專利名稱：一種光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及觸控顯示領(lǐng)域，尤其是一種光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法。
背景技術(shù)：
隨著觸控技術(shù)日趨成熟，擁有大尺寸顯示面板與多點觸控技術(shù)的觸控裝置已逐漸成為市場的主流，并廣泛應(yīng)用于各式電子產(chǎn)品中，例如自動柜員機、手持式電子裝置以及顯示器。一般說來，觸控屏幕技術(shù)可分為電阻式、電容式以及光學(xué)式三種。其中電阻式和電容式觸控屏幕技術(shù)利用物體接觸感測裝置時，造成觸控屏幕表面的電場變化而定位對象。光學(xué)式觸控屏幕技術(shù)則利用對象在觸控屏幕表面上移動時，造成光路徑阻斷或是光影變化而定位對象。相對其它方式，光學(xué)式觸控屏幕技術(shù)具有較低成本與實施方法相對簡單等優(yōu)點。請參見圖1，圖1是一種現(xiàn)有的光學(xué)式觸控屏。如圖所示，該光學(xué)式觸控屏1包括至少2個光學(xué)感測模組11、多個光源模組12以及由多個光源模組12圍成的觸控區(qū)13。其中每個光學(xué)感測模組11是一組由多個光學(xué)傳感器組成的陣列，一個光學(xué)傳感器就稱為該陣列的一個像素(Pixel)。每個光源模組12由LED點光源121和導(dǎo)光器件122組成。當(dāng)指針(比如觸控筆、手指等)接觸觸控區(qū)13時，至少一個光源模組12發(fā)出的光被指針遮擋， 從而使光學(xué)感測模組11上的部分光學(xué)傳感器檢測到的光線強度降低，后臺控制模組(圖中未示出)根據(jù)這些光學(xué)傳感器的像素位置計算得到指針在觸控區(qū)13的坐標(biāo)，從而依據(jù)觸控點發(fā)出觸控指令。在這種光學(xué)式觸控屏中，兩個相鄰的光源模組之間會有間隙123(Gap)存在，而這些間隙123在光學(xué)感測模組11所相對應(yīng)像素(Pixel)的位置，即稱為各光源模組間的邊界 (Boundary)。其中，邊界有可能隨著環(huán)境(如溫度)或者組裝時，與初始的設(shè)定值有些許的變動，這些變動有可能會影響觸控面板在使用上的質(zhì)量，理由如下在沒有接觸物的情況下，要求光學(xué)感測模組11上每個光學(xué)感測器的感光強度應(yīng)保持一致，這樣才能正確的依據(jù)光強的變化感測出物體的坐標(biāo)。因此在開機階段需要對光學(xué)感測模組11做一個一致化(uniformity)的動作，具體的一致化包括兩個主要步驟第一，對LED點光源的發(fā)光功率(duty)做調(diào)試(stageof turning LED duty)；第二，利用軟件計算修正光學(xué)感測模組上的感光曲線，使各個光學(xué)感測器上的感光量一致化(shading stage)。所述第一步驟的duty調(diào)試過程為先后開啟相鄰的兩個光源模組，分別記錄下該兩個光源模組的發(fā)光曲線，如圖2A所示；利用出廠時預(yù)設(shè)的初始邊界值，比對兩個光源模組在該邊界值上的光強大小，如果兩者不同時，調(diào)節(jié)其中光強較弱的一個光源模組的LED 點光源發(fā)光功率，直至兩者相同。然而，當(dāng)間隙123發(fā)生變動后，初始邊界值便與實際的邊界值發(fā)生偏離，如圖2B所示。此時若再依據(jù)該初始邊界值做LED發(fā)光功率的調(diào)整，會使LED 工作在一個非正常的功率下，不僅影響LED的使用壽命，也對后續(xù)的一致化計算帶來誤差。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法，該調(diào)試方法在對光學(xué)感測模組做一致化處理時，可以避免因邊界的改變而導(dǎo)致的光源發(fā)光功率誤調(diào)的后果，使得光源能始終工作在正常的功率之下，延長了使用壽命。根據(jù)本發(fā)明的目的提出的一種光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法，包括步驟1)動態(tài)校對相鄰兩個光源模組的最佳邊界；2)以所述最佳邊界為判斷位置，對所述相鄰兩個光源模組的發(fā)光功率進行調(diào)試， 使該相鄰兩個光源模組在該最佳邊界處的發(fā)光強度相同；3)記錄步驟2、之后該相鄰兩個光源模組的發(fā)光曲線，對該發(fā)光曲線做一致化處理，使光學(xué)感測模組的感光強度均勻化，所述步驟1)中的校對過程包括如下步驟1. 1)以相同校對發(fā)光功率先后開啟所述相鄰兩個光源模組；1. 2)搜尋該兩個光源模組發(fā)光曲線的交接點；1. 3)記錄該交接點在光學(xué)感測模組上的感測位置，該感測位置即為最佳邊界?？蛇x的，在步驟1. 1)中，所述校對發(fā)光功率使兩個光源模組發(fā)出的光強小于光學(xué)感測模組感光強度的飽和值。可選的，在步驟1. 2)中，所述交接點為其中一個光源模組發(fā)光曲線對應(yīng)的感光強度由大于轉(zhuǎn)變成小于另一個光源模組發(fā)光曲線對應(yīng)的感光強度的臨界點?？蛇x的，所述步驟2~)包括步驟2. 1)先后開啟相鄰的兩個光源模組，分別記錄下該兩個光源模組的發(fā)光曲線；2. 2)利用所述最佳邊界，比對所述相鄰兩個光源模組在該最佳邊界值上的光強大小；2.3)當(dāng)所述步驟2. 2)中的比對結(jié)果為不同時，調(diào)節(jié)其中光強較弱的一個光源模組發(fā)光功率，使兩者在該最佳邊界值上的光強相同。可選的，所述每個光源模組包括LED點光源和導(dǎo)光器件。與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明的光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法具有如下改進一、通過在對光源的duty值做調(diào)試之前，增加了檢測最佳邊界的動作，從而避免了光源模組之間的gap因環(huán)境或組裝時產(chǎn)生的改變而使得某一側(cè)的光源duty過高。二、在改進一的基礎(chǔ)上，避免了因某一側(cè)的光源duty過高導(dǎo)致的一致性變差。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是一種現(xiàn)有的光學(xué)式觸控屏結(jié)構(gòu)示意圖；圖2A是兩條正常的發(fā)光曲線坐標(biāo)示意圖；圖2B是邊界值與初始值不一致時兩條發(fā)光曲線的坐標(biāo)示意圖；圖3是本發(fā)明的光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法流程圖；圖4是有一側(cè)出現(xiàn)偏差時的發(fā)光曲線坐標(biāo)示意圖；圖5是將兩條發(fā)光曲線合并后的坐標(biāo)示意圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施方式
做詳細說明。請先參見圖1。當(dāng)該觸控屏1開機后，后臺的控制模塊(圖中未示出)會首先控制光學(xué)感測模組11對觸控區(qū)13進行檢測，看是否有指針接觸觸控區(qū)13，如果檢測到有指針接觸觸控區(qū)13，則表示此時有人員正在使用觸控屏1進行觸控操作，控制模塊優(yōu)先執(zhí)行該觸控指令。如果沒有檢測到指針，則開始進入調(diào)試階段。這樣，可以避免在調(diào)試的時候，突然接受到觸控指令，導(dǎo)致調(diào)試程序出錯的可能。調(diào)試階段分為兩個階段，一個階段為普通的調(diào)試，所謂普通的調(diào)試，是指僅對光學(xué)感測模組感測到的光源模組發(fā)光曲線，利用軟件計算做一致化處理(shading stage)。在這個階段中，不考慮光源模組的邊界值和工作周期(duty)值。通常該階段發(fā)生在開機后的最初1分鐘內(nèi)，因為在這個時間段里，LED點光源的電流信號還不穩(wěn)定，使得LED出現(xiàn)發(fā)光不均和閃爍的問題，因此在開機之后的1分鐘內(nèi)，不做光源模組的邊界和duty調(diào)試。另一個階段為本發(fā)明所述的調(diào)試，如圖3所示。在該階段中，調(diào)試方法包括如下幾個步驟Sll 動態(tài)校對相鄰兩個光源模組的最佳邊界。由于相鄰的兩個光源模組之間的間隙，會由于環(huán)境變換，比如震動引起的移位、溫度變化引起的熱脹冷縮，或者由于在組裝時產(chǎn)生的機械誤差等因素，導(dǎo)致間隙縮放或移動，從而使得該相鄰的兩個光源模組的邊界值與初始設(shè)定的邊界值不一致。這一變化引起的結(jié)果就是在做LED的duty值調(diào)試時，使其中一側(cè)的LED duty值過高而影響使用壽命。因此本發(fā)明在觸控屏每次啟動之后，執(zhí)行一個動態(tài)的校對相鄰兩光源模組之間的邊界值，使得光學(xué)感測模組能夠獲取正確該相鄰兩光源模組之間的最佳邊界值。具體的校對過程如下1.1)以相同校對發(fā)光功率先后開啟所述相鄰兩個光源模組。在該過程中，后臺控制模塊會給兩個光源模組的LED點光源一個相同的用以校對最佳邊界的發(fā)光功率，該發(fā)光功率即為校對功率。所述校對發(fā)光功率使得兩個光源模組在相同的時間內(nèi)發(fā)出的光強一致，即duty值一致。如此一來，光學(xué)感測模組會先后感測到兩個光源模組的所發(fā)出的光線， 并在后臺控制模塊中生成兩條發(fā)光曲線，如圖2A所示。其中橫坐標(biāo)X表示光學(xué)感測模組上各個pixel的排列位置，縱坐標(biāo)Y表示該對應(yīng)pixel上感測到的光強。需要注意的是，對于組成光學(xué)感測模組陣列的各個光學(xué)感測器來說，其感光能力都有一個飽和值，當(dāng)光線過強時，在光學(xué)感測器上的感測光強就只能維持到飽和值上，因此校對發(fā)光功率應(yīng)該使兩個光源模組發(fā)出的光強小于光學(xué)感測模組感光強度的飽和值，這樣可以防止光強過強的情況下引起的邊界錯誤。1. 2)搜尋該兩個光源模組發(fā)光曲線的交接點。后臺控制模塊對兩個發(fā)光曲線進行計算，先排除每條曲線不相交的外側(cè)端值，然后在兩條曲線具有公共部分的那一端上，分別對兩條曲線的Y坐標(biāo)進行比較，其中一條曲線的變化趨勢為由大變小，另一條曲線的變化趨勢為由小到大，找到其中第一條曲線有大到小的過程中，其Y坐標(biāo)值從大于另一條曲線轉(zhuǎn)變到小于另一條曲線的點，該點就是兩條發(fā)光曲線的交接點。1.3)記錄該交接點在光學(xué)感測模組上的感測位置，該感測位置即為最佳邊界。搜尋到交接點之后，找到對應(yīng)的X坐標(biāo)值，即光學(xué)感測模組上的感測到該交接點的pixel位置。記錄下該感測位置，并以該感測位置為該兩個相鄰的光源模組之間的最佳邊界。
S12 以所述最佳邊界為判斷位置，對所述相鄰兩個光源模組的發(fā)光功率進行調(diào)試，使該相鄰兩個光源模組在該最佳邊界處的發(fā)光強度相同。在完成上述最佳邊界的調(diào)整后，后臺控制模塊開始對兩個光源模組的LED點光源進行duty值的調(diào)試，調(diào)試的主要目的是為了尋找到最適合LED工作的duty值，這樣可以有利于延長LED的使用壽命，同時便于后續(xù)做光學(xué)感測模組一致化處理。具體的調(diào)試過程如下2. 1)先后開啟所述相鄰的兩個光源模組，分別記錄下該兩個光源模組的發(fā)光曲線.
一入 ，2. 2)利用所述最佳邊界，比對所述相鄰兩個光源模組在該最佳邊界值上的光強大小。比對結(jié)果分為兩種，一種是兩個光源模組在該最佳邊界處的發(fā)光強度相同，說明此時兩個LED點光源正好處于相同的工作duty值上，則不需要再做調(diào)整。另一種是兩個光源模組在該最佳邊境處的發(fā)光強度不同，則說明有一側(cè)的LED點光源duty值偏弱，此時需要對該側(cè)的LED點光源做調(diào)試。2.3)當(dāng)所述步驟2. 2)中的比對結(jié)果為不同時，調(diào)節(jié)其中光強較弱的一個光源模組發(fā)光功率，使兩者在該最佳邊界值上的光強相同。請參照圖4，圖4表示兩條發(fā)光曲線在最佳邊界處的光強不一致時的示意圖。此時需要調(diào)高右側(cè)發(fā)光曲線所對應(yīng)的LED點光源 duty值，直至兩條發(fā)光曲線在最佳邊界上的光強一致。S13 記錄步驟S12之后該相鄰兩個光源模組的發(fā)光曲線，對該發(fā)光曲線做一致化處理，使光學(xué)感測模組的感光強度均勻化。當(dāng)LED點光源的duty值調(diào)試完成后，記錄下此時該兩光源模組的發(fā)光曲線，并通過后臺控制模塊，先將兩條發(fā)光曲線合并成如圖5所示的曲線，然后在計算這條曲線上各個pixel位置上對應(yīng)的光強值，并對每個點上值做修正處理，使整條曲線一致化。值得一提的是，如前文中提到的，在開機的最初1分鐘之內(nèi)，觸控屏1也會對光學(xué)感測模組執(zhí)行該一致化處理，只不過在該階段，并不執(zhí)行最佳邊界和duty 值的調(diào)試。最后，結(jié)束整個調(diào)試過程，由后臺控制模塊記錄下各個LED點光源的最佳工作 duty,并在后續(xù)使用中，始終以該duty值驅(qū)動LED點光源進行觸控用發(fā)光?？蛇x的，在每次重新啟動觸控屏之后，后臺控制模塊在正式開始調(diào)試程序之前，還會讀取觸控屏的調(diào)試記錄，如果檢測到已經(jīng)在此次開機之后執(zhí)行過對最佳邊界的調(diào)試，則將在以后的啟動時間內(nèi)不作第二次最佳邊界調(diào)試，直至關(guān)機和重新啟動為止，這樣可以避免觸控屏在一次使用中，出現(xiàn)多次最佳邊界調(diào)試動作，影響觸控屏的整體性能。綜上所述，本發(fā)明提出的光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法中，由于增加了對相鄰的光源模組之間的最佳邊界的調(diào)試，從而避免了光源模組之間的間隙因環(huán)境或組裝時產(chǎn)生的改變而使得某一側(cè)的光源duty過高。同時，也避免了因某一側(cè)的光源duty過高導(dǎo)致的一致性變差。對所公開的實施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。 對這些實施例的多種修改對本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。
權(quán)利要求
1. 一種光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法，所述光學(xué)式觸控屏包括至少2個光學(xué)感測模組、多個光源模組以及由該多個光源模組圍成的觸控區(qū)，其特征在于所述調(diào)試方法包括步驟1)動態(tài)校對相鄰兩個光源模組的最佳邊界；2)以所述最佳邊界為判斷位置，對所述相鄰兩個光源模組的發(fā)光功率進行調(diào)試，使該相鄰兩個光源模組在該最佳邊界處的發(fā)光強度相同；3)記錄步驟幻之后該相鄰兩個光源模組的發(fā)光曲線，對該發(fā)光曲線做一致化處理，使光學(xué)感測模組的感光強度均勻化，所述步驟1)中的校對過程包括如下步驟1.1)以相同校對發(fā)光功率先后開啟所述相鄰兩個光源模組；1. 2)搜尋該兩個光源模組發(fā)光曲線的交接點；1.3)記錄該交接點在光學(xué)感測模組上的感測位置，該感測位置即為最佳邊界。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法，其特征在于在步驟1.1)中，所述校對發(fā)光功率小于光源模組使光學(xué)感測模組發(fā)生飽和時的發(fā)光功率。
3.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法，其特征在于在步驟1.2)中，所述交接點為其中一個光源模組發(fā)光曲線對應(yīng)的感光強度由大于轉(zhuǎn)變成小于另一個光源模組發(fā)光曲線對應(yīng)的感光強度的臨界點。
4.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法，其特征在于所述步驟2)包括步驟2. 1)先后開啟相鄰的兩個光源模組，分別記錄下該兩個光源模組的發(fā)光曲線； 2. 2)利用所述最佳邊界，比對所述相鄰兩個光源模組在該最佳邊界值上的光強大??； 2.3)當(dāng)所述步驟2. 中的比對結(jié)果為不同時，調(diào)節(jié)其中光強較弱的一個光源模組發(fā)光功率，使兩者在該最佳邊界值上的光強相同。
5.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法，其特征在于所述每個光源模組包括LED點光源和導(dǎo)光器件。
全文摘要
本發(fā)明是一種光學(xué)式觸控屏的調(diào)試方法，包括步驟1)動態(tài)校對相鄰兩個光源模組的最佳邊界；2)以所述最佳邊界為判斷位置，對所述相鄰兩個光源模組的發(fā)光功率進行調(diào)試，使該相鄰兩個光源模組在該最佳邊界處的發(fā)光強度相同；3)記錄步驟2)之后該相鄰兩個光源模組的發(fā)光曲線，對該發(fā)光曲線做一致化處理，使光學(xué)感測模組的感光強度均勻化。該調(diào)試方法由于增加了對相鄰的光源模組之間的最佳邊界的調(diào)試，從而避免了光源模組之間的間隙因環(huán)境或組裝時產(chǎn)生的改變而使得某一側(cè)的光源duty過高。同時，也避免了因某一側(cè)的光源duty過高導(dǎo)致的一致性變差。
文檔編號G06F3/042GK102339174SQ201110350629
公開日2012年2月1日 申請日期2011年11月8日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月8日
發(fā)明者張皓崴, 毛昭凱 申請人:佳世達科技股份有限公司, 蘇州佳世達電通有限公司