專利名稱：觸摸面板以及具備該觸摸面板的顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及觸摸面板以及具備觸摸面板的顯示裝置。
背景技術(shù)：
對(duì)手指等指示體的接觸(觸摸)進(jìn)行檢測(cè)并確定其位置坐標(biāo)的觸摸面板作為優(yōu)良的用戶界面單元之一受到關(guān)注，電阻膜方式或靜電電容方式等各種方式的觸摸面板被產(chǎn)品化。作為靜電電容方式之一，存在如下的PCT (Projected Capacitive Touchscreen 投射式電容觸摸屏)方式即使在用厚度為數(shù)毫米的玻璃板等保護(hù)板覆蓋內(nèi)置有觸摸傳感器的觸摸屏的前面?zhèn)鹊那闆r下，也能夠進(jìn)行觸摸檢測(cè)(例如，參照專利文獻(xiàn)I)。該方式能夠在前面配設(shè)保護(hù)板，所以具有如下等優(yōu)點(diǎn)在堅(jiān)固性方面優(yōu)良；即使帶手套時(shí)也能夠進(jìn)行觸摸檢測(cè)；由于不存在可動(dòng)部，所以為長(zhǎng)壽命。例如，在使用了專利文獻(xiàn)I所記載的PCT方式的觸摸面板的觸摸屏中，作為用于檢測(cè)靜電電容的檢測(cè)用布線，具備在薄的電介質(zhì)膜上形成的第一系列的導(dǎo)電材料圖形(導(dǎo)體元件)和隔開絕緣膜而形成的第二系列的導(dǎo)電材料圖形(導(dǎo)體元件)，在各導(dǎo)體元件間沒有電接觸，形成多個(gè)交點(diǎn)。作為導(dǎo)電性材料，優(yōu)選的材料是 例如銀等金屬材料。此外，在顯示方面，其可視性成為問題，在降低可視性的情況下使用銦錫氧化物(Indium Tin Oxide :ΙΤ0)。此外，也能夠使用10 μ m 20 μ m的細(xì)的電線代替導(dǎo)電材料圖形。此外，對(duì)靜電電容進(jìn)行檢測(cè)的導(dǎo)體元件經(jīng)由輸出線、多路復(fù)用器連接于電容控制振蕩器。其輸出被除法器計(jì)數(shù)，作為電容檢測(cè)數(shù)據(jù)。此外，在下述的專利文獻(xiàn)2中提出了如下技術(shù)在觸摸面板的觸摸屏中，在將檢測(cè)用布線和端子連接的多個(gè)引出線中的最外側(cè)的引出線的更外側(cè)端設(shè)置偽引出布線。在該觸摸面板中，對(duì)偽引出布線提供預(yù)定電位，由此，最外側(cè)的引出線的寄生電容和其他引出線的寄生電容的偏差被抑制。由此，能夠降低每個(gè)檢測(cè)用布線的靜電電容檢測(cè)靈敏度的偏差?，F(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn) 專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特表平9-511086號(hào)公報(bào)(7頁(yè)19 8頁(yè)4行、同頁(yè)23行 9頁(yè)6行、13頁(yè)4行 12行、圖1、圖2、圖8);
專利文獻(xiàn)2 :日本特開2010-257178號(hào)公報(bào)(5頁(yè)10 17行、圖4)。在專利文獻(xiàn)1、2那樣的靜電電容方式的觸摸面板中，作為電容檢測(cè)電路，能夠使用弛張振蕩器或滯后振蕩器。電容檢測(cè)電路的振蕩周期大體由電阻元件以及電容元件的充放電時(shí)間常數(shù)決定。因此，若使該電容元件的一部分為在檢測(cè)用布線和指示體之間所形成的靜電電容(以下稱為“觸摸電容”)，則電容檢測(cè)電路的振蕩周期根據(jù)觸摸電容而發(fā)生變化。靜電電容方式的觸摸面板檢測(cè)該振蕩周期的變化，從而進(jìn)行觸摸的有無(wú)或觸摸位置的判定。為了得到觸摸的良好的檢測(cè)精度，需要盡可能降低檢測(cè)用布線的寄生電容或布線電阻。
利用使用者的手指觸摸而在觸摸面板上形成的電極的面積根據(jù)使用者的年齡或體格而存在一些差異，但是，一般地，在I平方厘米左右沒有大的差異，所形成的觸摸電容是數(shù)PF左右。由于觸摸電容存在電場(chǎng)的擴(kuò)展，所以，也能夠利用相鄰的檢測(cè)用布線間的插入(interpolating)對(duì)檢測(cè)用布線間的手指觸摸的位置進(jìn)行檢測(cè)。但是，若檢測(cè)用布線的間隔比手指的寬度大一定程度以上(詳細(xì)地說，也依賴于由手指觸摸所形成的電極和檢測(cè)用布線的距離(保護(hù)玻璃的厚度))，相鄰的檢測(cè)用布線沒有出現(xiàn)因手指觸摸而導(dǎo)致的靜電電容的變化，所以，不能夠進(jìn)行利用檢測(cè)用布線間的插入所進(jìn)行的位置檢測(cè)。因此，在使觸摸面板上的觸摸位置的檢測(cè)分辨率均一的情況下，相鄰的檢測(cè)用布線的間隔恒定。在將觸摸面板與液晶顯示裝置等顯示面板組合使用的情況下，一般的顯示面板不是正方形而是縱長(zhǎng)或橫長(zhǎng)的形狀的情況較多，因此，通常觸摸面板的檢測(cè)區(qū)域的形狀也成為與顯示面板匹配的形狀。此外，為了得到觸摸的良好的檢測(cè)精度，優(yōu)選使在觸摸屏的各檢測(cè)用布線和顯示面板之間所形成的寄生電容盡可能均一。此外，在將觸摸面板與顯示面板組合的情況下，在顯示面板中產(chǎn)生的噪聲成為原因，特別是，在配設(shè)于觸摸屏的周邊部的檢測(cè)用布線中，存在觸摸的檢測(cè)精度的下降的危險(xiǎn)。也依賴于顯示面板和檢測(cè)用布線之間的距離，但是，在配設(shè)于觸摸面板的周邊部的檢測(cè)用布線中，由于周邊的蔓延等，寄生電容增加，在與其他檢測(cè)用布線的寄生電容中產(chǎn)生差異。若寄生電容按每個(gè)檢測(cè)用布線而產(chǎn)生偏差，則產(chǎn)生如下問題在觸摸屏上，檢測(cè)靈敏度不均一化，在觸摸面板的端部附近不能夠進(jìn)行正常的觸摸檢測(cè)。在上述的專利文獻(xiàn)2的技術(shù)中進(jìn)行引出布線的寄生電容的均一化，但是，不能夠抑制每個(gè)檢測(cè)用布線的寄生電容的偏差，無(wú)法解決上述的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為了解決以上課題而提出的，其目的在于提供一種具備多個(gè)檢測(cè)用布線的觸摸面板，抑制每個(gè)檢測(cè)用布線的寄生電容的偏差。本發(fā)明提供一種觸摸面板，具備觸摸屏，具備平行配設(shè)的多個(gè)檢測(cè)用布線；寄生電容設(shè)定單元，將所述多個(gè)檢測(cè)用布線中的最外側(cè)的檢測(cè)用布線的寄生電容設(shè)定為與其他檢測(cè)用布線的寄生電容相同。根據(jù)本發(fā)明，多個(gè)檢測(cè)用布線的寄生電容被均一化，所以，在觸摸屏上，觸摸的檢測(cè)靈敏度的偏差被抑制。由此，得到觸摸的檢測(cè)精度提高的效果。


圖1是示出實(shí)施方式I的觸摸面板的觸摸屏的結(jié)構(gòu)的平面圖。圖2是示出實(shí)施方式I的觸摸面板的檢測(cè)用列布線以及檢測(cè)用行布線的結(jié)構(gòu)的部分平面圖。圖3是示出實(shí)施方式I的觸摸面板的觸摸屏的剖面結(jié)構(gòu)的剖面圖。圖4是示出實(shí)施方式I的觸摸面板的整體結(jié)構(gòu)的圖。圖5是示出實(shí)施方式I的觸摸面板具備的檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)的圖。圖6是示出實(shí)施方式I的觸摸面板的檢測(cè)用振蕩電路具備的振蕩電路的結(jié)構(gòu)的圖。圖7是示出現(xiàn)有的觸摸面板的檢測(cè)用振蕩電路的結(jié)構(gòu)的圖。圖8是用于說明對(duì)現(xiàn)有的觸摸面板的檢測(cè)用行布線附加的寄生電容的圖。圖9是示出現(xiàn)有的觸摸面板的每個(gè)檢測(cè)用行布線的檢測(cè)靈敏度的分布的圖。圖10是表示實(shí)施方式I的觸摸面板的檢測(cè)用振蕩電路的結(jié)構(gòu)的圖。圖11是用于說明對(duì)實(shí)施方式I的觸摸面板的檢測(cè)用行布線附加的寄生電容的圖。圖12是示出實(shí)施方式I的觸摸面板的每個(gè)檢測(cè)用行布線的檢測(cè)靈敏度的分布的圖。圖13是表示實(shí)施方式2的觸摸面板的檢測(cè)用振蕩電路的結(jié)構(gòu)的圖。圖14是用于說明對(duì)實(shí)施方式2的觸摸面板的檢測(cè)用行布線附加的寄生電容的圖。
具體實(shí)施例方式〈實(shí)施方式1>
圖1是概略地示出本發(fā)明的觸摸面板的觸摸屏I的結(jié)構(gòu)的平面圖。如圖1所示，在觸摸屏I中具備在列方向(圖1所示的y方向)延伸并且以預(yù)定間距平行排列的多個(gè)檢測(cè)用列布線2 ;在行方向(圖1所示的X方向)延伸并且以預(yù)定間距平行排列的多個(gè)檢測(cè)用行布線3。此外，在觸摸屏I上的一端部附近配設(shè)有端子組8，該端子組8包括經(jīng)由引出線與檢測(cè)用列布線2連接的多個(gè)端子2a ;經(jīng)由引出線與檢測(cè)用行布線3連接的多個(gè)端子3a。在該觸摸面板中，使用與端子組8連接的檢測(cè)電路(在圖1中未示出)，對(duì)在使用者的手指等指示體觸摸到觸摸屏I時(shí)在指示體和檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3之間形成的靜電電容(觸摸電容)進(jìn)行檢測(cè)，由此，檢測(cè)觸摸屏I上的指示體的位置。圖2是將檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3的一部分放大了的平面圖。檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3是分別由多個(gè)細(xì)線2b、3b的束構(gòu)成的布線組。換言之，檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3分別具有多個(gè)在長(zhǎng)尺寸方向延伸的狹縫狀的開口部。假設(shè)檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3分別沒有開口部的所謂的“實(shí)心線(solid wiring)”的情況下，能夠?qū)⒂捎谥甘倔w而形成的觸摸電容變大，但是，在顯示面板的前面配設(shè)了觸摸屏I的情況下，檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3妨礙顯示光的透過，所以，顯示面板的畫面的亮度下降。如圖2所示，若在檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3上形成狹縫狀的開口部，則觸摸屏I的開口面積變大，所以，能夠抑制畫面的亮度下降。在本實(shí)施方式中，假定觸摸面板配設(shè)在液晶顯示面板等顯示面板的前面，檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3分別是由多個(gè)細(xì)線2b、3b的束構(gòu)成的布線組。并且，對(duì)于本發(fā)明的觸摸面板來(lái)說，不限于液晶顯示面板，例如，也能夠與有機(jī)EL(electro-luminescence)顯示面板或F1DP (Plasma Display Panel)等所有的顯示裝置的顯示面板組合。更具體地說，檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3用例如Cu或Al等金屬形成，并且，為了提高顯示畫面的可視性，優(yōu)選細(xì)線2b、3b的寬度為20 μ m以下。根據(jù)觸摸屏I的尺寸或觸摸位置(觸摸坐標(biāo))的檢測(cè)所要求的分辨率，適當(dāng)選擇檢測(cè)用列布線2的細(xì)線2b以及檢測(cè)用行布線3的細(xì)線3b各自的條數(shù)、寬度及間距、以及檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3的條數(shù)、寬度及間距。

即使以ITO等透明的布線材料(導(dǎo)電材料)形成檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3，也能夠提高觸摸屏I的光透過率。但是，由于ITO的薄層電阻值比較高，因此，即使ITO的檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3是實(shí)心線，若觸摸面板尺寸也變大，則不能忽視其電阻，觸摸電容的檢測(cè)靈敏度下降。因此，優(yōu)選檢測(cè)用列布線2或檢測(cè)用行布線3為由金屬的細(xì)線2b、3b構(gòu)成的結(jié)構(gòu)。此外，在本實(shí)施方式的觸摸屏I中，如圖1所示，以在最外側(cè)(兩端)的檢測(cè)用列布線2的更外側(cè)平行地相鄰的方式，配設(shè)有與檢測(cè)用列布線2相同的結(jié)構(gòu)(形狀以及寬度相同)的偽列布線4。同樣地，以在最外側(cè)(兩端)的檢測(cè)用行布線3的更外側(cè)平行地相鄰的方式，配設(shè)有偽行布線5。關(guān)于偽列布線4以及偽行布線5的作用、效果，在后面敘述。圖3是觸摸屏I的剖面結(jié)構(gòu)的圖，示出沿圖1的A1-A2線的剖面的一部分。如圖3所示，在觸摸屏I中，由透明的玻璃或樹脂構(gòu)成的透明基板9 (以下“基底基板”)為基材，在基底基板9上配設(shè)有檢測(cè)用列布線2。檢測(cè)用列布線2上被氧化硅(SiO2)膜或氮化硅(SiN)膜等透明的層間絕緣膜10覆蓋，在層間絕緣膜10上形成有檢測(cè)用行布線3。此外，檢測(cè)用行布線3上被與層間絕緣膜10相同的透明的絕緣膜即保護(hù)膜11覆蓋。與檢測(cè)用列布線2連接的引出線以及端子2a使用與檢測(cè)用列布線2相同的布線層形成。此外，與檢測(cè)用行布線3連接的引出線以及端子3a使用與檢測(cè)用行布線3相同的布線層形成。如圖3所示，在層間絕緣膜10以及保護(hù)膜11形成有使端子2a、3a的上表面露出的接觸孔。如本實(shí)施方式所示，在顯示面板的前面配設(shè)觸摸屏I的情況下，為了防止觸摸屏I受到來(lái)自顯示面板的噪聲的影響，在基底基板9的下表面形成有ITO等透明的電介質(zhì)膜12。在能夠忽略來(lái)自顯示面板的噪聲的影響的情況下，也可以省略電介質(zhì)膜12。圖4是示出實(shí)施方式I的觸摸面板的整體結(jié)構(gòu)的圖，示出了將搭載了觸摸電容的檢測(cè)電路15的控制器基板14連接于觸摸屏I的狀態(tài)。使用ACF(Anisotropic ConductiveFilm)等將FPC13 (Flexible Printed Circuit)的各端子安裝于觸摸屏I的端子組8,端子組8經(jīng)由FPC13與控制器基板 14上的檢測(cè)電路15連接。檢測(cè)電路15檢測(cè)在手指等指示體和檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3之間形成的觸摸電容，進(jìn)行指示體的觸摸的檢測(cè)以及觸摸坐標(biāo)的算出。檢測(cè)電路15算出的觸摸坐標(biāo)數(shù)據(jù)被輸入到外部的計(jì)算機(jī)(未圖示)等。圖5是示出本實(shí)施方式的觸摸面板具備的檢測(cè)電路15的結(jié)構(gòu)的圖。此處，示出觸摸面板分別各具備8組(8條)檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3的例子。S卩，在觸摸面板中，具備檢測(cè)用行布線Wcl Wc8作為檢測(cè)用列布線2，具備檢測(cè)用列布線Wrl Wr8作為檢測(cè)用行布線3。此外，在該觸摸面板中，具備在檢測(cè)用列布線Wcl的外側(cè)配設(shè)的偽列布線Wcdl和在檢測(cè)用列布線Wc8的外側(cè)配設(shè)的偽列布線Wcd2作為偽列布線4，具備在檢測(cè)用行布線Wrl的外側(cè)配設(shè)的偽行布線Wrdl和在檢測(cè)用行布線Wr8的外側(cè)配設(shè)的偽行布線Wrd2作為偽行布線5。檢測(cè)電路15由列布線選擇開關(guān)電路20a、行布線選擇開關(guān)電路20b、振蕩電路21、第一計(jì)數(shù)電路23a、第二計(jì)數(shù)電路23b、觸摸坐標(biāo)算出電路24以及控制電路25構(gòu)成。列布線選擇開關(guān)電路20a具備一端分別與檢測(cè)用列布線Wcl WcS連接的開關(guān)RLcl RLc8，行布線選擇開關(guān)電路20b具備一端分別與檢測(cè)用行布線Wrl Wr8連接的開關(guān)RLwl RLw8。開關(guān)RLcl RLc8以及開關(guān)RLwl RLw8的另一端全部與振蕩電路21的輸入端子即節(jié)點(diǎn)N3連接。列布線選擇開關(guān)電路20a (開關(guān)RLcl RLcS)以及行布線選擇開關(guān)電路20b (開關(guān)RLwl RLw8)按照來(lái)自控制電路25的指示(REPLAY控制)，按每預(yù)定的條數(shù)并以預(yù)定的順序切換與振蕩電路21連接的檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3進(jìn)行掃描(scan)。振蕩電路21輸出的振蕩信號(hào)被輸入到由第一計(jì)數(shù)電路23a以及第二計(jì)數(shù)電路23b構(gòu)成的計(jì)數(shù)部。若第一計(jì)數(shù)電路23a接收來(lái)自控制電路25的復(fù)位信號(hào)，則將計(jì)數(shù)值復(fù)位，若接收之后的允許信號(hào)(enable signal)，則對(duì)來(lái)自振蕩電路21的振蕩信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)直至成為預(yù)定值。若第二計(jì)數(shù)電路23b接收復(fù)位信號(hào)，則將計(jì)數(shù)值復(fù)位，若接收允許信號(hào)，則對(duì)時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)直至第一計(jì)數(shù)電路23a的計(jì)數(shù)值成為上述的預(yù)定值。S卩，第二計(jì)數(shù)電路23b在第一計(jì)數(shù)電路23a開始進(jìn)行振蕩電路21的振蕩信號(hào)的計(jì)數(shù)之后，對(duì)該計(jì)數(shù)值達(dá)到預(yù)定值之前的時(shí)間進(jìn)行計(jì)數(shù)。因此，第二計(jì)數(shù)電路23b的計(jì)數(shù)值與振蕩電路21的振蕩信號(hào)的周期成比例，根據(jù)第二計(jì)數(shù)電路23b的計(jì)數(shù)值可知振蕩電路21的振蕩周期。第二計(jì)數(shù)電路23b的計(jì)數(shù)值(相當(dāng)于振蕩電路21的振蕩周期)被輸入到觸摸坐標(biāo)算出電路24。如后述那樣，振蕩電路21的振蕩周期大體由根據(jù)與節(jié)點(diǎn)N3連接的電阻以及電容決定的充放電時(shí)間常數(shù)決定。檢測(cè)用列布線Wcl Wc8以及檢測(cè)用行布線Wrl Wr8經(jīng)由列布線選擇開關(guān)電路20a以及行布線選擇開關(guān)電路20b依次連接于節(jié)點(diǎn)N3，所以，若手指等指示體觸摸到觸摸屏I而在與檢測(cè)用列布線Wcl Wc8以及檢測(cè)用行布線Wrl Wr8的任意一個(gè)之間形成觸摸電容，則在與其位置對(duì)應(yīng)的定時(shí)，振蕩電路21的振蕩周期發(fā)生變化。觸摸坐標(biāo)算出電 路24將根據(jù)第二計(jì)數(shù)電路23b的計(jì)數(shù)值得到的振蕩電路21的振蕩周期保持在內(nèi)部的存儲(chǔ)部，對(duì)針對(duì)檢測(cè)用列布線Wcl Wc8以及檢測(cè)用行布線Wrl Wr8的前次的掃描時(shí)的振蕩周期的變化或在相同的次的掃描中的振蕩周期的變化進(jìn)行檢測(cè)，基于此算出指示體的位置坐標(biāo)(觸摸坐標(biāo))。這樣，在本實(shí)施方式的觸摸面板中，檢測(cè)用列布線2 (Wcl Wc8)以及檢測(cè)用行布線3(Wrl Wr8)、列布線選擇開關(guān)電路20a、行布線選擇開關(guān)電路20b、振蕩電路21構(gòu)成生成與觸摸坐標(biāo)對(duì)應(yīng)的振蕩信號(hào)的檢測(cè)用振蕩電路22。并且，觸摸坐標(biāo)算出電路24基于檢測(cè)用振蕩電路22的振蕩周期算出觸摸坐標(biāo)。對(duì)檢測(cè)用振蕩電路22的振蕩周期進(jìn)行說明。圖6是示出檢測(cè)用振蕩電路22具備的振蕩電路21的結(jié)構(gòu)的圖。以下，使用該圖對(duì)檢測(cè)用振蕩電路22的工作原理進(jìn)行說明。此處，為了便于說明，看作檢測(cè)用振蕩電路22由檢測(cè)用行布線3 (Wrl Wr8)、行布線選擇開關(guān)電路20b以及振蕩電路21構(gòu)成，省略檢測(cè)用列布線2以及列布線選擇開關(guān)電路20a進(jìn)行說明。此外，也省略偽列布線4 (Wcdl、Wcd2)以及偽行布線5 (Wrdl、Wrd2)的圖示。振蕩電路21使用運(yùn)算放大器30構(gòu)成。在運(yùn)算放大器30的非反轉(zhuǎn)輸入端和接地之間連接有電阻元件Ra，在運(yùn)算放大器30的非反轉(zhuǎn)輸入端和輸出端之間連接有電阻元件Rb。此外，在運(yùn)算放大器30的反轉(zhuǎn)輸入端和接地之間連接有電容元件Cl，在運(yùn)算放大器30的反轉(zhuǎn)輸入端和輸出端之間連接有電阻元件Rl。圖6所不的振蕩電路21是所謂的弛張振蕩電路。該振蕩電路21根據(jù)正負(fù)的輸出飽和電壓利用除了電阻元件Rl以及電容元件Cl之外還由檢測(cè)用行布線Wrl WrS以及觸摸電容Ct等靜電電容構(gòu)成的反饋路徑32 (以下稱為“檢測(cè)反饋路徑”)進(jìn)行充放電，從而進(jìn)行振蕩。從運(yùn)算放大器30的輸出端子輸出振蕩信號(hào)。不含有檢測(cè)用行布線3以及行布線選擇開關(guān)電路20b的振蕩電路21單體中的振蕩周期Tc大體為如下述的式(I)所示，與由電阻元件Rl以及電容元件Cl構(gòu)成的反饋路徑的時(shí)間常數(shù)τ成比例。Tc=2 τ · In ((1+k) / (l_k))…(I),
在式(I)中，τ =Rl · Cl, k=Ra/ (Ra+Rb)。此外，在式(I)中使用的 Rl、Cl、Ra、Rb 表示各個(gè)電阻元件的電阻值以及電容元件的靜電電容值。因此，在還包括檢測(cè)用行布線3或行布線選擇開關(guān)電路20b的檢測(cè)用振蕩電路22中，根據(jù)手指等指示體33的觸摸，在指示體和檢測(cè)用行布線Wrl WrS的任意一個(gè)的附近形成觸摸電容Ct，則利用檢測(cè)反饋路徑32所得到的時(shí)間常數(shù)τ增加，檢測(cè)用振蕩電路22的振蕩周期變大。如先前所述那樣，在本實(shí)施方式的觸摸面板中，使用圖5所示的第一計(jì)數(shù)電路23a以及第二計(jì)數(shù)電路23b對(duì)檢測(cè)用振蕩電路22的振蕩周期的變化進(jìn)行檢測(cè)，由此，進(jìn)行觸摸坐標(biāo)的檢測(cè)。但是，如后述那樣，檢測(cè)用行布線Wrl WrS的電阻成分與觸摸電容Ct串聯(lián)地進(jìn)入，因此，在檢測(cè)用行布線Wrl WrS的電阻值大的情況下，觸摸電容Ct的產(chǎn)生所導(dǎo)致的振蕩周期的增加的程度變小，觸摸電容Ct的檢測(cè)靈敏度下降。此外，對(duì)檢測(cè)用行布線Wrl Wr8的每一個(gè)，在與檢測(cè)用列布線2 (在圖6中未圖示)或顯示面板等之間附加寄生電容，在該寄生電容大的情況下，觸摸電容Ct的檢測(cè)靈敏度也下降。并且，在上述的振蕩周期的算出中，為了便于說明，未考慮檢測(cè)用列布線2、檢測(cè)用行布線3、附隨于將它們和端子組8連接的引出線以及其他的布線的寄生電容、從列布線選擇開關(guān)電路20a以及行布線選擇開關(guān)電路20b的輸入輸出端觀察的靜電電容(S卩，列布線選擇開關(guān)電路20a以及行布線 選擇開關(guān)電路20b的內(nèi)部的靜電電容)。實(shí)際上，在考慮了這些靜電電容之后，需要選定電阻值等的各電路參數(shù)，但是，由于對(duì)本實(shí)施方式的本質(zhì)沒有產(chǎn)生影響，所以，省略這些進(jìn)行了說明。此處，對(duì)附加于觸摸屏I的檢測(cè)用行布線3或檢測(cè)用列布線2 (未圖示)的寄生電容進(jìn)行說明。圖7示出現(xiàn)有的觸摸面板具備的檢測(cè)用振蕩電路22的結(jié)構(gòu)?，F(xiàn)有的檢測(cè)用振蕩電路22實(shí)際上也具有檢測(cè)用列布線2和列布線選擇開關(guān)電路20a，但是，為了便于說明，省略這些的圖示。并且，現(xiàn)有的觸摸面板不具有偽列布線4 (Wcdl、Wcd2)以及偽行布線5(Wrdl、Wrd2)，在圖7中并未省略這些的圖示。優(yōu)選各檢測(cè)用行布線3的布線電阻值(Rr)全部相等，檢測(cè)用列布線2 (未圖示)也是用樣的。圖8是示出沿圖7的B1-B2線的剖面的一部分的圖，與8條檢測(cè)用行布線Wrl Wr8中的端部的3條(Wr6 Wr8)的附近部分對(duì)應(yīng)。為了防止觸摸面板受到來(lái)自顯示面板的噪聲的影響，在基底基板9的下表面形成有ITO等透明的電介質(zhì)膜12。如圖8所不,對(duì)于檢測(cè)用行布線Wrl Wr8的每一個(gè)附加有在與其下的電介質(zhì)膜12之間形成的寄生電容Cstr2，但是，對(duì)于配設(shè)在兩端的檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8，除此以外，由于周邊的蔓延的影響，還附加有寄生電容Cstr3。因此，對(duì)兩端的檢測(cè)用行布線Wrl、WrS附加的寄生電容Cstrl (圖7)為Cstr2+Cstr3，其以外的檢測(cè)用行布線Wr2 Wr7的寄生電容為Cstr2，兩者產(chǎn)生差異。在該情況下，在觸摸的位置是兩端的檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8的附近的情況下和觸摸的位置是檢測(cè)用行布線Wr2 Wr7的附近的情況下，觸摸的檢測(cè)靈敏度產(chǎn)生差異，觸摸屏I中的觸摸電容的檢測(cè)精度惡化。并且，即使在不在基底基板9的下表面形成電介質(zhì)膜12的情況下，受到顯示面板等的影響，在兩端的檢測(cè)用行布線Wrl、WrS的寄生電容和其以外的檢測(cè)用行布線Wr2 Wr7的寄生電容之間也產(chǎn)生差異。圖9是示出具有21條檢測(cè)用行布線3的現(xiàn)有的(沒有偽行布線5)的觸摸面板的每個(gè)檢測(cè)用行布線3的觸摸檢測(cè)靈敏度的實(shí)測(cè)值的一例的圖。在該圖中，X軸示出檢測(cè)用行布線3的行號(hào)碼，Y軸示出檢測(cè)靈敏度(將最高值正規(guī)化為I)。根據(jù)該圖可知，兩端(第一行以及第二十一行)的檢測(cè)用行布線3的檢測(cè)靈敏度比其他行的檢測(cè)靈敏度低。這被認(rèn)為是，如前述那樣，兩端的檢測(cè)用行布線3的寄生電容比其以外的檢測(cè)用行布線3的寄生電容高是主要的原因。因此，關(guān)于所有的檢測(cè)用行布線3，為了使檢測(cè)靈敏度均一而使所有的檢測(cè)用行布線3的寄生電容相等是有效果的。圖10是示出實(shí)施方式I的觸摸面板具備的檢測(cè)用振蕩電路22的結(jié)構(gòu)的圖。在該檢測(cè)用振蕩電路22中，在檢測(cè)用行布線3 (Wrl Wr8)中的配設(shè)在兩端的檢測(cè)用行布線WrU Wr8的更外側(cè)，隔開與檢測(cè)用行布線Wrl Wr8的間隔相同的間隔配設(shè)有與檢測(cè)用行布線Wrl Wr8相同的結(jié)構(gòu)(形狀以及寬度相同)的偽行布線Wrdl、Wrd2。實(shí)際上，如圖5所示，本實(shí)施方式的檢測(cè)用振蕩電路22也具有檢測(cè)用列布線2(Wcl Wc8)和列布線選擇開關(guān)電路20a，并且，在兩端的檢測(cè)用列布線2 (Wcl、Wc8)的更外側(cè)，隔開與檢測(cè)用列布線Wcl WcS的間隔相同的間隔配設(shè)有與檢測(cè)用列布線2相同的結(jié)構(gòu)的偽列布線4 (Wcdl、Wcd2)，但是，為了便于說明，省略它們的圖示。優(yōu)選各檢測(cè)用行布線3的布線電阻值(Rr)全部相等，檢測(cè)用列布線2 (未圖示)也同樣的。此外，圖11是示出沿圖10的B1-B2線的剖面的一部分的圖，與8條檢測(cè)用行布線Wrl Wr8中的端部的3條(Wr6 Wr8)和配設(shè)在其外側(cè)的偽行布線Wrd2的附近部分對(duì)應(yīng)。此處，為了防止觸摸面板受到來(lái)自顯示面板的噪聲的影響，也在基底基板9的下表面形成有ITO等透明的電介質(zhì)膜12。如圖11所示，對(duì)檢測(cè)用行布線Wrl Wr8的每一個(gè)附加有在與其下的電介質(zhì)膜12之間形成的寄生電容Cstr2。與現(xiàn)有結(jié)構(gòu)(圖8)不同，不對(duì)檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8附加因周邊的蔓延的影響而產(chǎn)生的寄生電容Cstr3。另一方面，如現(xiàn)有結(jié)構(gòu)(圖8)的檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8那樣，對(duì)于在檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8的外側(cè)配設(shè)的偽行布線Wrdl、Wrd2，除了寄生電容Cstr2，還附加有因周邊的蔓延的影響而產(chǎn)生的寄生電容Cstr3。這樣，在兩端的檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8的更外側(cè)配置有偽行布線Wrdl、Wrd2,由此，檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8實(shí)際上被置于與其他的檢測(cè)用行布線Wr2 Wr7相同的環(huán)境中，因此，不對(duì)檢測(cè)用行布線Wrl、WrS附加因周邊的蔓延的影響而產(chǎn)生的寄生電容Cstr3。其結(jié)果是，關(guān)于所有的檢測(cè)用行布線Wrl Wr8，寄生電容被均一化，因此，觸摸電容的檢測(cè)靈敏度的列方向的偏差被抑制，得到觸摸的檢測(cè)精度提高的效果。這里省略了說明，但是，在檢測(cè)用列布線2 (Wcl Wc8)的外側(cè)配設(shè)的偽列布線4(ffcdU Wcd2)也起到與其相同的效果。即，在兩端的檢測(cè)用列布線2 (Wcl、Wc8)的更外側(cè)配設(shè)有偽列布線4 (Wcdl、Wcd2)，由此，因周邊的蔓延的影響而產(chǎn)生的寄生電容不附加于兩端的檢測(cè)用列布線2 (WcUffcS)0其結(jié)果是，關(guān)于所有的檢測(cè)用列布線2，寄生電容被均一化，因此，觸摸電容的檢測(cè)靈敏度的行方向的偏差被抑制，得到觸摸電容的檢測(cè)精度提高的效果。圖12是示出具有21條檢測(cè)用行布線3的本發(fā)明的觸摸面板的每個(gè)檢測(cè)用行布線3的觸摸檢測(cè)靈敏度的實(shí)測(cè)值的一例的圖。在圖12中，為了比較，也繪制了圖9所示的現(xiàn)有技術(shù)中的實(shí)測(cè)值。如圖12所示，在本發(fā)明中，與現(xiàn)有技術(shù)的情況相比，兩端(第一行以及第二十一行)的檢測(cè)用行布線3的檢測(cè)靈敏度變高，成為與其他的檢測(cè)用行布線3相近的值。這是因?yàn)?，兩端的檢測(cè)用行布線3的寄生電容很難受到周邊的蔓延的影響，成為與其以外的檢測(cè)用行布線3的寄生電容相近的值。在本實(shí)施方式中，在檢測(cè)用行布線3的兩個(gè)外側(cè)配設(shè)了偽行布線5，但是，也可以僅配設(shè)在其單側(cè)。在該情況下，關(guān)于配設(shè)有偽行布線5的一側(cè)的檢測(cè)用行布線3，得到上述的效果。在檢測(cè)用列布線2的外側(cè)配設(shè)的偽列布線4也是相同的。此外，在本實(shí)施方式中，在檢測(cè)用行布線3的外側(cè)各配設(shè)了 I條偽行布線5，但是，也可以各配設(shè)多條。由此，防止檢測(cè)用行布線3受到周邊的蔓延影響的效果進(jìn)一步提高。在檢測(cè)用列布線2的外側(cè)配設(shè)的偽列布線4也是相同的。并且，優(yōu)選偽行布線5的結(jié)構(gòu)(形狀以及寬度)分別與檢測(cè)用行布線3的結(jié)構(gòu)相同，偽行布線5與最外側(cè)的檢測(cè)用行布線3的間隔優(yōu)選與檢測(cè)用行布線3間的間隔相同。這樣，最外側(cè)的檢測(cè)用行布線3和其以外的檢測(cè)用行布線3被置于相同的環(huán)境，檢測(cè)用行布線3的寄生電容進(jìn)行被均一化。例如，在檢測(cè)用行布線3如圖2那樣由多個(gè)細(xì)線3b構(gòu)成的情況下，優(yōu)選偽行布線5也是相同的結(jié)構(gòu)。但是，偽行布線5的結(jié)構(gòu)、間隔不限于此，在能夠得到本發(fā)明的效果的范圍內(nèi)，也可以是與檢測(cè)用行布線3不同的結(jié)構(gòu)、間隔。關(guān)于偽列布線4，也優(yōu)選是與檢測(cè)用列布線2相同的結(jié)構(gòu)，偽列布線4與最外側(cè)的檢測(cè)用列布線2的間隔優(yōu)選與檢測(cè)用列布線2間的間隔相同。但是，偽列布線4的結(jié)構(gòu)、間隔不限于此，在能夠得到本發(fā)明的效果的范圍內(nèi)，也可以是與檢測(cè)用列布線2不同的結(jié)構(gòu)、間隔。此處，參照?qǐng)D3，對(duì)本實(shí)施方式的觸摸面板的制造方法進(jìn)行說明。首先，在由玻璃構(gòu)成的基底基板9上，利用濺射法形成以鋁為主要成分的金屬例如含有Ni的Al合金、例如AlNiNd，作為成為檢測(cè)用列布線2、偽列布線4、端子2a以及其引出線的第一導(dǎo)電性薄膜。成膜條件為壓力O. 2 O. 5Pa、DC功率1. O 2. 5kW、若以功率密度來(lái)講則為O. 17 O. 43W/cm2，成膜溫度應(yīng)用從室溫到180°C左右的范圍。第一導(dǎo)電性薄膜的膜厚形成為150 500nmo為了抑制與顯影液的反應(yīng)，也可以在第一導(dǎo)電性薄膜的AlNiNd層上形成氮化了的AlNiNdN層。此外，也可以使用AlNiSi或AlNiMg等代替上述AlNiNd?；蛘?，也可以使第一導(dǎo)電性薄膜為與此后形成的成為檢測(cè)用行布線3、偽行布線5、端子3a以及其引出線的第二導(dǎo)電性薄膜相同的材料。由此，生產(chǎn)效率提高。此外，除了 Al以外，也能夠使用Cu或Cu合金作為低電阻金屬材料，在該情況下，與Al相同地，也能夠使用濺射法進(jìn)行成膜。接著，利用光刻技術(shù)，在第一導(dǎo)電性薄膜上形成具有檢測(cè)用列布線2、偽列布線4、端子2a以及其引出線的形狀的抗蝕劑。并且，將該抗蝕劑作為掩模，例如利用使用了磷酸、硝酸、醋酸的混合酸的刻蝕對(duì)第一導(dǎo)電性薄膜進(jìn)行構(gòu)圖，形成檢測(cè)用列布線2、偽列布線4、端子2a以及其引出線。并且，若使檢測(cè)用列布線2、偽列布線4、端子2a以及其引出線的剖面形狀為錐狀，則在它們之上形成的層間絕緣膜10的覆蓋率提高，由此，能夠防止上層的布線層的斷線等的不良。此處，采用使用了磷酸、硝酸以及醋酸的混合酸的刻蝕，但是，刻蝕液的種類不限于此。此外，也可以采用干法蝕刻。接著，利用等離子CVD等方法，以覆蓋檢測(cè)用列布線2、偽列布線4、端子2a以及其引出線的方式形成層間絕緣膜10。作為層間絕緣膜10，使用介電常數(shù)低的氧化硅(SiO2)膜。氧化硅膜的成膜條件是SiH4流量為10 50SCCm、N2O流量為200 500sCCm，成膜壓力為50Pa，RF功率為50 200W、若以功率密度來(lái)講則為O. 015 O. 67W/cm2，成膜溫度為200 300。。。并且，為了減少在檢測(cè)用列布線2和檢測(cè)用行布線3之間形成的寄生電容，優(yōu)選層間絕緣膜10的膜厚盡可能厚，考慮生產(chǎn)效率決定其膜厚即可。層間絕緣膜10不限于SiO2膜，也可以是SiN膜或SiON膜，在該情況下，在SiO2膜的材料氣體中添加氫、氮以及NH3來(lái)形成。在形成層間絕緣膜10之后，利用濺射法形成以鋁為主要成分的金屬例如含Ni的Al合金、例如AlNiNd，作為成為檢測(cè)用行布線3、偽行布線5、端子3a以及其引出線的第二導(dǎo)電性薄膜。成膜條件是壓力O. 2 O. 5Pa.DC功率1. O 2. 5kW、若以功率密度來(lái)講則為O. 17 O. 43W/cm2，成膜溫度應(yīng)用從室溫到180°C左右的范圍。膜厚形成為200 lOOOnm。為了抑制與顯影液的反應(yīng)，也可以在第二導(dǎo)電性薄膜的AlNiNd上形成氮化了的AlNiNdN層。也可以使用AlNiSi或AlNiMg等來(lái)代替AlNiNd。此外，除了 Al以外，也能夠使用Cu或Cu合金作為低電阻金屬材料，在該情況下，也能夠與Al相同地使用濺射法進(jìn)行成膜。并且，優(yōu)選第二導(dǎo)電性薄膜的膜厚盡可能大，但是，存在第二導(dǎo)電性薄膜的膜厚越大，在之后的刻蝕工序中產(chǎn)生的⑶(Critical Dimension)損失量以及尺寸偏差越大的傾向，此外，若將其膜厚變大，則生產(chǎn)率也惡化。因此，關(guān)于第二導(dǎo)電性薄膜的厚度，在能夠極力抑制觸摸的檢測(cè)靈敏度的偏差的范圍內(nèi)設(shè)定為適當(dāng)?shù)哪ず?。接著，利用光刻技術(shù)形成具有檢測(cè)用行布線3、偽行布線5、端子3a以及其引出線的形狀的抗蝕劑。并且，將其作為掩模，例如利用使用了磷酸、硝酸、醋酸的混合酸的刻蝕，對(duì)第二導(dǎo)電性薄膜進(jìn)行構(gòu)圖，形成檢測(cè)用行布線3、偽行布線5、端子3a以及其引出線。在該刻蝕工序中所使用的刻蝕液的種類不限于磷酸、硝酸以及醋酸的混合酸。此外，也可以采用干法蝕刻。接下來(lái)，以保護(hù)觸摸面板為目的來(lái)形成保護(hù)膜11。作為保護(hù)膜11，為了使顯示面板的畫面的可視性好，優(yōu)選使用與層間絕緣膜10相同種類的膜。例如，在層間絕緣膜10為氧化硅(SiO2)膜的情況下，保護(hù)膜11由SiO2膜形成。關(guān)于保護(hù)膜11的膜厚，考慮覆蓋率以及生產(chǎn)率來(lái)決定即可。接著，利用光刻技術(shù)形成端子2a、2a上被開口的抗蝕劑，例如，利用使用CF4和O2的混合氣體的等離子體的刻蝕，將保護(hù)膜11和層間絕緣膜10 —起刻蝕來(lái)進(jìn)行構(gòu)圖。由此，形成使端子2a、2b的上表面露出的接觸孔。在將觸摸面板與顯示面板進(jìn)行組合使用的情況下，根據(jù)需要，在基底基板9的下表面形成用于抑制因來(lái)自顯示面板的噪聲所導(dǎo)致的觸摸的檢測(cè)精度下降的透明的電介質(zhì)膜12。作為電介質(zhì)膜12，為了防止顯示面板的可視性下降，優(yōu)選由氧化銦(ITO)形成，但是，不限于此。此外，關(guān)于電介質(zhì)膜12的膜厚，考慮生產(chǎn)率進(jìn)行決定即可。通過以上的工序，形成圖3所示的結(jié)構(gòu)的觸摸屏I。之后，將具備檢測(cè)電路15的控制器基板14經(jīng)由FPC13連接于觸摸屏1，由此，能夠得到觸摸面板。進(jìn)而將觸摸面板的觸摸屏I配設(shè)在顯示面板的前面，組裝顯示裝置。在將觸摸面板配設(shè)在顯示裝置的前面時(shí)，將觸摸屏I直接貼附于顯示面板，由此，能夠沒有目前所需的觸摸屏I的保持機(jī)構(gòu)，能夠?qū)⒀b置整體變薄。進(jìn)而，觸摸屏I與顯示面板被一體化，能夠防止在之后的工序中塵埃等混入到觸摸屏I和顯示面板的間隙，能夠防止顯示面板的可視性下降。<實(shí)施方式2>
在實(shí)施方式I中，使用偽列布線4以及偽行布線5，防止對(duì)配設(shè)在檢測(cè)用列布線2以及檢測(cè)用行布線3中的最外側(cè)的布線附加因周邊的蔓延的影響所導(dǎo)致的寄生電容Cstr3，由此，將檢測(cè)用列布線2的寄生電容以及檢測(cè)用行布線3的寄生電容均一化。在實(shí)施方式2中，不使用偽列布線4以及偽行布線5，謀求檢測(cè)用列布線2的寄生電容以及檢測(cè)用行布線3的寄生電容的均一化。圖13是示出實(shí)施方式2的觸摸面板具備的檢測(cè)用振蕩電路22的結(jié)構(gòu)的圖。在該檢測(cè)用振蕩電路22中，使檢測(cè)用行布線3 (Wrl WrS )中的配設(shè)在最外側(cè)(兩端)的檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8的寬度比其他的檢測(cè)用行布線Wr2 Wr7的寬度窄。實(shí)際上，如圖5所示，本實(shí)施方式的檢測(cè)用振蕩電路22也具有檢測(cè)用列布線2(Wcl WcS)和列布線選擇開關(guān)電路20a，但是，為了便于說明，省略了這些圖示。此外，圖14是示出沿圖13的B1-B2線的剖面的一部分的圖，與8條檢測(cè)用行布線Wrl Wr8中的端部的3條(Wr6 Wr8)的附近部分對(duì)應(yīng)。此處，為了防止觸摸面板受到來(lái)自顯示面板的噪聲的影響，在基底基板9的下表面形成ITO等透明的電介質(zhì)膜12。如圖14所示，對(duì)檢測(cè)用行布線Wrl Wr8的每一個(gè)附加有在與其下的電介質(zhì)膜
12之間形成的寄生電容Cstr2。此外，與現(xiàn)有結(jié)構(gòu)(圖8)同樣地，對(duì)于兩端的檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8，除了寄生電容Cstr2，還附加有因周邊的蔓延的影響而產(chǎn)生的寄生電容Cstr3。但是，在本實(shí)施方式中，由于檢測(cè)用行布線Wrl、WrS的寬度比其以外的檢測(cè)用行布線Wr2 Wr7的寬度窄，因此，檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8和電介質(zhì)膜12之間的寄生電容Cstr2比其以外的檢測(cè)用行布線Wr2 Wr7和電介質(zhì)膜12之間的寄生電容Cstr2小。若將檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8和電介質(zhì)膜12之間的寄生電容Cstr2表示為“Cstr21”，則附加于檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8的寄生電容Cstrl (圖13)為Cstr21 + Cstr3，附加于其以外的檢測(cè)用行布線Wr2 Wr7的寄生電容為Cstr2。在本實(shí)施方式中，以檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8的寄生電容Cstrl (Cstr21 + Cstr3)與其以外的檢測(cè)用行布線Wr2 Wr7的寄生電容Cstr2相等的方式設(shè)定檢測(cè)用行布線Wrl、Wr8的寬度。其結(jié)果是，對(duì)于檢測(cè)用行布線Wrl Wr8的全部，寄生電容被均一化，因此，觸摸電容的檢測(cè)靈敏度的列方向的偏差被抑制，得到觸摸的檢測(cè)精度提高的效果。這里省略了說明，但是，對(duì)于檢測(cè)用列布線2 (Wcl Wc8)，若使其兩端的檢測(cè)用列布線2 (Wcl、Wc8)的寬度比其以外的檢測(cè)用列布線2 (Wc2 Wc7)窄，則對(duì)于所有的檢測(cè)用列布線2，能夠使寄生電容均一化。由此，觸摸電容的檢測(cè)靈敏度的行方向的偏差被抑制，觸摸電容的檢測(cè)精度提高。在本實(shí)施方式中，將兩端的檢測(cè)用行布線3的寬度變窄，但是，也可以僅將其單側(cè)
的寬度變窄。在該情況下，對(duì)于使寬度變窄的一側(cè)的檢測(cè)用行布線3，能夠得到上述的效果。
檢測(cè)用列布線2也是同樣的。 并且，本發(fā)明在該發(fā)明的范圍內(nèi)能夠?qū)⒏鲗?shí)施方式自由組合或者對(duì)各實(shí)施方式進(jìn)
行適當(dāng)變形、省略。 附圖標(biāo)記的說明
I觸摸屏 2檢測(cè)用列布線 3檢測(cè)用行布線 4偽列布線 5偽行布線 2a、3a端子 2b,3b細(xì)線 8端子組 9基底基板 10層間絕緣膜 11保護(hù)膜 12電介質(zhì)膜
13FPC 14控制器基板 15檢測(cè)電路
20a列布線選擇開關(guān)電路 20b行布線選擇開關(guān)電路 21振蕩電路 22檢測(cè)用振蕩電路 23a第一計(jì)數(shù)電路 23b第二計(jì)數(shù)電路 24觸摸坐標(biāo)算出電路 25控制電路 30運(yùn)算放大器 31輸出端子 32檢測(cè)反饋路徑。
權(quán)利要求
1.一種觸摸面板，其特征在于，具備 觸摸屏，具備平行配設(shè)的多個(gè)檢測(cè)用布線；以及 寄生電容設(shè)定單元，將所述多個(gè)檢測(cè)用布線中的最外側(cè)的檢測(cè)用布線的寄生電容設(shè)定為與其他的檢測(cè)用布線的寄生電容相同。
2.如權(quán)利要求1所述的觸摸面板，其特征在于， 所述寄生電容設(shè)定單元是在所述最外側(cè)的檢測(cè)用布線的更外側(cè)與該最外側(cè)的檢測(cè)用布線平行配設(shè)的偽布線。
3.如權(quán)利要求2所述的觸摸面板，其特征在于， 所述偽布線的形狀以及寬度分別與所述多個(gè)檢測(cè)用布線相同， 所述偽布線與所述最外側(cè)的檢測(cè)用布線的間隔和所述多個(gè)檢測(cè)用布線間的間隔相同。
4.如權(quán)利要求2所述的觸摸面板，其特征在于， 在所述最外側(cè)的檢測(cè)用布線的更外側(cè)設(shè)置有多條所述偽布線。
5.如權(quán)利要求2 4的任意一項(xiàng)所述的觸摸面板，其特征在于， 所述多個(gè)檢測(cè)用布線以及所述偽布線分別由多個(gè)金屬細(xì)線的束構(gòu)成。
6.如權(quán)利要求2 4的任意一項(xiàng)所述的觸摸面板，其特征在于， 所述多個(gè)檢測(cè)用布線以及所述偽布線分別由透明的導(dǎo)電材料形成。
7.如權(quán)利要求1所述的觸摸面板，其特征在于， 所述寄生電容設(shè)定單元是所述最外側(cè)的檢測(cè)用布線， 所述最外側(cè)的檢測(cè)用布線的寬度形成得比其他的檢測(cè)用布線窄。
8.如權(quán)利要求1 4的任意一項(xiàng)所述的觸摸面板，其特征在于， 作為所述多個(gè)檢測(cè)用布線，具備在列方向延伸的多個(gè)檢測(cè)用列布線和在行方向延伸的多個(gè)檢測(cè)用行布線。
9.如權(quán)利要求8所述的觸摸面板，其特征在于，還具備 開關(guān)電路，依次選擇所述多個(gè)檢測(cè)用列布線以及所述多個(gè)檢測(cè)用行布線； 振蕩電路，以與由所述開關(guān)電路選擇的所述檢測(cè)用布線的電容成分對(duì)應(yīng)的周期進(jìn)行振蕩；以及 坐標(biāo)算出電路，基于所述振蕩電路的振蕩周期的變化，算出與所述觸摸屏接觸的指示體的坐標(biāo)。
10.一種顯示裝置，其特征在于， 具備在前面配設(shè)有權(quán)利要求9所述的觸摸面板的所述觸摸屏的顯示面板。
11.如權(quán)利要求10所述的顯示裝置，其特征在于， 所述觸摸面板的觸摸屏貼附于所述顯示面板的前面。
全文摘要
本申請(qǐng)涉及觸摸面板以及具有該面板的顯示裝置。在具備多個(gè)檢測(cè)用布線的觸摸面板中，抑制每個(gè)檢測(cè)用布線的寄生電容的偏差。觸摸面板的觸摸屏(1)具備多個(gè)檢測(cè)用列布線(2)和與檢測(cè)用列布線(2)交叉的多個(gè)檢測(cè)用行布線(3)。在多個(gè)檢測(cè)用列布線(2)中的最外側(cè)的布線的更外側(cè)，配設(shè)有與檢測(cè)用列布線(2)相同的結(jié)構(gòu)的偽列布線(4)。在多個(gè)檢測(cè)用行布線(3)中的最外側(cè)的布線的更外側(cè)，配設(shè)有與檢測(cè)用行布線(3)相同的結(jié)構(gòu)的偽行布線(5)。
文檔編號(hào)G06F3/044GK103049149SQ20121038567
公開日2013年4月17日 申請(qǐng)日期2012年10月12日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月12日
發(fā)明者中村達(dá)也, 森成一郎, 宮山隆 申請(qǐng)人:三菱電機(jī)株式會(huì)社