本發(fā)明涉及嵌入式自動化測試領域，具體而言，涉及一種存儲數(shù)據(jù)測試方法、裝置及系統(tǒng)。

背景技術：
目前所有涉及程序開發(fā)的電子產(chǎn)品，都面臨可靠性的問題，如何提高產(chǎn)品質(zhì)量，必須要有可靠的實驗測試方法驗證，而IIC芯片數(shù)據(jù)多，驗證難度大。目前較先進的測試方法如下：用ALL11等芯片燒寫設備讀取IIC芯片中存儲的數(shù)據(jù)，然后保存數(shù)據(jù)到PC機上，再人工放到EXCEL表格中，用已知的定義表與需要保存的數(shù)據(jù)進行對比。然后人工核查對比結果并生成對比報告。上述方法完全人工操作，測試數(shù)據(jù)的效率低，測試一個IIC芯片須要2至5天(根據(jù)數(shù)據(jù)量而定)，且不能自動出測試對比報告。

技術實現(xiàn)要素：
本發(fā)明提供了一種存儲數(shù)據(jù)測試方法、裝置及系統(tǒng)，以至少解決相關技術中，IIC芯片存儲數(shù)據(jù)的測試是人工操作，效率低的問題。根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種存儲數(shù)據(jù)測試方法，包括：通過ARM工裝讀取IIC芯片的存儲數(shù)據(jù)；將存儲數(shù)據(jù)與預先設置的默認數(shù)據(jù)進行對比；根據(jù)對比結果生成對比報告。優(yōu)選地，在根據(jù)對比結果生成對比報告之后，上述方法還包括：當對比報告顯示存儲數(shù)據(jù)存在錯誤時，通過ARM工裝將默認數(shù)據(jù)重新寫入IIC芯片中。優(yōu)選地，默認數(shù)據(jù)包括以下至少之一：壓縮機運行頻率、內(nèi)外風機轉(zhuǎn)速、制冷/制熱內(nèi)環(huán)補償、保護值、化霜時間。優(yōu)選地，對比報告包括以下至少之一：數(shù)據(jù)名稱、數(shù)據(jù)地址、預先設置的默認數(shù)據(jù)、讀取的存儲數(shù)據(jù)、異常數(shù)據(jù)、測試結論。優(yōu)選地，所述對比報告是EXCEL格式，其中包括對異常數(shù)據(jù)進行提示。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種存儲數(shù)據(jù)測試裝置，包括：讀取模塊，用于通過ARM工裝讀取IIC芯片的存儲數(shù)據(jù)；對比模塊，用于將存儲數(shù)據(jù)與預先設置的默認數(shù)據(jù)進行對比；生成模塊，用于根據(jù)對比結果生成對比報告。優(yōu)選地，上述裝置還包括：寫入模塊，用于在對比報告顯示存儲數(shù)據(jù)存在錯誤的情況下，通過ARM工裝將默認數(shù)據(jù)重新寫入IIC芯片中。優(yōu)選地，默認數(shù)據(jù)包括以下至少之一：壓縮機運行頻率、內(nèi)外風機轉(zhuǎn)速、制冷/制熱內(nèi)環(huán)補償、保護值、化霜時間。優(yōu)選地，對比報告包括以下至少之一：數(shù)據(jù)名稱、數(shù)據(jù)地址、預先設置的默認數(shù)據(jù)、讀取的存儲數(shù)據(jù)、異常數(shù)據(jù)、測試結論。優(yōu)選地，所述對比報告是EXCEL格式，其中包括對異常數(shù)據(jù)進行提示。根據(jù)本發(fā)明的再一個方面，提供了一種存儲數(shù)據(jù)測試系統(tǒng)，包括ARM工裝、IIC芯片和操作平臺，其中，操作平臺用于通過ARM工裝讀取IIC芯片的存儲數(shù)據(jù)，將存儲數(shù)據(jù)與預先設置的默認數(shù)據(jù)進行對比，并根據(jù)對比結果生成對比報告。優(yōu)選地，上述操作平臺還用于在對比報告顯示存儲數(shù)據(jù)存在錯誤的情況下，通過ARM工裝將默認數(shù)據(jù)重新寫入IIC芯片中。優(yōu)選地，操作平臺與ARM工裝通過RS232轉(zhuǎn)換器連接，ARM工裝與IIC芯片通過通信線連接。優(yōu)選地，上述操作平臺是計算機軟件操作平臺。本發(fā)明通過自動讀取IIC芯片的存儲數(shù)據(jù)，并與默認數(shù)據(jù)進行對比，生成對比報告，從而實現(xiàn)了存儲數(shù)據(jù)測試的智能化，且提高了測試效率和準確率。附圖說明此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構成本申請的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構成對本發(fā)明的不當限定。在附圖中：圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的存儲數(shù)據(jù)測試方法的流程圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的對比報告的示意圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的存儲數(shù)據(jù)測試裝置的結構框圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的存儲數(shù)據(jù)測試裝置的結構框圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的存儲數(shù)據(jù)測試系統(tǒng)的結構框圖；圖6是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的存儲數(shù)據(jù)測試系統(tǒng)的連接示意圖；圖7是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的Labview軟件的操作流程圖；圖8是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的存儲數(shù)據(jù)測試方法的流程圖一；圖9是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的存儲數(shù)據(jù)測試方法的流程圖二；圖10是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的存儲數(shù)據(jù)測試方法的流程圖三。具體實施方式需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結合實施例來詳細說明本發(fā)明。相關技術中，IIC芯片存儲數(shù)據(jù)的測試完全人工操作，效率低，準確度低，且需要燒寫設備，成本較高。所以，需要一種效率高，智能化，測試精度高，成本低的測試方法。本發(fā)明實施例提供了一種存儲數(shù)據(jù)測試方法，圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的存儲數(shù)...