板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法及裝置制造方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法與裝置，先在待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后，對(duì)得到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行區(qū)間劃分，然后分析各個(gè)區(qū)間數(shù)據(jù)，逐級(jí)對(duì)不同偏差率范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)間定位，建立待測(cè)板的生命周期模型，計(jì)算待測(cè)板的實(shí)際測(cè)量值和理論目標(biāo)值的偏差，獲得待測(cè)板的耗損情況及返修率。使用本發(fā)明的技術(shù)后，對(duì)產(chǎn)品生命周期進(jìn)行評(píng)估預(yù)測(cè)，快速、準(zhǔn)確地獲知產(chǎn)品耗損情況及返修率；可以按照測(cè)試需求對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分區(qū)處理，在紛繁的數(shù)據(jù)中獲取直接有效的信息，降低了數(shù)據(jù)處理的難度，提高了工作效率；減少了模擬工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的人力及成本。
【專(zhuān)利說(shuō)明】板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法及裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測(cè)試測(cè)量【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是涉及一種板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法及裝置。【背景技術(shù)】
[0002]測(cè)試測(cè)量技術(shù)的發(fā)展與電子行業(yè)的發(fā)展密不可分，電子行業(yè)的主要發(fā)展動(dòng)力持續(xù)來(lái)源于對(duì)體積更小、功能更強(qiáng)、更多互聯(lián)通信產(chǎn)品的需求。為滿足這些需求，制造商不斷推出新產(chǎn)品，將新的無(wú)線協(xié)議、新的封裝技術(shù)、新元件及半導(dǎo)體等集成在這些新產(chǎn)品當(dāng)中，技術(shù)的進(jìn)步帶來(lái)應(yīng)用的提升，而應(yīng)用的提升又進(jìn)一步加劇新技術(shù)和新方法的不斷涌現(xiàn)。隨著測(cè)試內(nèi)容的日益復(fù)雜，測(cè)試工作量激增，這些都促使測(cè)試行業(yè)必須采用新方法來(lái)測(cè)試和驗(yàn)證這些新產(chǎn)品與前沿技術(shù)。
[0003]目前板級(jí)測(cè)試具有一定的局限性:
[0004]現(xiàn)有板級(jí)測(cè)試在數(shù)據(jù)分析方面無(wú)法獲知產(chǎn)品的耗損情況，了解產(chǎn)品的返修率，影響產(chǎn)品使用，降低工作效率，提升人力及成本。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]基于上述情況，本發(fā)明提出了一種板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法，具備完整的數(shù)據(jù)分析體系，對(duì)產(chǎn)品生命周期進(jìn)行評(píng)估預(yù)測(cè)，快速、準(zhǔn)確地獲知產(chǎn)品耗損情況及返修率。
[0006]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案為:
[0007]—種板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法，在待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后，對(duì)得到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行區(qū)間劃分，分析各個(gè)區(qū)間數(shù)據(jù)，逐級(jí)對(duì)不同偏差率范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)間定位，建立所述待測(cè)板的生命周期模型，計(jì)算所述待測(cè)板的實(shí)際測(cè)量值和理論目標(biāo)值的偏差，獲得所述待測(cè)板的耗損情況及返修率。
[0008]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明還提出了一種板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析裝置，便捷有效獲取產(chǎn)品生命周期，提高工作效率，適合應(yīng)用。
[0009]具體實(shí)現(xiàn)方式為:一種板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析裝置，包括數(shù)據(jù)分析模塊，用于在待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后，對(duì)得到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行區(qū)間劃分，分析各個(gè)區(qū)間數(shù)據(jù)，逐級(jí)對(duì)不同偏差率范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)間定位，建立所述待測(cè)板的生命周期模型，計(jì)算所述待測(cè)板的實(shí)際測(cè)量值和理論目標(biāo)值的偏差，獲得所述待測(cè)板的耗損情況及返修率。
[0010]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果為:本發(fā)明板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法與裝置，先在待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后，對(duì)得到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行區(qū)間劃分，然后分析各個(gè)區(qū)間數(shù)據(jù)，逐級(jí)對(duì)不同偏差率范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)間定位，建立待測(cè)板的生命周期模型，計(jì)算待測(cè)板的實(shí)際測(cè)量值和理論目標(biāo)值的偏差，獲得待測(cè)板的耗損情況及返修率。使用本發(fā)明的技術(shù)后，對(duì)產(chǎn)品生命周期進(jìn)行評(píng)估預(yù)測(cè)，快速、準(zhǔn)確地獲知產(chǎn)品耗損情況及返修率；可以按照測(cè)試需求對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分區(qū)處理，在紛繁的數(shù)據(jù)中獲取直接有效的信息，降低了數(shù)據(jù)處理的難度，提高了工作效率；減少了模擬工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的人力及成本?！緦?zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0011]圖1為一個(gè)實(shí)施例中板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法的流程示意圖；
[0012]圖2為一個(gè)實(shí)施例中板級(jí)測(cè)試方法的流程示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的【具體實(shí)施方式】?jī)H僅用以解釋本發(fā)明，并不限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0014]一個(gè)實(shí)施例中板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法，在待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后，對(duì)得到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行區(qū)間劃分，分析各個(gè)區(qū)間數(shù)據(jù)，逐級(jí)對(duì)不同偏差率范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)間定位，建立所述待測(cè)板的生命周期模型，計(jì)算所述待測(cè)板的實(shí)際測(cè)量值和理論目標(biāo)值的偏差，獲得所述待測(cè)板的耗損情況及返修率。
[0015]從以上描述可知，本方法具備完整的數(shù)據(jù)分析體系，評(píng)估預(yù)測(cè)產(chǎn)品的生命周期，了解產(chǎn)品的耗損情況，進(jìn)一步對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行維修。
[0016]作為一個(gè)實(shí)施例，所述測(cè)試根據(jù)待測(cè)板信息和測(cè)試類(lèi)型生成測(cè)試方案，無(wú)需人工預(yù)設(shè)測(cè)試案例，自動(dòng)生成一套合理的測(cè)試方案進(jìn)行測(cè)試，節(jié)省了人力及成本。
[0017]作為一個(gè)實(shí)施例，在所述待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后獲取測(cè)試時(shí)間并記錄。
[0018]作為一個(gè)實(shí)施例，在所述待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后進(jìn)行停止判別，判別結(jié)果由用戶(hù)指令和測(cè)試目標(biāo)門(mén)限值共同決定，當(dāng)用戶(hù)給出結(jié)束指令或者測(cè)試結(jié)果超出目標(biāo)門(mén)限值時(shí)，測(cè)試停止并保存數(shù)據(jù)切斷待測(cè)板供電。
[0019]作為一個(gè)實(shí)施例，在所述待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后每記錄η條數(shù)據(jù)就自動(dòng)清除緩存，并將數(shù)據(jù)存至指定位置，η為預(yù)設(shè)條數(shù)，保持計(jì)算機(jī)良好的運(yùn)行速度，提升測(cè)試效率。
[0020]為了更好地理解本發(fā)明，以下詳細(xì)闡述一個(gè)本方法的應(yīng)用實(shí)例:
[0021]如圖1所示，板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法的流程示意圖，在待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后，將測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)入，根據(jù)測(cè)試類(lèi)型及數(shù)據(jù)形態(tài)對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分類(lèi)，用戶(hù)只需選擇自己關(guān)心的內(nèi)容進(jìn)行顯示，同時(shí)，支持對(duì)特定區(qū)間進(jìn)行分析，用戶(hù)可以按照時(shí)間選擇需要查看的數(shù)據(jù)，避免了因數(shù)據(jù)量龐大而增加的工作量。當(dāng)區(qū)間選定完畢，對(duì)所選數(shù)據(jù)進(jìn)行繪圖，形成直觀的數(shù)據(jù)走向，用戶(hù)可以從中獲得最大值、最小值、平均值、測(cè)試壞點(diǎn)時(shí)間，及輸入輸出對(duì)比等，對(duì)于偏離測(cè)試指標(biāo)及異常狀態(tài)下獲得的數(shù)據(jù)會(huì)加以突出顯示，以提高用戶(hù)的關(guān)注度。在進(jìn)行了初步數(shù)據(jù)分析后，會(huì)對(duì)測(cè)試得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行區(qū)間劃分，分析各個(gè)區(qū)間數(shù)據(jù)，逐級(jí)對(duì)不同偏差率范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)間定位，然后建立起待測(cè)板生命周期模型，計(jì)算待測(cè)板實(shí)際測(cè)量值和理論目標(biāo)值的偏差，估算和推測(cè)產(chǎn)品生命周期的未來(lái)走勢(shì)，并進(jìn)一步計(jì)算產(chǎn)品的耗損情況、一年返修率、兩年返修率以及報(bào)廢年限等，當(dāng)所有數(shù)據(jù)分析操作結(jié)束后，提供分析結(jié)論，并結(jié)合測(cè)試條件及待測(cè)板運(yùn)行狀態(tài)假設(shè)可能產(chǎn)生的原因，最后可生成一份數(shù)據(jù)分析報(bào)告，作為用戶(hù)二次分析的依據(jù)。
[0022]如圖2所示,板級(jí)測(cè)試方法的流程示意圖，首先通過(guò)串口、網(wǎng)口、USB、zigbee等通信方式連接計(jì)算機(jī)與待測(cè)板，并將測(cè)試軟件按照所屬通信方式進(jìn)行正確配置；由建立連接發(fā)起方嘗試首次握手，通過(guò)一問(wèn)一答的通信處理機(jī)制與待測(cè)板進(jìn)行數(shù)據(jù)交互，在指定的響應(yīng)時(shí)間內(nèi)，如果接收到預(yù)期數(shù)據(jù)，說(shuō)明通信建立完畢，測(cè)試軟件可進(jìn)行正常信息索?。划?dāng)正常通信建立成功后，測(cè)試軟件向待測(cè)板的MCU發(fā)起信息查詢(xún)命令，主要包括待測(cè)板型號(hào)、告警門(mén)限、測(cè)試指標(biāo)、測(cè)試條件等，當(dāng)信息正確獲取后，選擇需要測(cè)試的類(lèi)型，主要有可靠性模擬、應(yīng)用場(chǎng)景變化模擬及用戶(hù)操作模擬3個(gè)待選項(xiàng)，根據(jù)選擇，自行制定一套測(cè)試方案:1)當(dāng)選擇可靠性模擬后，分別從正常、異常通信及EEPROM/FLASH等寄存器的讀寫(xiě)方向進(jìn)行驗(yàn)證工作穩(wěn)定性；2)當(dāng)選擇應(yīng)用場(chǎng)景變化模擬時(shí)，測(cè)試環(huán)境及異常狀態(tài)就變成了測(cè)試的重點(diǎn)，通過(guò)控制高低溫箱來(lái)營(yíng)造高溫/低溫環(huán)境，同時(shí)伴隨周而復(fù)始的上掉電測(cè)試及定期設(shè)備復(fù)位，使待測(cè)板充分體驗(yàn)了實(shí)際應(yīng)用環(huán)境的復(fù)雜度，對(duì)待測(cè)板的設(shè)計(jì)質(zhì)量提出了考驗(yàn)；3)在用戶(hù)操作模擬中，主要是針對(duì)模擬告警，及人為誤操作而進(jìn)行的組合邏輯測(cè)試，旨在驗(yàn)證待測(cè)板在異常情況下的自愈及自我保護(hù)功能。需要強(qiáng)調(diào)的是，可根據(jù)各自需要選擇是否進(jìn)行該項(xiàng)測(cè)試或者放棄。當(dāng)所有測(cè)試項(xiàng)最終確立后，結(jié)合獲取的待測(cè)板信息，生成測(cè)試案例，并開(kāi)始執(zhí)行測(cè)試流程。
[0023]一個(gè)實(shí)施例中板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析裝置，包括數(shù)據(jù)分析模塊，用于在待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后，對(duì)得到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行區(qū)間劃分，分析各個(gè)區(qū)間數(shù)據(jù)，逐級(jí)對(duì)不同偏差率范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)間定位，建立所述待測(cè)板的生命周期模型，計(jì)算所述待測(cè)板的實(shí)際測(cè)量值和理論目標(biāo)值的偏差，獲得所述待測(cè)板的耗損情況及返修率。
[0024]本裝置為復(fù)雜的工程模擬測(cè)試提供便捷有效的測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法，降低數(shù)據(jù)解析難度，適合應(yīng)用。
[0025]作為一個(gè)實(shí)施例，所述測(cè)試根據(jù)待測(cè)板信息和測(cè)試類(lèi)型生成測(cè)試方案，無(wú)需人工預(yù)設(shè)測(cè)試案例，自動(dòng)生成一套合理的測(cè)試方案進(jìn)行測(cè)試，節(jié)省了人力及成本。
[0026]作為一個(gè)實(shí)施例，還包括計(jì)時(shí)模塊，用于在所述待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后獲取測(cè)試時(shí)間并記錄。
[0027]作為一個(gè)實(shí)施例，還包括停止判別模塊，用于在所述待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后進(jìn)行停止判別，判別結(jié)果由用戶(hù)指令和測(cè)試目標(biāo)門(mén)限值共同決定，當(dāng)用戶(hù)給出結(jié)束指令或者測(cè)試結(jié)果超出目標(biāo)門(mén)限值時(shí)，測(cè)試停止并保存數(shù)據(jù)切斷待測(cè)板供電。
[0028]作為一個(gè)實(shí)施例，還包括定期處理模塊，用于在所述待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后每記錄η條數(shù)據(jù)就自動(dòng)清除緩存，并將數(shù)據(jù)存至指定位置，η為預(yù)設(shè)條數(shù)，保持計(jì)算機(jī)良好的運(yùn)行速度，提升測(cè)試效率。
[0029]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)本發(fā)明專(zhuān)利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專(zhuān)利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法，其特征在于，在待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后，對(duì)得到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行區(qū)間劃分，分析各個(gè)區(qū)間數(shù)據(jù)，逐級(jí)對(duì)不同偏差率范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)間定位，建立所述待測(cè)板的生命周期模型，計(jì)算所述待測(cè)板的實(shí)際測(cè)量值和理論目標(biāo)值的偏差，獲得所述待測(cè)板的耗損情況及返修率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法，其特征在于，所述測(cè)試根據(jù)待測(cè)板信息和測(cè)試類(lèi)型生成測(cè)試方案。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法，其特征在于，在所述待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后獲取測(cè)試時(shí)間并記錄。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法，其特征在于，在所述待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后進(jìn)行停止判別，判別結(jié)果由用戶(hù)指令和測(cè)試目標(biāo)門(mén)限值共同決定。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法，其特征在于，在所述待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后每記錄η條數(shù)據(jù)就自動(dòng)清除緩存，并將數(shù)據(jù)存至指定位置，η為預(yù)設(shè)條數(shù)。
6.一種板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析裝置，其特征在于，包括數(shù)據(jù)分析模塊，用于在待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后，對(duì)得到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行區(qū)間劃分，分析各個(gè)區(qū)間數(shù)據(jù)，逐級(jí)對(duì)不同偏差率范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)間定位，建立所述待測(cè)板的生命周期模型，計(jì)算所述待測(cè)板的實(shí)際測(cè)量值和理論目標(biāo)值的偏差，獲得所述待測(cè)板的耗損情況及返修率。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析裝置，其特征在于，所述測(cè)試根據(jù)待測(cè)板信息和測(cè)試類(lèi)型生成測(cè)試方案。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析裝置，其特征在于，還包括計(jì)時(shí)模塊，用于在所述待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后獲取測(cè)試時(shí)間并記錄。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析裝置，其特征在于，還包括停止判別模塊，用于在所述待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后進(jìn)行停止判別，判別結(jié)果由用戶(hù)指令和測(cè)試目標(biāo)門(mén)限值共同決定。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析裝置，其特征在于，還包括定期處理模塊，用于在所述待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后每記錄η條數(shù)據(jù)就自動(dòng)清除緩存，并將數(shù)據(jù)存至指定位置，η為預(yù)設(shè)條數(shù)。
【文檔編號(hào)】G06F19/00GK103761432SQ201410015337
【公開(kāi)日】2014年4月30日 申請(qǐng)日期:2014年1月13日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月13日
【發(fā)明者】王雪, 駱云 申請(qǐng)人:京信通信系統(tǒng)（中國(guó)）有限公司