專利名稱：觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置，特別是涉及一種觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
作為電子設(shè)備，如計(jì)算機(jī)、手機(jī)等，具備的新型輸入設(shè)備，觸控屏的應(yīng)用越來越廣。目前，觸控屏具有多種類型，如電阻式、電容式、光感式等等。觸控屏根據(jù)觸點(diǎn)位置來產(chǎn)生輸入信號(hào)，再對(duì)輸入信號(hào)作后續(xù)處理，最終由電子設(shè)備作出相應(yīng)的響應(yīng)，例如由顯示器顯示相應(yīng)的信息等。其中，對(duì)觸點(diǎn)的確認(rèn)十分重要。以投射電容式觸控屏為例，其主要由相互垂直且隔以絕緣片的兩向電極構(gòu)成。投射電容式觸控屏主要通過檢測(cè)兩向電極上的電信號(hào)，來確定觸點(diǎn)的坐標(biāo)。當(dāng)檢測(cè)靜態(tài)的觸點(diǎn)時(shí)，只需要確認(rèn)電極的信號(hào)即可完成定位。但當(dāng)檢測(cè)的觸點(diǎn) 為動(dòng)態(tài)觸點(diǎn)時(shí)，例如，當(dāng)一觸摸對(duì)象在觸控屏表面連續(xù)移動(dòng)時(shí)，在不同時(shí)間形成的觸點(diǎn)位置不同，即形成連續(xù)多個(gè)觸點(diǎn)，若在此種狀況下只檢測(cè)各單觸點(diǎn)的坐標(biāo)則無法確認(rèn)各觸點(diǎn)之間的聯(lián)系。舉例來說，在第一時(shí)間點(diǎn)檢測(cè)到觸點(diǎn)A，在第二時(shí)間點(diǎn)檢測(cè)到觸點(diǎn)B，依傳統(tǒng)靜態(tài)觸點(diǎn)的檢測(cè)方式，只能檢測(cè)到單一觸點(diǎn)A和B的坐標(biāo)信息，而不能確定A和B之間的關(guān)系，因此較難確定觸摸軌跡。倘若存在噪點(diǎn)，例如，在第二時(shí)間點(diǎn)檢測(cè)出噪點(diǎn)C的存在時(shí)，如何判定及剔除噪點(diǎn)C，將使觸摸軌跡的確定變得更加復(fù)雜。也就是說，動(dòng)態(tài)觸點(diǎn)的軌跡難以確定。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明提供一種觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置，采用由已知檢測(cè)觸點(diǎn)確定的軌跡函數(shù)來預(yù)測(cè)下一觸點(diǎn)的方式追蹤動(dòng)態(tài)觸點(diǎn)的軌跡，不僅可以確定在不同時(shí)間點(diǎn)中檢測(cè)觸點(diǎn)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系以獲得觸摸軌跡，更可以使軌跡更加平滑，有效濾除噪點(diǎn)。一種觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，包括步驟a，根據(jù)已獲取的連續(xù)檢測(cè)觸點(diǎn)的觸點(diǎn)信息確定軌跡函數(shù)；步驟b，以該軌跡函數(shù)計(jì)算出預(yù)測(cè)觸點(diǎn)；步驟C，判斷下一檢測(cè)觸點(diǎn)是否落在該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)的預(yù)設(shè)范圍內(nèi)；步驟d，若步驟c的判斷為是，則以該下一檢測(cè)觸點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)觸點(diǎn)作為輸出觸點(diǎn)。在一實(shí)施例中，該連續(xù)檢測(cè)觸點(diǎn)的數(shù)量為3個(gè)以上,該觸點(diǎn)信息包括坐標(biāo)及觸點(diǎn)時(shí)間。 在一實(shí)施例中，進(jìn)一步包括步驟e，若該步驟d的判斷為否，且連續(xù)k個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)不在各自所對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)觸點(diǎn)的預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，確認(rèn)該觸摸軌跡終止于該連續(xù)k個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)之第一觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)觸點(diǎn)，其中k大于等于3。在一實(shí)施例中，進(jìn)一步包括步驟f，在步驟e終止該觸摸軌跡后，判斷各連續(xù)m個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)是否位于前一檢測(cè)觸點(diǎn)之位置范圍內(nèi)，其中m大于等于3。在一實(shí)施例中，進(jìn)一步包括步驟g，若步驟f的判斷為否，則確認(rèn)該連續(xù)k個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)之第一觸點(diǎn)為噪點(diǎn)；以及步驟h，若步驟f的判斷為是，則確認(rèn)該連續(xù)k個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)之第一觸點(diǎn)開始出現(xiàn)連續(xù)m個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)構(gòu)成新觸摸軌跡。在一實(shí)施例中，在該步驟f中，該前一檢測(cè)觸點(diǎn)之位置范圍是以該前一檢測(cè)觸點(diǎn)·為圓心，佐以檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)值為預(yù)設(shè)半徑作圓周所生成。在一實(shí)施例中，在該步驟c中，該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)的預(yù)設(shè)范圍是以該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)為圓心，佐以檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)值為預(yù)設(shè)半徑作圓周所生成。在一實(shí)施例中，在該步驟c中，該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)的預(yù)設(shè)范圍是以該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)為圓心，佐以該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)與前一檢測(cè)觸點(diǎn)之間距離的一半為半徑作圓周所生成。 一種觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，包括步驟a，檢測(cè)出連續(xù)η個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)的坐標(biāo)及觸點(diǎn)時(shí)間，Pl (xl, yl, tl),P2(x2, y2,t2)......Pn (xn, yn, tn), n 大于等于 3 ；步驟b,根據(jù)檢測(cè)觸點(diǎn) Pl-Pn 的參數(shù)(xl, yl, tl)、(x2, y2, t2)......(xn, yn, tn)
確定軌跡函數(shù)F (x, y, t)；步驟c，以該軌跡函數(shù)F(x，y, t)計(jì)算出預(yù)測(cè)觸點(diǎn)Ρη+Γ ；步驟d，判斷第n+1檢測(cè)觸點(diǎn)Pn+1是否落在該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)Ρη+Γ的預(yù)設(shè)范圍；步驟e，若該步驟d的判斷為是，將該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)Ρη+Γ作為輸出觸點(diǎn)。在一實(shí)施例中，該步驟e進(jìn)一步包括將η自加一位后進(jìn)入步驟C。在一實(shí)施例中，進(jìn)一步包括步驟f，若該步驟d的判斷為否，則依照該步驟c至該步驟d方法依次對(duì)第n+2檢測(cè)觸點(diǎn)至第n+k檢測(cè)觸點(diǎn)進(jìn)行判斷，其中k大于等于3。在一實(shí)施例中，進(jìn)一步包括步驟g，若該步驟f的判斷為否，確認(rèn)原軌跡終結(jié)于第n+1預(yù)測(cè)觸點(diǎn)。在一實(shí)施例中，進(jìn)一步包括步驟h，在步驟g終止該觸摸軌跡后，判斷各連續(xù)m個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)是否位于前一檢測(cè)觸點(diǎn)之位置范圍內(nèi)，m大于等于3。在一實(shí)施例中，進(jìn)一步包括步驟i，若步驟h的判斷為否，則確認(rèn)該連續(xù)k個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)之第一觸點(diǎn)為噪點(diǎn)；以及步驟j，若步驟h的判斷為是，則確認(rèn)該連續(xù)k個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)之第一觸點(diǎn)開始出現(xiàn)連續(xù)m個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)構(gòu)成新觸摸軌跡。在一實(shí)施例中，在該步驟h中，該前一檢測(cè)觸點(diǎn)之位置范圍是以該前一檢測(cè)觸點(diǎn)為圓心，佐以檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)值為預(yù)設(shè)半徑作圓周所生成。
一種觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)裝置，包括獲取單元，用于檢測(cè)連續(xù)檢測(cè)觸點(diǎn)的觸點(diǎn)信息；控制單元,與所述獲取單元相連,根據(jù)該連續(xù)檢測(cè)觸點(diǎn)的坐標(biāo)及該檢測(cè)觸點(diǎn)時(shí)間確定軌跡函數(shù)，以軌跡函數(shù)計(jì)算預(yù)測(cè)觸點(diǎn)并在下一檢測(cè)觸點(diǎn)落在該預(yù) 測(cè)觸點(diǎn)的預(yù)設(shè)范圍內(nèi)的情況下，輸出該下一檢測(cè)觸點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)觸點(diǎn)。在一實(shí)施例中，該觸點(diǎn)信息包括坐標(biāo)及觸點(diǎn)時(shí)間在一實(shí)施例中，該獲取單元進(jìn)一步包括用于檢測(cè)連續(xù)檢測(cè)觸點(diǎn)坐標(biāo)的檢測(cè)單元及用于監(jiān)測(cè)檢測(cè)觸點(diǎn)時(shí)間的計(jì)時(shí)單元。在一實(shí)施例中，進(jìn)一步包括存儲(chǔ)單元用于存儲(chǔ)檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)值，該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)的預(yù)設(shè)范圍為以該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)為圓心，以該檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)值為半徑作圓周的范圍。


下面結(jié)合具體實(shí)施方式
及附圖，對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。圖I為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控屏觸摸軌跡確認(rèn)示意圖；圖2為圖I觸控屏觸摸軌跡之下一預(yù)測(cè)觸點(diǎn)與觸點(diǎn)的示意圖；圖3為圖I觸控屏觸摸軌跡終止示意圖；圖4為圖I觸控屏觸摸軌跡新軌跡確認(rèn)示意圖；圖5為圖I觸控屏觸摸軌跡噪點(diǎn)確認(rèn)示意圖；圖6為本發(fā)明的觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法流程圖；圖7為本發(fā)明技術(shù)方案的觸控屏觸摸軌跡示意圖；圖8為本發(fā)明的觸控屏新觸摸軌跡判斷方法示意圖；圖9為本發(fā)明的觸摸屏觸摸軌跡檢測(cè)裝置示意圖。
具體實(shí)施例方式如圖I所示,觸控對(duì)象,例如手指或觸筆,在觸控屏表面100移動(dòng),在連續(xù)5次觸點(diǎn)時(shí)間內(nèi)，產(chǎn)生相互連續(xù)的5個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)PU P2、P3、P4、P5。各檢測(cè)觸點(diǎn)均具有各自相應(yīng)的坐標(biāo)(X，y)及相應(yīng)的觸點(diǎn)時(shí)間t。因此,各檢測(cè)觸點(diǎn)具有以下相應(yīng)參數(shù)(xl, yl, tl)、(χ2,y2, t2)、(x3, y3, t3)、(x4, y4, t4)、(x5, y5, t5)。此外，由于各檢測(cè)觸點(diǎn)由手指或觸筆運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生，故在每個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)處都具有相應(yīng)的速度和加速度，其均可依上述坐標(biāo)及時(shí)間參數(shù)計(jì)算得出。因此，根據(jù)坐標(biāo)及時(shí)間參數(shù)可定義出相應(yīng)的軌跡函數(shù)F (x，y，t)。其中，列舉一例對(duì)軌跡函數(shù)F(x，y, t)予以說明。
權(quán)利要求
1.一種觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，包括 步驟a，根據(jù)已獲取的檢測(cè)觸點(diǎn)的觸點(diǎn)信息確定軌跡函數(shù)； 步驟b，根據(jù)已獲取的檢測(cè)觸點(diǎn)的觸點(diǎn)信息確定軌跡函數(shù)； 步驟C，判斷下一檢測(cè)觸點(diǎn)是否落在該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)的預(yù)設(shè)范圍內(nèi)；以及 步驟d，若步驟c的判斷為是，則以該下一檢測(cè)觸點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)觸點(diǎn)作為輸出觸點(diǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，其中，該檢測(cè)觸點(diǎn)的數(shù)量為3個(gè)以上，該觸點(diǎn)信息包括坐標(biāo)及觸點(diǎn)時(shí)間。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，進(jìn)一步包括； 步驟e，若該步驟c的判斷為否，且連續(xù)k個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)不在各自所對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)觸點(diǎn)的預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，確認(rèn)該觸摸軌跡終止于該k個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)之第一檢測(cè)觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)觸點(diǎn)，其中k大于等于3。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，進(jìn)一步包括 步驟f，在步驟e終止該觸摸軌跡后，判斷各連續(xù)m個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)是否位于前一檢測(cè)觸點(diǎn)之位置范圍內(nèi)，其中m大于等于3。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，進(jìn)一步包括 步驟g，若步驟f的判斷為否，則確認(rèn)該連續(xù)k個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)之第一觸點(diǎn)為噪點(diǎn)；以及步驟h，若步驟f的判斷為是，則確認(rèn)該連續(xù)k個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)之第一觸點(diǎn)開始出現(xiàn)連續(xù)m個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)構(gòu)成新觸摸軌跡。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，其中，在該步驟f中，該前一檢測(cè)觸點(diǎn)之位置范圍是以該前一檢測(cè)觸點(diǎn)為圓心，佐以檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)值為預(yù)設(shè)半徑作圓周所生成。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，其中，在該步驟c中，該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)的預(yù)設(shè)范圍是以該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)為圓心，佐以檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)值為預(yù)設(shè)半徑作圓周所生成。
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，其中，在該步驟c中，該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)的預(yù)設(shè)范圍是以該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)為圓心，佐以該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)與前一檢測(cè)觸點(diǎn)之間距離的一半為半徑作圓周所生成。
9.一種觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，包括 步驟a，檢測(cè)出η個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)Pl-Pn的坐標(biāo)及觸點(diǎn)時(shí)間，Pl (xl，yl，tl)、P2(x2，y2，t2)......Pn (xn, yn, tn), n 大于等于 3 ； 步驟b,根據(jù)檢測(cè)觸點(diǎn)Pl-Pn的參數(shù)(xl, yl, tl)、(x2, y2, t2)......(xn, yn, tn)確定軌跡函數(shù)F (x, y, t)； 步驟c,以該軌跡函數(shù)F(X, y, t)計(jì)算出預(yù)測(cè)觸點(diǎn)Ρη+Γ ； 步驟d，判斷第n+1檢測(cè)觸點(diǎn)Pn+1是否落在該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)Ρη+Γ的預(yù)設(shè)范圍；以及 步驟e，若該步驟d的判斷為是，將該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)Ρη+Γ作為輸出觸點(diǎn)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，其中該步驟e進(jìn)一步包括將η自加一位后進(jìn)入步驟C。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，進(jìn)一步包括 步驟f，若該步驟d的判斷為否，則依照該步驟c至該步驟d方法依次對(duì)第n+2檢測(cè)觸點(diǎn)至第n+k檢測(cè)觸點(diǎn)進(jìn)行判斷，其中k大于等于3。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，進(jìn)一步包括步驟g，若該步驟f的判斷為否，確認(rèn)該軌跡終結(jié)于預(yù)測(cè)觸點(diǎn)Ρη+Γ。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，進(jìn)一步包括 步驟h，在步驟g終止該觸摸軌跡后，判斷各連續(xù)m個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)是否位于前一檢測(cè)觸點(diǎn)之位置范圍內(nèi)，m大于等于3。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，進(jìn)一步包括 步驟i，若步驟h的判斷為否，則確認(rèn)該連續(xù)k個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)之第一觸點(diǎn)為噪點(diǎn)；以及 步驟j，若步驟h的判斷為是，則確認(rèn)該連續(xù)k個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)之第一觸點(diǎn)開始出現(xiàn)連續(xù)m個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)構(gòu)成新觸摸軌跡。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法，其中，在該步驟h中，該前一檢測(cè)觸點(diǎn)之位置范圍是以該前一檢測(cè)觸點(diǎn)為圓心，佐以檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)值為預(yù)設(shè)半徑作圓周所生成。
16.一種觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)裝置，包括 獲取單元，用于檢測(cè)連續(xù)檢測(cè)觸點(diǎn)的觸點(diǎn)信息； 控制單元,與所述獲取單元相連，根據(jù)該連續(xù)檢測(cè)觸點(diǎn)的坐標(biāo)及該檢測(cè)觸點(diǎn)時(shí)間確定軌跡函數(shù)，以軌跡函數(shù)計(jì)算預(yù)測(cè)觸點(diǎn)并在下一檢測(cè)觸點(diǎn)落在該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)的預(yù)設(shè)范圍內(nèi)的情況下，輸出該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)裝置，其中該觸點(diǎn)信息包括坐標(biāo)及觸點(diǎn)時(shí)間。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)裝置，其中該獲取單元進(jìn)一步包括用于檢測(cè)連續(xù)檢測(cè)觸點(diǎn)坐標(biāo)的檢測(cè)單元及用于監(jiān)測(cè)檢測(cè)觸點(diǎn)時(shí)間的計(jì)時(shí)單元。
19.根據(jù)權(quán)利要求16所述之觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)裝置，進(jìn)一步包括存儲(chǔ)單元用于存儲(chǔ)檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)值，該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)的預(yù)設(shè)范圍為以該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)為圓心，以該檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)值為半徑作圓周的范圍。
全文摘要
本發(fā)明提供一種觸控屏觸摸軌跡檢測(cè)方法及觸摸軌跡檢測(cè)裝置。該檢測(cè)方法包括步驟a，檢測(cè)出連續(xù)n個(gè)檢測(cè)觸點(diǎn)的坐標(biāo)及觸點(diǎn)時(shí)間，P1(x1，y1，t1)、P2(x2，y2，t2)......Pn(xn，yn，tn)，n大于等于3；步驟b，根據(jù)檢測(cè)觸點(diǎn)P1-Pn的參數(shù)(x1，y1，t1)、(x2，y2，t2)......(xn，yn，tn)確定軌跡函數(shù)F(x，y，t)；步驟c，以該軌跡函數(shù)F(x，y，t)計(jì)算出預(yù)測(cè)觸點(diǎn)Pn+1’；步驟d，判斷第n+1檢測(cè)觸點(diǎn)Pn+1是否落在該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)Pn+1’的預(yù)設(shè)范圍；及步驟e，若該步驟d的判斷為是，將該預(yù)測(cè)觸點(diǎn)Pn+1’作為輸出觸點(diǎn)。上述觸摸軌跡檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置采用由已知檢測(cè)觸點(diǎn)確定的軌跡函數(shù)來預(yù)測(cè)下一觸點(diǎn)，可以追蹤動(dòng)態(tài)觸點(diǎn)的軌跡。
文檔編號(hào)G06F3/041GK102890576SQ201110212538
公開日2013年1月23日 申請(qǐng)日期2011年7月22日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月22日
發(fā)明者王萬秋 申請(qǐng)人:宸鴻科技(廈門)有限公司