Led控制卡測試系統(tǒng)及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種LED控制卡測試系統(tǒng)。所述LED控制卡測試系統(tǒng)包括：上位機和LED控制卡陣列，所述上位機連接所述LED控制卡陣列；所述LED控制卡陣列中包括一個或兩個以上相串聯(lián)的LED控制卡；所述LED控制卡包括測試控制模塊和功能電路模塊，所述測試控制模塊連接所述功能電路模塊；所述測試控制模塊，用于向所述功能電路模塊發(fā)送測試向量，采集測試結(jié)果，并將所述測試結(jié)果傳輸給所述上位機；所述上位機，用于根據(jù)所述測試結(jié)果，匯總為測試文檔。本發(fā)明還相應(yīng)公開了一種LED控制卡測試方法。應(yīng)用本發(fā)明技術(shù)方案，能夠提高測試效率、降低誤判率和人工成本。
【專利說明】LED控制卡測試系統(tǒng)及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是涉及一種LED控制卡測試系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]LED (Light emitting diode,發(fā)光二極管)顯示屏由于具有亮度高、工作電壓低、功耗小、大型化、壽命長、耐沖擊、性能穩(wěn)定等優(yōu)點，受到廣泛關(guān)注而迅速發(fā)展。LED顯示屏的發(fā)展前景極為廣闊，目前LED顯示屏已經(jīng)廣泛應(yīng)用于體育場館、商業(yè)應(yīng)用、銀行、證券、郵政、碼頭、商場等不同場所的廣告宣傳。
[0003]LED顯示屏一般包括LED模組和LED控制卡。LED模組包含LED陣列和相應(yīng)的驅(qū)動電路，通過LED控制卡為各LED模組提供控制信號，進而控制LED陣列的亮滅，實現(xiàn)圖像的顯示。
[0004]因此，在LED顯示屏的生產(chǎn)及維修過程中，必然涉及到對LED控制卡的測試，傳統(tǒng)的測試方法是搭建一個模擬LED控制卡正常工作的環(huán)境，將LED控制卡與LED模組相連，根據(jù)LED模組實際顯示內(nèi)容與預(yù)期內(nèi)容相比，推測LED控制卡發(fā)生錯誤的原因及位置。故，傳統(tǒng)技術(shù)是依靠人眼觀察和人工分析判斷，測試效率低、誤判率高并且人工成本高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]基于此，有必要提供一種LED控制卡測試系統(tǒng)及方法，應(yīng)用本系統(tǒng)、方法能夠提高測試效率、降低誤判率和人工成本。
[0006]一種LED控制卡測試系統(tǒng)，包括:上位機和LED控制卡陣列，所述上位機連接所述LED控制卡陣列；所述LED控制卡陣列中包括一個或兩個以上相串聯(lián)的LED控制卡；
[0007]所述LED控制卡包括測試控制模塊和功能電路模塊，所述測試控制模塊連接所述功能電路1吳塊；
[0008]所述測試控制模塊，用于向所述功能電路模塊發(fā)送測試向量，采集測試結(jié)果，并將所述測試結(jié)果傳輸給所述上位機；
[0009]所述上位機，用于根據(jù)所述測試結(jié)果，匯總為測試文檔。
[0010]在其中一個實施例中，所述LED控制卡包括兩個網(wǎng)口，所述LED控制卡陣列中兩相鄰LED控制卡通過網(wǎng)口相串聯(lián)，所述LED控制卡陣列中處于邊緣的LED控制卡通過網(wǎng)口連接所述上位機。
[0011]在其中一個實施例中，所述測試控制模塊包括處理器和程序存儲器；所述處理器連接所述程序存儲器和所述兩個網(wǎng)口；
[0012]所述功能電路模塊包括偶數(shù)個顯示數(shù)據(jù)輸出接口和數(shù)據(jù)存儲器；所述偶數(shù)個顯示數(shù)據(jù)輸出接口和所述數(shù)據(jù)存儲器分別連接所述FPGA ；
[0013]所述程序存儲器，用于存儲測試程序；
[0014]所述處理器，用于執(zhí)行所述測試程序，向所述顯示數(shù)據(jù)輸出接口、所述數(shù)據(jù)存儲器發(fā)送測試向量，采集測試結(jié)果，并將所述測試結(jié)果通過網(wǎng)口傳輸給所述上位機。[0015]在其中一個實施例中，所述處理器為FPGA ;所述程序存儲器為flash存儲電路；所述數(shù)據(jù)存儲器為SDRAM。
[0016]在其中一個實施例中，所述上位機還用于通過所述網(wǎng)口向所述LED控制卡發(fā)送CRC校驗碼，所述處理器用于接收所述CRC校驗碼進行CRC校驗，得到所述網(wǎng)口的傳輸誤碼率，并將所述傳輸誤碼率返回給所述上位機。
[0017]一種LED控制卡測試方法，包括:
[0018]向LED控制卡中的功能電路模塊發(fā)送測試向量，采集測試結(jié)果，并將所述測試結(jié)果傳輸給上位機；
[0019]所述上位機根據(jù)所述測試結(jié)果進行匯總，得到測試文檔。
[0020]在其中一個實施例中，所述LED控制卡包括兩個網(wǎng)口，相鄰兩LED控制卡通過網(wǎng)口相串聯(lián)組成LED控制卡陣列。
[0021]在其中一個實施例中，所述向LED控制卡中的功能電路模塊發(fā)送測試向量、采集測試結(jié)果的步驟，包括:
[0022]向所述顯示數(shù)據(jù)輸出接口、所述SDRAM發(fā)送測試向量，采集測試結(jié)果。
[0023]在其中一個實施例中，所述向顯示數(shù)據(jù)輸出接口、SDRAM發(fā)送測試向量，采集測試結(jié)果的步驟包括:
[0024]將偶數(shù)個顯示數(shù)據(jù)輸出接口中每兩個作為一組，互為輸入輸出，向作為輸出的顯示數(shù)據(jù)接口的引腳發(fā)送測試向量，并采集作為輸入的顯示數(shù)據(jù)接口對應(yīng)引腳的測試結(jié)果；
[0025]根據(jù)SDRAM的地址線，通過數(shù)據(jù)線向SDRAM中的存儲空間發(fā)送測試向量，再從所述存儲空間讀出測試結(jié)果。
[0026]在其中一個實施例中，所述方法還包括:
[0027]所述上位機通過網(wǎng)口向所述LED控制卡發(fā)送CRC校驗碼，由所述LED控制卡進行CRC校驗，得到網(wǎng)口的傳輸誤碼率，并將所述傳輸誤碼率返回給所述上位機。
[0028]上述LED控制卡測試系統(tǒng)及方法，由LED控制卡三維測試控制模塊向功能電路模塊發(fā)送測試向量，并采集測試結(jié)果，以及將測試結(jié)果傳輸給上位機，上位機對測試結(jié)果進行匯總，得到測試文檔，相比于傳統(tǒng)技術(shù)全程需要人工參與測試和判別，提高了測試效率、降低了誤判率和人工成本。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0029]圖1為一個實施例中的LED控制卡測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030]圖2為一個實施例中的LED控制卡測試方法的流程示意圖。
【具體實施方式】
[0031]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應(yīng)當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0032]參見圖1，在一個實施例中提供了一種LED控制卡測試系統(tǒng)。該LED控制卡測試系統(tǒng)包括:上位機102和LED控制卡陣列，上位機102連接LED控制卡陣列。LED控制卡陣列中包括一個或兩個以上相串聯(lián)的LED控制卡，具體的，LED控制卡的連接關(guān)系可以但不限于如圖1所示。其中，LED控制卡陣列包括相串聯(lián)的LED控制卡104、LED控制卡106等。LED控制卡的結(jié)構(gòu)均相同，如LED控制卡104包括兩個網(wǎng)口:第一網(wǎng)口 1041和第二網(wǎng)口 1042。第一網(wǎng)口 1041連接上位機102，第二網(wǎng)口 104與LED控制卡106的第一網(wǎng)口相連接，由此可以在一次測試中，同時對結(jié)構(gòu)相同的LED控制卡進行測試。
[0033]LED控制卡包括測試控制模塊和功能電路模塊。測試控制模塊與功能電路模塊相連接。測試控制模塊根據(jù)功能電路模塊中不同功能單元的電氣結(jié)構(gòu)，如不同的數(shù)據(jù)線位數(shù)、地址線位數(shù)等，發(fā)送不同的測試向量，例如32位全“O”低電平信號等。測試控制模塊再采集測試結(jié)果，例如測試控制模塊可以檢測功能電路模塊中特定芯片的特定引腳的高低電平信號、特定地址存儲空間的存儲數(shù)據(jù)等，并將這些信號進行高低電平信號之間的與、或等計算，得到測試結(jié)果。測試控制模塊再將測試結(jié)果傳輸給上位機，由上位機進行匯總，得到測試文檔，測試文檔中可以記錄測試項目、總測試次數(shù)、發(fā)生錯誤次數(shù)、錯誤位置、原因等。上位機還可以顯示該測試文檔或?qū)y試文檔打印輸出等。
[0034]具體的，在本實施例LED控制卡的測試場景中，測試控制模塊包括處理器和程序存儲器，處理器可以是FPGA (Field Programmable Gate Array,現(xiàn)場可編程門陣列)等數(shù)字處理芯片，程序存儲器可以是flash (閃存)存儲電路1044。處理器(FPGA1043)連接程序存儲器(flash存儲電路1044)和兩個網(wǎng)口:第一網(wǎng)口 1041和第二網(wǎng)口 1042。功能電路模塊包括偶數(shù)個顯示數(shù)據(jù)輸出接口和數(shù)據(jù)存儲器，其中數(shù)據(jù)存儲器可以但不限于是SDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory,同步動態(tài)隨機存儲器)。顯示數(shù)據(jù)輸出接口和數(shù)據(jù)存儲器分別連接處理器。其中，本實施例中示意性繪出顯示數(shù)據(jù)輸出接口 1045和顯示數(shù)據(jù)輸出接口 1046，顯示數(shù)據(jù)的數(shù)目還可以是其他偶數(shù)個，如4、6等，顯示數(shù)據(jù)輸出接口在安裝到LED顯示屏中時與LED模組相連，在測試中，顯示數(shù)據(jù)輸出接口以兩個為一組，通過排線連接對應(yīng)的引腳。 [0035]由此在flash存儲電路1044中預(yù)先存儲測試程序，F(xiàn)PGA1043上電后讀取測試程序進行執(zhí)行，向SDRAM、顯示數(shù)據(jù)輸出接口發(fā)出測試向量，再采集測試結(jié)果，將測試結(jié)果通過網(wǎng)口傳輸給上位機，能夠?qū)崿F(xiàn)對顯示數(shù)據(jù)輸出接口引腳的短路、斷路等問題的檢測，以及對SDRAM的數(shù)據(jù)線和地址線的斷、短路問題的檢測，具體檢測過程如下所述:
[0036]顯示數(shù)據(jù)輸出接口測試:
[0037]其原理為:將偶數(shù)個顯示數(shù)據(jù)輸出接口中每兩個作為一組，互為輸入輸出，向作為輸出的顯示數(shù)據(jù)接口的引腳發(fā)送測試向量，并采集作為輸入的顯示數(shù)據(jù)接口對應(yīng)引腳的測試結(jié)果。如圖1所示，顯示數(shù)據(jù)輸出接口 1045和顯示數(shù)據(jù)輸出接口 1046使用排線連接對應(yīng)引腳，可互為輸入輸出(以接收FPGA發(fā)出的測試向量為輸出，向FPGA發(fā)出測試結(jié)果的為輸入)，進行相應(yīng)測試。
[0038]首先將顯示數(shù)據(jù)輸出接口 1045作為輸出，顯示數(shù)據(jù)輸出接口 1046作為輸入。FPGA向作為輸出口的顯示數(shù)據(jù)輸出接口 1045的其中I個引腳發(fā)送“01010101010101...”電平信號(例如高電平信號可以為1，低電平信號為0，反之亦可)，向其他引腳發(fā)送“000000000…”電平信號。此時，如果顯示數(shù)據(jù)輸出接口 1046有且僅有對應(yīng)的引腳收到“01010101010101…”電平信號，而其他引腳收到“000000000…”電平信號，則說明此路引腳信號正常；如果所有引腳收到“000000000…”電平信號，則該路存在斷路；如果超過I個引腳收到“01010101010101…”電平信號，則證明該引腳和其他引腳之間存在短路。之后，將顯示數(shù)據(jù)輸出接口 1045作為輸入，顯示數(shù)據(jù)輸出接口 1046作為輸出，按照上述過程再次測試，從而推斷出出錯的可能位置、原因等。
[0039]SDRAM 測試:
[0040]整個測試分為兩部分:數(shù)據(jù)線測試和地址線測試。其原理為:根據(jù)SDRAM的地址線，通過數(shù)據(jù)線向SDRAM中的存儲空間發(fā)送測試向量，再從所述存儲空間讀出測試結(jié)果。
[0041]其中檢測數(shù)據(jù)線的原理如下:FPGA根據(jù)flash存儲電路中預(yù)存的測試程序，先往SDRAM某個地址寫32位全“O”電平信號(本實施例以32位數(shù)據(jù)線為例，在其它的實施例中，數(shù)據(jù)線還可以是16位、64位等)，然后再由FPGA讀出來，如果某位為“ 1”，則該位數(shù)據(jù)線有錯誤；FPGA再往SDRAM該地址寫32位全“ I ”信號，然后讀出來，如果某位為0，則該位數(shù)據(jù)線錯誤。FPGA可以以32位2進制數(shù)預(yù)定義臨時測試結(jié)果，臨時測試結(jié)果中某一位數(shù)據(jù)為I代表該數(shù)據(jù)線有錯誤，F(xiàn)PGA可以將上述兩次的臨時測試結(jié)果進行或運算，所得結(jié)果可以反映數(shù)據(jù)線檢測的所有問題。
[0042]地址線檢測部分以21位地址線為例，例如SDRAM的地址線總結(jié)起來可以歸為:bank_addr [1:0]&row_addr [10:0]&column_addr [7:0],其中 bank_addr 為塊地址，共 2 位，row_addr為行地址,共11位，column_addr為列地址,共8位，一共有2的21次方個尋址空間，每個空間位寬可以為32位。測試時，首FPGA先往SDRAM每個地址空間寫入一個數(shù)值，該數(shù)值就是該地址空間的地址，比如第O塊bank，第I行，第一 2列，寫入的數(shù)據(jù)應(yīng)該為“000000000000100000010” (32位數(shù)據(jù)高11位補O),依次類推。然后，由FPGA依次讀取各個地址空間的數(shù)值，例如首先讀取地址位全O處的數(shù)據(jù)，理論上讀出來的應(yīng)該全是O。如果某一根數(shù)據(jù)線有錯誤，則可能使輸入給芯片的地址是1，從而導(dǎo)致讀出來的數(shù)據(jù)不是全0，這是只需要看讀 出來的數(shù)據(jù)哪位為1，就可以知道哪根數(shù)據(jù)線有錯誤，此外，在本實施例中，還要考慮數(shù)據(jù)線行列地址復(fù)用的問題，因為地址線的低八位是行地址和列地復(fù)用，所以如果是低八位的某根地址線發(fā)生錯誤，則必然會導(dǎo)致行地址和列地址同時發(fā)生錯誤，那么讀出來的32位的數(shù)據(jù)[7:0]和[15:8]這兩個數(shù)據(jù)段的對一位必然同時出錯，如果不是，則應(yīng)該可以排除地址線錯誤，而是數(shù)據(jù)線錯誤，而行地址高三位沒有復(fù)用，所以不存在這個問題。比如假如讀出來的結(jié)果為“00000000000 00 00000000001 00000001”，行地址的第O位和列地址的第O位同時出錯，則可以判定地址線AO線出錯；如果讀出來的結(jié)果為“00000000000 00 00000000001 00000000”，則可以認為是數(shù)據(jù)點D8出錯，而不會是地址線AO出錯。同理，F(xiàn)PGA可以依次讀取其它地址位的數(shù)據(jù)進行檢測，也可以直接讀取地址線全為I處的數(shù)據(jù)，如果檢測到數(shù)據(jù)低21位中有0，根據(jù)上述讀O地址處方法判定，即可得出結(jié)果。同樣，F(xiàn)PGA將兩次的結(jié)果或運算，即可得到地址線檢測結(jié)果。
[0043]此外，由于LED控制卡是接收外部數(shù)據(jù)進行處理，從而實現(xiàn)LED模組上的顯示，因此有必要對LED控制卡的網(wǎng)口進行傳輸誤碼率的相關(guān)測試。測試過程具體包括:由上位機通過網(wǎng)口向LED控制卡發(fā)送CRC (Cylical Redundancy Check,循環(huán)冗余校驗)校驗碼,具體在圖1中，上位機102通過第一網(wǎng)口 1041向LED控制卡104發(fā)送CRC校驗碼，LED控制卡104通過第二網(wǎng)口 1042將CRC校驗碼轉(zhuǎn)發(fā)給LED控制卡106……依次類推。LED控制卡104和LED控制卡106各自的FPGA分別進行CRC校驗，得到各自第一網(wǎng)口的傳輸誤碼率，F(xiàn)PGA再通過網(wǎng)口將誤碼率傳輸給上位機，由上位機記錄到最終的測試文檔中。
[0044]參見圖2，在一個實施例中，提供了一種LED控制卡測試方法，該方法包括流程:[0045]步驟202，向LED控制卡中的功能電路模塊發(fā)送測試向量，采集測試結(jié)果，并將測試結(jié)果傳輸給上位機。
[0046]具體的，本實施例的LED控制卡測試方法可以應(yīng)用如圖1所示的LED控制卡測試系統(tǒng)，LED控制卡包括兩個網(wǎng)口，相鄰兩LED控制卡通過網(wǎng)口相串聯(lián)組成LED控制卡陣列，由此可以在一次測試中對結(jié)構(gòu)相同的多個LED控制卡進行同時測試。
[0047]LED控制卡包括測試控制模塊和功能電路模塊。測試控制模塊與功能電路模塊相連接。測試控制模塊根據(jù)功能電路模塊中不同功能單元的電氣結(jié)構(gòu)，如不同的數(shù)據(jù)線位數(shù)、地址線位數(shù)等，發(fā)送不同的測試向量，例如向32位全“O”低電平信號等。測試控制模塊再采集測試結(jié)果，例如測試控制模塊可以檢測功能電路模塊中特定芯片的特定引腳的高低電平信號、特定地址存儲空間的存儲結(jié)果等，并將這些信號進行高低電平信號之間的與、或等計算，得到測試結(jié)果。測試模塊再將測試結(jié)果傳輸給上位機。
[0048]具體的，測試控制模塊可以由FPGA和flash存儲電路組成，功能電路模塊包括SDRAM、顯示數(shù)據(jù)輸出接口。其中SDRAM、顯示數(shù)據(jù)輸出接口的測試原理和過程可以參照圖1中實施例的描述，在此不再贅述。此外，本實施例中，還可以由上位機通過網(wǎng)口向LED控制卡發(fā)送CRC校驗碼，由LED控制卡進行CRC校驗，得到網(wǎng)口的傳輸誤碼率，并將傳輸誤碼率返回給上位機。
[0049]步驟204，上位機根據(jù)測試結(jié)果進行匯總，得到測試文檔。
[0050]上位機對測試結(jié)果進行匯總，得到測試文檔，測試文檔中可以記錄測試項目、總測試次數(shù)、發(fā)生錯誤次數(shù)、錯誤位置、原因等。上位機還可以顯示該測試文檔或?qū)y試文檔打印輸出。
[0051]上述LED控制卡測試系統(tǒng)及方法，由LED控制卡三維測試控制模塊向功能電路模塊發(fā)送測試向量，并采集測試結(jié)果，以及將測試結(jié)果傳輸給上位機，上位機對測試結(jié)果進行匯總，得到測試文檔，相比于傳統(tǒng)技術(shù)全程需要人工參與測試和判別，提高了測試效率、降低了誤判率和人工成本。
[0052]以上所述實施例僅表達了本發(fā)明的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本發(fā)明的保護范圍。因此，本發(fā)明專利的保護范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準。
【權(quán)利要求】
1.一種LED控制卡測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括:上位機和LED控制卡陣列，所述上位機連接所述LED控制卡陣列；所述LED控制卡陣列中包括一個或兩個以上相串聯(lián)的LED控制卡； 所述LED控制卡包括測試控制模塊和功能電路模塊，所述測試控制模塊連接所述功能電路模塊； 所述測試控制模塊，用于向所述功能電路模塊發(fā)送測試向量，采集測試結(jié)果，并將所述測試結(jié)果傳輸給所述上位機； 所述上位機，用于根據(jù)所述測試結(jié)果，匯總為測試文檔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED控制卡測試系統(tǒng)，其特征在于，所述LED控制卡包括兩個網(wǎng)口，所述LED控制卡陣列中兩相鄰LED控制卡通過網(wǎng)口相串聯(lián)，所述LED控制卡陣列中處于邊緣的LED控制卡通過網(wǎng)口連接所述上位機。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的LED控制卡測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試控制模塊包括處理器和程序存儲器；所述處理器連接所述程序存儲器和所述兩個網(wǎng)口 ； 所述功能電路模塊包括偶數(shù)個顯示數(shù)據(jù)輸出接口和數(shù)據(jù)存儲器；所述偶數(shù)個顯示數(shù)據(jù)輸出接口和所述數(shù)據(jù)存儲器分別連接所述處理器； 所述程序存儲器，用于存儲測試程序； 所述處理器，用于 執(zhí)行所述測試程序，向所述顯示數(shù)據(jù)輸出接口、所述數(shù)據(jù)存儲器發(fā)送測試向量，采集測試結(jié)果，并將所述測試結(jié)果通過網(wǎng)口傳輸給所述上位機。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的LED控制卡測試系統(tǒng)，其特征在于，所述處理器為FPGA;所述程序存儲器為flash存儲電路；所述數(shù)據(jù)存儲器為SDRAM。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的LED控制卡測試系統(tǒng)，其特征在于，所述上位機還用于通過所述網(wǎng)口向所述LED控制卡發(fā)送CRC校驗碼，所述處理器用于接收所述CRC校驗碼進行CRC校驗，得到所述網(wǎng)口的傳輸誤碼率，并將所述傳輸誤碼率返回給所述上位機。
6.一種LED控制卡測試方法，其特征在于，所述方法包括: 向LED控制卡中的功能電路模塊發(fā)送測試向量，采集測試結(jié)果，并將所述測試結(jié)果傳輸給上位機； 所述上位機根據(jù)所述測試結(jié)果進行匯總，得到測試文檔。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，所述LED控制卡包括兩個網(wǎng)口，相鄰兩LED控制卡通過網(wǎng)口相串聯(lián)組成LED控制卡陣列。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的LED控制卡測試方法，其特征在于，所述向LED控制卡中的功能電路模塊發(fā)送測試向量、采集測試結(jié)果的步驟，包括: 向所述顯示數(shù)據(jù)輸出接口、所述SDRAM發(fā)送測試向量，采集測試結(jié)果。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的LED控制卡測試方法，其特征在于，所述向顯示數(shù)據(jù)輸出接口、SDRAM發(fā)送測試向量，采集測試結(jié)果的步驟包括: 將偶數(shù)個顯示數(shù)據(jù)輸出接口中每兩個作為一組，互為輸入輸出，向作為輸出的顯示數(shù)據(jù)接口的引腳發(fā)送測試向量，并采集作為輸入的顯示數(shù)據(jù)接口對應(yīng)引腳的測試結(jié)果； 根據(jù)SDRAM的地址線，通過數(shù)據(jù)線向SDRAM中的存儲空間發(fā)送測試向量，再從所述存儲空間讀出測試結(jié)果。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的LED控制卡測試方法，其特征在于，所述方法還包括:所述上位機通過網(wǎng)口向所述LED控制卡發(fā)送CRC校驗碼，由所述LED控制卡進行CRC校驗，得到網(wǎng)口的傳輸誤碼 率，并將所述傳輸誤碼率返回給所述上位機。
【文檔編號】G06F11/267GK103995765SQ201310665353
【公開日】2014年8月20日 申請日期:2013年12月9日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月9日
【發(fā)明者】周錦志 申請人:深圳市立鼎光電技術(shù)有限公司, 北京卡萊特科技有限公司