專利名稱：用于多點觸摸感測裝置的鬼點去除方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于多點觸控技術(shù)，且特別是有關(guān)于用于多點觸摸感測裝置的鬼點去除方法。
背景技術(shù)：
在此處鍵入技術(shù)領(lǐng)域描述段落。在多點觸摸感測裝置中，像是觸控面板，一般來說有兩種類型的感測方法用以感測一或多點觸摸。一種方式稱為投射式感測方法，另一種是矩陣式感測方法。在投射式感測方法中，裝置每次是感測感測陣列的一整條線。在矩陣式感測方法中，裝置每次感測觸摸感測陣列的一個節(jié)點(亦即一列與一行的交點)。如可知者，實行矩陣式感測方法比投射式感測方法明顯花費較多時間。以20X30 的感測陣列而言(亦即具有20行與30列的感測陣列)，總共有20+30=50條線，因此當利用投射式感測方法時，僅需要50次檢測。相對而言，有20X30=600個節(jié)點，故當利用矩陣式感測方法時，需要600次檢測。現(xiàn)今在速度與成本的考量下，投射式感測方法是廣泛使用于各種觸摸裝置。然而， 投射式感測方法的缺點在于所謂的“鬼點問題”，以下將加以說明。圖1為概略顯示一般的多點觸摸感測裝置1。該多點觸摸感測裝置1具有一感測陣列10。感測陣列10包括一群縱向傳導軌(亦即線a至線f)以及一群橫向傳導軌(亦即線1至線7)排列成X-Y座標系的列與行?；蛘撸鋈舾蓚鲗к壙梢耘帕谐蓸O座標系。感測元件(未圖示)是設(shè)置于所述若干傳導軌的各個交點。舉例而言，感測元件通常以電阻器或電容器實施。觸摸感測器電路2244施加驅(qū)動信號至所述若干軌以感測是否有觸摸。 各觸摸感測器電路22、M包括多個觸摸感測器(未在圖中顯示)。各觸摸感測器負責驅(qū)動與感測一或若干條軌。觸摸感測器電路22和24由控制器30控制。在本例中，假設(shè)兩個觸摸同時發(fā)生在B點與C點，其坐標分別為(e，2)、(c，6)。使用投射式感測方法。在X軸方向，發(fā)現(xiàn)在線C與線e處有兩個峰值。在Y軸方向，發(fā)現(xiàn)在線 2與線6處有兩個峰值。根據(jù)排列組合的原理，四個峰值可以組成四組座標(c，2)、(c，6)、 (e，2)、及(e，6)。換言之，除了實際觸摸點B和C之外，裝置1會誤判在A點(c，2)與D點 (e,6)也發(fā)生觸摸。未被觸摸卻被誤判被觸摸的A點與D點稱為“鬼點”。如果利用矩陣感測方法檢測感測陣列10的每個節(jié)點，可確定實際觸摸點B和C，而可排除鬼點問題。然而，如上所述，如此花費太多時間。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種用于多點觸摸感測裝置的鬼點去除方法，當在裝置發(fā)生若干觸摸時，能有效果且有效率地排除鬼點。根據(jù)本發(fā)明，多點觸摸感測裝置包括有感測陣列，感測陣列具有第一軸的若干條線與第二軸的若干條線相互交叉，鬼點去除方法包括施加第一驅(qū)動信號至第一軸的各所述若干條線；檢測第一軸的被驅(qū)動的線以確定該條線是否被觸摸；施加第二驅(qū)動信號至第二軸的各所述若干條線；檢測第二軸的被驅(qū)動的線以確定該條線是否被觸摸；依據(jù)第一軸的被觸摸的線以及第二軸的被觸摸的線確定若干候選觸摸點；施加第三驅(qū)動信號至各所述若干候選觸摸點的第一軸的線；以及檢測所述若干候選觸摸點的第二軸的線以確定所述若干候選觸摸點是否被觸摸。為讓本發(fā)明的上述內(nèi)容能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，并配合所附圖式，作詳細說明如下。


圖1為概略顯示一般的多點觸摸感測裝置。圖2為概略顯示一觸摸感測器實行投射式感測方法。圖3為概略顯示另一觸摸感測器實行投射式感測方法。圖4為概略顯示根據(jù)本發(fā)明利用矩陣式感測方法測試觸摸感測陣列的節(jié)點。圖5A至5D為解釋通過根據(jù)本發(fā)明一實施例的方法測試候選觸摸點。圖6A與6B為解釋通過根據(jù)本發(fā)明另一實施例的方法測試候選觸摸點；以及。圖7為顯示本發(fā)明的鬼點去除方法的流程圖。
具體實施例方式如所述，對于多點觸控裝置1而言，投射式感測方法可迅速完成檢測以確定觸摸點。然而，所確定的觸摸點可能包括了鬼點。而利用矩陣式感測方法檢測所有節(jié)點以找到實際觸摸點又花費太多時間。本發(fā)明提供一種鬼點去除方法可解決上述問題。在本發(fā)明的鬼點去除方法中，首先通過利用投射式感測方法確定候選觸摸點，而后通過利用矩陣式感測方法測試候選觸摸點以驗證實際觸摸點并排除鬼點。圖2為概略顯示一觸摸感測器220實行投射式感測方法的一個例子。如所述，觸摸感測器電路22和M各包括多個觸摸感測器以驅(qū)動并感測圖1的感測陣列10的各若干條線。觸摸感測器220具有一波形產(chǎn)生器221，其產(chǎn)生具有頻率Π的方波(或正弦波)。該方波是施加至一電壓驅(qū)動器223以驅(qū)動一交流(AC)電壓源224。該AC電壓源2M則根據(jù)該方波產(chǎn)生一驅(qū)動信號Vd。該驅(qū)動信號Vd具有振幅VI。該電壓源2M是經(jīng)由電阻分壓器 Rz連接至一線13 (例如圖1的感測陣列10的一條軌)。該電阻分壓器Rz的一端是與該電壓源2M連接，另一端與線13與一緩沖器226的一端(亦即輸入端)連接。感測信號Vs 是于該緩沖器226的另一端(亦即輸出端)檢測。該感測信號Vs是傳送至觸摸感測器220 的感測電路(未圖示)。該緩沖器2 是用以隔離兩端的阻抗，使感測電路不會受到外部阻抗影響。緩沖器2 具有輸入阻抗(impedance)高、輸出阻抗低的特性，使得觸摸感測器 220的感測電路(未圖示)透過緩沖器2 來量測線13的分壓值，這是因為該緩沖器2 的輸入阻抗夠高而不影響前級各感測線的分壓之外，也因為其輸出阻抗夠低而如同一個電壓源(voltage source)以驅(qū)動觸摸感測器220的感測電路。該緩沖器2 可利用運算放大器(Operational Amplifier)來實現(xiàn)。當線13未被觸摸時，線13為浮接，因此理想上此時感測信號Vs應(yīng)大致與驅(qū)動信號Vd的電壓值Vl相同。當線13被人類手指觸摸，線13是經(jīng)由人體接地，造成一電壓降， 使得感測信號Vs等于分壓Vp，其分壓Vp可以下列公式計算
權(quán)利要求
1.一種用于多點觸摸感測裝置的鬼點去除方法，所述多點觸摸感測裝置包括一感測陣列，所述感測陣列具有第一軸的若干條線以及第二軸的若干條線相互交叉，其特征在于所述方法包括施加第一驅(qū)動信號至第一軸的各所述若干條線；檢測第一軸的被驅(qū)動的線以確定該條線是否被觸摸；施加第二驅(qū)動信號至第二軸的各所述若干條線；檢測第二軸的被驅(qū)動的線以確定該條線是否被觸摸；依據(jù)第一軸的被觸摸的線以及第二軸的被觸摸的線確定若干候選觸摸點；施加第三驅(qū)動信號至各所述若干候選觸摸點的第一軸的線；以及檢測所述若干候選觸摸點的第二軸的線以確定所述若干候選觸摸點是否被觸摸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述若干候選觸摸點為第一軸的被觸摸的線以及第二軸的被觸摸的線的交點。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述第一軸與所述第二軸配置成一正交座標系。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述第一軸與所述第二軸配置成一極座標座標系。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于同時分別施加不同頻率的第三驅(qū)動信號至兩條以上的第一軸線，使得每一條第一軸線對應(yīng)不同頻率的第三驅(qū)動信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于同時檢測所述若干候選觸摸點所對應(yīng)的兩條以上的第二軸線。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于在施加所述第一驅(qū)動信號于第一軸的線后，如果所述條線有被觸摸，則從所述條線檢測到的感測信號具有比所述第一驅(qū)動信號小的振幅。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于在施加所述第二驅(qū)動信號于第二軸的線后，如果所述條線有被觸摸，則從所述條線檢測到的感測信號具有比所述第二驅(qū)動信號小的振幅。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于在施加所述第三驅(qū)動信號至所述候選觸摸點的第一軸的線后，如果所述候選觸摸點是實際被觸摸，則可從所述候選觸摸點的第二軸的線檢測得感測信號，然而，在施加所述第三驅(qū)動信號至所述候選觸摸點的第一軸的線后，如果所述候選觸摸點未被觸摸，則無感測信號從所述候選觸摸點的第二軸的線檢測得。
全文摘要
本發(fā)明公開一種用于多點觸摸感測裝置的鬼點去除方法。多點觸摸感測裝置是包括一感測陣列，其具有第一軸的若干條線與第二軸的若干條線相互交叉。掃描感測陣列的所有線以確定何者被觸摸，從而確定候選觸摸點。針對各候選觸摸點，將驅(qū)動信號施加于第一軸的線，并檢測第二軸的線以檢查此候選觸摸點是否被實際觸摸。當在裝置發(fā)生若干觸摸時，能有效果且有效率地排除鬼點。
文檔編號G06F3/041GK102214033SQ20111003909
公開日2011年10月12日 申請日期2011年2月16日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月12日
發(fā)明者吳鴻偉, 張志宇, 陳燦輝 申請人:矽統(tǒng)科技股份有限公司