專利名稱：觸控點(diǎn)偵測(cè)方法
觸控點(diǎn)偵測(cè)方法技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，且特別是有關(guān)于一種非數(shù)值運(yùn)算類型的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法。
背景技術(shù)：
觸控面板的設(shè)計(jì)原理是在面板上設(shè)計(jì)多個(gè)感測(cè)單元，且當(dāng)感測(cè)單元被以特定的方式觸碰時(shí)會(huì)產(chǎn)生物理變化。舉例來說，當(dāng)使用光照方式來進(jìn)行感測(cè)時(shí)，一旦有物品靠近觸控面，則感測(cè)單元所接收到的光通量就可能有所改變；若使用按壓方式來進(jìn)行感測(cè)，則當(dāng)物品按壓到觸控面時(shí)，感測(cè)單元就可能產(chǎn)生形變，或者會(huì)因?yàn)楦袦y(cè)單元與觸控面之間的相對(duì)距離改變而造成電容量產(chǎn)生變化。在發(fā)現(xiàn)感測(cè)單元有物理量變化的時(shí)候，這些物理量變化通常會(huì)被轉(zhuǎn)換為電子信號(hào)而傳遞到處理器進(jìn)行對(duì)應(yīng)的計(jì)算；甚至進(jìn)一步利用算法，將觸碰的面積信息提供給后端模塊進(jìn)行與使用者互動(dòng)方式的設(shè)計(jì)。
然而，無論是物理量變化本身、對(duì)于物理量變化的偵測(cè)以及在電子信號(hào)傳遞的過程中，都有可能產(chǎn)生各類的噪聲而影響到觸碰面積的判斷，甚至可能造成誤報(bào)觸碰點(diǎn)的狀況。有鑒于此，采用差動(dòng)(differential)來消除噪聲的方式就因應(yīng)而生。在利用差動(dòng)來消除噪聲的過程中，會(huì)把相鄰的感測(cè)單元的輸出信號(hào)兩兩相減，借此將共模(common)噪聲去除，因此可以排除共模噪聲所造成的影響。然而，在某些特定的情況，差動(dòng)技術(shù)并無法有效地消除噪聲的影響。例如，在使用內(nèi)嵌式(in-cell)感測(cè)單元的觸控面板時(shí)，隨著感測(cè)單元的排列方式、畫面的顯示內(nèi)容以及像素驅(qū)動(dòng)時(shí)的極性設(shè)計(jì)等因素的變化，對(duì)于內(nèi)嵌式感測(cè)單元的輸出信號(hào)都會(huì)產(chǎn)生不同的影響。
如圖IA與圖IB所示，圖IA為差動(dòng)信號(hào)的示意圖，圖IB則是由圖IA的差動(dòng)信號(hào)還原而得的感測(cè)信號(hào)的示意圖。其中，整體差動(dòng)信號(hào)X與整體感測(cè)信號(hào)S分別包含η個(gè)差動(dòng)信號(hào)與η個(gè)感測(cè)信號(hào)，與Xn分別表示第O個(gè)、第a個(gè)、第b個(gè)與第η個(gè)差動(dòng)信號(hào)， 而Sa、Sb與Sn分別表示第O個(gè)、第a個(gè)、第b個(gè)與第η個(gè)感測(cè)信號(hào)。整體差動(dòng)信號(hào)X與整體感測(cè)信號(hào)S之間的關(guān)系滿足以下公式
Sy=Sy-1+Xy
因此，在整體差動(dòng)信號(hào)X本身沒有噪聲干擾的時(shí)候，可以還原正確的整體感測(cè)信號(hào)S。然而，一旦在整體差動(dòng)信號(hào)X中出現(xiàn)了噪聲，則還原的整體感測(cè)信號(hào)S就會(huì)出現(xiàn)問題。 請(qǐng)參考圖IC與圖1D，圖IC顯示在差動(dòng)信號(hào)Xa之前出現(xiàn)了一個(gè)突波噪聲?；谝陨瞎?， 這個(gè)整體差動(dòng)信號(hào)中的突波噪聲會(huì)使得整體感測(cè)信號(hào)S如圖ID所示在感測(cè)信號(hào)Sa之前就被向上抬升。假若被抬升的值大于判斷是否為觸碰點(diǎn)時(shí)所使用的臨界值，則觸碰點(diǎn)的判斷結(jié)果就會(huì)失敗。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出一種觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，包括提供包含了第一數(shù)量的預(yù)設(shè)電位特征的電位特征預(yù)設(shè)組合，偵測(cè)得多個(gè)感測(cè)單元的多個(gè)感測(cè)電位特征，判斷按照依一個(gè)特定方向3排列的多個(gè)感測(cè)單元的感測(cè)電位特征的排列結(jié)果，最后根據(jù)感測(cè)電位特征排列結(jié)果與前述電位特征預(yù)設(shè)組合之間的關(guān)系的判斷結(jié)果以設(shè)定觸控點(diǎn)偵測(cè)的結(jié)果。其中，在判斷按照某一個(gè)特定方向排列的感測(cè)單元的感測(cè)電位特征的排列結(jié)果時(shí)，先在特定方向上依序取得與感測(cè)單元之一及所取感測(cè)單元之后的連續(xù)多個(gè)感測(cè)單元相對(duì)應(yīng)、總數(shù)共為第二數(shù)量的感測(cè)電位特征，之后判斷這些感測(cè)電位特征與前述電位特征預(yù)設(shè)組合中位于相對(duì)應(yīng)位置的預(yù)設(shè)電位特征是否相符。接下來，在此特定方向上，從此次所取的感測(cè)單元中的第一個(gè)往后計(jì)數(shù)第三數(shù)量后開始，重復(fù)進(jìn)行前述的感測(cè)電位特征取得及判斷是否相符的操作，直到取得此特定方向上排列的所有需進(jìn)行判斷的感測(cè)單元的感測(cè)電位特征為止。最后根據(jù)前述判斷感測(cè)單元的感測(cè)電位特征排列結(jié)果以設(shè)定觸控點(diǎn)偵測(cè)的結(jié)果。其中，前述的第一數(shù)量大于第二數(shù)量。
上述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法,其中該些感測(cè)電位特征包括對(duì)應(yīng)的該感測(cè)單元的感測(cè)電位與一特定電位之間的大小關(guān)系。
上述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其中該特定電位為一接地電位。
上述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其中該特定電位為一噪聲電位。
上述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其中根據(jù)判斷該些感測(cè)單元的該第二數(shù)量感測(cè)電位特征排列結(jié)果而設(shè)定觸控點(diǎn)偵測(cè)的結(jié)果，包括若連續(xù)判斷該第二數(shù)量感測(cè)電位特征與該電位特征預(yù)設(shè)組合中位于相對(duì)應(yīng)位置的該些預(yù)設(shè)電位特征為相符的次數(shù)不小于一預(yù)設(shè)門坎值， 則判斷連續(xù)相符之處所對(duì)應(yīng)的該些感測(cè)單元受到觸碰；以及若連續(xù)判斷該第二數(shù)量感測(cè)電位特征與該電位特征預(yù)設(shè)組合中位于相對(duì)應(yīng)位置的該些預(yù)設(shè)電位特征為相符的次數(shù)小于該預(yù)設(shè)門坎值，則判斷連續(xù)相符之處所對(duì)應(yīng)的該些感測(cè)單元未受到觸碰。
上述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其中當(dāng)判斷連續(xù)相符之處所對(duì)應(yīng)的該些感測(cè)單元未受到觸碰時(shí)，更將判斷連續(xù)相符之處所對(duì)應(yīng)的一部分輸出信號(hào)的電位設(shè)定為一特定電位。
上述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其中該特定電位為一接地電位。
上述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其中該特定電位為一噪聲電位。
上述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其中更包括根據(jù)判斷該些感測(cè)單元的該第二數(shù)量感測(cè)電位特征排列結(jié)果而決定是否調(diào)整一輸出信號(hào)中的一部分的電位。
本發(fā)明因使用非數(shù)值方式來進(jìn)行觸控點(diǎn)的判斷，所以不會(huì)受到突波噪聲的影響而可以進(jìn)行準(zhǔn)確的觸控點(diǎn)偵測(cè)。
為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉較佳實(shí)施例， 并配合所附附圖，作詳細(xì)說明如下。


圖IA為差動(dòng)信號(hào)的示意圖IB為由圖IA的差動(dòng)信號(hào)還原而得的感測(cè)信號(hào)的示意圖IC為含有噪聲的差動(dòng)信號(hào)的示意圖ID為由圖IB的差動(dòng)信號(hào)還原而得的感測(cè)信號(hào)的示意圖2為實(shí)施本發(fā)明一實(shí)施例時(shí)所用的觸控系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖3A與圖3B為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的施行步驟流程圖4為連續(xù)多筆差動(dòng)信號(hào)排列而成的信號(hào)波形圖5Α為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的電位特征預(yù)設(shè)組合中的一部分的示意圖5Β為根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的電位特征預(yù)設(shè)組合中的一部分的示意圖。
其中，附圖標(biāo)記
20 觸控面板23 感測(cè)芯片
25 信號(hào)處理模塊200、202、206、208 :像素
210、212、216、218 :感測(cè)單元220,222 :讀取線
230:差動(dòng)放大器232:增益器
234:模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器250:特征查找模塊
252:信號(hào)產(chǎn)生模塊400:箭頭方向
410:虛線方框
S30CTS316 :本發(fā)明一實(shí)施例的施行步驟
S0、:sa、Sb、Sn:感測(cè)信號(hào)動(dòng)信號(hào)具體實(shí)施方式
為了使此一技術(shù)領(lǐng)域者能快速明白本案的優(yōu)點(diǎn)及相關(guān)設(shè)計(jì)理念，以下將以內(nèi)嵌式 (in-cell)觸控面板為例來進(jìn)行說明。然，本案所提供的技術(shù)并非只能運(yùn)用于內(nèi)嵌式觸控面板中，此點(diǎn)合當(dāng)知悉。
請(qǐng)參考圖2，其為實(shí)施本發(fā)明的實(shí)施例時(shí)所用的觸控系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖。在此實(shí)施例中，觸控系統(tǒng)主要包含了內(nèi)嵌式觸控面板20，感測(cè)芯片23以及信號(hào)處理模塊25。在內(nèi)嵌式觸控面板20之中設(shè)置了多個(gè)像素200、202、206與208，而在每個(gè)像素旁則分別設(shè)置了一個(gè)對(duì)應(yīng)的感測(cè)單元210、212、216與218。此外，以多個(gè)感測(cè)單元為一組,此組感測(cè)單元所產(chǎn)生的感測(cè)結(jié)果會(huì)同時(shí)被提供到一條讀取在線而作為讀取數(shù)據(jù)。例如，感測(cè)單元210、212、 216與218所產(chǎn)生的感測(cè)數(shù)據(jù)就會(huì)同時(shí)被提供到讀取線220上以作為讀取數(shù)據(jù)；類似的，讀取線222也會(huì)電性耦接到另一組對(duì)應(yīng)的感測(cè)單元，并借此取得該組對(duì)應(yīng)的感測(cè)單元所提供的感測(cè)結(jié)果而作為另一讀取數(shù)據(jù)。在此，所謂的讀取數(shù)據(jù)可能包含電流或電位等常用的電子量測(cè)對(duì)象，或者其它可以用來傳遞相關(guān)信息的載體。
前述的讀取數(shù)據(jù)會(huì)透過讀取線220與222而被傳送到感測(cè)芯片23上。如圖2所示，感測(cè)芯片23包括了差動(dòng)放大器230、增益器232以及模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器234。差動(dòng)放大器230的兩個(gè)輸入端分別電性耦接至連續(xù)設(shè)置的兩條讀取線220與222，借此達(dá)到下式的功
Xn = Dn+1-Dn
其中，Xn表示為第η個(gè)差動(dòng)信號(hào)，Dn與Dn+1則分別表示第η條讀取線與第η+1條讀取在線傳遞的讀取數(shù)據(jù)。
由于在觸碰時(shí)的物理變化量會(huì)以觸碰點(diǎn)中央較大而四周較小，因此在沿著特定方向掃描時(shí)，會(huì)先碰到物理變化量較小的點(diǎn)，隨后物理變化量會(huì)越來越大直到觸碰的中心點(diǎn)到達(dá)物理變化量最大，接下來物理變化量才會(huì)開始減少，直到最后會(huì)再度回復(fù)到如差動(dòng)信號(hào)波形前段一般維持在某一個(gè)特定電位上的狀況。因此，由各讀取數(shù)據(jù)所組合成的讀取信號(hào)也會(huì)產(chǎn)生由小而大的變化，其波形的形狀會(huì)形成如圖IB所示般的常態(tài)分布狀況。而隨著電路的設(shè)計(jì)不同，前述由小而大的變化可能是由絕對(duì)值由小而大的正值變化，也可能是絕對(duì)值由小而大的負(fù)值變化；換言之，常態(tài)分布可能是一個(gè)有著波峰的波形，也可能是一個(gè)有著波谷的波形。
差動(dòng)放大器230把從輸入端接收到的讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行減法運(yùn)算，進(jìn)而得到對(duì)應(yīng)的一個(gè)差動(dòng)信號(hào)。此差動(dòng)信號(hào)在經(jīng)過增益器232的放大之后，會(huì)再經(jīng)過模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器234 的轉(zhuǎn)換而成為一個(gè)輸出至信號(hào)處理模塊25使用的電子信號(hào)。從模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器234輸出電子信號(hào)至處理模塊25的時(shí)候可以采用各種方式，例如印刷式電路或無線傳輸?shù)?。為了說明上的方便，被提供到信號(hào)處理模塊25的電子信號(hào)在后續(xù)將被稱為感測(cè)電位特征。雖然在此實(shí)施例中的感測(cè)電位特征是經(jīng)由差動(dòng)放大后而得的，但實(shí)際上只要是能夠供應(yīng)至信號(hào)處理模塊25進(jìn)行非數(shù)值性的操作的信號(hào)，都可以是適合的感測(cè)電位特征。
在信號(hào)處理模塊25之中，特征查找模塊250會(huì)把其中所儲(chǔ)存的多個(gè)預(yù)設(shè)電位特征與所接收到的感測(cè)電位特征進(jìn)行比對(duì)，最后再以比對(duì)所得的結(jié)果提供給信號(hào)產(chǎn)生模塊252 以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的感測(cè)信號(hào)。
接著請(qǐng)一并參考圖3A與圖3B。圖3A與圖3B為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的施行步驟流程圖。在本實(shí)施例中，會(huì)準(zhǔn)備一組電位特征預(yù)設(shè)組合以提供給圖2中的特征查找模塊250 使用，而電位特征預(yù)設(shè)組合里面則包括了總數(shù)為第一數(shù)量的預(yù)設(shè)電位特征(步驟S300)。在另一方面(時(shí)間點(diǎn)并沒有特別限制，可以在步驟S300之后、之前或約略同時(shí))，觸控面板20 會(huì)被驅(qū)動(dòng)以從某一個(gè)特定的方向?qū)Ω袦y(cè)單元進(jìn)行掃瞄，以借此取得對(duì)應(yīng)的多個(gè)感測(cè)電位特征(步驟S302)。這個(gè)特定方向一般來說是依照?qǐng)D2中的感測(cè)單元210、212···216到218的排列方向，以使所有的讀取線220與222等能夠在一次的掃瞄中各提供一筆讀取數(shù)據(jù)。所提供的多筆讀取數(shù)據(jù)將透過感測(cè)芯片23的處理而變成對(duì)應(yīng)的多筆感測(cè)電位特征。這些感測(cè)電位特征可以如圖2所示般，是可依照靈敏度調(diào)整或選擇由任兩筆鄰近的讀取數(shù)據(jù)所形成的差動(dòng)信號(hào)的電位，也可以是由每一筆讀取數(shù)據(jù)經(jīng)過其它處理所得到的相應(yīng)的電位。
請(qǐng)一并參照?qǐng)D4，其為連續(xù)多筆差動(dòng)信號(hào)排列而成的整體差動(dòng)信號(hào)波形圖。單就整體差動(dòng)信號(hào)的波形本身而言，可以發(fā)現(xiàn)在波形前段是維持在某一個(gè)特定的電位上，這代表著位于此處的連續(xù)兩條讀取在線的讀取數(shù)據(jù)之間并沒有值的差異，也就是說此處并沒有感應(yīng)到任何觸碰狀況。接下來，整體差動(dòng)信號(hào)波形上下變化的區(qū)域則代表或許有觸碰狀況被感應(yīng)到。
對(duì)應(yīng)于上述的狀況，由于數(shù)據(jù)信號(hào)為常態(tài)分布，因此在數(shù)據(jù)信號(hào)的波形落在拐點(diǎn)的時(shí)候，差動(dòng)信號(hào)的變化率會(huì)有一個(gè)最大值出現(xiàn)，因此整體差動(dòng)信號(hào)的波形在一開始碰到物理變化量較小的點(diǎn)的時(shí)候會(huì)開始上升，并在變化率最大的時(shí)候到達(dá)整體差動(dòng)信號(hào)的波形的波峰，之后開始下降直到到達(dá)觸碰中心點(diǎn)(也就是物理變化量最大的地方)的時(shí)候回到整體差動(dòng)信號(hào)的波形的拐點(diǎn)；接下來，從觸碰中心點(diǎn)開始，整體差動(dòng)信號(hào)的波形會(huì)因?yàn)槲锢碜兓恐饾u減少而開始隨之降低，并同樣在變化率最大的時(shí)候到達(dá)整體差動(dòng)信號(hào)的波形的波谷，之后開始上升(因?yàn)槲锢碜兓康淖兓式档?直到最后回到特定電位上，而此處就是開始感測(cè)不到物理變化量之處。因此，整體差動(dòng)信號(hào)的波形會(huì)呈現(xiàn)為一個(gè)正弦波，而其中的特定電位則可以是某一個(gè)預(yù)先設(shè)定好的電位，也可以是將多余直流噪聲濾除后的噪聲電位?；蛘?，在另一種電路設(shè)計(jì)方法中，由于正負(fù)號(hào)取值的不同，整體差動(dòng)信號(hào)的波形將會(huì)呈現(xiàn)為一個(gè)余弦波。然而，這只是表示上的不同，對(duì)于此案技術(shù)并不會(huì)造成無法適用的影響。
在圖4所示的波形中，透過前述的步驟S302所取得的感測(cè)電位特征就是之前提過的差動(dòng)信號(hào)。而在取得這些差動(dòng)信號(hào)之后，就會(huì)在步驟S304從這些差動(dòng)信號(hào)中取得位于特定位置上，且總數(shù)量達(dá)到第二數(shù)量的差動(dòng)信號(hào)來預(yù)備進(jìn)行后續(xù)的比對(duì)操作。更詳細(xì)地說，如圖4所示，所取得的所有差動(dòng)信號(hào)組成了一個(gè)完整的整體差動(dòng)信號(hào)的波形，而步驟S304所要取得的總數(shù)為第二數(shù)量的差動(dòng)信號(hào)，就如同圖4中的虛線方框410所標(biāo)示的部分一樣，僅為完整差動(dòng)信號(hào)波形中特定的一部分。一般來說，可以從波形的最前端，也就是穩(wěn)定維持在特定電位上的部分開始取，并沿著箭頭400所指的方向逐步移動(dòng)所選取的部分，直到選取完波形的全部?jī)?nèi)容為止。而一個(gè)虛線方框410中所取的XcTXn共η+1個(gè)差動(dòng)信號(hào)，就是前述的第二數(shù)量的差動(dòng)信號(hào)。應(yīng)注意的是，此處的XcTXn表示的僅是虛線方框410中的前后關(guān)系，并不是代表整個(gè)觸控面板中的第O筆到第η筆的差動(dòng)信號(hào)的值。
在步驟S304取得位于特定位置、數(shù)量為第二數(shù)量的感測(cè)電位特征之后，流程即進(jìn)入步驟S306以把所取得的第二數(shù)量的感測(cè)電位特征與電位特征預(yù)設(shè)組合中相對(duì)應(yīng)于此特定位置、同樣為第二數(shù)量的預(yù)設(shè)電位特征來相比較。請(qǐng)一并參照?qǐng)D5Α，其為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電位特征預(yù)設(shè)組合中的一部分。在此實(shí)施例中，電位特征預(yù)設(shè)組合以“ + ”與來表達(dá)。這可以視為是提供了差動(dòng)信號(hào)的正負(fù)符號(hào)為電位特征預(yù)設(shè)組合中的內(nèi)容，也可以視為是提供了差動(dòng)信號(hào)與特定電位(在此為零電位)之間的差值的正負(fù)符號(hào)為電位特征預(yù)設(shè)組合中的內(nèi)容。請(qǐng)一并參照?qǐng)D4與圖5Α，在本實(shí)施例中，當(dāng)圖4的虛線方框410整個(gè)進(jìn)入到波形的上升段，也就是所選取的差動(dòng)信號(hào)都為“ + ”的時(shí)候，在電位特征預(yù)設(shè)組合中所對(duì)應(yīng)的為狀態(tài)t=0 ;而在虛線方框410涵蓋到波形的后半段的時(shí)候，則其狀態(tài)將視符號(hào)的多寡而在電位特征預(yù)設(shè)組合中對(duì)應(yīng)到不同的狀態(tài)t=l與t=p等等。
另一方面，由于讀取信號(hào)實(shí)際上可為具有波谷的常態(tài)分布，因此圖4的波形會(huì)以反轉(zhuǎn)的方式存在，也就是波形一開始維持穩(wěn)定于特定電位，接下來會(huì)呈現(xiàn)先下降后上升的狀況，最后再維持穩(wěn)定在同一個(gè)特定電位。在這種情形下，適用的電位特征預(yù)設(shè)組合將使用如圖5B所示的內(nèi)容。或者，在另一個(gè)實(shí)施例中，可以將圖5A與圖5B結(jié)合在一起成為一個(gè)電位特征預(yù)設(shè)組合，這樣就可以同時(shí)適用于不同的波形比對(duì)。
在進(jìn)行步驟S306進(jìn)行比對(duì)的時(shí)候，可以簡(jiǎn)單按照虛線方框410所選取的差動(dòng)信號(hào)的正負(fù)值來判斷是否與電位特征預(yù)設(shè)組合中的哪一個(gè)狀態(tài)相同?；蛘?，在另一個(gè)實(shí)施例中，一旦發(fā)現(xiàn)所選取的差動(dòng)信號(hào)的正負(fù)值排列順序與特征預(yù)設(shè)組合中的狀態(tài)t=l所包含的預(yù)設(shè)電位特征的排列順序相同的時(shí)候，后續(xù)的比對(duì)就不再把虛線方框所選取的差動(dòng)信號(hào)的正負(fù)值的排列順序與狀態(tài)t=0所包含的預(yù)設(shè)電位特征的排列順序進(jìn)行比對(duì)。假若步驟S306 的比對(duì)發(fā)現(xiàn)兩者之間沒有相同的排列方式，則流程直接進(jìn)入步驟S310以確認(rèn)此次掃瞄得到的感測(cè)電位特征是否都已經(jīng)被比對(duì)過；相反地，一旦步驟S306的比對(duì)發(fā)現(xiàn)兩者相同，則會(huì)在步驟S308把比對(duì)符合的數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)，并接下來確認(rèn)此次掃瞄得到的感測(cè)電位特征是否都已經(jīng)被比對(duì)過(步驟S310)。
如果在步驟S310中發(fā)現(xiàn)還沒有把所有掃瞄得到的感測(cè)電位特征進(jìn)行比對(duì)，則流程回到步驟S304以取得其它的感測(cè)電位特征并進(jìn)行下一次的比對(duì)。如果在步驟S310中發(fā)現(xiàn)已經(jīng)把所有掃瞄得到的感測(cè)電位特征比對(duì)完畢，則流程進(jìn)入步驟S312以判斷在步驟 S308中計(jì)算完畢的符合數(shù)量是否能夠超過預(yù)先設(shè)定的一個(gè)門坎值。假若符合數(shù)量超過預(yù)先設(shè)定的門坎值，則判斷出現(xiàn)觸碰點(diǎn)(步驟S314)，之后將感測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換為觸碰坐標(biāo)，并且顯示于顯示裝置(圖未示)上；相對(duì)的，假若符合數(shù)量沒有超過預(yù)先設(shè)定的門坎值，則判斷沒有出現(xiàn)觸碰點(diǎn)，或者判斷出現(xiàn)的突波僅為噪聲(步驟S316)。換句話說，若判斷掃瞄所得的感測(cè)電位特征與電位特征預(yù)設(shè)組合出現(xiàn)連續(xù)相符的次數(shù)不小于前述的門坎值，則判斷連續(xù)相符之處所對(duì)應(yīng)的感測(cè)單元受到觸碰；而若判斷掃瞄所得的感測(cè)電位特征與電位特征預(yù)設(shè)組合出現(xiàn)連續(xù)相符的次數(shù)小于前述的門坎值，則判斷連續(xù)相符之處所對(duì)應(yīng)的感測(cè)單元沒有受到觸碰。之后將符合數(shù)量重置(reset)準(zhǔn)備下一次的特征比對(duì)。
上述是以單觸碰點(diǎn)為例，但上述例子也可以運(yùn)用于多點(diǎn)觸碰的狀況。在多點(diǎn)觸碰的時(shí)候，每一次從穩(wěn)定持續(xù)的特定電位進(jìn)入到圖5A或圖5B中的任何一個(gè)狀態(tài)的時(shí)候，就可以視為是一個(gè)可能觸碰點(diǎn)的起始處。其它的判斷方式基本上都相同，可以由此技術(shù)領(lǐng)域者加以簡(jiǎn)單變化而成。例如，在步驟S308處的符合數(shù)量會(huì)在觸碰點(diǎn)的起始處進(jìn)行重置，借此計(jì)算每一個(gè)可能觸碰點(diǎn)的存在；而且不同的可能觸碰點(diǎn)的符合數(shù)量可以各自獨(dú)立存在，也可以前者被后者取代，并佐以另一種記錄方式紀(jì)錄每一個(gè)可能的觸碰點(diǎn)的判斷結(jié)果?；蛘撸?在另一種方法中，每一個(gè)可能觸碰點(diǎn)的符合數(shù)量可以在每一個(gè)可能觸碰點(diǎn)的最終判斷時(shí)進(jìn)行重置，如此可以依據(jù)每一可能觸碰點(diǎn)的起始點(diǎn)與結(jié)束點(diǎn)簡(jiǎn)單地進(jìn)一步找出每一個(gè)可能觸碰點(diǎn)的觸控面積。
此外還有許多可以變動(dòng)的部分。舉例來說，為了節(jié)省時(shí)間，可以在遇到波形沒有保持在特定電位上的時(shí)候才開始比對(duì)的操作。在另一個(gè)例子中，可以使用感測(cè)單元的感測(cè)電位，也就是前述的讀取數(shù)據(jù)，與某一個(gè)預(yù)設(shè)電位(例如接地電位)之間的大小關(guān)系來作為感測(cè)電位特征。
應(yīng)注意的是，每次由圖4虛線方框410所框取的感測(cè)電位特征的數(shù)量(前述的第二數(shù)量)是可以改變的，其數(shù)量可以視觸碰裝置的靈敏度設(shè)計(jì)需求而定。圖5A與圖5B中每一狀態(tài)的預(yù)設(shè)電位特征的數(shù)量基本應(yīng)該與第二數(shù)量相當(dāng)，但考慮到有多個(gè)狀態(tài)存在，因此整個(gè)電位特征預(yù)設(shè)組合中的預(yù)設(shè)電位特征的數(shù)量(前述的第一數(shù)量)會(huì)大于前述的第二數(shù)量。而虛線方框410—次移動(dòng)所跨越的感測(cè)電位特征的數(shù)量(后稱第三數(shù)量)也可以視需要而進(jìn)行對(duì)應(yīng)的調(diào)整，但此第三數(shù)量應(yīng)小于第二數(shù)量才不會(huì)有沒被比對(duì)到的感測(cè)電位特征被遺漏下來。
上述方法可以依階段而被分別設(shè)計(jì)于圖2的觸控面板20、感測(cè)芯片23與信號(hào)處理模塊25。尤其，在圖2所示的實(shí)施例的信號(hào)處理模塊25之中，特征查找模塊250會(huì)把所儲(chǔ)存的預(yù)設(shè)電位特征與所接收到的感測(cè)電位特征進(jìn)行比對(duì)，最后再以比對(duì)所得的結(jié)果提供給信號(hào)產(chǎn)生模塊252以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的感測(cè)信號(hào)。在這一個(gè)階段中，信號(hào)產(chǎn)生模塊252可以依照?qǐng)D3的步驟S312飛316的判斷結(jié)果，把由讀取數(shù)據(jù)組合而成的感測(cè)信號(hào)中對(duì)應(yīng)于非觸碰點(diǎn)的部分的電位進(jìn)行調(diào)整。舉例來說，由于噪聲的部分可能會(huì)因?yàn)榍笆龅牟僮鞑襟E而被判定為非觸碰點(diǎn)，所以這些噪聲的部分在最后被整合為感測(cè)信號(hào)并作為信號(hào)產(chǎn)生模塊252的輸出的時(shí)候就可以被直接調(diào)整為O電位，借此還可以更進(jìn)一步降低后續(xù)處理感測(cè)信號(hào)時(shí)所可能產(chǎn)生的錯(cuò)誤結(jié)果。
綜上所述，本發(fā)明利用電位正負(fù)的關(guān)系而非電位的值來作為觸碰點(diǎn)是否存在的判斷依據(jù)，加上觸碰點(diǎn)附近的信號(hào)群聚效果，所以在隔離短暫噪聲的方面比之前所使用的技術(shù)有更好的效果。
本發(fā)明實(shí)施例揭露一種信號(hào)判斷方法可應(yīng)用于觸碰裝置例如是PDA，個(gè)人移動(dòng)裝置，顯示觸碰裝置等，或者是其它需要作判斷的信號(hào)，并不局限其應(yīng)用范圍。8
雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視權(quán)利要求書為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其特征在于，包括提供一電位特征預(yù)設(shè)組合，該電位特征預(yù)設(shè)組合包含一第一數(shù)量的多個(gè)預(yù)設(shè)電位特征；偵測(cè)得多個(gè)感測(cè)單元的多個(gè)感測(cè)電位特征；判斷該多個(gè)感測(cè)電位特征中依一特定方向排列的多個(gè)連續(xù)感測(cè)單元的感測(cè)電位特征排列結(jié)果，包括在該特定方向上依序取得該多個(gè)連續(xù)感測(cè)單元相對(duì)應(yīng)的一第二數(shù)量的感測(cè)電位特征， 其中該第一數(shù)量大于該第二數(shù)量；判斷該第二數(shù)量的感測(cè)電位特征與該電位特征預(yù)設(shè)組合中位于相對(duì)應(yīng)位置的該些預(yù)設(shè)電位特征是否相符；以及依照該特定方向，從此次所取的該些傳感器感測(cè)單元中的第一個(gè)往后一第三數(shù)量開始，重復(fù)進(jìn)行前述的感測(cè)電位特征取得及判斷是否相符的操作，直到取得該特定方向上排列的所有需進(jìn)行判斷的該些感測(cè)單元的感測(cè)電位特征為止；以及根據(jù)判斷該些感測(cè)單元的該第二數(shù)量感測(cè)電位特征排列結(jié)果而設(shè)定觸控點(diǎn)偵測(cè)的結(jié)果O
2.如權(quán)利要求I所述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其特征在于，該些感測(cè)電位特征包括對(duì)應(yīng)的該感測(cè)單元的感測(cè)電位與一特定電位之間的大小關(guān)系。
3.如權(quán)利要求2所述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其特征在于，該特定電位為一接地電位。
4.如權(quán)利要求2所述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其特征在于，該特定電位為一噪聲電位。
5.如權(quán)利要求I所述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其特征在于，根據(jù)判斷該些感測(cè)單元的該第二數(shù)量感測(cè)電位特征排列結(jié)果而設(shè)定觸控點(diǎn)偵測(cè)的結(jié)果，包括若連續(xù)判斷該第二數(shù)量感測(cè)電位特征與該電位特征預(yù)設(shè)組合中位于相對(duì)應(yīng)位置的該些預(yù)設(shè)電位特征為相符的次數(shù)不小于一預(yù)設(shè)門坎值，則判斷連續(xù)相符之處所對(duì)應(yīng)的該些感測(cè)單元受到觸碰；以及若連續(xù)判斷該第二數(shù)量感測(cè)電位特征與該電位特征預(yù)設(shè)組合中位于相對(duì)應(yīng)位置的該些預(yù)設(shè)電位特征為相符的次數(shù)小于該預(yù)設(shè)門坎值，則判斷連續(xù)相符之處所對(duì)應(yīng)的該些感測(cè)單元未受到觸碰。
6.如權(quán)利要求5所述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)判斷連續(xù)相符之處所對(duì)應(yīng)的該些感測(cè)單元未受到觸碰時(shí)，更將判斷連續(xù)相符之處所對(duì)應(yīng)的一部分輸出信號(hào)的電位設(shè)定為一特定電位。
7.如權(quán)利要求6所述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其特征在于，該特定電位為一接地電位。
8.如權(quán)利要求6所述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其特征在于，該特定電位為一噪聲電位。
9.如權(quán)利要求I所述的觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其特征在于，更包括根據(jù)判斷該些感測(cè)單元的該第二數(shù)量感測(cè)電位特征排列結(jié)果而決定是否調(diào)整一輸出信號(hào)中的一部分的電位。
全文摘要
一種觸控點(diǎn)偵測(cè)方法，其提供內(nèi)有第一數(shù)量的預(yù)設(shè)電位特征的一組電位特征預(yù)設(shè)組合，并判斷依某一特定方向排列的多個(gè)感測(cè)單元的感測(cè)電位特征排列結(jié)果，再根據(jù)判斷這些感測(cè)單元的感測(cè)電位特征排列結(jié)果而設(shè)定觸控點(diǎn)偵測(cè)的結(jié)果。
文檔編號(hào)G06F3/041GK102915150SQ20121038477
公開日2013年2月6日 申請(qǐng)日期2012年10月11日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月21日
發(fā)明者康育齊, 吳永智 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司