一種中央處理器性能測試方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種中央處理器性能測試方法及系統(tǒng)，其中，該方法包括：制定測試計劃，所述測試計劃包括配置所述中央處理器配置信息以及確定所述配置信息中所需測試的性能參數(shù)；寫入所述中央處理器配置信息，將所需測試的性能參數(shù)賦值為第一參數(shù)值；根據(jù)所述中央處理器配置信息形成相應(yīng)的中央處理器參數(shù)化電路，以及確定DDR類型和測試軟件從而對所述所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行測試；產(chǎn)生并保存性能測試數(shù)據(jù)；確定循環(huán)測試結(jié)束后，輸出性能測試結(jié)果。利用本發(fā)明，實(shí)現(xiàn)在電路設(shè)計階段就可以針對性能運(yùn)行軟件仿真，并得到具體而真實(shí)的性能數(shù)據(jù)。
【專利說明】一種中央處理器性能測試方法及系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試方法，尤其涉及一種中央處理器性能測試方法及系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]目前，在電子設(shè)備上有很多的設(shè)備性能測試軟件，這些軟件可以測試CPU或者存儲器訪問的性能，并給出量化的數(shù)值。但是，對于芯片設(shè)計人員來說，目前很難在設(shè)計階段就得到各種測試軟件的具體性能數(shù)值，只能得到大概的數(shù)據(jù)，而真實(shí)數(shù)據(jù)都要等到真實(shí)設(shè)備生產(chǎn)出來后才能進(jìn)行軟件性能仿真測試。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]未解決上述問題，本發(fā)明提供一種中央處理器性能測試方法及系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)在電路設(shè)計階段就可以針對性能運(yùn)行軟件仿真，并得到具體而真實(shí)的性能數(shù)據(jù)。
[0004]本發(fā)明提供一種中央處理器性能測試方法，所述方法包括:(a)制定測試計劃，所述測試計劃包括配置所述中央處理器配置信息以及確定所述配置信息中所需測試的性能參數(shù)；(b)寫入所述中央處理器配置信息，將所需測試的性能參數(shù)賦值為第一參數(shù)值；(C)根據(jù)所述中央處理器配置信息形成相應(yīng)的中央處理器參數(shù)化電路，以及確定DDR類型和測試軟件從而對所已經(jīng)賦值為第一參數(shù)值的述所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行測試；(d)產(chǎn)生并保存性能測試數(shù)據(jù)；(e)確定循環(huán)測試結(jié)束后，輸出性能測試結(jié)果。
[0005]優(yōu)選地，步驟⑷之后，所述方法還包括:(f)改變所述所需測試的性能參數(shù)的賦值為第N參數(shù)值，保持所述中央處理器配置信息的其他性能參數(shù)不變，循環(huán)執(zhí)行所述步驟(C)、(d)直至所述所需測試的性能參數(shù)的全部賦值完成測試。步驟(e)還包括:確定循環(huán)測試結(jié)束后，輸出性能測試結(jié)果。
[0006]優(yōu)選地，步驟(e)所述的確定循環(huán)測試結(jié)束為:根據(jù)定義所述所需測試的性能參數(shù)的賦值的數(shù)量來判定循環(huán)測試是否結(jié)束。
[0007]優(yōu)選地，步驟(e)所述的輸出性能測試結(jié)果為:結(jié)合對所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行的N次測試而產(chǎn)生的N個測試結(jié)果產(chǎn)生一性能測試報告。
[0008]優(yōu)選地，步驟(d)所述的產(chǎn)生并保存性能測試數(shù)據(jù)的步驟具體為:產(chǎn)生并保存所述性能測試數(shù)據(jù)，并對所述性能測試數(shù)據(jù)進(jìn)行打分評估。
[0009]本發(fā)明還提供一種中央處理器性能測試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括:總配置單元，用于根據(jù)測試計劃進(jìn)行中央處理器配置信息的設(shè)置和確定所述配置信息中所需測試的性能參數(shù)，并將所需測試的性能參數(shù)賦值為第一參數(shù)值，以及根據(jù)所述中央處理器配置信息確定所需選用的DDR類型與測試軟件；運(yùn)行程序選擇單元，用于根據(jù)所述總配置單元選定的測試軟件啟動并運(yùn)行相應(yīng)的測試軟件，以利用所述測試軟件對已經(jīng)賦值為第一參數(shù)值的所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行測試；DDR選型單元，用于根據(jù)所述總配置單元確定所需選用的DDR類型調(diào)用相應(yīng)的DDR，以評估由所述中央處理器配置信息形成的中央處理器參數(shù)化電路；性能評估數(shù)據(jù)輸出單元，用于記錄所述選定的測試軟件對所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行測試所產(chǎn)生的測試結(jié)果以及所述調(diào)用的DDR對所述處理器參數(shù)化電路的評估結(jié)果；輸出控制單元，用于在測試結(jié)束后控制所述性能評估數(shù)據(jù)輸出單元輸出性能測試結(jié)果。
[0010]優(yōu)選地，所述總配置單元還用于改變所述所需測試的性能參數(shù)的賦值為第N參數(shù)值，保持所述中央處理器配置信息的其他性能參數(shù)不變；所述運(yùn)行程序選擇單元啟動并運(yùn)行的所述測試軟件對所述改變賦值的所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行循環(huán)測試，所述輸出控制單元確定循環(huán)測試結(jié)束后輸出所述性能測試結(jié)果。
[0011]優(yōu)選地，所述輸出控制單元確定循環(huán)測試結(jié)束為:根據(jù)定義所述所需測試的性能參數(shù)的賦值的數(shù)量來判定循環(huán)測試是否結(jié)束。
[0012]優(yōu)選地，所述輸出控制單元還用于結(jié)合對所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行的N次測試而產(chǎn)生的N個測試結(jié)果產(chǎn)生一性能測試報告。
[0013]優(yōu)選地，所述選定的測試軟件對所述性能評估數(shù)據(jù)輸出單元中的測試性能數(shù)據(jù)進(jìn)行打分評估。
[0014]本發(fā)明提供的一種中央處理器性能測試方法及系統(tǒng)，在電路設(shè)計階段，通過對CPU配置信息的設(shè)置以及選擇相應(yīng)的打分軟件和DDR對該配置信息下的所需測試性能參數(shù)進(jìn)行測試，以產(chǎn)生相應(yīng)的測試結(jié)果(例如，測試報告、打分結(jié)果)，從而實(shí)現(xiàn)了在電路設(shè)計階段就可以進(jìn)行針對性能的軟件仿真測試，并得到具體而真實(shí)的性能數(shù)據(jù)。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1為本發(fā)明實(shí)施方式中的CPU性能測試方法的流程圖；
[0016]圖2為本發(fā)明實(shí)施方式中的CPU性能測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]標(biāo)號說明:
[0018]系統(tǒng)20
[0019]總配置單元21
[0020]運(yùn)行程序選擇單元22
[0021]DDR選擇單元23
[0022]輸出控制單元24
[0023]性能評估數(shù)據(jù)輸出單元25

【具體實(shí)施方式】
[0024]為詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實(shí)現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實(shí)施方式并配合附圖詳予說明。
[0025]請參閱圖1，為本發(fā)明實(shí)施方式中的CPU性能測試方法的流程示意圖，如圖1所示，該流程包括以下步驟:
[0026]步驟S10，制定測試計劃，包括確定CPU配置信息以及該配置信息中所需測試的性能參數(shù)。
[0027]其中，該CPU配置信息可以包括電路運(yùn)行頻率、GHB(全局緩存單元)、TLB(頁表查詢使用的查找表)、CPU內(nèi)核數(shù)量、DSP協(xié)處理器數(shù)量、Llcache, L2cache等參數(shù)，該所需測試的性能參數(shù)可以選自于該CPU配置信息中。
[0028]例如，制定的測試計劃為測試具有某種性能的軟件在相應(yīng)的CPU配置下，L2cache的大小對CPU性能的影響。即，在確定CPU配置信息后，通過改變L2cache來測試該軟件的相關(guān)性能。
[0029]步驟S11，寫入該測試計劃所包含的CPU配置信息，將所需測試的性能參數(shù)賦值為第一參數(shù)值。
[0030]步驟S12，根據(jù)CPU配置信息形成相應(yīng)的虛擬CPU參數(shù)化電路，以及確定DDR類型和測試軟件，然后開始測試。
[0031]其中，根據(jù)CPU配置信息從諸如DDR2、DDR3、Low-Power DDR、mobile DDR等類型中選擇合適的DDR。
[0032]步驟S13，產(chǎn)生并保存性能測試數(shù)據(jù)。
[0033]進(jìn)一步地，對該性能測試數(shù)據(jù)進(jìn)行評估，例如，利用打分軟件進(jìn)行模擬打分，使得測試結(jié)果更直觀地顯示給測試者。
[0034]步驟S14，改變該所需測試的性能參數(shù)的賦值為第N參數(shù)值，該CPU配置信息的其他參數(shù)不變。然后，返回步驟S12，進(jìn)行性能測試，直至該所需測試的性能參數(shù)的全部賦值都完成測試。
[0035]步驟S15，判定循環(huán)測試是否結(jié)束，如果判定循環(huán)測試結(jié)束，則執(zhí)行步驟S16 ;否貝U，返回步驟S14繼續(xù)進(jìn)行循環(huán)測試。
[0036]該步驟中循環(huán)測試是否結(jié)束可以通過定義該所需測試的性能參數(shù)的賦值的數(shù)量來判定，當(dāng)達(dá)到所定義的數(shù)量時，判定循環(huán)測試結(jié)束。通過調(diào)整循環(huán)測試次數(shù)就可以達(dá)到調(diào)整測試時間的目的。如果需要加長測試時間，可以通過增大賦值數(shù)量來實(shí)現(xiàn)。理論上，測試時間可以達(dá)到無窮大。
[0037]步驟S16，輸出性能測試結(jié)果。
[0038]其中，該性能測試結(jié)果可以結(jié)合對所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行的N次測試而產(chǎn)生的N個測試結(jié)果產(chǎn)生一性能測試報告，用于為測試者提供綜合測試結(jié)果以及相關(guān)的測試分析結(jié)果。
[0039]例如，當(dāng)所需測試的性能參數(shù)為L2cache時，輸出的性能測試結(jié)果為:以L2cache為橫軸，性能測試結(jié)果為縱軸，從而直觀地表現(xiàn)出在相應(yīng)的CPU配置信息下利用此測試軟件進(jìn)行性能測試時，L2cache的大小對CPU性能的影響。
[0040]請參閱圖2，為本發(fā)明實(shí)施方式中CPU性能測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。該系統(tǒng)20包括總配置單元21、運(yùn)行程序選擇單元22、DDR選型單元23、輸出控制單元24以及性能評估數(shù)據(jù)輸出單元25。進(jìn)一步地，該系統(tǒng)20還安裝了多個打分軟件程序，能夠運(yùn)行于該系統(tǒng)20中對所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行測試以及產(chǎn)生諸如分?jǐn)?shù)的測試結(jié)果，例如安兔、drystone等。該系統(tǒng) 20 中還包括多個 DDR，例如，DDR2、DDR3、Low-Power DDR, mobile DDR 等。
[0041]該總配置單元21用于根據(jù)測試計劃進(jìn)行CPU配置信息的設(shè)置和確定該配置信息中所需測試的性能參數(shù)，以及根據(jù)設(shè)置的CPU配置信息確定所需選用的DDR類型與進(jìn)行性能測試的打分軟件。該CPU配置信息可以包括電路運(yùn)行頻率、GHB (全局緩存單元)、TLB (頁表查詢使用的查找表)、CPU內(nèi)核數(shù)量、DSP協(xié)處理器數(shù)量、Llcache, L2cache等，該所需測試的性能參數(shù)可以選自于該CPU配置信息中。當(dāng)該總配置單元21確定CPU的配置信息時，在該系統(tǒng)20中根據(jù)CPU配置信息形成相應(yīng)的虛擬CPU參數(shù)化電路。
[0042]該運(yùn)行程序選擇單元22用于根據(jù)該總配置單元21確定的進(jìn)行性能測試的打分軟件啟動并運(yùn)行相應(yīng)的打分軟件，以利用該打分軟件對所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行測試，以及對該性能測試數(shù)據(jù)進(jìn)行評估，例如，利用打分軟件進(jìn)行模擬打分，使得測試結(jié)果更直觀地顯示給測試者。進(jìn)一步地，當(dāng)改變該所需測試的性能參數(shù)的賦值時，該打分軟件還對該改變賦值的所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行測試。該DDR選型單元23用于根據(jù)該總配置單元21確定所需選用的DDR類型調(diào)用相應(yīng)的DDR，以評估該CPU參數(shù)化電路在測試過程中在相應(yīng)的DDR中的性能表現(xiàn)。該性能評估數(shù)據(jù)輸出單元25用于記錄該選定的打分軟件對所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行測試所產(chǎn)生的測試結(jié)果，以及根據(jù)性能測試結(jié)果產(chǎn)生一性能測試報告，用于為測試者提供綜合測試結(jié)果以及相關(guān)的測試分析結(jié)果。
[0043]該輸出控制單元24用于在測試結(jié)束后，控制該性能評估數(shù)據(jù)輸出單元25輸出性能測試結(jié)果。
[0044]下面以所需測試的性能參數(shù)為L2cache為例對本發(fā)明進(jìn)行說明。
[0045]該總配置單元21確定CPU配置信息以及對L2cache賦值第一參數(shù)值，利用選定的打分軟件進(jìn)行測試以及由選定的DDR進(jìn)行評估并產(chǎn)生相應(yīng)的性能測試數(shù)據(jù)，保存在該性能評估數(shù)據(jù)輸出單元25中。然后，該總配置單元21確定CPU配置信息以及對L2cache賦值第二參數(shù)值，其中，CPU配置信息中除L2cache以外的參數(shù)值不變。利用選定的打分軟件進(jìn)行測試以及由選定的DDR進(jìn)行評估并產(chǎn)生相應(yīng)的性能測試數(shù)據(jù)，保存在該性能評估數(shù)據(jù)輸出單元25中。如上所述改變L2cache的賦值進(jìn)行測試直至其全部賦值都完成測試。此時，測試結(jié)束，該性能評估數(shù)據(jù)輸出單元25根據(jù)對L2cache進(jìn)行的若干次測試而產(chǎn)生的多個測試結(jié)果產(chǎn)生一性能測試報告，具體為，以L2cache為橫軸，性能測試結(jié)果為縱軸，從而直觀地表現(xiàn)出在相應(yīng)的CPU配置信息下利用此測試軟件進(jìn)行性能測試時，L2cache的大小對CPU性能的影響。
[0046]本發(fā)明提供的一種中央處理器性能測試方法及系統(tǒng)，在電路設(shè)計階段，通過對CPU配置信息的設(shè)置以及選擇相應(yīng)的打分軟件和DDR對該配置信息下的所需測試性能參數(shù)進(jìn)行測試，以產(chǎn)生相應(yīng)的測試結(jié)果(例如，測試報告、打分結(jié)果)，從而實(shí)現(xiàn)了在電路設(shè)計階段就可以進(jìn)行針對性能的軟件仿真測試，并得到具體而真實(shí)的性能數(shù)據(jù)。
[0047]以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的【技術(shù)領(lǐng)域】，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種中央處理器性能測試方法，其特征在于，所述方法包括: (a)制定測試計劃，所述測試計劃包括配置所述中央處理器配置信息以及確定所述配置信息中所需測試的性能參數(shù)； (b)寫入所述中央處理器配置信息，將所需測試的性能參數(shù)賦值為第一參數(shù)值； (c)根據(jù)所述中央處理器配置信息形成相應(yīng)的中央處理器參數(shù)化電路，以及確定DDR類型和測試軟件從而對所述已經(jīng)賦值為第一參數(shù)值的所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行測試； (d)產(chǎn)生并保存性能測試數(shù)據(jù)； (e)輸出性能測試結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的中央處理器性能測試方法，其特征在于，步驟(d)之后，所述方法還包括: (f)改變所述所需測試的性能參數(shù)的賦值為第N參數(shù)值，保持所述中央處理器配置信息的其他性能參數(shù)不變，循環(huán)執(zhí)行所述步驟(c)、(d)直至所述所需測試的性能參數(shù)的全部賦值完成測試； 步驟(e)還包括:確定循環(huán)測試結(jié)束后，輸出性能測試結(jié)果。
3.如權(quán)利要求2所述的中央處理器性能測試方法，其特征在于，步驟(e)所述的確定循環(huán)測試結(jié)束為:根據(jù)定義所述所需測試的性能參數(shù)的賦值的數(shù)量來判定循環(huán)測試是否結(jié)束。
4.如權(quán)利要求2所述的中央處理器性能測試方法，其特征在于，步驟(e)所述的輸出性能測試結(jié)果為:結(jié)合對所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行的N次測試而產(chǎn)生的N個測試結(jié)果產(chǎn)生一性能測試報告。
5.如權(quán)利要求1所述的中央處理器性能測試方法，其特征在于，步驟(d)所述的產(chǎn)生并保存性能測試數(shù)據(jù)的步驟具體為: 產(chǎn)生并保存所述性能測試數(shù)據(jù),并對所述性能測試數(shù)據(jù)進(jìn)行打分評估。
6.一種中央處理器性能測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括: 總配置單元，用于根據(jù)測試計劃進(jìn)行中央處理器配置信息的設(shè)置和確定所述配置信息中所需測試的性能參數(shù)，并將所需測試的性能參數(shù)賦值為第一參數(shù)值，以及根據(jù)所述中央處理器配置信息確定所需選用的DDR類型與測試軟件； 運(yùn)行程序選擇單元，用于根據(jù)所述總配置單元選定的測試軟件啟動并運(yùn)行相應(yīng)的測試軟件，以利用所述測試軟件對已經(jīng)賦值為第一參數(shù)值的所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行測試； DDR選型單元，用于根據(jù)所述總配置單元確定所需選用的DDR類型調(diào)用相應(yīng)的DDR，以評估由所述中央處理器配置信息形成的中央處理器參數(shù)化電路； 性能評估數(shù)據(jù)輸出單元，用于記錄所述選定的測試軟件對所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行測試所產(chǎn)生的測試結(jié)果以及所述調(diào)用的DDR對所述處理器參數(shù)化電路的評估結(jié)果； 輸出控制單元，用于在測試結(jié)束后控制所述性能評估數(shù)據(jù)輸出單元輸出性能測試結(jié)果O
7.如權(quán)利要求6所述的中央處理器性能測試系統(tǒng)，其特征在于，所述總配置單元還用于改變所述所需測試的性能參數(shù)的賦值為第N參數(shù)值，保持所述中央處理器配置信息的其他性能參數(shù)不變；所述運(yùn)行程序選擇單元啟動并運(yùn)行的所述測試軟件對所述改變賦值的所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行循環(huán)測試，所述輸出控制單元確定循環(huán)測試結(jié)束后輸出所述性能測試結(jié)果。
8.如權(quán)利要求7所述的中央處理器性能測試系統(tǒng)，其特征在于，所述輸出控制單元確定循環(huán)測試結(jié)束為:根據(jù)定義所述所需測試的性能參數(shù)的賦值的數(shù)量來判定循環(huán)測試是否結(jié)束。
9.如權(quán)利要求7所述的中央處理器性能測試系統(tǒng)，其特征在于，所述輸出控制單元還用于結(jié)合對所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行的N次測試而產(chǎn)生的N個測試結(jié)果產(chǎn)生一性能測試報生口 ο
10.如權(quán)利要求6所述的中央處理器性能測試系統(tǒng)，其特征在于，所述選定的測試軟件對所述性能評估數(shù)據(jù)輸出單元中的測試性能數(shù)據(jù)進(jìn)行打分評估。
【文檔編號】G06F11/36GK104199771SQ201410441952
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2014年9月2日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月2日
【發(fā)明者】廖裕民 申請人:福州瑞芯微電子有限公司