專利名稱：性能瓶頸診斷方法和設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及計算機(jī)領(lǐng)域，尤其涉及一種性能瓶頸診斷方法和設(shè)備。
背景技術(shù)：
TPC-C (Transaction Processing Performance Council Benchmark C,事務(wù)交易性能委員會基準(zhǔn)測試C)是業(yè)界衡量高端服務(wù)器事務(wù)處理性能的關(guān)鍵基準(zhǔn)測試，其測試結(jié)果被廣大客戶認(rèn)可。TPC-C的部署規(guī)模較為龐大，除了主機(jī)系統(tǒng)之外還需要大量的服務(wù)器來支撐測試。在TPC-C測試過程中，中間會涉及很多環(huán)節(jié)，如客戶端、服務(wù)器、網(wǎng)絡(luò)、數(shù)據(jù)庫等，傳統(tǒng)的方法是靠資深的系統(tǒng)工程師進(jìn)行診斷。但是，這種方式對人依賴很大，需要耗費(fèi)大量的時間，效率不高，而且診斷的準(zhǔn)確性無法保證，從而有可能導(dǎo)致無法及時發(fā)現(xiàn)性能瓶 頸，浪費(fèi)大量的人力和物力。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種性能瓶頸診斷方法和設(shè)備，用以提高TPC-C性能測試的效率和準(zhǔn)確性。本發(fā)明實(shí)施例提供了一種性能瓶頸診斷方法，應(yīng)用于TPC-C性能測試中，包括將TPC-C性能測試衡量的事務(wù)劃分為多個最小環(huán)節(jié)；當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能參考值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第一時間；當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能瓶頸值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第二時間；分別比較所述每個最小環(huán)節(jié)的第一時間和第二時間，將第二時間大于第一時間的最小環(huán)節(jié)確定為瓶頸環(huán)節(jié)，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定的專家?guī)齑_定所述瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的根原因，所述專家?guī)煊糜诒４嫫款i環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象以及原因的對應(yīng)關(guān)系。本發(fā)明實(shí)施例提供了一種性能瓶頸診斷設(shè)備，應(yīng)用于TPC-C性能測試中，包括劃分模塊，用于將TPC-C性能測試衡量的事務(wù)劃分為多個最小環(huán)節(jié)；第一獲取模塊，用于當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能參考值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第一時間；第二獲取模塊，用于當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能瓶頸值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第二時間；確定模塊，用于分別比較所述每個最小環(huán)節(jié)的第一時間和第二時間，將第二時間大于第一時間的最小環(huán)節(jié)確定為瓶頸環(huán)節(jié)，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定的專家?guī)齑_定所述瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的根原因，所述專家?guī)煊糜诒４嫫款i環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象以及原因的對應(yīng)關(guān)系。由上述技術(shù)方案可知，本發(fā)明實(shí)施例通過獲取第一時間和第二時間，也就是獲取性能較好時每個最小環(huán)節(jié)的時間，以及性能差時每個最小環(huán)節(jié)的時間，通過將性能差時的時間與性能好時的時間進(jìn)行比對，就可以確定出差在哪個環(huán)節(jié)，也就是說通過比對第一時間和第二時間確定瓶頸環(huán)節(jié)，可以實(shí)現(xiàn)基于時間的每個最小環(huán)節(jié)的性能，并結(jié)合專家?guī)齑_定瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的根原因，可以自動分析得到性能瓶頸，提升了 TPC-C性能檢測的效率，避免人為檢測引起的問題，提高性能檢測的準(zhǔn)確性，并且由于是基于環(huán)節(jié)的檢測，可以對整體檢測進(jìn)行細(xì)化，達(dá)到更好的性能瓶頸診斷效果。


圖I為本發(fā)明性能瓶頸診斷方法一實(shí)施例的流程示意圖；圖2為本發(fā)明中事務(wù)消 耗時間的組成環(huán)節(jié)示意圖；圖3為本發(fā)明中服務(wù)器時間的組成環(huán)節(jié)示意圖；圖4為本發(fā)明中客戶端時間的組成環(huán)節(jié)示意圖；圖5為本發(fā)明中專家?guī)斓氖疽鈭D；圖6為本發(fā)明性能瓶頸診斷方法另一實(shí)施例的流程示意圖；圖7為本發(fā)明性能瓶頸診斷設(shè)備一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式圖I為本發(fā)明性能瓶頸診斷方法一實(shí)施例的流程示意圖，該方法可以應(yīng)用與TPC-C性能測試中，該方法包括步驟11 :將TPC-C性能測試衡量的事務(wù)劃分為多個最小環(huán)節(jié)；TPC-C是針對整個測試系統(tǒng)的，用于衡量事務(wù)的處理性能，該系統(tǒng)可以處理的事務(wù)包括新訂單(new_order)、支付(payment)、發(fā)貨(delivery)和庫存(stock_level)。每個事務(wù)消耗的資源和執(zhí)行的動作基本相同，每個事務(wù)消耗的時間與系統(tǒng)的整體性能有關(guān)，例如，參見圖2，每個事務(wù)消耗的時間可以分為客戶端時間、網(wǎng)絡(luò)時間和服務(wù)器時間，其中，客戶端時間是指消耗在客戶端的時間，包括用戶提交訂單的時間，兩個訂單之間的等待時間等；網(wǎng)絡(luò)時間是指訂單從客戶端傳遞給服務(wù)器的時間；服務(wù)器時間是指服務(wù)器對訂單進(jìn)行處理的時間，包括服務(wù)器讀取訂單的時間、用CPU對訂單進(jìn)行處理的時間等。進(jìn)一步的，參見圖3，服務(wù)器時間可以分為IO時間、等待時間、CPU時間，其中，IO時間是指讀取訂單的時間；等待時間是指訂單等待處理的時間，CPU時間是指CPU對訂單處理的時間。再者，參見圖4，客戶端時間可以分為提交訂單時間和等待時間。通過上述分析，每個事務(wù)可以被細(xì)分為多個最小環(huán)節(jié)，每個最小環(huán)節(jié)可以有具體的消耗時間。在具體實(shí)施時，可以根據(jù)系統(tǒng)架構(gòu)和軟件情況預(yù)先設(shè)置每個事務(wù)可以劃分的最小環(huán)節(jié)，例如，在一種場景下，將事務(wù)劃分為用戶提交訂單的時間、用戶提交訂單之間的等待時間、網(wǎng)絡(luò)傳輸時間、服務(wù)器讀取訂單的時間、CPU處理訂單的時間；又例如，在另一種場景下，可以將事務(wù)劃分為客戶端處理時間、網(wǎng)絡(luò)傳輸時間和服務(wù)器處理時間。步驟12 :當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能參考值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第一時間；在TPC-C性能測試過程中，選取的樣本(如倉庫)的數(shù)目不同，得到的TPC-C值是不同的。本實(shí)施例中可以預(yù)先設(shè)置兩個值，分別稱為性能參考值和性能瓶頸值，性能參考值是指性能較好時的值，性能瓶頸值是指性能差時的值。本實(shí)施例中，可以通過基線(baseline)拍照的方式獲取每個最小環(huán)節(jié)的消耗時間?；€是軟件文檔或源碼的一個穩(wěn)定版本，是進(jìn)一步開發(fā)的基礎(chǔ)?；€是項(xiàng)目存儲庫中每個工件版本在特定時期的一個快照，能夠反映一個工件版本每個最小環(huán)節(jié)的具體情況。因此，通過基線拍照的方式可以獲取一個事務(wù)包括的每個最小環(huán)節(jié)的具體消耗時間。TPC-C性能測試過程中，隨著性能的不同，TPC-C值是不同的，性能不同時每個最小環(huán)節(jié)消耗的時間也是不同的。本實(shí)施例可以首先獲取TPC-C值達(dá)到參考值時每個最小環(huán)節(jié)消耗的時間。可以通過選取小樣本的方式使得TPC-C值達(dá)到參考值，例如，假設(shè)隨機(jī)選取樣本數(shù)為N，經(jīng)過TPC-C檢測后得到一個TPC-C值為A，如果該A小于參考值則表明沒有達(dá)到參考值，此時需要減少選取的樣本數(shù)N ;如果A大于或等于參考值，則可以對此時的事務(wù)進(jìn)行基線拍照，得到第一時間。其中，上述的樣本可以是指倉庫(warehouse),而針對倉庫的參考值是每個倉庫的TPC-C值是12. 75事務(wù)數(shù)/分鐘(tpmC)。例如，選取N個倉庫進(jìn)行TPC-C檢測，達(dá)到TPC-C值為B，如果B/N彡12. 75則表明TPC-C達(dá)到參考值，否則如果B/N < 12. 75則表明未達(dá)到參考值。在TPC-C值達(dá)到參考值后，可以對事務(wù)進(jìn)行基線拍照，得到每個最小環(huán)節(jié)的時間，例如得到IO時間為多少、CPU時間為多少、提交訂單時間為多少、網(wǎng)絡(luò)時間為多少等。步驟13 :當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能瓶頸值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第二時間；性能瓶頸可以通過增加樣本數(shù)量實(shí)現(xiàn)，例如將選取的樣本數(shù)量從小到大進(jìn)行增加并繼續(xù)TPC-C檢測，獲取每次檢測的TPC-C值，如果TPC-C值達(dá)到瓶頸值，則可以在此時獲取第二時間。例如，可以設(shè)定瓶頸值為每個倉庫對應(yīng)的TPC-C值為12. 5tpmC，則如果樣本數(shù)在NI時得到的整體的TPC-C值為C，且C/N1 ( 12. 5，則表明性能出現(xiàn)瓶頸。在性能出現(xiàn)瓶頸后，也可以對事務(wù)進(jìn)行拍照，得到每個最小環(huán)節(jié)的時間，此時的時間為第二時間。步驟14 :分別比較所述每個最小環(huán)節(jié)的第一時間和第二時間，將第二時間大于第一時間的最小環(huán)節(jié)確定為瓶頸環(huán)節(jié)，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定的專家?guī)齑_定所述瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的根原因，所述專家?guī)煊糜诒４嫫款i環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象以及原因的對應(yīng)關(guān)系。通過比對就可以獲知瓶頸環(huán)節(jié)，例如，針對10，其第二時間大于第一時間，則表明IO時間為瓶頸環(huán)節(jié)，又例如，針對CPU，如果其第二時間也大于對應(yīng)的第一時間，則表明CPU時間也是瓶頸環(huán)節(jié)。專家?guī)熘杏涗洭F(xiàn)象和原因的對應(yīng)關(guān)系，例如，參見圖5，給出專家?guī)熘幸环N現(xiàn)象與原因的對應(yīng)關(guān)系，圖5中假設(shè)出現(xiàn)的現(xiàn)象是CPU時間慢，那么導(dǎo)致CPU時間慢的原因可能是操作系統(tǒng)(OS)、外設(shè)、數(shù)據(jù)庫(DB)、網(wǎng)絡(luò)，DB的原因又可以進(jìn)一步劃分為結(jié)構(gòu)化查詢語言(Structured Query Language, sql)問題和 db 實(shí)例問題(db instance)、漏洞(bug)、I0 問題、架構(gòu)問題(bad architecture)等，sql中又可以進(jìn)一步分為索引丟失(index miss)、執(zhí)行計劃問題(bad eaplain plan)、優(yōu)化器問題(bad optimizer)、參數(shù)問題(parameter)
坐寸o在確定瓶頸環(huán)節(jié)后，可以根據(jù)瓶頸環(huán)節(jié)體現(xiàn)的現(xiàn)象在專家?guī)熘胁檎业皆?，再結(jié)合所有的瓶頸環(huán)節(jié)，可以將所有瓶頸環(huán)節(jié)都對應(yīng)的原因確定為根原因(root cause)。例如，如果瓶頸環(huán)節(jié)為IO時間和CPU時間，那么根據(jù)這些瓶頸環(huán)節(jié)的第一時間和第二時間，可以得到這些瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象就是IO慢和CPU慢，在專家?guī)熘锌梢圆檎业絀O慢和CPU慢分別對應(yīng)的原因，假設(shè)IO慢對應(yīng)的原因中包括網(wǎng)絡(luò)原因，而CPU慢的原因中也包括網(wǎng)絡(luò)原因，那么就可以將網(wǎng)絡(luò)原因確定為根原因。在獲取根原因后可以進(jìn)行調(diào)試，例如確定根原因?yàn)榫W(wǎng)絡(luò)原因后，就可以檢查網(wǎng)絡(luò)并進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化。本實(shí)施例通過獲取第一時間和第二時間，并比對第一時間和第二時間確定瓶頸環(huán)節(jié)，可以實(shí)現(xiàn)基于時間的每個最小環(huán)節(jié)的性能，并結(jié)合專家?guī)齑_定瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的根原因，可以自動分析得到性能瓶頸，避免人為檢測引起的問題，并且由于是基于環(huán)節(jié)的檢測，可以對整體檢測進(jìn)行細(xì)化，提高性能瓶頸診斷效果。圖6為本發(fā)明性能瓶頸診斷方法另一實(shí)施例的流程示意圖，包括
步驟601 :選取一定數(shù)量的樣本進(jìn)行TPC-C性能測試。例如，可以隨機(jī)選擇一定數(shù)量的倉庫數(shù)進(jìn)行TPC-C測試。步驟602:判斷系統(tǒng)性能是否達(dá)到參考性能，若是，執(zhí)行步驟604，否則執(zhí)行步驟603。例如，通過性能測試，可以得到每個倉庫對應(yīng)的tpmC值，如果該值大于或等于參考值，可以確定系統(tǒng)性能達(dá)到參考性能，否則未達(dá)到。步驟603 :減少選取的樣本數(shù)量。之后繼續(xù)進(jìn)行TPC-C性能測試。步驟604 :進(jìn)行基線拍照。通過基線拍照，可以得到事務(wù)每個最小環(huán)節(jié)的時間，可以將此時得到的事務(wù)每個最小環(huán)節(jié)的時間稱為第一時間。步驟605 :增加選取的樣本數(shù)量繼續(xù)TPC-C性能測試。步驟606 :判斷系統(tǒng)性能是否達(dá)到性能瓶頸，若是，執(zhí)行步驟607，否則重復(fù)執(zhí)行步驟605及其后續(xù)步驟。步驟607 :進(jìn)行基線拍照。通過基線拍照，可以得到事務(wù)每個最小環(huán)節(jié)的時間，可以將此時得到的事務(wù)每個最小環(huán)節(jié)的時間稱為第二時間。步驟608 :進(jìn)行環(huán)節(jié)比對，并結(jié)合專家?guī)觳檎腋?。其中，可以比對第一時間和第二時間，將第二時間大于第一時間的環(huán)節(jié)作為瓶頸環(huán)節(jié)，并結(jié)合專家?guī)熘鞋F(xiàn)象對應(yīng)的原因得到根原因。具體內(nèi)容可以參見圖I所示實(shí)施例。步驟609 :判斷是否找到根原因，若是，執(zhí)行步驟610，否則執(zhí)行步驟611。步驟610 :進(jìn)行調(diào)優(yōu)處理。步驟611 :結(jié)束，無法確定原因。本實(shí)施例通過基線拍照可以得到事務(wù)每個最小環(huán)節(jié)的時間，使得可以將瓶頸定位到細(xì)分的具體的環(huán)節(jié)；本實(shí)施例根據(jù)專家?guī)炜梢岳矛F(xiàn)有的數(shù)據(jù)庫盡快和盡可能準(zhǔn)確的定位原因，實(shí)現(xiàn)瓶頸快速而準(zhǔn)確的定位；本實(shí)施例是對事務(wù)的整體進(jìn)行細(xì)分環(huán)節(jié)，實(shí)現(xiàn)對系統(tǒng)環(huán)境的整體進(jìn)行考慮和分析。圖7為本發(fā)明性能瓶頸診斷設(shè)備一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖，該設(shè)備可以應(yīng)用于TPC-C性能測試中，該設(shè)備包括劃分模塊71、第一獲取模塊72、第二獲取模塊73和確定模塊74 ;劃分模塊71用于將TPC-C性能測試衡量的事務(wù)劃分為多個最小環(huán)節(jié)；第一獲取模塊72用于當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能參考值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第一時間；第二獲取模塊73用于當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能瓶頸值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第二時間；確定模塊74用于分別比較所述每個最小環(huán)節(jié)的第一時間和第二時間，將第二時間大于第一時間的最小環(huán)節(jié)確定為瓶頸環(huán)節(jié)，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定的專家?guī)齑_定所述瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的根原因，所述專家?guī)煊糜诒４嫫款i環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象以及原因的對應(yīng)關(guān)系。可選的，所述第一獲取模塊72具體用于選取一定數(shù)量的樣本進(jìn)行TPC-C性能測試；當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值小于所述預(yù)設(shè)的性能參考值時，減少選取的樣本的數(shù)量直至所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述性能參考值；
在所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述性能參考值時，對所述事務(wù)進(jìn)行基線快照，得到所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第一時間.可選的，所述第二獲取模塊73具體用于在所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述性能參考值后，增加選取的樣本數(shù)量直至所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述預(yù)設(shè)的性能瓶頸值；在所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述性能瓶頸值時對所述事物進(jìn)行基線快照，得到所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第二時間.可選的，所述確定模塊74具體用于根據(jù)所述瓶頸環(huán)節(jié)的第一時間和第二時間，確定所述瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象；根據(jù)所述現(xiàn)象以及所述專家?guī)熘斜４娴钠款i環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象以及原因的對應(yīng)關(guān)系，查詢得到所述現(xiàn)象對應(yīng)的原因；將所述現(xiàn)象對應(yīng)的原因確定為造成所述瓶頸環(huán)節(jié)的根原因。本實(shí)施例通過獲取第一時間和第二時間，并比對第一時間和第二時間確定瓶頸環(huán)節(jié)，可以實(shí)現(xiàn)基于時間的每個最小環(huán)節(jié)的性能，并結(jié)合專家?guī)齑_定瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的根原因，可以自動分析得到性能瓶頸，避免人為檢測引起的問題，并且由于是基于環(huán)節(jié)的檢測，可以對整體檢測進(jìn)行細(xì)化，提高性能瓶頸診斷效果。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述各方法實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成。前述的程序可以存儲于一計算機(jī)可讀取存儲介質(zhì)中。該程序在執(zhí)行時，執(zhí)行包括上述各方法實(shí)施例的步驟；而前述的存儲介質(zhì)包括R0M、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。最后應(yīng)說明的是以上各實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述各實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解其依然可以對前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對其中部分或者全部技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的范圍。
權(quán)利要求
1.一種性能瓶頸診斷方法，應(yīng)用于事務(wù)交易性能委員會基準(zhǔn)測試CTPC-C性能測試中，其特征在于，包括 將TPC-C性能測試衡量的事務(wù)劃分為多個最小環(huán)節(jié)； 當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能參考值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第一時間； 當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能瓶頸值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第二時間； 分別比較所述每個最小環(huán)節(jié)的第一時間和第二時間，將第二時間大于第一時間的最小環(huán)節(jié)確定為瓶頸環(huán)節(jié)，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定的專家?guī)齑_定所述瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的根原因，所述專家?guī)煊糜诒４嫫款i環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象以及原因的對應(yīng)關(guān)系。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述當(dāng)TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能參考值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第一時間，具體包括 選取一定數(shù)量的樣本進(jìn)行TPC-C性能測試； 當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值小于所述預(yù)設(shè)的性能參考值時，減少選取的樣本的數(shù)量直至所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述性能參考值； 在所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述性能參考值時，對所述事務(wù)進(jìn)行基線快照，得到所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第一時間。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的方法，其特征在于，所述當(dāng)TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能瓶頸值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第二時間，具體包括 在所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述性能參考值后，增加選取的樣本數(shù)量直至所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述預(yù)設(shè)的性能瓶頸值； 在所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述性能瓶頸值時對所述事物進(jìn)行基線快照，得到所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第二時間。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)預(yù)先設(shè)定的專家?guī)齑_定所述瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的根原因，包括 根據(jù)所述瓶頸環(huán)節(jié)的第一時間和第二時間，確定所述瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象； 根據(jù)所述現(xiàn)象以及所述專家?guī)熘斜４娴钠款i環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象以及原因的對應(yīng)關(guān)系，查詢得到所述現(xiàn)象對應(yīng)的原因； 將所述現(xiàn)象對應(yīng)的原因確定為造成所述瓶頸環(huán)節(jié)的根原因。
5.一種性能瓶頸診斷設(shè)備，應(yīng)用于事務(wù)交易性能委員會基準(zhǔn)測試CTPC-C性能測試中，其特征在于，包括 劃分模塊，用于將TPC-C性能測試衡量的事務(wù)劃分為多個最小環(huán)節(jié)； 第一獲取模塊，用于當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能參考值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第一時間； 第二獲取模塊，用于當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能瓶頸值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第二時間； 確定模塊，用于分別比較所述每個最小環(huán)節(jié)的第一時間和第二時間，將第二時間大于第一時間的最小環(huán)節(jié)確定為瓶頸環(huán)節(jié)，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定的專家?guī)齑_定所述瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的根原因，所述專家?guī)煊糜诒４嫫款i環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象以及原因的對應(yīng)關(guān)系。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)備，其特征在于，所述第一獲取模塊具體用于 選取一定數(shù)量的樣本進(jìn)行TPC-C性能測試； 當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值小于所述預(yù)設(shè)的性能參考值時，減少選取的樣本的數(shù)量直至所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述性能參考值； 在所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述性能參考值時，對所述事務(wù)進(jìn)行基線快照，得到所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第一時間。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的設(shè)備，其特征在于，所述第二獲取模塊具體用于 在所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述性能參考值后，增加選取的樣本數(shù)量直至所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述預(yù)設(shè)的性能瓶頸值； 在所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到所述性能瓶頸值時對所述事物進(jìn)行基線快照，得到所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第二時間。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的設(shè)備，其特征在于，所述確定模塊具體用于 根據(jù)所述瓶頸環(huán)節(jié)的第一時間和第二時間，確定所述瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象； 根據(jù)所述現(xiàn)象以及所述專家?guī)熘斜４娴钠款i環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象以及原因的對應(yīng)關(guān)系，查詢得到所述現(xiàn)象對應(yīng)的原因； 將所述現(xiàn)象對應(yīng)的原因確定為造成所述瓶頸環(huán)節(jié)的根原因。
全文摘要
本發(fā)明提供一種性能瓶頸診斷方法和設(shè)備。該方法包括將TPC-C性能測試衡量的事務(wù)劃分為多個最小環(huán)節(jié)；當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能參考值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第一時間；當(dāng)所述TPC-C性能測試得到的TPC-C值達(dá)到預(yù)設(shè)的性能瓶頸值時，獲取所述事務(wù)的每個最小環(huán)節(jié)消耗的第二時間；分別比較所述每個最小環(huán)節(jié)的第一時間和第二時間，將第二時間大于第一時間的最小環(huán)節(jié)確定為瓶頸環(huán)節(jié)，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定的專家?guī)齑_定所述瓶頸環(huán)節(jié)對應(yīng)的根原因，所述專家?guī)煊糜诒４嫫款i環(huán)節(jié)對應(yīng)的現(xiàn)象以及原因的對應(yīng)關(guān)系。本發(fā)明實(shí)施例可以提高TPC-C性能測試時的診斷效果。
文檔編號G06F11/22GK102708029SQ20121012383
公開日2012年10月3日 申請日期2012年4月25日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月25日
發(fā)明者王勇 申請人:華為技術(shù)有限公司