專利名稱：一種磁盤數(shù)據(jù)庫性能測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種計算機數(shù)據(jù)庫技術(shù)，具體地說是一種磁盤數(shù)據(jù)庫性能測試方法。
背景技術(shù)：
用戶反饋機器配置磁盤性能差，不能滿足數(shù)據(jù)庫實際運行的需要，一般遇到這種情況，我們需要重新對用戶硬盤性能和數(shù)據(jù)庫性能進行相應(yīng)測試，沒有提前的磁盤對數(shù)據(jù)庫支持情況的相關(guān)報告和標準。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種磁盤數(shù)據(jù)庫性能測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明的目的是按以下方式實現(xiàn)的，模擬用戶數(shù)據(jù)庫應(yīng)用，使用iometer工具和數(shù)據(jù)庫連續(xù)寫入、隨機寫入、連續(xù)讀取、隨機讀取的腳本，測試磁盤在不用數(shù)據(jù)塊執(zhí)行時的磁盤性能和數(shù)據(jù)庫腳本執(zhí)行時間，從而基本掌握磁盤對數(shù)據(jù)庫的支持能力，既方便用戶依此數(shù)據(jù)進行相應(yīng)的數(shù)據(jù)庫調(diào)用，又方便客戶依據(jù)實際需求換用不同的磁盤系統(tǒng)的磁盤數(shù)據(jù)庫性能測試方法；包括如下內(nèi)容 1)測試步驟
1)分別以4k/8k/16k/32k/64k/128k數(shù)據(jù)塊為基準，對磁盤系統(tǒng)使用iometer工具測試相應(yīng)數(shù)據(jù)塊連續(xù)寫入、隨機寫入、連續(xù)讀取、隨機讀取值；
2)安裝windows系統(tǒng)和sqlserver數(shù)據(jù)庫，并在測試磁盤上建立空表，以以上相應(yīng)數(shù)據(jù)塊大小執(zhí)行連續(xù)寫入、隨機寫入、連續(xù)讀取、隨機讀取腳本進行1000條記錄的操作，記錄執(zhí)行時間，以執(zhí)行時間的長短判斷相應(yīng)數(shù)據(jù)塊和相應(yīng)庫操作的支持能力；
測試的效果
通過此測試方法，確定出被測試機器的磁盤性能及其和數(shù)據(jù)庫實際測試的相關(guān)性，如數(shù)據(jù)庫寫入時間長，同時測試發(fā)現(xiàn)相同數(shù)據(jù)塊寫入磁盤性能確實也低，即可確認磁盤性能不適合進行用戶此類數(shù)據(jù)庫應(yīng)用的需求，需要更換新的磁盤控制器或?qū)?shù)據(jù)庫進行調(diào)用， 選用更合適的數(shù)據(jù)塊大小。
具體實施例方式本發(fā)明的磁盤數(shù)據(jù)庫性能測試方法，是模擬用戶數(shù)據(jù)庫應(yīng)用，使用iometer工具和數(shù)據(jù)庫連續(xù)寫入、隨機寫入、連續(xù)讀取、隨機讀取的腳本，測試磁盤在不用數(shù)據(jù)塊執(zhí)行時的磁盤性能和數(shù)據(jù)庫腳本執(zhí)行時間，從而基本掌握磁盤對數(shù)據(jù)庫的支持能力，既方便用戶依此數(shù)據(jù)進行相應(yīng)的數(shù)據(jù)庫調(diào)用，又方便客戶依據(jù)實際需求換用不同的磁盤系統(tǒng)的磁盤數(shù)據(jù)庫性能測試方法；包括如下內(nèi)容
1)測試步驟1)分別以4k/8k/16k/32k/64k/128k數(shù)據(jù)塊為基準，對磁盤系統(tǒng)使用iometer工具測試相應(yīng)數(shù)據(jù)塊連續(xù)寫入、隨機寫入、連續(xù)讀取、隨機讀取值；
2)安裝windows系統(tǒng)和sqlserver數(shù)據(jù)庫，并在測試磁盤上建立空表，以以上相應(yīng)數(shù)據(jù)塊大小執(zhí)行連續(xù)寫入、隨機寫入、連續(xù)讀取、隨機讀取腳本進行1000條記錄的操作，記錄執(zhí)行時間，以執(zhí)行時間的長短判斷相應(yīng)數(shù)據(jù)塊和相應(yīng)庫操作的支持能力；
2)測試的環(huán)境
操作系統(tǒng)windows 2003 數(shù)據(jù)庫:sqlserver 2005 硬件被測試的服務(wù)器硬件配置
電腦的工作時最適合的環(huán)境溫度是10 35攝氏度，最適合的濕度為35% 80%，電腦應(yīng)放在通風(fēng)、干燥的地方；
3)測試數(shù)據(jù)及界定標準 (1)測試數(shù)據(jù)標準
Iometer測試值標準一連續(xù)寫入測試值
權(quán)利要求
1. 一種磁盤數(shù)據(jù)庫性能測試方法，其特征在于模擬用戶數(shù)據(jù)庫應(yīng)用，使用iometer工具和數(shù)據(jù)庫連續(xù)寫入、隨機寫入、連續(xù)讀取、隨機讀取的腳本，測試磁盤在不用數(shù)據(jù)塊執(zhí)行時的磁盤性能和數(shù)據(jù)庫腳本執(zhí)行時間，從而基本掌握磁盤對數(shù)據(jù)庫的支持能力，既方便用戶依此數(shù)據(jù)進行相應(yīng)的數(shù)據(jù)庫調(diào)用，又方便客戶依據(jù)實際需求換用不同的磁盤系統(tǒng)的磁盤數(shù)據(jù)庫性能測試方法；測試步驟如下1)分別以4k/8k/16k/32k/64k/12^數(shù)據(jù)塊為基準，對磁盤系統(tǒng)使用iometer工具測試相應(yīng)數(shù)據(jù)塊連續(xù)寫入、隨機寫入、連續(xù)讀取、隨機讀取值；2)安裝windows系統(tǒng)和sqlserver數(shù)據(jù)庫，并在測試磁盤上建立空表，以以上相應(yīng)數(shù)據(jù)塊大小執(zhí)行連續(xù)寫入、隨機寫入、連續(xù)讀取、隨機讀取腳本進行1000條記錄的操作，記錄執(zhí)行時間，以執(zhí)行時間的長短判斷相應(yīng)數(shù)據(jù)塊和相應(yīng)庫操作的支持能力。
全文摘要
本發(fā)明提供一種磁盤數(shù)據(jù)庫性能測試方法，該方法是模擬用戶數(shù)據(jù)庫應(yīng)用，使用iometer工具和數(shù)據(jù)庫連續(xù)寫入、隨機寫入、連續(xù)讀取、隨機讀取等腳本，測試磁盤在不用數(shù)據(jù)塊執(zhí)行時的磁盤性能和數(shù)據(jù)庫腳本執(zhí)行時間，從而基本掌握磁盤對數(shù)據(jù)庫的支持能力，既可以方便用戶依此數(shù)據(jù)進行相應(yīng)的數(shù)據(jù)庫調(diào)用，又方便客戶依據(jù)實際需求換用不同的磁盤系統(tǒng)的磁盤數(shù)據(jù)庫性能測試方法。通過此測試方法，確定出被測試機器的磁盤性能及其和數(shù)據(jù)庫實際測試的相關(guān)性，如數(shù)據(jù)庫寫入時間長，同時測試發(fā)現(xiàn)相同數(shù)據(jù)塊寫入磁盤性能確實也低，即可確認磁盤性能不適合進行用戶此類數(shù)據(jù)庫應(yīng)用的需求，需要更換新的磁盤控制器或?qū)?shù)據(jù)庫進行調(diào)用，選用更合適的數(shù)據(jù)塊大小。
文檔編號G06F17/30GK102306193SQ20111025978
公開日2012年1月4日 申請日期2011年9月5日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月5日
發(fā)明者任華進, 陳彬 申請人:浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司