一種出廠測試方法和測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明實(shí)施例提供一種出廠測試方法和測試系統(tǒng)，涉及多媒體【技術(shù)領(lǐng)域】，能夠解決生產(chǎn)成本高、檢測效率低的問題。其方法為：通過在測試前將獨(dú)立于操作系統(tǒng)的測試程序燒寫入待檢測的智能終端，啟動(dòng)智能終端上的測試系統(tǒng)，并在測試系統(tǒng)運(yùn)行測試程序?qū)χ悄芙K端的組件進(jìn)行測試；若智能終端的所有組件正常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示；若智能終端的至少一個(gè)組件異常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示。本發(fā)明實(shí)施例用于智能終端的出廠檢測。
【專利說明】一種出廠測試方法和測試系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及多媒體技術(shù)，尤其涉及一種出廠測試方法和測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，智能終端(比如智能電視、智能手機(jī)等)在出廠前，需要經(jīng)過工廠貼片、燒寫軟件、測試以及組裝后面向用戶。在這個(gè)工程中，難免會(huì)檢測出有瑕疵的產(chǎn)品需要返廠，而越早的發(fā)現(xiàn)問題就越能減少制造商的成本。
[0003]在現(xiàn)有技術(shù)中，在檢測前需要將操作系統(tǒng)和測試程序一起燒寫到智能終端的存儲(chǔ)器中。以運(yùn)行Android (安卓)系統(tǒng)的智能終端為例，在檢測之前需要將Android系統(tǒng)和工廠測試系統(tǒng)的測試程序一起燒寫到智能終端中，由Android系統(tǒng)中的一部分測試程序和出廠測試系統(tǒng)的測試程序組成完整的測試程序?qū)χ悄芙K端進(jìn)行檢測。
[0004]其中，測試程序是很小的程序，往往只有幾十到幾百Kb，而Android系統(tǒng)的容量通常在幾百M(fèi)b甚至在Gb級(jí)，因此，在檢測流程中將Android系統(tǒng)燒寫到智能終端的存儲(chǔ)器中會(huì)占用大量空間、以及花費(fèi)大量時(shí)間，生產(chǎn)成本高、檢測效率低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的實(shí)施例提供一種出廠測試方法和測試系統(tǒng)，能夠解決生產(chǎn)成本高、檢測效率低的問題。
[0006]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案:
[0007]第一方面，提供一種出廠測試方法，所述方法包括:
[0008]將測試程序燒寫入待檢測的智能終端；所述測試程序獨(dú)立于操作系統(tǒng)；
[0009]啟動(dòng)所述智能終端上的測試系統(tǒng)，并在所述測試系統(tǒng)運(yùn)行所述測試程序?qū)λ鲋悄芙K端的組件進(jìn)行測試；
[0010]若所述智能終端的組件正常，則通過所述測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示；若所述智能終端的至少一個(gè)組件異常，則通過所述測試系統(tǒng)的接口向所述工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示。
[0011]結(jié)合第一方面，在第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，若所述智能終端的組件正常，則所述方法還包括:
[0012]將所述操作系統(tǒng)燒寫入所述智能終端。
[0013]結(jié)合第一方面或第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在所述將測試程序燒寫入待檢測的智能終端之前，還包括:獲取所述測試程序。
[0014]結(jié)合第一方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述獲取所述測試程序包括:
[0015]獲取所述操作系統(tǒng)中的第一測試程序，所述第一測試程序?yàn)樗鰷y試程序的一部分程序；
[0016]將所述第一測試程序與所述工廠測試系統(tǒng)已有的第二測試程序合并得到所述測試程序，所述第二測試程序?yàn)樗鰷y試程序的除所述一部分程序外的另一部分程序；或者
[0017]根據(jù)檢測內(nèi)容直接生成所述測試程序，所述檢測內(nèi)容包括所述智能終端上的需要檢測的組件、判斷所述需要檢測的組件是否正常的判斷標(biāo)準(zhǔn)。
[0018]結(jié)合第一方面，在第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述智能終端的組件包括:屏幕、背光、遙控接收器、按鍵、WiF1、藍(lán)牙。
[0019]第二方面，提供一種測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括:
[0020]燒寫單元，用于將測試程序燒寫入待檢測的智能終端；所述測試程序獨(dú)立于操作系統(tǒng)；
[0021]測試單元，用于啟動(dòng)所述智能終端上的測試系統(tǒng)，并在所述測試系統(tǒng)運(yùn)行所述測試程序?qū)λ鲋悄芙K端的組件進(jìn)行測試；
[0022]提示單元，若所述智能終端的組件正常，則通過所述測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示；若所述智能終端的至少一個(gè)組件異常，則通過所述測試系統(tǒng)的接口向所述工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示。
[0023]結(jié)合第二方面，在第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，若所述智能終端的組件正常，則所述燒寫單元還用于:
[0024]將所述操作系統(tǒng)燒寫入所述智能終端。
[0025]結(jié)合第二方面或第二方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述測試系統(tǒng)還包括:
[0026]程序獲取單元，用于在所述將測試程序燒寫入待檢測的智能終端之前，獲取所述測試程序。
[0027]結(jié)合第二方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述程序獲取單元具體用于:
[0028]獲取所述操作系統(tǒng)中的第一測試程序，所述第一測試程序?yàn)樗鰷y試程序的一部分程序；
[0029]將所述第一測試程序與所述工廠測試系統(tǒng)已有的第二測試程序合并得到所述測試程序，所述第二測試程序?yàn)樗鰷y試程序的除所述一部分程序外的另一部分程序；或者
[0030]根據(jù)檢測內(nèi)容直接生成所述測試程序，所述檢測內(nèi)容包括所述智能終端上的需要檢測的組件、判斷所述需要檢測的組件是否正常的判斷標(biāo)準(zhǔn)。
[0031]結(jié)合第二方面，在第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述智能終端的組件包括:屏幕、背光、遙控接收器、按鍵、WiF1、藍(lán)牙。
[0032]本發(fā)明實(shí)施例提供一種出廠測試方法和測試系統(tǒng)，通過在測試前將獨(dú)立于操作系統(tǒng)的測試程序燒寫入待檢測的智能終端，啟動(dòng)所述智能終端上的測試系統(tǒng)，并在所述測試系統(tǒng)運(yùn)行所述測試程序?qū)λ鲋悄芙K端的組件進(jìn)行測試；若所述智能終端的所有組件正常，則通過所述測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示；若所述智能終端的至少一個(gè)組件異常，則通過所述測試系統(tǒng)的接口向所述工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示，這樣在進(jìn)行操作系統(tǒng)的燒寫之前就完成了設(shè)備組件的檢測，在所有組件正常之后才進(jìn)行操作系統(tǒng)的燒寫，相比現(xiàn)有技術(shù)而言，降低了生產(chǎn)成本，提高了檢測效率。
【專利附圖】

【附圖說明】[0033]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0034]圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種出廠測試方法的流程示意圖；
[0035]圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種出廠測試方法的流程示意圖；
[0036]圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0037]圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0038]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0039]本發(fā)明實(shí)施例提供一種出廠測試方法和測試系統(tǒng)，如圖1所示，該方法包括:
[0040]101、將測試程序燒寫入待檢測的智能終端；測試程序獨(dú)立于操作系統(tǒng)。
[0041]102、啟動(dòng)智能終端上的測試系統(tǒng)，并在測試系統(tǒng)運(yùn)行測試程序?qū)χ悄芙K端的組件進(jìn)行測試。而后執(zhí)行103或104。
[0042]103、若智能終端的組件正常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示。
[0043]104、若智能終端的至少一個(gè)組件異常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示。
[0044]本發(fā)明實(shí)施例提供一種出廠測試方法，通過在測試前將獨(dú)立于操作系統(tǒng)的測試程序燒寫入待檢測的智能終端，啟動(dòng)智能終端上的測試系統(tǒng)，并在測試系統(tǒng)運(yùn)行測試程序?qū)χ悄芙K端的組件進(jìn)行測試；若智能終端的所有組件正常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示；若智能終端的至少一個(gè)組件異常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示，這樣在進(jìn)行操作系統(tǒng)的燒寫之前就完成了設(shè)備組件的檢測，在所有組件正常之后才進(jìn)行操作系統(tǒng)的燒寫，相比現(xiàn)有技術(shù)而言，降低了生產(chǎn)成本，提聞了檢測效率。
[0045]為了使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠更清楚地理解本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案，下面通過具體的實(shí)施例，對本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種出廠測試方法進(jìn)行詳細(xì)說明，如圖2所示，該方法包括:
[0046]201、獲取測試程序。
[0047]具體的，以Android系統(tǒng)為例，一般測試程序分為兩部分，一部分在Android系統(tǒng)中，另一部分在工廠測試系統(tǒng)中，其中在Android系統(tǒng)中的一部分程序是基于Android系統(tǒng)的，而在工廠測試系統(tǒng)中的另一部分程序是基于Linux系統(tǒng)的。但是由于Android系統(tǒng)也是基于Linux系統(tǒng)開發(fā)的，因此Android系統(tǒng)中的一部分程序和工廠測試系統(tǒng)中的另一部分程序最終都要進(jìn)入Linux層。
[0048]因此，可以從Android系統(tǒng)中獲取這一部分程序，將這一部分程序的代碼集成到工廠測試系統(tǒng)中，與工廠測試系統(tǒng)中的現(xiàn)有的另一部分程序合并得到完整的測試程序?；蛘?br> [0049]也可以單獨(dú)生成與Android系統(tǒng)中的這一部分程序相同的程序，而后將這一部分程序的代碼集成到工廠測試系統(tǒng)中，與工廠測試系統(tǒng)中的現(xiàn)有的另一部分程序合并得到完整的測試程序。當(dāng)然，也可以根據(jù)檢測內(nèi)容直接生成新的測試程序，其中，檢測內(nèi)容可以是待檢測的智能終端上的需要檢測的組件、判斷需要檢測的組件是否正常的判斷標(biāo)準(zhǔn)等信
肩、O
[0050]202、將測試程序燒寫入待檢測的智能終端。
[0051]示例性的，可以通過燒寫器(Programmer)將測試程序燒寫入智能終端的存儲(chǔ)器中。燒寫器實(shí)際上是一個(gè)把可編程的集成電路寫上數(shù)據(jù)的工具，燒寫器主要用于單片機(jī)(含嵌入式)或存儲(chǔ)器(含BIOS)之類的芯片的編程(或稱刷寫)。
[0052]203、啟動(dòng)智能終端上的測試系統(tǒng)，并在測試系統(tǒng)運(yùn)行測試程序?qū)χ悄芙K端的組件進(jìn)行測試。
[0053]示例性的，測試系統(tǒng)是一種基于Recovery (恢復(fù))系統(tǒng)的小型系統(tǒng)，具有響應(yīng)外接控制的接口，比如adb接口(adb Interface),該測試系統(tǒng)通過adb接口與工廠測試系統(tǒng)連接。其中Recovery系統(tǒng)是Android系統(tǒng)中的一種工程模式系統(tǒng)，具有系統(tǒng)還原、系統(tǒng)備份、系統(tǒng)恢復(fù)、系統(tǒng)升級(jí)以及緩存管理等功能，而且Recovery系統(tǒng)占用的空間很少。adb接口是Android設(shè)備與外部程序通訊是要使用的接口(其中adb是一個(gè)程序,可運(yùn)行于DOS (DiskOperating System,磁盤操作系統(tǒng))系統(tǒng),可以作為Linux系統(tǒng)的命令控制臺(tái))。
[0054]在上述測試系統(tǒng)上運(yùn)行得到的測試程序，在工廠測試系統(tǒng)的控制下對智能終端的組件一一進(jìn)行測試，并將檢測結(jié)果通過adb接口及時(shí)反饋給工廠測試系統(tǒng)的PC端。而后根據(jù)檢測結(jié)果執(zhí)行204或205。
[0055]其中，智能終端上需要檢測的組件可以包括:屏幕、背光、遙控接收器、按鍵、WiFi(Wireless Fidelity,無線相容性認(rèn)證)、藍(lán)牙等。
[0056]204、若智能終端的所有組件正常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示。
[0057]其中，向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示，可以包括:顯示在工廠測試系統(tǒng)的PC端上，以提示工作人員設(shè)備正常。
[0058]在確定智能終端的需要檢測的組件全部正常后可以執(zhí)行206。
[0059]205、若智能終端的至少一個(gè)組件異常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示。
[0060]其中，向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示可以包括:顯示在工廠測試系統(tǒng)的PC端上，以提示工作人員設(shè)備異常，需要停止后續(xù)制造流程，并返廠檢測。
[0061]206、將操作系統(tǒng)燒寫入智能終端。
[0062]以Android系統(tǒng)為例，在上述智能終端的組件都完成檢測并且都正常時(shí)，才將Android系統(tǒng)燒寫入該智能終端，并且進(jìn)行后續(xù)的組裝流程。
[0063]另外，本發(fā)明實(shí)施例中所提及的智能終端可以是智能終端，包括智能電視、智能手機(jī)、平板電腦等。
[0064]可見，采用上述出廠測試方法，通過在測試前將獨(dú)立于操作系統(tǒng)的測試程序燒寫入待檢測的智能終端，啟動(dòng)智能終端上的測試系統(tǒng)，并在測試系統(tǒng)運(yùn)行測試程序?qū)χ悄芙K端的組件進(jìn)行測試；若智能終端的所有組件正常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示；若智能終端的至少一個(gè)組件異常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示，這樣在進(jìn)行操作系統(tǒng)的燒寫之前就完成了設(shè)備組件的檢測，在所有組件正常之后才進(jìn)行操作系統(tǒng)的燒寫，相比現(xiàn)有技術(shù)而言，降低了生產(chǎn)成本，提高了檢測效率。
[0065]本發(fā)明實(shí)施例提供一種測試系統(tǒng)01，如圖3所示，測試系統(tǒng)01包括:
[0066]燒寫單元011，用于將測試程序燒寫入待檢測智能終端；測試程序獨(dú)立于操作系統(tǒng)；
[0067]測試單元012，用于啟動(dòng)智能終端上的測試系統(tǒng)，并在測試系統(tǒng)運(yùn)行測試程序?qū)χ悄芙K端的組件進(jìn)行測試；
[0068]提示單元013，用于若智能終端的組件正常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示；若智能終端的至少一個(gè)組件異常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示。
[0069]可選的，若智能終端的組件正常，則燒寫單元011還用于:
[0070]將操作系統(tǒng)燒寫入智能終端。
[0071]可選的，如圖4所示，測試系統(tǒng)01還包括:
[0072]程序獲取單元014，用于在將測試程序燒寫入智能終端之前，獲取測試程序。
[0073]可選的，程序獲取單元014具體用于:
[0074]獲取操作系統(tǒng)中的第一測試程序，第一測試程序?yàn)闇y試程序的一部分程序；
[0075]將第一測試程序與工廠測試系統(tǒng)已有的第二測試程序合并得到測試程序，第二測試程序?yàn)闇y試程序的除一部分程序外的另一部分程序；或者
[0076]根據(jù)檢測內(nèi)容直接生成測試程序，檢測內(nèi)容包括智能終端上的需要檢測的組件、判斷需要檢測的組件是否正常的判斷標(biāo)準(zhǔn)。
[0077]其中，智能終端的組件包括:屏幕、背光、遙控接收器、按鍵、WiF1、藍(lán)牙。
[0078]另外，本發(fā)明實(shí)施例中所提及的智能終端可以是智能電視、智能手機(jī)、平板電腦等終端。
[0079]本發(fā)明實(shí)施例提供一種測試系統(tǒng)，通過在測試前將獨(dú)立于操作系統(tǒng)的測試程序燒寫入待檢測的智能終端，啟動(dòng)智能終端上的測試系統(tǒng)，并在測試系統(tǒng)運(yùn)行測試程序?qū)χ悄芙K端的組件進(jìn)行測試；若智能終端的所有組件正常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示；若智能終端的至少一個(gè)組件異常，則通過測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示，這樣在進(jìn)行操作系統(tǒng)的燒寫之前就完成了設(shè)備組件的檢測，在所有組件正常之后才進(jìn)行操作系統(tǒng)的燒寫，相比現(xiàn)有技術(shù)而言，降低了生產(chǎn)成本，提高了檢測效率。
[0080]通過以上的實(shí)施方式的描述，所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到，為描述的方便和簡潔，僅以上述各功能模塊的劃分進(jìn)行舉例說明，實(shí)際應(yīng)用中，可以根據(jù)需要而將上述功能分配由不同的功能模塊完成，即將系統(tǒng)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)劃分成不同的功能模塊，以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的系統(tǒng)，系統(tǒng)和單元的具體工作過程，可以參考前述方法實(shí)施例中的對應(yīng)過程，在此不再贅述。[0081]在本申請所提供的幾個(gè)實(shí)施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的方法和系統(tǒng)，可以通過其它的方式實(shí)現(xiàn)。例如，以上所描述的系統(tǒng)實(shí)施例僅僅是示意性的，例如，所述模塊或單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實(shí)際實(shí)現(xiàn)時(shí)可以有另外的劃分方式，例如多個(gè)單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個(gè)系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點(diǎn)，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，系統(tǒng)或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性，機(jī)械或其它的形式。
[0082]所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個(gè)地方，或者也可以分布到多個(gè)網(wǎng)絡(luò)單元上?？梢愿鶕?jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例方案的目的。
[0083]另外，在本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個(gè)處理單元中，也可以是各個(gè)單元單獨(dú)物理存在，也可以兩個(gè)或兩個(gè)以上單元集成在一個(gè)單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)。
[0084]所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時(shí)，可以存儲(chǔ)在一個(gè)計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中。基于這樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺(tái)計(jì)算機(jī)設(shè)備(可以是個(gè)人計(jì)算機(jī)，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)或處理器(processor)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括:U盤、移動(dòng)硬盤、只讀存儲(chǔ)器(ROM, Read-Only Memory)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM, Random Access Memory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。
[0085]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種出廠測試方法，其特征在于，所述方法包括: 將測試程序燒寫入待檢測的智能終端；所述測試程序獨(dú)立于操作系統(tǒng)； 啟動(dòng)所述智能終端上的測試系統(tǒng)，并在所述測試系統(tǒng)運(yùn)行所述測試程序?qū)λ鲋悄芙K端的組件進(jìn)行測試； 若所述智能終端的組件正常，則通過所述測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示；若所述智能終端的至少一個(gè)組件異常，則通過所述測試系統(tǒng)的接口向所述工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，若所述智能終端的組件正常，則所述方法還包括: 將所述操作系統(tǒng)燒寫入所述智能終端。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述將測試程序燒寫入待檢測的智能終端之前，還包括:獲取所述測試程序。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述獲取所述測試程序包括: 獲取所述操作系統(tǒng)中的第一測試程序，所述第一測試程序?yàn)樗鰷y試程序的一部分程序; 將所述第一測試程序與所述工廠測試系統(tǒng)已有的第二測試程序合并得到所述測試程序，所述第二測試程序?yàn)樗鰷y試程序的除所述一部分程序外的另一部分程序；或者 根據(jù)檢測內(nèi)容直接生成所述測試程序，所述檢測內(nèi)容包括所述智能終端上的需要檢測的組件、判斷所述需要檢測的組件是否正常的判斷標(biāo)準(zhǔn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述智能終端的組件包括:屏幕、背光、遙控接收器、按鍵、WiF1、藍(lán)牙。
6.一種測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)包括: 燒寫單元，用于將測試程序燒寫入待檢測的智能終端；所述測試程序獨(dú)立于操作系統(tǒng)； 測試單元，用于啟動(dòng)所述智能終端上的測試系統(tǒng)，并在所述測試系統(tǒng)運(yùn)行所述測試程序?qū)λ鲋悄芙K端的組件進(jìn)行測試； 提示單元，用于若所述智能終端的組件正常，則通過所述測試系統(tǒng)的接口向工廠測試系統(tǒng)輸出檢測正常的提示；若所述智能終端的至少一個(gè)組件異常，則通過所述測試系統(tǒng)的接口向所述工廠測試系統(tǒng)輸出檢測失敗的提示。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，若所述智能終端的組件正常，則所述燒寫單元還用于: 將所述操作系統(tǒng)燒寫入所述智能終端。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)還包括: 程序獲取單元，用于在所述將測試程序燒寫入待檢測的智能終端之前，獲取所述測試程序。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述程序獲取單元具體用于: 獲取所述操作系統(tǒng)中的第一測試程序，所述第一測試程序?yàn)樗鰷y試程序的一部分程序; 將所述第一測試程序與所述工廠測試系統(tǒng)已有的第二測試程序合并得到所述測試程序，所述第二測試程序?yàn)樗鰷y試程序的除所述一部分程序外的另一部分程序；或者 根據(jù)檢測內(nèi)容直接生成所述測試程序，所述檢測內(nèi)容包括所述智能終端上的需要檢測的組件、判斷所述需要檢測的組件是否正常的判斷標(biāo)準(zhǔn)。
10.根據(jù)權(quán)利要 求6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述智能終端的組件包括:屏幕、背光、遙控接收器、按鍵、WiF1、藍(lán)牙。
【文檔編號(hào)】G06F15/16GK103744824SQ201310731274
【公開日】2014年4月23日 申請日期:2013年12月18日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月18日
【發(fā)明者】劉佳子 申請人:樂視致新電子科技（天津）有限公司