動態(tài)閃存分散使用裝置制造方法
【專利摘要】一種動態(tài)閃存分散使用裝置，其包含有一主機(jī)機(jī)構(gòu)；一與主機(jī)機(jī)構(gòu)連接的運算單元；一與主機(jī)機(jī)構(gòu)連接的直接內(nèi)存存取單元；一連接主機(jī)機(jī)構(gòu)與直接內(nèi)存存取單元的錯誤檢查及校正編碼器；一與錯誤檢查及校正編碼器連接的樣本產(chǎn)生單元；一與樣本產(chǎn)生單元連接的校正偵測器；以及一連接錯誤檢查及校正編碼器與校正偵測器的閃存。藉此，可于儲存數(shù)據(jù)時，利用樣本產(chǎn)生單元與校正偵測器的配合，進(jìn)行I/0平均數(shù)的偵測，以作為數(shù)據(jù)是否符合儲存條件的依據(jù)，進(jìn)而可均勻分散使用閃存的儲存空間，而達(dá)到增加使用壽命以及提升使用可靠度的功效。
【專利說明】動態(tài)閃存分散使用裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型有關(guān)于一種動態(tài)閃存分散使用裝置，尤指一種可于儲存數(shù)據(jù)時，利用樣本產(chǎn)生單元與校正偵測器的配合，進(jìn)行I/O平均數(shù)的偵測，以作為數(shù)據(jù)是否符合儲存條件的依據(jù)，進(jìn)而可均勻分散閃存儲存空間的數(shù)據(jù)，而達(dá)到增加使用壽命以及提升使用可靠度的功效。
【背景技術(shù)】
[0002]由于閃存具有數(shù)據(jù)非揮發(fā)性、省電、體積小等特性，因此，常被作為攜帶式儲存裝置使用。
[0003]一般而言，閃存儲存裝置中具有用以儲存數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)、用以儲存?zhèn)浞輸?shù)據(jù)的備用區(qū)、用以儲存相關(guān)重要信息的系統(tǒng)區(qū)、以及用以取代數(shù)據(jù)區(qū)或備用區(qū)中已損壞部分的取代區(qū)。
[0004]當(dāng)數(shù)據(jù)讀寫使用過程中，該閃存并無分散數(shù)據(jù)儲存空間的技術(shù)，因此，常會使得閃存中有某些特定儲存地址被經(jīng)常性地寫入或更新數(shù)據(jù)，然，由于閃存的抹除次數(shù)是有限的(例如:抹除一萬次后就會損壞)，所以在頻繁地抹除及寫入下，便易于造成特定儲存空間的損壞，閃存的儲存壽命將大幅縮短，而導(dǎo)致使用時的可靠度降低。
[0005]有鑒于此，本案設(shè)計人特針對前述已用問題深入探討，并藉由多年從事相關(guān)產(chǎn)業(yè)研發(fā)與制造經(jīng)驗，積極尋求解決之道，經(jīng)過長期努力的研究與發(fā)展，終于成功地開發(fā)出本實用新型，藉以改善已用的種種問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本實用新型主要目的在于，可于儲存數(shù)據(jù)時，利用樣本產(chǎn)生單元與校正偵測器的配合，進(jìn)行I/o平均數(shù)的偵測，以作為數(shù)據(jù)是否符合儲存條件的依據(jù)，進(jìn)而可均勻分散使用閃存的儲存空間，而達(dá)到增加使用壽命以及提升使用可靠度的功效。
[0007]為達(dá)上述目的，本實用新型為一種動態(tài)閃存分散使用裝置，其包含有:一主機(jī)機(jī)構(gòu)；一與主機(jī)機(jī)構(gòu)連接的運算單元；一與主機(jī)機(jī)構(gòu)連接的直接內(nèi)存存取單元；一連接主機(jī)機(jī)構(gòu)與直接內(nèi)存存取單元的錯誤檢查及校正編碼器；一與錯誤檢查及校正編碼器連接的樣本產(chǎn)生單元；一與樣本產(chǎn)生單元連接的校正偵測器；以及一連接錯誤檢查及校正編碼器與校正偵測器的閃存。
[0008]于本實用新型上述實施例中，該主機(jī)機(jī)構(gòu)、運算單元、直接內(nèi)存存取單元、錯誤檢查及校正編碼器、樣本產(chǎn)生單元、校正偵測器以及閃存結(jié)合設(shè)于一殼體中。
[0009]于本實用新型上述實施例中，該主機(jī)機(jī)構(gòu)包含有一主機(jī)、及一與主機(jī)連接的認(rèn)證單元。
[0010]于本實用新型上述實施例中，該樣本產(chǎn)生單元包含有一隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器、及一與隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器連接的時序電路。
[0011]于本實用新型上述實施例中，該校正偵測器偵測I/O比值是否介于1±20%的變量中。
[0012]于本實用新型上述實施例中，該校正偵測器中進(jìn)一步包含有計算單元。
[0013]于本實用新型上述實施例中，該閃存中具有一備用位區(qū)，可供存放種子與各數(shù)據(jù)的對應(yīng)關(guān)系。
[0014]于本實用新型上述實施例中，該樣本產(chǎn)生單元與校正偵測器之間更可進(jìn)一步連接有一作為記錄使用的韌體單元。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1為本實用新型第一實施例基本架構(gòu)示意圖。
[0016]圖2為本實用新型第一實施例方塊示意圖。
[0017]圖3為本實用新型示第一實施例樣本產(chǎn)生單元與校正偵測器示意圖。
[0018]圖4為本實用新型第二實施例方塊示意圖。
[0019]組件標(biāo)號對照:
[0020]主機(jī)機(jī)構(gòu)I ;
[0021]主機(jī)I I ;
[0022]認(rèn)證單元I 2 ；
[0023]運算單元2 ；
[0024]直接內(nèi)存存取單元3 ；
[0025]錯誤檢查及校正編碼器4 ；
[0026]樣本產(chǎn)生單元5 ；
[0027]隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器5 I ；
[0028]時序電路5 2 ；
[0029]校正偵測器6 ；
[0030]計算單元6 I ；
[0031]閃存7 ；
[0032]備用位區(qū)7 I ；
[0033]韌體單元8 ；
[0034]殼體9 ；
[0035]資料a。
【具體實施方式】
[0036]請參閱圖1、2及圖3所示，分別為本實用新型第一實施例基本架構(gòu)示意圖、本實用新型第一實施例方塊示意圖及本實用新型第一實施例的樣本產(chǎn)生單元與校正偵測器示意圖。如圖所示:本實用新型為一種動態(tài)閃存分散使用裝置，其包含有一主機(jī)機(jī)構(gòu)1、一運算單元2、一直接內(nèi)存存取單元3、一錯誤檢查及校正編碼器4、一樣本產(chǎn)生單元5、一校正偵測器6以及一閃存7所構(gòu)成，而該主機(jī)機(jī)構(gòu)1、運算單元2、直接內(nèi)存存取單元3、錯誤檢查及校正編碼器4、樣本產(chǎn)生單元5、校正偵測器6以及閃存7結(jié)合設(shè)于一殼體9中。
[0037]上述所提主機(jī)機(jī)構(gòu)I包含有一主機(jī)I I及一與主機(jī)I I連接的認(rèn)證單元I 2。
[0038]該運算單元2與主機(jī)機(jī)構(gòu)I連接。[0039]該直接內(nèi)存存取單元3與主機(jī)機(jī)構(gòu)I連接。
[0040]該錯誤檢查及校正編碼器4連接主機(jī)機(jī)構(gòu)I與直接內(nèi)存存取單元3。
[0041]該樣本產(chǎn)生單元5與錯誤檢查及校正編碼器4連接，而該樣本產(chǎn)生單元5包含有一隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器5 1、及一與隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器5 I連接的時序電路5 2。
[0042]該校正偵測器6與樣本產(chǎn)生單元5連接，而該校正偵測器6包含有計算單元6 I，可偵測I/O比值是否介于I ±20%的變量中。
[0043]該閃存7連接錯誤檢查及校正編碼器4與校正偵測器6，而該閃存7中具有一備用位區(qū)7 I。如是，藉由上述結(jié)構(gòu)構(gòu)成一全新的動態(tài)閃存分散使用裝置。
[0044]當(dāng)本實用新型于進(jìn)行寫入動作時，藉由主機(jī)機(jī)構(gòu)1、運算單元2、直接內(nèi)存存取單元3、錯誤檢查及校正編碼器4等組件配合，讓各資料a進(jìn)入并作分散儲存處理，而當(dāng)處理時，各數(shù)據(jù)a分別由錯誤檢查及校正編碼器4產(chǎn)生編碼數(shù)據(jù)a，此時，該樣本產(chǎn)生單元5藉由種子產(chǎn)生隨機(jī)數(shù)樣本，讓編碼數(shù)據(jù)a與隨機(jī)數(shù)樣本進(jìn)行異或運算產(chǎn)生紀(jì)錄數(shù)據(jù)a，再讓校正偵測器6配合備用位區(qū)7 I搭配紀(jì)錄數(shù)據(jù)a去做偵測比對動作(比對數(shù)據(jù)的I/O數(shù)值是否平均)，若為平均數(shù)則可將記錄數(shù)據(jù)a儲存于閃存7中，反之若偵測比對結(jié)果為不平均數(shù)，則由校正偵測器6通知樣本產(chǎn)生單元5重新選擇種子產(chǎn)生隨機(jī)數(shù)樣本，直到校正偵測器6偵測比對結(jié)果為平均數(shù)，以作為紀(jì)錄數(shù)據(jù)a是否符合儲存條件的依據(jù)(在符合儲存條件的依據(jù)前，校正偵測器6會重新選擇種子，此時，紀(jì)錄數(shù)據(jù)a會重復(fù)經(jīng)過閃存7。)，進(jìn)而可均勻分散使用閃存7的儲存空間，而達(dá)到增加使用壽命以及提升使用可靠度的功效。
[0045]請參閱圖4所示，本實用新型第二實施例方塊示意圖。如圖所示:本實用新型除上述第一實施例所提結(jié)構(gòu)形態(tài)之外，亦可為本第二實施例的結(jié)構(gòu)形態(tài)，而其所不同之處在于，該樣本產(chǎn)生單元5與校正偵測器6之間更可進(jìn)一步連接有一作為記錄使用的韌體單元8。
[0046]而使用時，由該樣本產(chǎn)生單元5藉由種子產(chǎn)生隨機(jī)數(shù)樣本，讓校正偵測器6偵測比對隨機(jī)數(shù)樣本的I/o數(shù)值是否平均，若偵測比對結(jié)果不平均，則由校正偵測器6通知韌體單元8淘汰此選擇的種子，如此，除可同樣達(dá)到上述第一實施例所提功效之外，更可符合實際使用所需。
[0047]綜上所述，本實用新型動態(tài)閃存分散使用裝置可有效改善已用的種種缺點，可于儲存數(shù)據(jù)時，利用樣本產(chǎn)生單元與校正偵測器的配合，進(jìn)行I/O平均數(shù)的偵測，以作為數(shù)據(jù)是否符合儲存條件的依據(jù)，進(jìn)而可均勻分散使用閃存的儲存空間，而達(dá)到增加使用壽命以及提升使用可靠度的功效；進(jìn)而使本實用新型的產(chǎn)生能更進(jìn)步、更實用、更符合消費者使用所須，確已符合實用新型專利申請要件，爰依法提出專利申請。
[0048]惟以上所述，僅為本實用新型較佳實施例而已，當(dāng)不能以此限定本實用新型實施范圍；故，凡依本實用新型權(quán)利要求書及說明書內(nèi)容所作簡單的等效變化與修飾，皆應(yīng)仍屬本實用新型專利涵蓋范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種動態(tài)閃存分散使用裝置，其特征在于包括有: 一主機(jī)機(jī)構(gòu)； 一運算單元，與主機(jī)機(jī)構(gòu)連接； 一直接內(nèi)存存取單元，與主機(jī)機(jī)構(gòu)連接； 一錯誤檢查及校正編碼器，連接主機(jī)機(jī)構(gòu)與直接內(nèi)存存取單元； 一樣本產(chǎn)生單元，與錯誤檢查及校正編碼器連接； 一校正偵測器，與樣本產(chǎn)生單元連接；以及 一閃存，連接錯誤檢查及校正編碼器與校正偵測器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動態(tài)閃存分散使用裝置，其特征在于，該主機(jī)機(jī)構(gòu)、運算單元、直接內(nèi)存存取單元、錯誤檢查及校正編碼器、樣本產(chǎn)生單元、校正偵測器以及閃存結(jié)合設(shè)于一殼體中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動態(tài)閃存分散使用裝置，其特征在于，該主機(jī)機(jī)構(gòu)包含有一主機(jī)、及一與主機(jī)連接的認(rèn)證單元。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動態(tài)閃存分散使用裝置，其特征在于，該樣本產(chǎn)生單元包含有一隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器、及一與隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器連接的時序電路。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動態(tài)閃存分散使用裝置，其特征在于，該校正偵測器偵測I/O比值是否介于I ±20%的變量中。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動態(tài)閃存分散使用裝置，其特征在于，該校正偵測器中進(jìn)一步包含有計算單元。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動態(tài)閃存分散使用裝置，其特征在于，該閃存中具有一備用位區(qū)，供存放種子與各數(shù)據(jù)的對應(yīng)關(guān)系。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動態(tài)閃存分散使用裝置，其特征在于，該樣本產(chǎn)生單元與校正偵測器之間更進(jìn)一步連接有一作為記錄使用的韌體單元。
【文檔編號】G06F12/02GK203433508SQ201320488432
【公開日】2014年2月12日 申請日期:2013年8月12日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月12日
【發(fā)明者】魏志嘉 申請人:點序科技股份有限公司