專利名稱：讀卡器的測試裝置和測試方法
技術領域：
本發(fā)明涉及射頻通訊領域，具體涉及一種非接觸式讀卡器的測試裝置及測試方法。
背景技術：
RFID技術已經(jīng)廣泛的應用于移動支付中，并且在越來越多的工商業(yè)應用中使用。例如，RFID技術現(xiàn)在被廣泛用于倉庫、商店中的物品、ID卡或門卡中。此外，RFID技術以RFID標簽的非接觸式支付或信用卡的形式引入到了支付卡中，射頻技術的廣泛應用使得消費者在商店、超市中支付變的更加簡單、快速和便捷。伴隨著RFID技術在人們生活中的普及，這就提高了對應用了 RFID技術的非接觸式讀卡器的質(zhì)量要求。在生產(chǎn)階段，需測試非接觸式讀卡器的RF收發(fā)功率。當前業(yè)界通用的測試方法是使用頻譜儀加信號源直接測試讀卡器的RF收發(fā)功率，需要人為判斷是否合格，并且對于發(fā)射功率偏低或者偏高的產(chǎn)品沒有辦法進行微量修正，使其達到合格產(chǎn)品的功率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術問題是，提供一種非接觸式讀卡器測試裝置及測試方法，解決了在對非接觸式讀卡器進行測試時，無法同時做出修正的問題，保證產(chǎn)品收發(fā)功率具有較好的一致性。本發(fā)明提供一種非接觸式讀卡器測試裝置，包括測試模塊，控制模塊，所述測試模塊和待測讀卡器均與所述控制模塊相連，所述測試模塊包括射頻單元，所述測試模塊通過射頻單元與待測讀卡器進行數(shù)據(jù)通信，將接收到的數(shù)據(jù)輸出至控制模塊；所述控制模塊用于采集接收待測讀卡器與所述測試模塊的數(shù)據(jù)信息，并對所述數(shù)據(jù)信息進行處理。進一步地，本發(fā)明裝置的測試模塊還包括了修正單元，測試模塊通過修正單元修正待測讀卡器的參數(shù)誤差。進一步地，本發(fā)明裝置還包括測試架，所述測試架上設置有定位板，所述控制模塊和所述測試模塊固定在所述定位板上，所述測試裝置可調(diào)節(jié)所述測試模塊和所述的待測讀卡器之間的通信距離。更進一步地，本發(fā)明裝置還包括屏蔽盒，所述屏蔽盒用于收容所述測試模塊和所述的待測讀卡器，所述屏蔽盒能夠屏蔽影響到測試的干擾信號。本發(fā)明還提供了一種非接觸式讀卡器的測試方法，包括以下步驟:測試模塊與待測讀卡器進行通信，獲取待測讀卡器的性能參數(shù)；控制模塊獲取測試模塊和待測讀卡器的數(shù)據(jù)信息；控制模塊將其內(nèi)存儲的合格讀卡器的性能參數(shù)與待測讀卡器的性能參數(shù)進行比較，判斷待測讀卡器是否合格。進一步地，對待測讀卡器進行測試的方法包括了:待測讀卡器發(fā)送至少一個單頻點載波；測試模塊對個單頻點載波進行N次接收，并獲取各次發(fā)射功率RSSI ;計算接收的各單頻點載波的發(fā)射功率RSSI的平均值，將所述平均值發(fā)送至控制模塊。進一步地，根據(jù)檢測結果判定所述待測讀卡器是否合格的方法具體為:對比所述待測讀卡器的發(fā)射功率平均值和設定的門限值；若所述對比結果在設定范圍內(nèi)，待測讀卡器合格；若所述對比結果超過設定范圍，待測讀卡器不合格。更進一步地，對待測讀卡器的修正方法包括:通過標準的接收功率RSSI與待測讀卡器的接收功率RSSI之差計算出功率的偏移量；測試模塊根據(jù)所述偏移量對所述待測讀卡器進行修正。對待測讀卡器進行測試的方法還包括:測試模塊通過射頻通道向待測讀卡器發(fā)送數(shù)據(jù)包；待測讀卡器接收所述數(shù)據(jù)包，以固定功率將所述數(shù)據(jù)包發(fā)送回測試模塊；測試模塊將發(fā)送的數(shù)據(jù)包和接收到的數(shù)據(jù)包發(fā)送至控制模塊進行處理。進一步地，控制模塊對兩組數(shù)據(jù)包處理、分析的方法具體為:對兩組數(shù)據(jù)包進行對比；若兩組數(shù)據(jù)包一致，待測讀卡器合格；若兩組數(shù)據(jù)包不一致，待測讀卡器不合格。通過本發(fā)明的技術方案，當進行非接觸式讀卡器測試時，通過測試模塊對非接觸式讀卡器進行測試，并根據(jù)測試結果對非接觸式讀卡器進行修正，提高生產(chǎn)測試后的產(chǎn)品收發(fā)功率的一致性，同時本發(fā)明技術方案操作簡單，而且適用于量產(chǎn)，可以提高工作效率。


圖1為本發(fā)明測試裝置一種實施例的結構示意圖；圖2為本發(fā)明測試方法中一種實施例的流程圖；圖3為本發(fā)明測試方法中另一種實施例的流程圖。
具體實施例方式下面通過具體實施方式
結合附圖對本發(fā)明作進一步詳細說明。請參考圖1，顯示了一種實施例中的測試裝置，該測試裝置至少包括了以下模塊:控制模塊、測試模塊。其中，測試模塊和待測讀卡器均與控制模塊相連，測試模塊包括射頻單元。在測試中，測試模塊通過射頻單元和待測讀卡器進行數(shù)據(jù)通信，并且將待測讀卡器發(fā)送來的數(shù)據(jù)傳輸給控制模塊。控制模塊裝有測試軟件，可以通過該測試軟件預設合格讀卡器的性能參數(shù)，如RF收發(fā)功率門限范圍和門限次數(shù)?？刂颇K用于根據(jù)待測讀卡器發(fā)送來的數(shù)據(jù)對接收到的數(shù)據(jù)進行分析處理，例如可為，對比測試到的數(shù)據(jù)和預先設定在軟件中的門限范圍，以此來對判斷待測讀卡器是否合格?？刂颇K還可以用作對待測讀卡器和測試模塊電源的提供。當測試模塊和待測讀卡器進行通信時，控制模塊通過自身安裝的測試程序，獲得待測讀卡器的發(fā)送功率和接收功率，并且，接收測試模塊和待測讀卡器發(fā)送來的數(shù)據(jù)信息，控制測試模塊的測試工作。在實際應用中，控制模塊可為裝有測試軟件的計算機，測試模塊可為Golden TB板。在本發(fā)明的測試裝置中，其中測試模塊還可以包括修正單元，當待測讀卡器的發(fā)送功率超過預先設置在控制模塊中的門限范圍，控制模塊會計算出待測讀卡器發(fā)射功率的偏移量，并控制測試模塊中的修正單元對待測讀卡器功率值進行微量修正，使待測讀卡器的RF收發(fā)功率符合合格產(chǎn)品門限范圍。
本發(fā)明的測試裝置還包括了測試架，在測試架上設置了定位板，待測讀卡器和測試模塊固定在定位板上。在具體實施中，控制模塊控制探測針采集待測讀卡器的數(shù)據(jù)信息，此時，與待測讀卡器相連的一端固定在待測讀卡器所放置的定位板上，在放置讀卡器時，將讀卡器所需的測試點與固定在定位板上的探測針針頭接觸連接，保證在整個測試的過程中，待測讀卡器和探測針充分保持良好的連接狀態(tài)，放置探測針與待測讀卡器斷開連接而影響到測試過程。測試架還可以調(diào)節(jié)待測讀卡器和測試模塊之間的距離，根據(jù)不同的情況調(diào)節(jié)兩者之間的距離，使測試模塊與待測讀卡器之間保證了正常通信的最佳距離。在本發(fā)明的另外一種實施方式中，可以增加一個屏蔽盒，將測試模塊和待測讀卡器放置于屏蔽盒中進行測試，保證在測試過程中，測試模塊和待測讀卡器之間的測試良好的通信環(huán)境，屏蔽會對測試產(chǎn)生影響的干擾信號，使得測試結果更具準確性。根據(jù)上述的發(fā)明裝置，本發(fā)明還公開了一種測試方法，包括:測試模塊與待測讀卡器進行通信；控制模塊獲取測試模塊和待測讀卡器的數(shù)據(jù)信息；控制模塊根據(jù)所述數(shù)據(jù)信息判斷待測讀卡器是否合格。在本發(fā)明測試方法的一種實施方式中，讀卡器上的射頻芯片通過固定某一個天線發(fā)射單頻點載波，一共發(fā)射X個信道的載波，測試模塊的射頻芯片接收到讀卡器上發(fā)射出來的RSSI值，對每個信道所發(fā)射出來的載波接收N次，并計算出平均值，并且將每次接收到的RSSI值和所得到的RSSI的平均值通過串口發(fā)送至控制模塊。對待測讀卡器是否合格的判斷，可以通過對比待測讀卡器的發(fā)射功率RSSI平均值和控制模塊內(nèi)預設的門限范圍，若待測讀卡器的發(fā)射功率RSSI的平均值在設定的門限范圍內(nèi)，則判定待測讀卡器合格，若待測讀卡器的發(fā)射功率RSSI的平均值超出了設定的門限范圍，則判定待測讀卡器不合格。進一步地，當判定出待測讀卡器不合格時，可采用測試模塊內(nèi)的修正單元對不合格讀卡器進行功率微量修正，具體為:控制模塊通過計算待測讀卡器的功率偏移量，具體的將標準RSSI值減去本次測量所得到的RSSI的平均值得出待測讀卡器應修正的偏移量，所述標準RSSI值是指測試模塊采集的合格讀卡器的RSSI值；控制模塊發(fā)送修正信號給測試模塊，測試模塊根據(jù)所需修正的偏移量對待測讀卡器進行修正。在本發(fā)明方法的另一種實施方式中，判斷待測讀卡器是否合格是通過測試待測讀卡器的接收靈敏度來體現(xiàn)的。具體測試過程可為:在控制模塊所裝的測試軟件內(nèi)預設合格讀卡器的門限次數(shù)；測試模塊使用射頻芯片通過射頻通道以固定功率發(fā)送數(shù)據(jù)包向待測讀卡器發(fā)送數(shù)據(jù)包，測試模塊的發(fā)射功率可設定為_12dBm ;待測讀卡器使用射頻芯片接收所述數(shù)據(jù)包，并將接收到的此數(shù)據(jù)包再用射頻芯片以固定功率回傳給測試模塊；待測讀卡器的發(fā)射功率可設定為OdBm ;測試模塊將發(fā)送的數(shù)據(jù)包和接收到的數(shù)據(jù)包發(fā)送至控制模塊進行比較，判斷是否正確。如此連續(xù)測量數(shù)次，當正確的次數(shù)大于在控制模塊中預先設定的門限次數(shù)才能判定待測讀卡器合格。對待測讀卡器是否合格的判斷，還可以通過比較測試模塊發(fā)送給待測讀卡器的發(fā)送端數(shù)據(jù)包和測試模塊接收到的從待測讀卡器將原數(shù)據(jù)包發(fā)送回的數(shù)據(jù)包。若比較得兩組數(shù)據(jù)包一致，則判斷待測讀卡器合格；如果比較得兩組數(shù)據(jù)包不一致，則判斷待測讀卡器不合格。
以上內(nèi)容是結合具體的實施方式對本發(fā)明所作的進一步詳細說明，不能認定本發(fā)明的具體實施只局限于這些說明；因此，對于本發(fā)明所屬技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬于本發(fā)明的保護范圍。
權利要求
1.一種非接觸式讀卡器的測試裝置，其特征在于，所述裝置包括測試模塊，控制模塊，所述測試模塊用于分別與待測讀卡器和所述控制模塊相連，所述測試模塊包括射頻單元，所述測試模塊通過所述射頻單元與待測讀卡器進行數(shù)據(jù)通信，并將自待測讀卡器處接收到的數(shù)據(jù)輸出至控制模塊；所述控制模塊內(nèi)存儲有合格讀卡器的性能參數(shù)，其用于接收待測讀卡器與所述測試模塊的數(shù)據(jù)信息，判斷出待測讀卡器是否合格。
2.如權利要求1所述的非接觸式讀卡器的裝置，其特征在于，所述測試模塊還包括了修正單元，所述測試模塊通過所述修正單元修正待測讀卡器的參數(shù)，使其合格。
3.如權利要求1或2所述的非接觸式讀卡器的裝置，其特征在于，所述裝置還包括測試架，所述測試架上設置有定位板，所述待測讀卡器和所述測試模塊固定在不同的定位板上，所述測試裝置可調(diào)節(jié)所述測試模塊和所述的待測讀卡器之間的通信距離。
4.如權利要求1或2所述的非接觸式讀卡器的裝置，其特征在于，所述裝置還包括屏蔽盒，所述屏蔽盒用于收容所述測試模塊和所述的待測讀卡器，以屏蔽影響測試的干擾信號。
5.一種非接觸式讀卡器測試方法，其特征在于， 測試模塊與待測讀卡器進行通信，獲取待測讀卡器的性能參數(shù)； 控制模塊獲取測試模塊和待測讀卡器的數(shù)據(jù)信息； 控制模塊將其內(nèi)存儲的合格讀卡器的性能參數(shù)與待測讀卡器的性能參數(shù)進行比較，判斷待測讀卡器是否合格。
6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，對待測讀卡器進行測試的方法包括: 待測讀卡器發(fā)送至少一個單頻點載波； 測試模塊對各單頻點載波進行N次接收，并獲取各次發(fā)射功率RSSI ； 計算接收各單頻點載波的發(fā)射功率RSSI的平均值，將所述平均值發(fā)送至控制模塊。
7.如權利要求6所述方法，其特征在于，控制模塊根據(jù)檢測結果判定所述待測讀卡器是否合格的方法包括為:對比所述待測讀卡器的發(fā)射功率RSSI平均值和其內(nèi)預設的門限范圍 若所述對比結果在設定范圍內(nèi)，被測讀卡器合格； 若所述對比結果超過設定范圍，被測讀卡器不合格。
8.如權利要求7所述方法，其特征在于，對待測讀卡器的修正方法包括: 控制模塊計算待測讀卡器的功率偏移量； 測試模塊根據(jù)所述偏移量對所述待測讀卡器進行修正。
9.如權利要求5所述方法，其特征在于，對待測讀卡器進行測試的方法還包括: 測試模塊通過射頻通道向待測讀卡器發(fā)送數(shù)據(jù)包； 待測讀卡器接收所述數(shù)據(jù)包，以固定功率將所述數(shù)據(jù)包發(fā)送回測試模塊； 測試模塊將發(fā)送的數(shù)據(jù)包和接收到的數(shù)據(jù)包發(fā)送至控制模塊供其判斷。
10.如權利要求9所述方法，其特征在于，對待測讀卡器合格的判斷方法還包括為: 對兩組數(shù)據(jù)包進行對比； 若兩組數(shù)據(jù)包一致，待測讀卡器合格； 若兩組數(shù)據(jù)包不一致，待測讀卡器不合格。
全文摘要
本發(fā)明公開一種非接觸式讀卡器測試裝置及測試方法，通過本發(fā)明的控制模塊對測試模塊測試的數(shù)據(jù)處理，解決了目前非接觸式讀卡器需要人為判斷是否合格，對不合格產(chǎn)品無法進行修正的問題，從而提高生產(chǎn)測試后的產(chǎn)品收發(fā)功率的一致性，同時本發(fā)明技術方案操作簡單，而且適用于量產(chǎn)，可以提高工作效率。
文檔編號G06K7/00GK103186756SQ20111045833
公開日2013年7月3日 申請日期2011年12月31日 優(yōu)先權日2011年12月31日
發(fā)明者趙慶利 申請人:國民技術股份有限公司