專利名稱：電容式觸控裝置及其感測裝置與多觸碰點檢測方法
技術領域：
本發(fā)明是有關于一種觸控裝置、感測裝置及檢測方法，且特別是有關于一種電容式觸控裝置、電容式觸控裝置的感測裝置及其多觸碰點檢測方法。
背景技術：
隨著信息技術、無線移動通訊和信息家電的快速發(fā)展與應用，以及為了達到攜帶更便利、體積更輕巧化以及操作更人性化的目的，許多信息產品已由傳統(tǒng)的鍵盤或鼠標等輸入設備，轉變?yōu)槭褂糜|控面板(Touch Device)，包含應用于顯示器、具有顯示功能的觸控顯示面板(Touch Panel)，以及基板上具有觸控功能的觸摸板(Touch Pad)作為輸入設備。目前，觸控面板主要可分電阻式、電容式、聲波式、光學式等。值得一提的是，在公知技術中，軸交錯式電容觸控面板在檢測兩點觸碰時，會有鏡射點(Ghost point)的問題。圖I是公知的一種電容式觸控面板的觸碰示意圖。請參照圖I，此觸控面板100采用軸交錯式技術。觸控面板100包括多條垂直延伸的第一電極(如110、120)，以及多條水平延伸的第二電極(如130、140)。當觸碰點Pl被觸碰時，則檢測裝置會從第一電極110及第二電極130檢測到電容變化量，據此判斷觸碰點Pl被觸碰。當觸碰點P2被觸碰時，則檢測裝置會從第一電極120及第二電極140檢測到電容變化量，據此判斷觸碰點P2被觸碰。然而，當觸碰點Pl及P2同時被觸碰時，則檢測裝置會從第一電極110、120及第二電極130、140檢測到電容變化量，據此檢測裝置會誤判觸碰點PU P2、P3及P4被觸碰。其中，觸碰點Pl及P2為真正的觸碰點，而觸碰點P3及P4為則為觸碰點Pl及P2的鏡射點。

發(fā)明內容
本發(fā)明提供一種電容式觸控面板的檢測方法，可檢測電極交錯的電容式觸控面板上的多個觸碰點，并且可避免鏡射點的誤判。本發(fā)明提出一種電容式觸控裝置，包括電容式輸入設備、檢測單元及信號產生單兀。電容式輸入設備包括多條朝第一方向延伸的第一電極，及多條朝第二方向延伸的第二電極。第二電極與這些第一電極于多個感測區(qū)域形成多個電容。檢測單元與這些第一電極電性連接，檢測這些感測區(qū)域的電容變化量。信號產生單元與這些第二電極電性連接，且用于產生一信號。當檢測單元檢測到這些感測區(qū)域中的至少一個具有一第一電容變化量時， 依照一預定方式將信號輸入這些第二電極。在具有第一電容變化量的上述感測區(qū)域中的至少一個具有一第二電容變化量時，則具有第二電容變化量的感測區(qū)域即為一觸碰位置。在本發(fā)明的一實施例中，上述第二電極位于這些第一電極的上方，并且這些感測區(qū)域分別為這些第一電極與這些第二電極交錯形成多個交錯區(qū)域。在本發(fā)明的一實施例中，上述這些感測區(qū)域分別對應這些第一電極與這些第二電極，且這些感測區(qū)域的配置位置彼此不重疊，以及這些感測區(qū)域配置于同一層。本發(fā)明另提出一種電容式觸控裝置，包括電容式輸入設備、檢測單元及信號產生單兀。電容式輸入設備包括多條朝第一方向延伸的第一電極，及多條朝第二方向延伸的第二電極。這些第二電極位于這些第一電極的上方，與這些第一電極形成多個電容。這些第一電極與這些第二電極交錯形成多個交錯區(qū)域。檢測單元與這些第一電極電性連接，檢測這些交錯區(qū)域的電容變化量。信號產生單元與這些第二電極電性連接，且用于產生一信號。 當檢測單元檢測到這些交錯區(qū)域中的至少一個具有一第一電容變化量時，依照一預定方式將信號輸入這些第二電極。在具有第一電容變化量的上述交錯區(qū)域中的至少一個具有一第二電容變化量時，則具有第二電容變化量的交錯區(qū)域即為一觸碰位置。 在本發(fā)明的一實施例中，上述這些第一電極在第二方向上互相等間距平行排列。在本發(fā)明的一實施例中，上述這些第二電極在第一方向上互相等間距平行排列。在本發(fā)明的一實施例中，上述電容式輸入設備更包括一介電層，位于這些第一電極與這些第二電極的之間。本發(fā)明還提出一種電容式觸控面板的感測裝置，電容式觸控面板包括多條第一電極以及多條第二電極，且這些第一電極與這些第二電極形成多個感測區(qū)域。感測裝置包括檢測單元及信號產生單元。檢測單元電性連接這些第一電極，檢測對應第一電極的這些感測區(qū)域的電容變化量。信號產生單元與這些第二電極電性連接，信號產生單元產生一信號。 當檢測單元檢測到這些感測區(qū)域中的至少一個具有一第一電容變化量時，將信號依照一預定方式輸入這些下電極。當檢測單元檢測到這些感測區(qū)域中的至少一個具有一第二電容變化量時，這些感測區(qū)域中依序由具有第一電容變化量轉換為具有第二電容變化量的感測區(qū)域即為一觸碰位置。在本發(fā)明的一實施例中，上述信號為一電平變動信號。并且，上述信號為一方波信號、一三角波信號及一弦波信號其中之一。在本發(fā)明的一實施例中，上述檢測單元依序檢測這些第一電極，以檢測對應第一電極的這些交錯區(qū)域的電容變化量。在本發(fā)明的一實施例中，上述檢測單元同時檢測這些第一電極，以檢測對應第一電極的這些交錯區(qū)域的電容變化量。在本發(fā)明的一實施例中，上述這些第一電極與這些第二電極相互交錯，這些感測區(qū)域分別為這些第一電極與這些第二電極的多個交錯區(qū)域。在本發(fā)明的一實施例中，上述這些感測區(qū)域分別對應于這些第一電極與這些第二電極，這些感測區(qū)域配置于同一層，且這些感測區(qū)域的配置位置彼此不重疊。本發(fā)明又提出一種電容式觸控面板的多觸碰點檢測方法，電容式觸控面板包括一介電層以及分別位于介電層二側的多條第一電極及多條第二電極，且這些第一電極與這些第二電極形成多個感測區(qū)域。多觸碰點檢測方法包括檢測這些感測區(qū)域的電容變化量,得到并記錄多個具有一第一電容變化量的感測區(qū)域；產生一信號，且將信號輸入于這些第二電極；檢測這些感測區(qū)域的電容變化量，得到并記錄多個具有一第二電容變化量的感測區(qū)域；這些感測區(qū)域中依序由具有第一電容變化量轉換為具有第二電容變化量的感測區(qū)域分別判斷為電容式觸控面板的一觸碰點。在本發(fā)明的一實施例中，上述這些感測區(qū)域中具有第一電容變化量感測區(qū)域分別判斷為電容式觸控面板的一鏡射點。在本發(fā)明的一實施例中，上述信號依序輸入這些第二電極。在本發(fā)明的一實施例中，上述信號同時輸入部分的第二電極，并且依序切換接收信號的第二電極。基于上述，本發(fā)明實施例的電容式觸控裝置、電容式觸控裝置的感測裝置及其多觸碰點檢測方法，其檢測電容式觸控面板的多個第一電極與多個第二電極的感測區(qū)域的電容變化量，當感測區(qū)域由具有第一電容變化量轉換為具有第二電容變化量時，則此感測區(qū)域會被判斷為真正的觸碰位置。藉此，可準確定位出多個觸碰位置，并且可避免產生鏡射


圖I是公知的一種電容式觸控面板的觸碰示意圖。
圖2是依據本發(fā)明一實施例的電容式觸控裝置的系統(tǒng)示意圖。
圖3是依據本發(fā)明一實施例的電容式觸控裝置的觸碰檢測示意圖。
圖4是依據本發(fā)明一實施例的電容式觸控裝置的另一觸碰檢測示意圖。
圖5是依據本發(fā)明一實施例的電容式觸控面板的多觸碰點檢測方法的流程圖。
圖6是依據本發(fā)明另一實施例的電容式觸控裝置的系統(tǒng)示意圖。
主要元件符號說明
100、220、620 :觸控面板
110、120、221_1 221_10、621_1 621_10 :第一電極
130、140、223_1 223_5、623_1 623_5 :第二電極
200、600 :電容式觸控裝置
210 :感測裝置
211 :檢測單元
213 :信號產生單元
225 :介電層
CO C8 :電容值
Pl P6 :觸碰點
SI :信號
S510、S520、S530、S540 :步驟
具體實施例方式為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚明白，以下結合具體實施例，并參照附圖，對本發(fā)明進一步詳細說明。圖2是依據本發(fā)明一實施例的電容式觸控裝置的系統(tǒng)示意圖。請參照圖2，在本實施例中，電容式觸控裝置200包括感測裝置210及電容式輸入設備(在此以觸控面板220為例)。感測裝置210包括檢測單元211及信號產生單元213。觸控面板220包括朝垂直方向 (即第一方向)延伸的多條第一電極221_1 221_10 (在此為上電極)、朝水平方向(即第二方向)延伸的多條第二電極223_1 223_5(在此為下電極)及位于第一電極221_1 221_10與第二電極223_1 223_5之間的介電層225，其中介電層225可以是印刷電路板、 軟性電路板等，或是利用制造工藝將例如是氧化硅、氮化硅或是氮氧化硅等材料形成于基板上。
第一電極221_1 221_10與第二電極223_1 223_5交錯而形成多個交錯區(qū)域(即感測區(qū)域)，并且第一電極221_1 221_10會分別與第二電極223_1 223_5形成多個耦合電容，其中第一電極221_1 221_10在水平方向上互相等間距平行排列，第二電極223_1 223_5在垂直方向上互相等間距平行排列。檢測單元200電性連接第一電極 221_1 221_10，用于檢測第一電極221_1 221_10與第二電極223_1 223_5的交錯區(qū)域的電容變化量。信號產生單元213電性連接第二電極223_1 223_5，以產生信號SI并依據預定方式(例如為依序)將信號SI輸入第二電極223_1 223_5。圖3是依據本發(fā)明一實施例的電容式觸控裝置的觸碰檢測示意圖。請參照圖2 及圖3，在本實施例中，檢測單元211會先檢測第一電極221_1 22110，其中第一電極 221_1 221_10可以依序檢測，但也可以同時檢測，此可依據電路設計需求而定。在此假設觸碰點為P5，則第一電極221_3與第二電極223_4的交錯區(qū)域的耦合電容會產生變化，因此會從第一電極221_3檢測到第一電容變化量(亦即由電容值CO變?yōu)镃l)。接著，信號產生單元213會依序將信號SI輸入至第二電極223_1 223_5，亦即依照第二電極223_1至 223_5的順序將信號SI輸入至第二電極223_1 223_5。其中，信號SI在此以方波信號為例，但在其他實施例中可以是三角波信號、弦波信號等電平變動信號。并且，于其他實施例中，信號SI的輸入順序可以為第二電極223_5至223_1。在信號SI輸入至第二電極223_1 223_3及223_5時，第一電極221_3檢測到的電容值仍為Cl。但在信號SI輸入至第二電極223_4時，由于信號SI為方波信號(即電平變動信號)，因此會與第一電極221_3、第二電極223_4及觸碰的手指耦合，進而使第一電極 221_3檢測到的電容值會由Cl變動為C2或C3 (亦即檢測到第二電容變化量)，其中電容值 C2大于電容值Cl，電容值C3小于電容值Cl。而電容值會由Cl變動為C2或C3決定于信號 SI的頻率。進一步來說，在一實施例中，當信號SI的頻率位于IMHz至4MHz之間時，第一電極 221_3檢測到的電容值會由Cl變動為C2。當信號SI的頻率位于6MHz至IOMHz之間時，第一電極221_3檢測到的電容值會由Cl變動為C3。依據上述，當觸碰點P5被觸碰時，第一電極221_3與第二電極223_1 223_5的交錯區(qū)域會被視為具有第一電容變化量，并且當信號SI輸入至第二電極223_4時，第一電極221_3與第二電極223_4的交錯區(qū)域會被視為具有第二電容變化量，因此第一電極221_3與第二電極223_4的交錯區(qū)域會被判斷為真正的觸碰位置。另一方面，在此假設觸碰點為P5及P6，則會分別從第一電極221_3及221_8會檢測到第一電容變化量(亦即電容值由CO變?yōu)镃l及C4)。接著，依序將信號SI輸入至第二電極223_1 223_5。在信號SI輸入至第二電極223_1、223_3及223_5時，第一電極221_3 檢測到的電容值仍為Cl，第一電極221_8檢測到的電容值為仍C4。當信號SI輸入至第二電極223_2時，第一電極221_5檢測到的電容值仍為Cl，第一電極221_8檢測到的電容值會由C4變動為C5或C6 (亦即第二電容變化量)，其中電容值 C5大于電容值C4，電容值C6小于電容值C4。此時，第一電極210_8與第二電極223_2的交錯區(qū)域依序由具有第一電容變化量轉換為具有第二電容變化量，因此第一電極221_8與第二電極223_2的交錯區(qū)域會被視為真正的觸碰位置。當信號SI輸入至第二電極223_4時，第一電極221_3檢測到的電容值會由Cl變動為C2或C3(亦即第二電容變化量)，而第一電極221_8檢測到的電容值仍為C4。此時， 第二電極221_3與第二電極223_4的交錯區(qū)域依序由具有第一電容變化量轉換為具有第二電容變化量，因此第一電極221_5與第二電極223_4的交錯區(qū)域會被視為真正的觸碰位置。 藉此，可依據交錯區(qū)域是否由具有第一電容變化量轉換為具有第二電容變化量來判斷交錯區(qū)域是否為真正的觸碰位置，因此不會產生鏡射點。此外，在其他實施例中，信號SI可同時輸入兩個第二電極。例如，第二電極223_1 及223_5先輸入信號SI，接著第二電極223_2及223_4輸入信號SI，最后是第二電極223_3 輸入信號SI，藉此可縮短觸碰點檢測的時間。而上述順序是為了舉例說明，且在其他實施例中，可依據電容式觸控面板的大小決定同時輸入信號SI的第二電極的數目，并且自行設計輸入的順序。圖4是依據本發(fā)明一實施例的電容式觸控裝置的另一觸碰檢測示意圖。請參照圖 2及圖4，在本實施例中，檢測單元211更耦接第二電極223_1 223_5。并且，檢測單元211 會分別檢測第一電極221_1 221_10及第二電極223_1 223_5。在此假設觸碰點為P5 及P6，則檢測單元211會從第一電極221_3、221_8及第二電極223_2、223_4檢測到第一電容變化量，亦即第一電極221_3檢測到的電容值由CO變?yōu)镃l，第一電極221_8檢測到的電容值由CO變?yōu)镃4，第二電極223_2檢測到的電容值由CO變?yōu)镃7，第二電極223_4檢測到的電容值由CO變?yōu)镃8。此時，第一電極221_3及221_8與第二電極223_2及223_4的交錯區(qū)域會被視為具有第一電容變化量，而上述交錯區(qū)域會被記錄于檢測單元211中。接著，信號產生單元213 會依序將信號SI輸入至第二電極223_2及223_4，以判斷上述具有第一電容變化量的交錯區(qū)域是否為真正的觸碰位置。當信號SI輸入至第二電極223_2時，第一電極221_5檢測到的電容值仍為Cl，第一電極221_8檢測到的電容值會由C4變動為C5或C6 (亦即第二電容變化量)。此時，第一電極210_8與第二電極223_2的交錯區(qū)域依序由具有第一電容變化量轉換為具有第二電容變化量，因此第一電極221_8與第二電極223_2的交錯區(qū)域會被視為真正的觸碰位置，并記錄于檢測單元211中。當信號SI輸入至第二電極223_4時，第一電極221_3檢測到的電容值會由Cl變動為C2或C3 (亦即第二電容變化量)，而第一電極221_8檢測到的電容值仍為C4。此時， 第二電極221_3與第二電極223_4的交錯區(qū)域依序由具有第一電容變化量轉換為具有第二電容變化量，因此第一電極221_5與第二電極223_4的交錯區(qū)域會被視為真正的觸碰位置， 并記錄于檢測單元211中。而第一電極221_3與第二電極223_2的交錯區(qū)域及第一電極 221_8與第二電極223_4的交錯區(qū)域由于僅具有第一電容變化量，因此會被視為鏡射點。依據上述，可匯整為一電容式觸控面板的多觸碰點檢測方法。圖5為依據本發(fā)明一實施例的電容式觸控面板的多觸碰點檢測方法的流程圖。請參照圖5，在本實施例中，首先會檢測第一電極與第二電極交錯所形成的交錯區(qū)域的電容變化量，得到并記錄多個具有第一電容變化量的交錯區(qū)域(步驟S510)。產生一信號且將信號輸入于第二電極(步驟 S520)。檢測上述交錯區(qū)域的電容變化量，得到并記錄多個具有第二電容變化量的交錯區(qū)域 (步驟S530)。交錯區(qū)域中依序由具有第一電容變化量轉換為具有第二電容變化量的交錯區(qū)域分別判斷為電容式觸控面板的觸碰點，而交錯區(qū)域中具有第一電容變化量交錯區(qū)域分別判斷為電容式觸摸板的鏡射點(步驟S540)。其中，上述步驟的細節(jié)可參照上述說明，在此則不再贅述。圖6是依據本發(fā)明一實施例的電容式觸控裝置的系統(tǒng)示意圖。請參照圖6，在本實施例中，電容式觸控裝置600的電路及運作方式類似于電容式觸控裝置200，其中不同之處在于觸控面板620的第一電極621_1 621_10及第二電極623_1 623_5。在本實施例， 第一電極621_1 621_10及第二電極623_1 623_5分別形成多個感測區(qū)域(即每一電極的菱形區(qū)域及三角形區(qū)域)，并且由于這些感測區(qū)域配置的位置不重疊，因此這些感測區(qū)域可以配置于同一層。進一步來說，當由第一電極621_1 621_10的感測區(qū)域檢測到電容變化量時，會由第二電極623_1 623_5輸入信號來檢測真正的觸碰點；或者，當由第一電極621_1 621_10及第二電極623_1 623_5的部分感測區(qū)域檢測到電容變化量時，會輸入信號至檢測到電容變化量的感測區(qū)域對應的第二電極623_1 623_5中，以確認檢測到的觸碰點為真正的觸碰點或鏡射點。綜上所述，本發(fā)明實施例的電容式觸控裝置、電容式觸控裝置的感測裝置及其多觸碰點檢測方法，其檢測電容式觸控面板的多個第一電極與多個第二電極的感測區(qū)域的電容變化量，當感測區(qū)域由具有第一電容變化量轉換為具有第二電容變化量時，則此感測區(qū)域會被判斷為真正的觸碰位置。藉此，可準確定位出多個觸碰位置，并且可避免產生鏡射以上所述的具體實施例，對本發(fā)明的目的、技術方案和有益效果進行了進一步詳細說明，應理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的具體實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。
權利要求
1.一種電容式觸控裝置，包括一電容式輸入設備，包括多條第一電極，朝一第一方向延伸；多條第二電極，朝一第二方向延伸，與所述第一電極于多個感測區(qū)域形成多個電容；一檢測單元，與所述第一電極電性連接，檢測所述感測區(qū)域的電容變化量；以及一信號產生單元，與所述第二電極電性連接，且用于產生一信號；其中，當該檢測單元檢測到所述感測區(qū)域中的至少一個具有一第一電容變化量時，依照一預定方式將該信號輸入所述第二電極，在具有該第一電容變化量的上述感測區(qū)域中的至少一個具有一第二電容變化量時，則具有該第二電容變化量的上述感測區(qū)域即為一觸碰位置。
2.如權利要求I所述的電容式觸控裝置，其中所述第一電極在該第二方向上互相等間距平行排列。
3.如權利要求I所述的電容式觸控裝置，其中所述第二電極在該第一方向上互相等間距平行排列。
4.如權利要求I所述的電容式觸控裝置，其中該電容式輸入設備，更包括一介電層，位于所述第一電極與所述第二電極的之間。
5.如權利要求I所述的電容式觸控裝置，其中所述第二電極位于所述第一電極的上方，且所述感測區(qū)域分別為所述第一電極與所述第二電極交錯形成的多個交錯區(qū)域。
6.如權利要求I所述的電容式觸控裝置，其中所述感測區(qū)域分別對應所述第一電極與所述第二電極，且所述感測區(qū)域的配置位置彼此不重疊。
7.如權利要求6所述的電容式觸控裝置，其中所述感測區(qū)域配置于同一層。
8.一種電容式觸控面板的感測裝置，該電容式觸控面板包括多條第一電極以及多條第二電極，且所述第一電極與所述第一電極形成多個感測區(qū)域，該感測裝置包括一檢測單元，電性連接所述第一電極，檢測對應所述第一電極的所述感測區(qū)域的電容變化量；以及一信號產生單元，與所述第二電極電性連接，該信號產生單元產生一信號；其中，當該檢測單元檢測到所述感測區(qū)域中的至少一個具有一第一電容變化量時，將該信號依照一預定方式輸入所述下電極，當該檢測單元檢測到所述感測區(qū)域中的至少一個具有一第二電容變化量時，所述感測區(qū)域中依序由具有該第一電容變化量轉換為具有該第二電容變化量的感測區(qū)域即為一觸碰位置。
9.如權利要求8所述的電容式觸控面板的感測裝置，其中該信號為一電平變動信號。
10.如權利要求9所述的電容式觸控面板的感測裝置，其中該信號為一方波信號、一三角波信號及一弦波信號其中之一。
11.如權利要求8所述的電容式觸控面板的感測裝置，其中該檢測單元依序檢測所述第一電極，以檢測對應所述第一電極的所述感測區(qū)域的電容變化量。
12.如權利要求8所述的電容式觸控面板的感測裝置，其中該檢測單元同時檢測所述第一電極，以檢測對應所述第一電極的所述感測區(qū)域的電容變化量。
13.如權利要求8所述的電容式觸控面板的感測裝置，其中所述第一電極與所述第二電極相互交錯，所述感測區(qū)域分別為所述第一電極與所述第二電極的多個交錯區(qū)域。
14.如權利要求8所述的電容式觸控面板的感測裝置，其中所述感測區(qū)域分別對應所述第一電極與所述第二電極，所述感測區(qū)域配置于同一層，且所述感測區(qū)域的配置位置彼此不重疊。
15.—種電容式觸控面板的多觸碰點檢測方法,該電容式觸控面板包括一介電層以及分別位于該介電層二側的多條第一電極及多條第二電極，且所述第一電極與所述第二電極形成多個感測區(qū)域，該多觸碰點檢測方法包括檢測所述感測區(qū)域的電容變化量，得到并記錄多個具有一第一電容變化量的感測區(qū)域；產生一信號，且將該信號輸入于所述第二電極；檢測所述感測區(qū)域的電容變化量，得到并記錄多個具有一第二電容變化量的感測區(qū)域；以及所述感測區(qū)域中依序由具有該第一電容變化量轉換為具有該第二電容變化量的感測區(qū)域分別判斷為該電容式觸控面板的一觸碰點。
16.如權利要求15所述的電容式觸控面板的多觸碰點檢測方法，更包括所述感測區(qū)域中具有該第一電容變化量的感測區(qū)域分別判斷為該電容式觸控面板的一鏡射點。
17.如權利要求15所述的電容式觸控面板的多觸碰點檢測方法，其中該信號依序輸入所述第二電極。
18.如權利要求15所述的電容式觸控面板的多觸碰點檢測方法,其中該信號同時輸入部分的所述第二電極，并且依序切換接收該信號的第二電極。
19.一種電容式觸控裝置，包括一電容式輸入設備，包括多條第一電極，朝一第一方向延伸；多條第二電極，位于所述第一電極的上方，朝一第二方向延伸，與所述第一電極形成多個電容，且所述第一電極與所述第二電極交錯形成多個交錯區(qū)域；一檢測單元，與所述第一電極電性連接，檢測所述交錯區(qū)域的電容變化量；以及一信號產生單元，與所述第二電極電性連接，且用于產生一信號；其中，當該檢測單元檢測到所述交錯區(qū)域中的至少一個具有一第一電容變化量時，依照一預定方式將該信號輸入所述第二電極，在具有該第一電容變化量的上述交錯區(qū)域中的至少一個具有一第二電容變化量時，則具有該第二電容變化量的上述交錯區(qū)域即為一觸碰位置。
20.如權利要求19所述的電容式觸控裝置，其中所述第一電極在該第二方向上互相等間距平行排列。
21.如權利要求19所述的電容式觸控裝置，其中所述第二電極在該第一方向上互相等間距平行排列。
22.如權利要求19所述的電容式觸控裝置，其中電容式輸入設備，更包括一介電層，位于所述第一電極與所述第二電極的之間。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電容式觸控裝置，包括電容式輸入設備、檢測單元及信號產生單元。電容式輸入設備包括多條第一電極及多條第二電極。這些第一電極與第二電極形成多個感測區(qū)域。檢測單元檢測這些感測區(qū)域的電容變化量。信號產生單元用于產生一信號，當檢測單元檢測到這些感測區(qū)域中的至少一個具有一第一電容變化量時，依照一預定方式將該信號輸入這些第二電極。在具有第一電容變化量的上述感測區(qū)域中的至少一個具有一第二電容變化量時，則具有第二電容變化量的感測區(qū)域即為一觸碰位置。
文檔編號G06F3/044GK102609159SQ201210015058
公開日2012年7月25日 申請日期2012年1月18日 優(yōu)先權日2011年1月18日
發(fā)明者林建良 申請人:松翰科技股份有限公司