確定輻射敏感器件抗輻射性能指標(biāo)的方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種確定輻射敏感器件抗輻射性能指標(biāo)的方法，該方法包括：通過試驗獲取多個樣本器件的輻射失效水平，并計算輻射失效水平的對數(shù)ln(RFAILi)、對數(shù)平均值和標(biāo)準(zhǔn)差建立以樣本數(shù)n、置信度c和生存概率p的單邊置信區(qū)間KTL(c，n，p)，并獲取單邊置信區(qū)間值；根據(jù)式子計算器件分類判據(jù)值；PCC為器件分類判據(jù)值，即為輻射敏感器件抗輻射性能指標(biāo)。本發(fā)明提供的方法對器件輻射響應(yīng)不一致導(dǎo)致的評估不確定性進行更為精確的評價，并為型號任務(wù)的順利完成提供保障。
【專利說明】確定輻射敏感器件抗輻射性能指標(biāo)的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及輻射敏感器件抗輻射性能指標(biāo)確定【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種采用器件分類判據(jù)(PCC)方法確定輻射敏感器件抗輻射性能指標(biāo)RDM。
【背景技術(shù)】
[0002]為保證衛(wèi)星空間輻射環(huán)境的可靠性而建立空間輻射環(huán)境可靠性指標(biāo)體系，其中輻射敏感器件抗輻射性能指標(biāo)(RDM)是可靠性的一個重要評定指標(biāo)，指器件抗輻射性能本征指標(biāo)與任務(wù)要求的抗輻射性能之比，即RDM = RMF/RSPEC，而輻射設(shè)計裕量RDM的確定可以依據(jù)理論進行相應(yīng)的計算獲得。
[0003]目前，對于輻射敏感器件抗輻射性能指標(biāo)評價方法有批允許不合格品率(LTPD)方法、參數(shù)設(shè)計裕量方法(PDM)、過試驗(overtesting)方法等，現(xiàn)有的這些方法容易受到器件本身對輻射響應(yīng)的不一致，以及批次性差異等因素的影響，指標(biāo)的確定不準(zhǔn)確。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004](一 )所要解決的技術(shù)問題
[0005]本發(fā)明提供一種確定RDM指標(biāo)的方法——器件分類判據(jù)(PCC)方法。該方法適用于關(guān)鍵器件的抗輻射要求，關(guān)鍵器件的RDM—般在10~100之間。該方法克服了指標(biāo)容易受到器件本身對輻射響應(yīng)的不一致，以及批次性差異等因素的影響，使RDM的確定更準(zhǔn)確。
[0006]( 二 )技術(shù)方案
[0007]本發(fā)明提供一種確定輻射敏感器件抗輻射性能指標(biāo)的方法，該方法包括:
[0008]S1、通過試驗獲取多個樣本器件的輻射失效水平，并計算輻射失效水平的對數(shù)
電麗,)、對數(shù)平均值^^和標(biāo)準(zhǔn)差5rIn(知擺)；
[0009]S2、建立樣本數(shù)η、置信度c和生存概率P的單邊置信區(qū)間KTJc，η, P)，并獲取單邊置信區(qū)間值；
[0010]S3、根據(jù)式子
【權(quán)利要求】
1.一種確定輻射敏感器件抗輻射性能指標(biāo)的方法，其特征在于，該方法包括: 51、通過試驗獲取多個樣本器件的輻射失效水平，計算輻射失效水平的對數(shù)In(Rmi)、對數(shù)平均值
2.如權(quán)利要求1所述方法，其特征在于，獲取單邊置信區(qū)間值具體包括: 利用R語言構(gòu)造單邊置信區(qū)間函數(shù):
> Ktl = function (c, n, p) {qt (c, n_l, sqrt (n) *qnorm(p)) /sqrt (n)};計算單邊置信區(qū)間值。
3.如權(quán)利要求1所述方法，其特征在于，所述單邊置信區(qū)間值通過查表獲取。
【文檔編號】G06F19/00GK103838945SQ201210483971
【公開日】2014年6月4日 申請日期:2012年11月23日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月23日
【發(fā)明者】王群勇, 陳冬梅, 陽輝, 白樺, 陳宇, 鐘征宇 申請人:北京圣濤平試驗工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司