專利名稱：金融設(shè)備及安全增強(qiáng)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及信息處理設(shè)備，尤其涉及信息處理設(shè)備中的安全電路。
背景技術(shù)：
在金融POS機(jī)或者其他金融安全設(shè)備中，密鑰保存和PIN信息的安全性至關(guān)重要。為保障此信息的安全性，在金融POS機(jī)或者其他金融安全設(shè)備中，都會增加自毀觸發(fā)檢測功能，一般是由帶密鑰自毀功能的CPU (微處理器)提供多條觸發(fā)檢測線作為自毀輸入。有的CPU能通過多個觸發(fā)檢測端口來同時支持多條觸發(fā)檢測線，比如MAXM公司的Zilog-Ll芯片，能提供高達(dá)10條觸發(fā)檢測線；但是有的CPU提供的觸發(fā)檢測線比較少，比如MAX頂公司的MAXQ1050芯片，只有2條觸發(fā)檢測線。在進(jìn)行PCI (payment Card industry)安全評估時，2條觸發(fā)檢測線作為兩路獨(dú)立安全機(jī)制，不足以達(dá)到認(rèn)證需求。在進(jìn)行國內(nèi)BCTC (銀行卡檢測中心)安全評估時，兩路獨(dú)立安全機(jī)制雖然可以滿足認(rèn)證要求，但是得分較低，需要在其他安全措施上進(jìn)行加強(qiáng)才能滿足整機(jī)的認(rèn)證要求?？梢?，實(shí)有必要對現(xiàn)有的安全電路進(jìn)行改進(jìn)。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)所存在的不足，而提出一種金融設(shè)備及安全增強(qiáng)電路，可以不受限于微處理器的觸發(fā)檢測端口的數(shù)量。本實(shí)用新型針對上述技術(shù)問題提出一種安全增強(qiáng)電路，包括:一微處理器單元和至少一檢測開關(guān)單元，該微處理器單元是具有密鑰自毀功能的，該微處理器單元具有至少一觸發(fā)檢測端口，其在通過該觸發(fā)檢測端口檢測到該至少一檢測開關(guān)單元給出非安全信號時進(jìn)行密鑰自毀處理，還包括:一檢測線擴(kuò)展單元，這些檢測開關(guān)單元是經(jīng)由該檢測線擴(kuò)展單元而與該微處理器單元的觸發(fā)檢測端口相連的。優(yōu)選地，其包括一第一檢測開關(guān)單元和一第二檢測開關(guān)單元。優(yōu)選地，該檢測線擴(kuò)展單元具有兩個輸入端和一個輸出端；該第一檢測開關(guān)單元包括至少一第一開關(guān)，該第一開關(guān)的一端連接一第一設(shè)定電平、另一端與該檢測線擴(kuò)展單元的一第一輸入端相連；該第二檢測開關(guān)單元包括至少一第二開關(guān)，該第二開關(guān)的一端連接一第二設(shè)定電平、另一端與該檢測線擴(kuò)展單元的一第二輸入端相連；該檢測線擴(kuò)展單元的輸出端與該微處理器單元相連。優(yōu)選地，該檢測線擴(kuò)展單元包括或門器件；該第一設(shè)定電平和第二設(shè)定電平均為低電平。優(yōu)選地，該檢測線擴(kuò)展單元包括三端受控開關(guān)器件，該三端受控開關(guān)器件具有一控制端和兩個開關(guān)端；該第一檢測開關(guān)單元與該三端受控開關(guān)器件的控制端相連，該第一設(shè)定電平為高電平；該第二檢測開關(guān)單元與該三端受控開關(guān)器件的一第一開關(guān)端，該第二設(shè)定電平為低電平；該三端受控開關(guān)器件的一第二開關(guān)端與該微處理器單元相連。優(yōu)選地，該三端受控開關(guān)器件為MOS管，其柵極為所述的控制端，其源極為所述的第一開關(guān)端，其漏極為所述的第二開關(guān)端。優(yōu)選地,該微處理器單兀包括型號為MAXQ1850的一微處理器。本實(shí)用新型針對上述技術(shù)問題還提出一種金融設(shè)備，其包括上述的安全增強(qiáng)電路。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的金融設(shè)備及安全增強(qiáng)電路，可以不受限于微處理器的觸發(fā)檢測端口的數(shù)量。

圖1是本實(shí)用新型線安全增強(qiáng)電路較佳實(shí)施例的框圖。圖2是本實(shí)用新型線安全增強(qiáng)電路一較佳實(shí)施例的電原理圖。圖3是本實(shí)用新型線安全增強(qiáng)電路另一較佳實(shí)施例的電原理圖。其中，附圖標(biāo)記說明如下:10微處理器單元，101觸發(fā)檢測端口，20檢測線擴(kuò)展單元，30第一檢測開關(guān)單元，40第二檢測開關(guān)單元。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖，對本實(shí)用新型予以進(jìn)一步地詳盡闡述。參見圖1，本實(shí)用新型的安全增強(qiáng)電路可用來增強(qiáng)諸如POS機(jī)之類的金融設(shè)備的安全性。該安全增強(qiáng)電路大致包括一微處理器單元10、一檢測線擴(kuò)展單元20、一第一檢測開關(guān)單元30和一第二檢測開關(guān)單元40。該微處理器單元10是具有密鑰自毀功能的，該微處理器單元10具有至少一觸發(fā)檢測端口 101，其可以在通過該觸發(fā)檢測端口檢測101到檢測開關(guān)單元30、40給出非安全信號時進(jìn)行密鑰自毀處理。該檢測線擴(kuò)展單元20可以對這些檢測開關(guān)單元30、40給出的檢測信號進(jìn)行匯總，一并送到該微處理器單元10的觸發(fā)檢測端口 101。當(dāng)設(shè)備處于正常狀態(tài)的時候，兩路檢測開關(guān)單元30、40給出的是正常信號，檢測線擴(kuò)展單元20輸出到該微處理器單元10的觸發(fā)檢測端口 101也是正常信號。當(dāng)兩路檢測開關(guān)單元30、40中的任何一路或者兩路同時給出的是觸發(fā)信號(也就是非安全信號)，檢測線擴(kuò)展單元20輸出到該微處理器單元10的觸發(fā)檢測端口 101的也是觸發(fā)信號，該微處理器單元10內(nèi)部的敏感信息將會被立刻清除，同時設(shè)備進(jìn)入鎖定狀態(tài)，以保證金融設(shè)備的信息安全。參見圖2，在其中一個實(shí)施例中，該微處理器單元10包括一 CPU，優(yōu)選地，該CPU選用MAXM公司的型號為MAXQ1850的集成電路Ul。檢測線擴(kuò)展單元20包括一或門器件，優(yōu)選地，由NXP公司的型號為74LCX32MTC的集成電路U2實(shí)現(xiàn)。該兩路檢測開關(guān)單元30、40可虛擬為第一開關(guān)SWl和第二開關(guān)SW2。根據(jù)該CPU的規(guī)格書，Ul的自毀輸入觸發(fā)檢測端口(SDI)在接地時為安全狀態(tài)，在斷開或者接高時將會導(dǎo)致自毀:清除內(nèi)部敏感信息并且進(jìn)入鎖定狀態(tài)。當(dāng)設(shè)備處于正常狀態(tài)時，第一開關(guān)SWl和第二開關(guān)SW2均處于閉合狀態(tài)，集成電路U2的第1、2腳為低電平，因?yàn)榧呻娐稶2是一個邏輯或輸出器件，所以U2的第3腳輸出低電平，這時集成電路Ul的SDI輸入為低電平。當(dāng)?shù)谝婚_關(guān)SWl或第二開關(guān)SW2中的任何一個失效而處于斷開狀態(tài)時，集成電路U2的第I腳或者第2腳中的一個管腳變?yōu)楦唠娖?，所以?腳會輸出高電平，這樣集成電路Ul的SDI輸入為高電平，CPU內(nèi)部的敏感信息將會被立刻清除，同時設(shè)備進(jìn)入鎖定狀態(tài)，保證了金融設(shè)備的信息安全。參見圖3，在其中另一個實(shí)施例中，該微處理器單元10包括一 CPU，優(yōu)選地，該CPU選用MAXM公司的型號為MAXQ1850的集成電路Ul。檢測線擴(kuò)展單元20包括三端受控開關(guān)器件，該三端受控開關(guān)器件具有一控制端和兩個開關(guān)端，優(yōu)選地，其選用ALPHA&0MEGA公司的型號為A03460N-M0SFET器件Ql來實(shí)現(xiàn)，第一檢測開關(guān)單元30虛擬為開關(guān)檢測SWl和檢測開關(guān)SW2串接，第二檢測開關(guān)單元40虛擬為檢測開關(guān)SW3和檢測開關(guān)SW4串接。當(dāng)設(shè)備處于正常狀態(tài)時，檢測開關(guān)SW1、Sff2, SW3以及SW4均處于閉合狀態(tài)，器件Ql的S極(源極)為低電平，Ql的G極(柵極)為高電平，從而器件Ql的D極(漏極)為低電平，這時集成電路Ul的SDI輸入為低電平。當(dāng)檢測開關(guān)SWl或SW2中的一個失效而處于斷開狀態(tài)時，器件Ql的G極變?yōu)榈碗娖?，由于N-MOSFET的導(dǎo)通特性，器件Ql的D極與S極斷開，器件Ql的D極懸空；類似地，當(dāng)檢測開關(guān)SW3或SW4中的一個觸失效而處于斷開狀態(tài)，器件Ql的D極也將懸空；這樣一來，無論檢測開關(guān)SW1、SW2、SW3或SW4中的任何一個失效而處于斷開狀態(tài)，器件Ql的D極都是懸空的，也就是說CPU進(jìn)入觸發(fā)狀態(tài)，這樣CPU內(nèi)部的敏感信息將會被立刻清除，同時設(shè)備進(jìn)入鎖定狀態(tài)，保證了金融設(shè)備的信息安全。需要說明的是，本實(shí)施例的電路結(jié)構(gòu)中還有電量節(jié)省的優(yōu)勢:在金融設(shè)備中，敏感信息的保存以及觸發(fā)檢測電路的供電都是依靠后備電池。因?yàn)镸OSFET器件Ql是電壓驅(qū)動型器件，所以并不會帶來額外的功耗，在實(shí)際的使用中，利用一個小紐扣電池就可以供應(yīng)五年以上的電量。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的安全增強(qiáng)電路，使用的都是簡單的常用元器件，成本低，而且電路結(jié)構(gòu)簡單，易于實(shí)現(xiàn)，有利于大批量生產(chǎn)。另外，在功耗控制方面也可達(dá)到非常卓越的水平，可以幫助設(shè)備減小后備電池的體積從而節(jié)約整機(jī)的空間和成本。上述內(nèi)容僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，并非用于限制本實(shí)用新型的實(shí)施方案，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員根據(jù)本實(shí)用新型的主要構(gòu)思和精神，可以十分方便地進(jìn)行相應(yīng)的變通或修改，故本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)以權(quán)利要求書所要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.一種安全增強(qiáng)電路，包括:一微處理器單元和至少一檢測開關(guān)單元，該微處理器單元是具有密鑰自毀功能的，該微處理器單元具有至少一觸發(fā)檢測端口，其在通過該觸發(fā)檢測端口檢測到該至少一檢測開關(guān)單元給出非安全信號時進(jìn)行密鑰自毀處理，其特征在于，還包括:一檢測線擴(kuò)展單元，這些檢測開關(guān)單元是經(jīng)由該檢測線擴(kuò)展單元而與該微處理器單元的觸發(fā)檢測端口相連的。
2.依據(jù)權(quán)利要求1所述的安全增強(qiáng)電路，其特征在于，其包括一第一檢測開關(guān)單元和一第二檢測開關(guān)單元。
3.依據(jù)權(quán)利要求2所述的安全增強(qiáng)電路，其特征在于，該檢測線擴(kuò)展單元具有兩個輸入端和一個輸出端；該第一檢測開關(guān)單元包括至少一第一開關(guān)，該第一開關(guān)的一端連接一第一設(shè)定電平、另一端與該檢測線擴(kuò)展單元的一第一輸入端相連；該第二檢測開關(guān)單元包括至少一第二開關(guān)，該第二開關(guān)的一端連接一第二設(shè)定電平、另一端與該檢測線擴(kuò)展單元的一第二輸入端相連；該檢測線擴(kuò)展單元的輸出端與該微處理器單元相連。
4.依據(jù)權(quán)利要求3所述的安全增強(qiáng)電路，其特征在于，該檢測線擴(kuò)展單元包括或門器件；該第一設(shè)定電平和第二設(shè)定電平均為低電平。
5.依據(jù)權(quán)利要求3所述的安全增強(qiáng)電路，其特征在于，該檢測線擴(kuò)展單元包括三端受控開關(guān)器件，該三端受控開關(guān)器件具有一控制端和兩個開關(guān)端；該第一檢測開關(guān)單元與該三端受控開關(guān)器件的控制端相連，該第一設(shè)定電平為高電平；該第二檢測開關(guān)單元與該三端受控開關(guān)器件的一第一開關(guān)端，該第二設(shè)定電平為低電平；該三端受控開關(guān)器件的一第二開關(guān)端與該微處理器單元相連。
6.依據(jù)權(quán)利要求5所述的安全增強(qiáng)電路，其特征在于，該三端受控開關(guān)器件為MOS管，其柵極為所述的控制端，其源極為所述的第一開關(guān)端，其漏極為所述的第二開關(guān)端。
7.依據(jù)權(quán)利要求1所述的安全增強(qiáng)電路，其特征在于，該微處理器單元包括型號為MAXQ1850的一微處理器。
8.一種金融設(shè)備，其特征在于，包括權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的一安全增強(qiáng)電路。
專利摘要一種金融設(shè)備及安全增強(qiáng)電路，該安全增強(qiáng)電路包括一微處理器單元、至少一檢測開關(guān)單元，該微處理器單元是具有密鑰自毀功能的，其在該至少一檢測開關(guān)單元給出非安全信號時進(jìn)行密鑰自毀處理，以及一檢測線擴(kuò)展單元，這些檢測開關(guān)單元是經(jīng)由該檢測線擴(kuò)展單元而與該微處理器單元相連的。該金融設(shè)備包括一上述的安全增強(qiáng)電路。本實(shí)用新型可以不受限于微處理器的觸發(fā)檢測線的數(shù)量。
文檔編號G06F21/72GK203164976SQ20132007739
公開日2013年8月28日 申請日期2013年2月19日 優(yōu)先權(quán)日2013年2月19日
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