專利名稱：一種空洞率的測算方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種元器件焊接點(diǎn)或者塑膠元件注塑體等實(shí)體中空洞率的測算方法。
背景技術(shù)：
在元器件進(jìn)行焊接時(shí)，無論是回流焊還是波峰焊接，無論是有鉛制程還是無鉛制程，冷卻之后都難免會(huì)出現(xiàn)一些在所難免的空洞現(xiàn)象的產(chǎn)生。焊點(diǎn)內(nèi)部發(fā)生空洞的主要成因是FLUX中的有機(jī)物經(jīng)過高溫裂解后產(chǎn)生的氣泡無法及時(shí)逸出。在回流區(qū)FLUX已經(jīng)被消耗殆盡，錫膏的粘度發(fā)生的較大的變化，此時(shí)錫膏之中的FLUX發(fā)生裂解，導(dǎo)致高溫裂解后 的氣泡無法及時(shí)逸出，被包圍在錫球中，冷卻后就形成空洞現(xiàn)象。目前，一般使用X-Ray設(shè)備進(jìn)行檢查空洞的面積，計(jì)算出空洞率。注塑元件在注塑過程中，也容易造成空洞，主要包括兩類，一類是含有空氣的空洞，另一類是真空空洞，即該空洞為真空狀態(tài)。注塑件的空洞也是通過X-Ray設(shè)備進(jìn)行檢查，計(jì)算出空洞率。但X-Ray在計(jì)算焊點(diǎn)或者注塑體的空洞率時(shí)，有兩種統(tǒng)計(jì)方法一種是系統(tǒng)自動(dòng)計(jì)算空洞率，該計(jì)算方法誤差大，精度低，不利于對整體焊接工藝進(jìn)行評估；另一種是通過人工操作的方式將空洞全部圈點(diǎn)出來，電腦系統(tǒng)再進(jìn)行計(jì)算，但是人工圈點(diǎn)費(fèi)時(shí)費(fèi)力，效率低。因此，如何快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行空洞率的測算成為工藝評估領(lǐng)域的一大重要問題。

發(fā)明內(nèi)容
為解決現(xiàn)有空洞率的計(jì)算方法誤差大、精度低或者耗時(shí)長，效率低的問題，本發(fā)明提供以下技術(shù)方案
一種空洞率的測算方法，該方法包括以下步驟
A、在Word、Excel或者PowerPoint中設(shè)置一個(gè)mXn的矩陣 B、將帶有空洞測量體的X-Ray圖片插入所述步驟A中的矩陣圖中，與矩陣圖重疊，并置于矩陣圖底層；
C、分別計(jì)算空洞所占矩陣圖的空格數(shù)量和測量體所占矩陣圖的空格數(shù)量；
D、通過計(jì)算，空洞所占矩陣圖的空格數(shù)量除以測量體所占矩陣圖的空格數(shù)量即為測量體的空洞率。作為本發(fā)明方法的一種優(yōu)選方案，所述步驟A中，m與η均不小于10 ；
作為本發(fā)明方法的另一種優(yōu)選方案，所述步驟B中測量體的X-Ray圖片的長和寬分別小于矩陣圖的長和寬；
作為本發(fā)明方法的有一種優(yōu)選方案，所述步驟C中空格的計(jì)算原則為占矩陣圖空格面積大于等于一半的則計(jì)為1，反之，占矩陣圖空格面積小于一半的則計(jì)為O。
本發(fā)明有如下優(yōu)點(diǎn)本發(fā)明方法操作簡單、速度快、精度高、成本低，是ー種經(jīng)濟(jì)、高效、精確的空洞率測算方法。


圖1本發(fā)明方法實(shí)施例測算圖。
具體實(shí)施例方式下面對該エ藝實(shí)施例作詳細(xì)闡述，以使本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對本發(fā)明的保護(hù)范圍作出更為清楚明確的界定。本實(shí)施例測算了某焊點(diǎn)的空洞率，具體步驟如下
A、在Word中設(shè)置ー個(gè)mXn為19X18的矩陣 B、將帶有空洞測量體的X-Ray圖片插入所述步驟A中的矩陣圖中，與矩陣圖重疊，井置于矩陣圖底層，其中焊點(diǎn)的圖形的長和寬均小于矩陣圖的長和寬，如附圖1所示；
C、分別計(jì)算空洞所占矩陣圖的空格數(shù)量和測量體所占矩陣圖的空格數(shù)量，空格的計(jì)算原則為占矩陣圖空格面積大于等于一半的則計(jì)為1，反之，占矩陣圖空格面積小于一半的則計(jì)為0，經(jīng)過計(jì)算空洞所占矩陣圖的空格數(shù)量為12個(gè)，焊點(diǎn)所占矩陣圖的空格數(shù)量為262 ；
D、通過計(jì)算，12/262=4.58%，即該焊點(diǎn)的空洞率為4. 58%。本發(fā)明方法使用的矩陣圖，m和n的數(shù)據(jù)越大，空洞與測量體所占空格的計(jì)算就越是精確，空洞率的計(jì)算結(jié)果就越是精確。本發(fā)明方法簡單、實(shí)用，提高工作效率，降低了測算成本。以上所述，僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式
之一，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明所揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可不經(jīng)過創(chuàng)造性勞動(dòng)想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書所限定的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種空洞率的測算方法，其特征在于該方法包括以下步驟 A、在Word、Excel或者PowerPoint中設(shè)置一個(gè)mXn的矩陣圖； B、將帶有空洞測量體的X-Ray圖片插入所述步驟A中的矩陣圖中，與矩陣圖重疊，并置于矩陣圖底層； C、分別計(jì)算空洞所占矩陣圖的空格數(shù)量和測量體所占矩陣圖的空格數(shù)量； D、通過計(jì)算，空洞所占矩陣圖的空格數(shù)量除以測量體所占矩陣圖的空格數(shù)量即為測量體的空洞率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種空洞率的測算方法，其特征在于所述步驟A中，m與n均不小于10。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種空洞率的測算方法，其特征在于所述步驟B中測量體的X-Ray圖片的長和寬分別小于矩陣圖的長和寬。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種空洞率的測算方法，其特征在于所述步驟C中空格的計(jì)算原則為占矩陣圖空格面積大于等于一半的則計(jì)為1，占矩陣圖空格面積小于一半的則計(jì)為O。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種空洞率的測算方法，該方法包括以下步驟A、在Word、Excel或者PowerPoint中設(shè)置一個(gè)m×n的矩陣圖；B、將帶有空洞測量體的X-Ray圖片插入所述步驟A中的矩陣圖中，與矩陣圖重疊，并置于矩陣圖底層；C、分別計(jì)算空洞所占矩陣圖的空格數(shù)量和測量體所占矩陣圖的空格數(shù)量；D、通過計(jì)算，空洞所占矩陣圖的空格數(shù)量除以測量體所占矩陣圖的空格數(shù)量即為測量體的空洞率。本發(fā)明有如下優(yōu)點(diǎn)本發(fā)明方法操作簡單、速度快、精度高、成本低，是一種經(jīng)濟(jì)、高效、精確的空洞率測算方法。
文檔編號G06F17/50GK103020392SQ20121059144
公開日2013年4月3日 申請日期2012年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月29日
發(fā)明者李鋒, 顏景林, 鄭海鵬 申請人:上海華碧檢測技術(shù)有限公司