(chǎn)品進(jìn)行規(guī)定的檢查的エ藝。上述分析顯示裝置14包括作為獲取部的數(shù)據(jù)庫15、計算裝置16、作為顯示部的顯示裝置17、以及輸入裝置18。上述數(shù)據(jù)庫15從生產(chǎn)エ藝12獲取由該生產(chǎn)エ藝12所制造的產(chǎn)品的生產(chǎn)數(shù)據(jù)，并從檢查エ藝13獲取由生產(chǎn)エ藝12所制造的產(chǎn)品的檢查數(shù)據(jù)。生產(chǎn)數(shù)據(jù)和檢查數(shù)據(jù)分別包括多個數(shù)據(jù)項目。上述計算裝置16利用保存于上述數(shù)據(jù)庫15的數(shù)據(jù)，來進(jìn)行用于分析不合格原因和顯示數(shù)據(jù)的計算。計算裝置16包括代表值計算部和分析部。代表值計算部基于生產(chǎn)數(shù)據(jù)和檢查數(shù)據(jù)，來對每個產(chǎn)品計算生產(chǎn)數(shù)據(jù)和檢查數(shù)據(jù)之中的至少ー個數(shù)據(jù)的代表值(以下記為總計數(shù)據(jù))。分析部基于所計算出的代表值，來分析上述產(chǎn)品發(fā)生不合格的不合格原因。上述顯示裝置17對操作者19顯示分析結(jié)果、エ藝數(shù)據(jù)。顯示裝置17對于作為不合格原因而通過上述不合格原因的分析所提取出的上述數(shù)據(jù)項目，來顯示成為計算與該數(shù)據(jù)項目相關(guān)的代表值的基礎(chǔ)的上述至少ー個數(shù)據(jù)(以下記為詳細(xì)數(shù)據(jù))。上述顯示裝置17使用利用統(tǒng)計方法的計算，來從成為上述不合格原因的分析對象的多個總計數(shù)據(jù)之中，選擇所顯示的詳細(xì)數(shù)據(jù)。操作者19為了操作該分析顯示裝置14而對上述輸入裝置18進(jìn)行操作。從上述生產(chǎn)エ藝12連續(xù)獲取像エ藝中的溫度和壓力、提供給加熱器的輸入功率、及材料氣體的流量那樣的エ藝項目的測量值。對每個產(chǎn)品，將所獲取到的エ藝數(shù)據(jù)作為詳細(xì)數(shù)據(jù)而記錄于數(shù)據(jù)庫15。另外，對于各エ藝項目的エ藝數(shù)據(jù)，計算統(tǒng)計值，將該所計算出的值作為上述產(chǎn)品中的各エ藝項目的代表值(總計數(shù)據(jù))而記錄于數(shù)據(jù)庫15。另外，對每個產(chǎn)品獲取由檢查エ藝13所獲取到的檢查數(shù)據(jù)，并將其記錄于數(shù)據(jù)庫15。在用上述計算裝置16所進(jìn)行的不合格原因分析中，利用總計數(shù)據(jù)來進(jìn)行分析。在檢查エ藝13中，根據(jù)所設(shè)定的基準(zhǔn)，將成為分析對象的產(chǎn)品分為合格品或不合格品。另外，在檢查エ藝中，對于未判定合格/不合格的數(shù)據(jù)項目，預(yù)先設(shè)定基準(zhǔn)，在執(zhí)行分析之前，來判別合格/不合格。對完成該合格/不合格的判別的數(shù)據(jù)進(jìn)行不合格原因分析，以提取出成為不合格品的產(chǎn)生原因的候選的數(shù)據(jù)項目。作為不合格原因提取的方法，只要采用由判定樹所得的數(shù)據(jù)分類、主成分分析和部分最小二乗法那樣的使用了降維模型的貢獻(xiàn)率的方法等即可，沒有特別的限制，但在本實施方式中，采用主成分分析來進(jìn)行不合格原因分析。作為不合格原因分析的結(jié)果，將作為不合格原因而提取出的エ藝項目的列表、以及所提取出的エ藝項目的總計數(shù)據(jù)的圖形顯示于顯示裝置17。所顯示的圖形的形式有將橫軸設(shè)為總計數(shù)據(jù)的值而將縱軸設(shè)為其頻度即產(chǎn)品數(shù)量的柱狀圖、或?qū)Σ缓细襁M(jìn)行判別而得的檢查數(shù)據(jù)項目和所提取出的エ藝項目的分布圖，但并不局限于此。如上所述，對操作者19顯示分析結(jié)果，但為了判斷分析結(jié)果的有效性并制定エ藝改進(jìn)措施，對于所提取出的原因項目，顯示不合格品的詳細(xì)數(shù)據(jù)。因此，以如下的步驟從多個不合格品的產(chǎn)品之中選擇將數(shù)據(jù)顯示于顯示裝置17的產(chǎn)品。 在本實施方式中的顯示詳細(xì)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)顯示項目的選擇方法中，使用利用總計數(shù)據(jù)的主成分分析。其原因在干，由于在不合格原因分析中進(jìn)行主成分分析，因此，通過使用與之相同的方法，能使分析結(jié)果與數(shù)據(jù)選擇的基準(zhǔn)相同，使分析與顯示數(shù)據(jù)選擇具有ー貫性，能使操作者更容易理解，井能再次利用不合格原因分析時的計算結(jié)果，從而縮短計算裝置上的處理時間。這樣，在不合格原因分析中，在將分析數(shù)據(jù)投影至特征空間來進(jìn)行分析的情況下，優(yōu)選為使本方法中的用于進(jìn)行數(shù)據(jù)選擇的特征空間的設(shè)定也與不合格原因分析相同。下面，對于主成分分析，對本方法中的相關(guān)部分進(jìn)行說明。對于主成分分析，使用成為分析對象的產(chǎn)品的總計數(shù)據(jù)，將成為分析對象的產(chǎn)品的生產(chǎn)エ藝中所能獲取到的數(shù)據(jù)項目的總計數(shù)據(jù)形成數(shù)據(jù)集。對于數(shù)據(jù)集，由于各エ藝項目的単位及其獲取值的范圍各不相同，因此，作為對數(shù)據(jù)集的預(yù)處理，進(jìn)行歸ー化，使得各エ藝項目的平均成為O、方差成為I。以NXM的數(shù)據(jù)矩陣X來表示進(jìn)行預(yù)處理之后的數(shù)據(jù)集。這里，N表示作為分析對象的產(chǎn)品的個數(shù)，M表示生產(chǎn)エ藝項目的個數(shù)。X的分量表示產(chǎn)品i中的エ藝項目j的值。在主成分分析中，如下所述那樣將X進(jìn)行分解。X=TVT+E …式 I這里，T表示被稱為得分矩陣的NXR的正交矩陣，V表示被稱為負(fù)載量矩陣的MXR的歸一正交矩陣，“Τ”表示轉(zhuǎn)置矩陣。R是所提取的主成分的數(shù)量，等于作為得分矩陣T的分量的得分變量的個數(shù)，R <M。E被稱為殘差矩陣，是NXM的矩陣。主成分?jǐn)?shù)的決定方法有使用主成分的累積貢獻(xiàn)、主成分模型的平方誤差、及交叉驗證等方法，無論使用哪種方法都可以，但在本實施方式中，采用主成分的累積貢獻(xiàn)成為一定以上的最小的主成分?jǐn)?shù)。將以主成分為軸而被充滿的空間稱為主成分空間，用得分矩陣來表現(xiàn)該主成分空間上的各產(chǎn)品的位置。即，得分矩陣的要素tkl成為與產(chǎn)品k的主成分I的軸相對的值。以上是主成分分析的說明。利用該主成分分析來對顯示于顯示裝置的詳細(xì)數(shù)據(jù)的選擇方法的步驟如圖2所示，下面，對其詳細(xì)情況進(jìn)行說明。首先，將分析對象數(shù)據(jù)X分割成合格品的部分矩陣Xg和不合格品的部分矩陣Xb (步驟 S21)。然后，如下式所示將合格品數(shù)據(jù)Xg進(jìn)行分解，以獲得負(fù)載量矩陣Vk(步驟S22)。Tg是關(guān)于合格品的得分矩陣，Ve是到V的R列為止的部分矩陣。T8=X8Ve…式 2
之后，利用下式，對不合格品數(shù)據(jù)Xb，利用負(fù)載量矩陣\，來獲得關(guān)于不合格品的得分矩陣Tb (步驟S23)。Tb=XbVE…式 3然后，根據(jù)不合格品的得分矩陣Tb，利用下式來計算出不合格品的主成分空間上的中心點Cb (步驟S24)。這里，Nb是不合格品的個數(shù)，tbkl是關(guān)于不合格品的得分矩陣Tb的要素。

權(quán)利要求
1.ー種不合格原因的分析顯示方法，其特征在于，包括 從生產(chǎn)エ藝獲取由該生產(chǎn)エ藝所制造的產(chǎn)品中的具有多個數(shù)據(jù)項目的生產(chǎn)數(shù)據(jù)、并從檢查エ藝獲取由所述生產(chǎn)エ藝所制造的產(chǎn)品中的具有多個數(shù)據(jù)項目的檢查數(shù)據(jù)的エ序； 基于所述生產(chǎn)數(shù)據(jù)和所述檢查數(shù)據(jù)、來對每個所述產(chǎn)品計算所述生產(chǎn)數(shù)據(jù)和所述檢查數(shù)據(jù)之中的至少ー個數(shù)據(jù)的代表值的エ序； 基于所述所計算出的代表值、來分析所述產(chǎn)品發(fā)生不合格的不合格原因的エ序；以及 對于作為不合格原因而通過所述不合格原因的分析所提取出的所述數(shù)據(jù)項目、來顯示成為計算與該數(shù)據(jù)項目相關(guān)的代表值的基礎(chǔ)的所述至少ー個數(shù)據(jù)的エ序， 在所述進(jìn)行顯示的エ序中，使用利用統(tǒng)計方法的計算，來從成為所述不合格原因的分析對象的多個代表值之中，選擇所顯示的所述至少ー個數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求I所述的不合格原因的分析顯示方法，其特征在干， 所述利用統(tǒng)計方法的計算是如下計算即，對于成為所述不合格原因的分析對象的產(chǎn)品，將代表值投影至特征空間上，在所投影的特征空間中的合格品或不合格品之中，選擇距離合格品或不合格品的分布的中心點最近的產(chǎn)品。
3.如權(quán)利要求2所述的不合格原因的分析顯示方法，其特征在干， 所述特征空間是在成為不合格原因的分析對象的產(chǎn)品之中、利用所述檢查エ藝或預(yù)先設(shè)定的設(shè)定值、根據(jù)判定為合格品的產(chǎn)品的數(shù)據(jù)而求出的特征空間。
4.如權(quán)利要求2所述的不合格原因的分析顯示方法，其特征在干， 所述特征空間是在成為不合格原因的分析對象的產(chǎn)品之中、利用所述檢查エ藝或預(yù)先設(shè)定的設(shè)定值、根據(jù)判定為合格品的產(chǎn)品的數(shù)據(jù)而求出的主成分空間。
5.如權(quán)利要求I所述的不合格原因的分析顯示方法，其特征在干， 所述利用統(tǒng)計方法的計算是如下計算即，通過對成為分析對象的合格品或不合格品中的所述不合格原因進(jìn)行分析來提取出所述數(shù)據(jù)項目，在與所述數(shù)據(jù)項目相關(guān)的代表值中，選擇成為合格品或不合格品的中值的產(chǎn)品、或最接近合格品或不合格品的平均值的產(chǎn)品O
6.如權(quán)利要求I至5的任一項所述的不合格原因的分析顯示方法，其特征在干， 在成為所述不合格原因的分析對象的產(chǎn)品之中，進(jìn)ー步對使用者所選擇的范圍之中所存在的合格品或不合格品執(zhí)行所述利用統(tǒng)計方法的計算。
7.ー種不合格原因的分析顯示裝置，其特征在于，包括 獲取部，該獲取部從生產(chǎn)エ藝獲取由該生產(chǎn)エ藝所制造的產(chǎn)品中的具有多個數(shù)據(jù)項目的生產(chǎn)數(shù)據(jù)，并從檢查エ藝獲取由所述生產(chǎn)エ藝所制造的產(chǎn)品中的具有多個數(shù)據(jù)項目的檢查數(shù)據(jù)； 代表值計算部，該代表值計算部基于所述生產(chǎn)數(shù)據(jù)和所述檢查數(shù)據(jù)，來對每個所述產(chǎn)品計算所述生產(chǎn)數(shù)據(jù)和所述檢查數(shù)據(jù)之中的至少ー個數(shù)據(jù)的代表值； 分析部，該分析部基于所述所計算出的代表值，來分析所述產(chǎn)品發(fā)生不合格的不合格原因；以及 顯示部，該顯示部對于作為不合格原因而通過所述不合格原因的分析所提取出的所述數(shù)據(jù)項目，來顯示成為計算與該數(shù)據(jù)項目相關(guān)的代表值的基礎(chǔ)的所述至少ー個數(shù)據(jù)， 所述顯示部使用利用統(tǒng)計方法的計算，來從成為所述不合格原因的分析對象的多個代表值之中，選擇所顯示的所述至少ー 個數(shù)據(jù)。
全文摘要
計算裝置16基于對每個產(chǎn)品累計產(chǎn)品的生產(chǎn)數(shù)據(jù)和檢查數(shù)據(jù)而得的代表值來對發(fā)生不合格的不合格原因進(jìn)行分析。顯示裝置17對從分析結(jié)果提取出的數(shù)據(jù)項目，使用利用統(tǒng)計方法的計算，來從成為分析對象的多個代表值之中，選擇成為代表值的基礎(chǔ)的生產(chǎn)數(shù)據(jù)和檢查數(shù)據(jù)，并加以顯示。
文檔編號G06Q10/00GK102667831SQ20108005332
公開日2012年9月12日 申請日期2010年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月25日
發(fā)明者清水　一壽 申請人:夏普株式會社