一種基于多階測試門限判別的故障隔離方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基于多階測試門限判別的故障隔離方法，包括步驟一：確定產(chǎn)品的監(jiān)測征兆基線數(shù)據(jù)；步驟二：確定產(chǎn)品的故障模式集以及各故障模式的監(jiān)測征兆數(shù)值，構(gòu)建故障—征兆原始矩陣；步驟三：建立各階測試門限邏輯矩陣；步驟四：將各階測試門限邏輯矩陣進(jìn)行累加，建立綜合階數(shù)矩陣；步驟五：根據(jù)綜合階數(shù)矩陣進(jìn)行故障隔離。本發(fā)明通過測試門限翻倍的方式，將是否超差的二值邏輯判別細(xì)化為不同超差程度的多級判別，可有效實現(xiàn)對超差程度不同的故障進(jìn)行隔離。
【專利說明】一種基于多階測試門限判別的故障隔離方法【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種基于多階測試門限判別的故障隔離方法，屬于故障診斷【技術(shù)領(lǐng)域】。
【背景技術(shù)】
[0002]故障隔離技術(shù)是故障診斷技術(shù)中的重要內(nèi)容，通過故障隔離可以確定產(chǎn)品發(fā)生的具體故障模式。目前，在工程中進(jìn)行故障診斷常采用基于二值邏輯的檢測結(jié)果進(jìn)行故障隔離的技術(shù)，即首先對產(chǎn)品相關(guān)的征兆進(jìn)行測試，并根據(jù)正常范圍判據(jù)確定征兆數(shù)值是否超出正常范圍，由此判斷是否有故障發(fā)生；然后將各征兆是否超出正常范圍邏輯化為“I”和“0”，并根據(jù)各故障的征兆邏輯化向量不同的原理進(jìn)行故障隔離。
[0003]這種診斷過程僅考慮了征兆是否超出正常范圍的兩種情況，沒有對超出正常范圍的程度進(jìn)行刻畫和利用，會導(dǎo)致超出正常范圍且超出程度不同的兩個故障模式無法區(qū)分，出現(xiàn)故障的模糊隔離。
【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是為了解決上述問題，針對二值邏輯故障隔離技術(shù)的不足，提出一種基于多階測試門限判別的故障隔離方法，首先以多階測試門限判別為原理，建立綜合階數(shù)矩陣；然后，對測取到的征兆數(shù)值向量進(jìn)行變換得到匹配階數(shù)向量，并與綜合階數(shù)矩陣進(jìn)行比對，隔離出發(fā)生的故障。
[0005]一種基于多階測試門限判別的故障隔離方法，具體包括以下幾個步驟:
[0006]步驟一:確定產(chǎn)品的監(jiān)測征兆基線數(shù)據(jù)
[0007]產(chǎn)品的監(jiān)測征兆基線數(shù)據(jù)包括監(jiān)測征兆變量、變量正常范圍判據(jù)，其三元組模型如下:
[0008]MSD= (S, B, Δ) (I)
[0009]其中，MSD代表監(jiān)測征兆基線數(shù)據(jù)模型；
[0010]S代表監(jiān)測征兆變量集合；S={^_ I j=l~η}，Sj為第j個監(jiān)測征兆變量值，η為監(jiān)測征兆變量總數(shù)；
[0011]B代表監(jiān)測征兆變量的基準(zhǔn)值集合；B={bj| j=l~n}，bj為第j個監(jiān)測征兆變量的基準(zhǔn)值，η為監(jiān)測征兆變量的基準(zhǔn)值總數(shù)；
[0012]Δ代表監(jiān)測征兆變量的測試門限集合；Λ = ( SjIj=I~η)，δ」為第j個監(jiān)測征兆變量的測試門限值，η為監(jiān)測征兆變量的測試門限總數(shù)，監(jiān)測征兆變量的正常范圍判據(jù)由Sj=bj 土 δ」確定；
[0013]步驟二:確定產(chǎn)品的故障模式集以及各故障模式的監(jiān)測征兆數(shù)值，構(gòu)建故障一征兆原始矩陣
[0014]故障一征兆原始矩陣是指產(chǎn)品中各故障模式與各監(jiān)測征兆之間的數(shù)值關(guān)系矩陣:[0015]
【權(quán)利要求】
1.一種基于多階測試門限判別的故障隔離方法，具體包括以下幾個步驟: 步驟一:確定產(chǎn)品的監(jiān)測征兆基線數(shù)據(jù) 產(chǎn)品的監(jiān)測征兆基線數(shù)據(jù)包括監(jiān)測征兆變量、變量正常范圍判據(jù)，其三元組模型如下:
MSD= (S, B, Δ) (I) 其中，MSD代表監(jiān)測征兆基線數(shù)據(jù)模型； S代表監(jiān)測征兆變量集合；S={^_ I j=l~η}，Sj為第j個監(jiān)測征兆變量值，η為監(jiān)測征兆變量總數(shù)； B代表監(jiān)測征兆變量的基準(zhǔn)值集合出=叫I j=l~n}為第j個監(jiān)測征兆變量的基準(zhǔn)值，η為監(jiān)測征兆變量的基準(zhǔn)值總數(shù)； Δ代表監(jiān)測征兆變量的測試門限集合；Λ = ( \_ I j=l~η)，δ ^為第j個監(jiān)測征兆變量的測試門限值，η為監(jiān)測征兆變量的測試門限總數(shù)，監(jiān)測征兆變量的正常范圍判據(jù)由Sj=bj 土 δ」確定； 步驟二:確定產(chǎn)品的故障模式集以及各故障模式的監(jiān)測征兆數(shù)值，構(gòu)建故障一征兆原始矩陣 故障一征兆原始矩陣是指產(chǎn)品中各故障模式與各監(jiān)測征兆之間的數(shù)值關(guān)系矩陣:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于多階測試門限判別的故障隔離方法，所述的步驟三中建立各階測試門限邏輯矩陣的步驟如下: (1)建立I階測試門限邏輯矩陣 令κ=1，根據(jù)公式(4)得到@，得到I階測試門限邏輯矩陣； (2)判斷是否需要建立Κ+1階測試門限邏輯矩陣 比較I階測試門限邏輯矩陣中邏輯數(shù)值不全為O的各故障模式對應(yīng)行，若存在數(shù)值完全相同的兩行，則存在不能區(qū)分的故障模式，進(jìn)一步建立Κ+1階測試門限邏輯矩陣；否則I階測試門限邏輯矩陣能夠區(qū)分全部故障模式，實現(xiàn)唯一性故障隔離，無需建立Κ+1階以上的測試邏輯矩陣，即建立各階測試門限邏輯矩陣的過程結(jié)束； (3)建立Κ+1階測試門限邏輯矩陣 令K數(shù)值加I，執(zhí)行與步驟(1)相同的計算過程，得到Ig+1，得到Κ+1階測試門限邏輯矩陣； (4)對步驟(3)得到的測試門限邏輯矩陣，比較邏輯數(shù)值不全為O的各故障模式對應(yīng)行，當(dāng)存在數(shù)值完全 相同的兩行，則需要跳轉(zhuǎn)到步驟(3)繼續(xù)執(zhí)行；當(dāng)測試門限邏輯矩陣的各行邏輯數(shù)值都為O時，或者不存在數(shù)值完全相同的兩個非全O行，則建立各階測試門限邏輯矩陣的過程結(jié)束。
【文檔編號】G06F19/00GK103927447SQ201410158704
【公開日】2014年7月16日 申請日期:2014年4月18日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月18日
【發(fā)明者】石君友, 喬麗, 劉衎 申請人:北京航空航天大學(xué)