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帶有自毀功能的機(jī)載高速大容量數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)及自毀方法

文檔序號:6621755閱讀:309來源:國知局
帶有自毀功能的機(jī)載高速大容量數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)及自毀方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種帶有自毀功能的機(jī)載高速大容量數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng),包含CPU控制器、NAND?Flash存儲陣列、毀鑰模塊,所述毀鑰模塊中包括儲能模塊、升壓模塊、編程控制模塊;通過毀鑰模塊中的儲能模塊對外部接口施加的毀鑰能量進(jìn)行儲能放大,通過編程控制將能量以高壓脈沖的形式逐一釋放到系統(tǒng)中用于存放秘鑰的NandFlash芯片的電地管腳,瞬間的高壓脈沖會引起芯片內(nèi)部有源區(qū)燒毀擊穿,并在燒毀過程中會引起芯片晶圓開裂,從而達(dá)到NandFlash數(shù)據(jù)無法恢復(fù),保護(hù)機(jī)載秘鑰的作用。
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)存儲【技術(shù)領(lǐng)域】,特別涉及一種帶有自毀功能的數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)。 帶有自毀功能的機(jī)載高速大容量數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)及自毀方法

【背景技術(shù)】
[0002] 隨著電子科技的快速發(fā)展,數(shù)據(jù)存儲技術(shù)也有了長足進(jìn)步。高速大容量數(shù)據(jù)存儲 技術(shù)的發(fā)展由存儲的介質(zhì)和存儲體系兩方面的發(fā)展構(gòu)成。目前存儲介質(zhì)集成度不斷提高, 數(shù)據(jù)存儲的數(shù)量級從以前的MByte到GByte,甚至躍升到TByte.在所有的存儲介質(zhì)中,NAND FLASH Memory以其獨有的大容量特點在高速大容量存儲系統(tǒng)中獲得了廣泛的應(yīng)用。NAND Flash的存儲系統(tǒng)具有可靠性高、環(huán)境適應(yīng)性強、體積小、重量輕等優(yōu)點。IEEE 1394總線在 機(jī)載系統(tǒng)中常用于大容量數(shù)據(jù)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)總線,它將航電系統(tǒng)中數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俾侍嵘搅?800Mbps。
[0003] 機(jī)載數(shù)據(jù)的安全也是當(dāng)前航空【技術(shù)領(lǐng)域】的一研究熱點,大容量存儲介質(zhì)中存儲了 大量機(jī)載敏感數(shù)據(jù),處于特殊環(huán)境時,數(shù)據(jù)的安全銷毀,防止被他人恢復(fù)獲取成為數(shù)據(jù)存儲 領(lǐng)域的一大難點。自毀方式分為兩種:軟毀和硬毀。軟毀采取軟件擦除的方式清楚存儲介 質(zhì)中的數(shù)據(jù),該方式由于存儲介質(zhì)本身的特點,可通過數(shù)據(jù)恢復(fù)技術(shù)將之前存儲的數(shù)據(jù)恢 復(fù)。而硬毀方式采用電流燒毀的方式,目前來說是相對可靠的,但機(jī)載環(huán)境下提供的毀鑰信 號能量低時間短,在技術(shù)方面還沒有很完善,難以真正實現(xiàn)存儲介質(zhì)中數(shù)據(jù)的銷毀。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的發(fā)明目的在于提供一種帶有自毀功能的機(jī)載高速 大容量數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng),通過物理自毀解決了傳統(tǒng)毀鑰過程中無法切實銷毀存儲介質(zhì)中的數(shù) 據(jù),從而起到保護(hù)機(jī)載數(shù)據(jù)的作用。
[0005] 本發(fā)明的發(fā)明目的通過以下技術(shù)方案實現(xiàn):
[0006] -種帶有自毀功能的機(jī)載高速大容量數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng),包含CPU控制器、NAND Flash 存儲陣列,其特征在于還包含毀鑰模塊,所述毀鑰模塊中包括儲能模塊、升壓模塊、編程控 制豐吳塊;
[0007] 所述升壓模塊用于根據(jù)CPU控制器發(fā)出的毀鑰命令將毀鑰接口送過來的毀鑰信 號進(jìn)行升壓放大;
[0008] 所述儲能模塊用于對升壓后的毀鑰信號進(jìn)行儲量形成高壓脈沖信號;
[0009] 所述編程控制模塊用于將高壓脈沖信號逐一釋放到存有秘鑰的NAND Flash存儲 陣列上的電地管腳進(jìn)行燒毀。瞬間的高壓脈沖會引起芯片內(nèi)部有源區(qū)燒毀擊穿,并在燒毀 過程中會引起芯片晶圓開裂,從而達(dá)到NandFlash數(shù)據(jù)無法恢復(fù),保護(hù)機(jī)載秘鑰的作用。 [0010] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種機(jī)載高速大容量數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)的自毀方法,包含 以下步驟:
[0011] a) CPU控制器發(fā)出毀鑰信號啟動毀鑰程序;
[0012] b)將毀鑰信號進(jìn)行升壓放大;
[0013] c)將升壓的毀鑰信號進(jìn)行儲量形成高壓脈沖信號;
[0014] d)將高壓脈沖信號逐一釋放到存有秘鑰的NAND Flash存儲陣列上的電地管腳上 進(jìn)行燒毀。
[0015] 進(jìn)一步,還包含以下步驟:
[0016] e)在數(shù)據(jù)燒毀完成后,CPU控制器自行關(guān)閉對外接口,防止NAND Flash芯片在燒 毀過程中短路引起其他器件短路。
[0017] 與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果在于:本發(fā)明結(jié)合800Mbps IEEE1394、 NandFlash存儲技術(shù)以及物理自毀提出帶有自毀功能的機(jī)載數(shù)據(jù)高速大容量數(shù)據(jù)存儲系 統(tǒng)。在實際航空機(jī)載存儲設(shè)備中,數(shù)據(jù)存儲的可靠性及數(shù)據(jù)安全性方面提高了一個等級,解 決了傳統(tǒng)毀鑰過程中無法切實銷毀存儲介質(zhì)中的數(shù)據(jù),從而起到保護(hù)機(jī)載數(shù)據(jù)的作用。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0018] 圖1為本發(fā)明的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。
[0019] 圖2為本發(fā)明中自毀模塊的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實施方式】
[0020] 下面給出一種本發(fā)明的實施方式和步驟。
[0021] 如圖1所示,本發(fā)明以IEEE1394b總線作為數(shù)據(jù)交互總線,內(nèi)部經(jīng)過CPU控制器、 SATA控制器、NAND Flash控制器,將數(shù)據(jù)存儲或讀取在NAND Flash存儲陣列中,毀鑰模塊 直接與NAND Flash存儲陣列交聯(lián)。如圖2所示,毀鑰模塊包括儲能模塊、升壓模塊、編程 控制模塊,當(dāng)接收到CPU控制器發(fā)出的毀鑰命令時,毀鑰模塊中升壓模塊將毀鑰接口送過 來的毀鑰信號進(jìn)行升壓放大,儲能模塊對升壓后的毀鑰信號進(jìn)行儲存形成高壓脈沖信號, 編程控制模塊將高壓脈沖信號逐一釋放到存有秘鑰的NAND Flash存儲陣列上的電地管腳 進(jìn)行燒毀。瞬間的高壓脈沖會引起芯片內(nèi)部有源區(qū)燒毀擊穿,并在燒毀過程中會引起芯片 晶圓開裂,從而達(dá)到NandFlash數(shù)據(jù)無法恢復(fù),保護(hù)機(jī)載秘鑰的作用。一旦數(shù)據(jù)銷毀完成, CPU控制器自行關(guān)閉對外接口,從而防止NAND Flash芯片在燒毀過程中短路引起其他器件 短路。
[0022] 以上所述,僅為本發(fā)明的一個具體實例,任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本發(fā) 明所述的技術(shù)范圍內(nèi),所做的變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。因此,本發(fā)明 的保護(hù)范圍應(yīng)以權(quán)力要求書的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1. 一種帶有自毀功能的機(jī)載高速大容量數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng),包含CPU控制器、NAND Flash 存儲陣列,其特征在于還包含毀鑰模塊,所述毀鑰模塊中包括儲能模塊、升壓模塊、編程控 制豐吳塊; 所述升壓模塊用于根據(jù)CPU控制器發(fā)出的毀鑰命令將毀鑰接口送過來的毀鑰信號進(jìn) 行升壓放大; 所述儲能模塊用于對升壓后的毀鑰信號進(jìn)行儲能形成高壓脈沖信號; 所述編程控制模塊用于將高壓脈沖信號逐一釋放到存有秘鑰的NAND Flash存儲陣列 上的電地管腳進(jìn)行燒毀。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的機(jī)載高速大容量數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)的自毀方法,包含以下步驟: a) CPU控制器發(fā)出毀鑰信號啟動毀鑰程序; b) 將毀鑰信號進(jìn)行升壓放大; c) 將升壓的毀鑰信號進(jìn)行儲能形成高壓脈沖信號; d) 高壓脈沖信號逐一釋放到存有秘鑰的NAND Flash存儲陣列上的電地管腳上進(jìn)行燒 毀。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的自毀方法,其特征在于還包含以下步驟: e) 在數(shù)據(jù)燒毀完成后,CPU控制器自行關(guān)閉對外接口,防止NAND Flash芯片在燒毀過 程中短路引起其他器件短路。
【文檔編號】G06F21/78GK104123513SQ201410366037
【公開日】2014年10月29日 申請日期:2014年7月29日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月29日
【發(fā)明者】遲鵬程, 吳伯春 申請人:中國航空無線電電子研究所
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