一種最小測試用例集的生成方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種最小測試用例集的生成方法及其裝置，該方法包括：根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互不相交的集合，該若干個(gè)互不相交的集合的并集是T；根據(jù)若干個(gè)互不相交的集合得到最小測試用例集。本發(fā)明可以生成由測試目標(biāo)中所有測試需求所確定的固有最小測試用例集,從根本上解決了測試用例集的簡化問題、提高測試效率。
【專利說明】一種最小測試用例集的生成方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)軟件測試【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種最小測試用例集的生成方 法。

【背景技術(shù)】
[0002] 軟件測試是一個(gè)十分復(fù)雜的過程。測試用例的數(shù)量和質(zhì)量決定軟件測試的成本和 有效性，如何得到高效的測試用例集是測試工作中最為重要的組成部分。
[0003] 對于每個(gè)測試需求一般都要產(chǎn)生相應(yīng)的測試用例，以實(shí)現(xiàn)對這個(gè)測試需求的充 分測試。但這樣產(chǎn)生的測試用例集一般數(shù)量比較大，而且可能有比較大的冗余，即這組測 試用例的某些子集也能滿足所有的測試需求。由于運(yùn)行和維護(hù)這些測試用例以及回歸測試 將耗費(fèi)大量的時(shí)間、人力和物力，軟件測試的成本太大，因此人們一直在研究如何設(shè)計(jì)出 一組有效、數(shù)量少又能充分滿足測試需求的測試用例集，從而在保證和提高軟件測試質(zhì)量 的同時(shí)，降低軟件測試的成本。
[0004] 為了得到最小測試用例集，目前一般的處理方法是：首先根據(jù)測試目標(biāo)中的每個(gè) 測試需求確定出相應(yīng)的測試用例集，然后對這個(gè)測試用例集采用簡化算法進(jìn)行精簡，去掉 一些冗余的測試用例，最后得到一組最小測試用例集?，F(xiàn)有的簡化算法有貪心算法和一些 啟發(fā)式算法。但是，這些算法都只著眼于測試用例集的簡化算法研究，而不考慮最初的測 試用例集的確定，所取得的效果將很有限。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于，本發(fā)明提出一種最小測試用例集的生成方法， 通過充分考慮測試目標(biāo)中的各個(gè)測試需求之間的相互關(guān)系，用以解決測試用例的簡化問 題。
[0006] 為了解決上述問題，本發(fā)明提供一種最小測試用例集的生成方法，該方法包括：
[0007] 根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互不相交的集合， 該若干個(gè)互不相交的集合的并集是T ;
[0008] 根據(jù)所述若干個(gè)互不相交的集合得到最小測試用例集。
[0009] 優(yōu)選地，所述方法還包括：
[0010] 根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互不相交的集合的 步驟包括：
[0011] 當(dāng)所述測試需求為^、r2時(shí)，根據(jù)測試需求&、r2所對應(yīng)的測試用例集T 1、T2，
[0012] 將所述總的測試用例集T劃分成以下集合H、T1 Π T2、T2-T115
[0013] 優(yōu)選地，所述方法還包括：
[0014] 根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互不相交的集合的 步驟包括：
[0015] 當(dāng)所述測試需求為I^r2、…、1^時(shí)，根據(jù)測試需求I^r2、…、r nm對應(yīng)的測試用 例集 ?\、τ2、…、τη，
[0016]當(dāng)Th nTi=0時(shí)，將總的測試用例集τ劃分成以下集合=T1-T1 η τ2、T1 η τ2、 T2-T1 η τ2、.'H1 η TnJlri η τη、Tn-Tlri η τη;
[οοι7]當(dāng)IV1 Π T0 時(shí)，
[0018] 將總的測試用例集T劃分成以下集合：?\、T2、…、Τμ、T n ;
[0019] 0為空集，1彡i彡η，η為測試需求的個(gè)數(shù)。
[0020] 優(yōu)選地，所述方法還包括：
[0021] 當(dāng)TY1IH Ti= 0時(shí)，使用鏈表記錄所述總的測試用例集T所劃分成的集 合：T1-T1 η τ2、T1 n T2、T2-T1 η τ2、…、Tlri-Tlri η τη、Tlri η τη、Tn-Tlri η τη,將上述集合 依次填入所述鏈表開始的各結(jié)點(diǎn)內(nèi)。
[0022] 優(yōu)選地，所述方法還包括：
[0023] 根據(jù)所述若干個(gè)互不相交的集合得到最小測試用例集包括：
[0024] 將所述若干個(gè)互不相交的集合，使用貪心算法或啟發(fā)式算法得到最小測試用例 集。
[0025] 為了解決上述問題，本發(fā)明還提供一種最小測試用例集的生成裝置，該裝置包 括：
[0026] 劃分模塊，用于根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互 不相交的集合，該若干個(gè)互不相交的集合的并集是T ;
[0027] 計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述若干個(gè)互不相交的集合得到最小測試用例集。
[0028] 優(yōu)選地，所述裝置還具有以下特點(diǎn)：
[0029] 所述劃分模塊用于根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè) 互不相交的集合是指：
[0030] 當(dāng)所述測試需求為r2時(shí)，根據(jù)測試需求h、r2所對應(yīng)的測試用例集?\、T 2，
[0031] 將所述總的測試用例集T劃分成以下集合H、T1 Π T2、T2-T115
[0032] 優(yōu)選地，所述裝置還具有以下特點(diǎn)：
[0033] 所述劃分模塊，用于根據(jù)測試需求!的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干 個(gè)互不相交的集合是指：
[0034] 當(dāng)所述測試需求為、…、1^時(shí)，根據(jù)測試需求、…、1^所對應(yīng)的測試用 例集!\、T 2、…、Tn,
[0035] 當(dāng) TY1 η τ尸 0 時(shí)，
[0036] 將總的測試用例集τ劃分成以下集合：I^-T1 η τ2、T1 η τ2、T2-T1 η τ···、 H1 η TnJlri η TnH1 η τη;
[0037] 當(dāng) Ti4 Π Ti# 0 時(shí)，
[0038] 將總的測試用例集T劃分成以下集合：?\、T2、…、I；+ Tn ;
[0039] 0為空集，1彡i彡η，η為測試需求的個(gè)數(shù)。
[0040] 優(yōu)選地，所述裝置還具有以下特點(diǎn)：
[0041] 當(dāng)TY1H T1= 0時(shí)，使用鏈表記錄所述總的測試用例集T所劃分成的集 合：T1-T1 η τ2、T1 η T2、T2-T1 η τ2、…、Tlri-Tlri η τη、Tlri η τη、Tn-Tlri η τη,將上述集合 依次填入所述鏈表開始的各結(jié)點(diǎn)內(nèi)。
[0042] 優(yōu)選地，所述裝置還具有以下特點(diǎn)：
[0043] 所述計(jì)算模塊用于根據(jù)所述若干個(gè)互不相交的集合得到最小測試用例集是指：
[0044] 所述計(jì)算模塊，用于將所述若干個(gè)互不相交的集合通過使用貪心算法或啟發(fā)式算 法得到最小測試用例集。
[0045] 本發(fā)明提出了一種最小測試用例集的生成方法及其裝置，應(yīng)用該方法可以生成由 測試目標(biāo)中所有測試需求所確定的固有最小測試用例集，從根本上解決了測試用例集的 簡化問題、提高測試效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0046] 圖1所示為本發(fā)明實(shí)施例劃分互不相交的集合的流程圖；
[0047] 圖2所示為本發(fā)明實(shí)施例劃分互不相交的集合的結(jié)構(gòu)圖。

【具體實(shí)施方式】
[0048] 以下將結(jié)合附圖及實(shí)施例來詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)施方式，借此對本發(fā)明如何應(yīng)用 技術(shù)手段來解決技術(shù)問題，并達(dá)成技術(shù)效果的實(shí)現(xiàn)過程能充分理解并據(jù)以實(shí)施。需要說明 的是，如果不沖突，本發(fā)明實(shí)施例以及實(shí)施例中的各個(gè)特征的相互均在本發(fā)明的保護(hù)范圍 之內(nèi)。
[0049] 本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種最小測試用例集的生成方法，該方法包括：
[0050] 根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互不相交的集合， 該若干個(gè)互不相交的集合的并集是T ;
[0051] 根據(jù)所述若干個(gè)互不相交的集合得到最小測試用例集。
[0052] 可選地，根據(jù)測試需求!的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互不相交 的集合的步驟包括：
[0053] 當(dāng)所述測試需求為r2時(shí)，根據(jù)測試需求h、r2所對應(yīng)的測試用例集?\、T 2，
[0054] 將所述總的測試用例集T劃分成以下集合H、T1 Π T2、T2-T115
[0055] 可選地，根據(jù)測試需求!的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互不相交 的集合的步驟包括：
[0056] 當(dāng)所述測試需求為、…、1^時(shí)，根據(jù)測試需求、…、1^所對應(yīng)的測試用 例集!\、T 2、…、Tn,
[0057] 當(dāng) T i4 η T i= 0 時(shí)；
[0058] 將總的測試用例集τ劃分成以下集合：I^-T1 η t2、T1 η t2、T2-T1 n T2、…、 H1 η TnJlri η TnH1 η τη。
[0059] 當(dāng) TV1 η T 0 時(shí)，
[0060] 將總的測試用例集T劃分成以下集合：?\、T2、…、Τμ、T n ;
[0061] 0為空集，其中1彡i彡η，η為測試需求的個(gè)數(shù)。
[0062]可選地，當(dāng)τT1= 0時(shí)，使用鏈表記錄所述總的測試用例集T所劃分成的集 合：TfT1 Π T2、T1 Π T2J2-T1 Π T2、Π H1 Π Tn、Tn-Tlri Π Tn,,將上述集合 依次填入所述鏈表開始的各結(jié)點(diǎn)內(nèi)。
[0063] 可選地，將T1-T1 n T2填入鏈表首部的第1個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)，將T1 n T2填入鏈表首部的第 2個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)，將T2-T1 n T2后填入鏈表首部的第3個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)，…，將Tlri-Tlri η Tn填入鏈表首 部的第2η-3個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)，將Tlri-Tlri n Tn填入鏈表首部的第2η-2個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)，將Tlri-Tlri n Tn 填入鏈表首部的第2η-1個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)。
[0064] 可選地，根據(jù)所述若干個(gè)互不相交的集合得到最小測試用例集包括：
[0065] 將所述若干個(gè)互不相交的集合，使用貪心算法或啟發(fā)式算法得到最小測試用例 集。
[0066] 為了實(shí)現(xiàn)上述方法，本發(fā)明還提供了一種最小測試用例集的生成裝置，如圖2所 示，該裝置包括：
[0067] 劃分模塊，用于根據(jù)測試需求!的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互 不相交的集合，該若干個(gè)互不相交的集合的并集是T ;
[0068] 計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述若干個(gè)互不相交的集合得到最小測試用例集。
[0069] 可選地，所述劃分模塊用于根據(jù)測試需求!的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分 成若干個(gè)互不相交的集合是指：
[0070] 當(dāng)所述測試需求為r2時(shí)，根據(jù)測試需求h、r2所對應(yīng)的測試用例集?\、Τ 2，
[0071] 將所述總的測試用例集τ劃分：T「T2、T1 η τ2、T2-V
[0072] 可選地，所述劃分模塊，用于根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分 成若干個(gè)互不相交的集合是指：
[0073] 當(dāng)所述測試需求為、…、1^時(shí)，根據(jù)測試需求、…、1^所對應(yīng)的測試用 例集!\、T 2、…、Tn,
[0074] 當(dāng) T w η T 尸 0 時(shí)；
[0075] 將總的測試用例集τ劃分成以下集合：I^-T1 η τ2、T1 η τ2、T2-T1 η τ···、 H1 η TnJlri η TnH1 η τη。
[ο076]當(dāng) Th HTi^ 0 時(shí)，
[0077] 將總的測試用例集T劃分成以下集合：?\、T2、…、I；+ Tn ;
[0078] 0為空集，其中I < i < η，η為測試需求的個(gè)數(shù)。
[0079] 可選地，當(dāng)Tp1 Π Ti= 0時(shí)，使用鏈表記錄所述總的測試用例集T所劃分成的集 合：T1-T1 η τ2、T1 η τ2、T2-T1 η τ2、…、Tlri-Tlri η τη、Tlri η τη、Tn-Tlri η τη,將上述集合 依次填入所述鏈表開始的各結(jié)點(diǎn)內(nèi)。
[0080] 可選地，將T1-T1 n T2填入鏈表首部的第1個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)，將T1 n T2填入鏈表首部的第 2個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)，將T2-T1 n T2后填入鏈表首部的第3個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)，…，將Tlri-Tlri η Tn填入鏈表首 部的第2η-3個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)，將Tlri-Tlri n Tn填入鏈表首部的第2η-2個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)，將Tlri-Tlri n Tn 填入鏈表首部的第2η-1個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)。
[0081] 可選的，所述計(jì)算模塊用于根據(jù)所述若干個(gè)互不相交的集合得到最小測試用例集 是指：
[0082] 所述計(jì)算模塊，用于將所述若干個(gè)互不相交的集合通過使用貪心算法或啟發(fā)式算 法得到最小測試用例集。
[0083] 根據(jù)上述方法和裝置，可知本發(fā)明可以生成由測試目標(biāo)中所有測試需求所確定的 固有最小測試用例集，從根本上解決了測試用例集的簡化問題、提高測試效率。
[0084] 為了便于更好的理解本發(fā)明的方法，下面具體說明。
[0085] (1)為了得到所有可用測試用例集T的一個(gè)劃分，可用一個(gè)鏈表來記錄劃分的結(jié) 果，每個(gè)子集存放在每個(gè)結(jié)點(diǎn)。首先將滿足測試需求A的測試用例集T 1放在鏈表首部第 一個(gè)結(jié)點(diǎn)內(nèi)。
[0086] (2)考慮滿足測試需求r2的測試用例集T2與T 1的關(guān)系.如果T ! Π T2= 0時(shí)， 將集合T2及其對應(yīng)測試需求的編號(hào)填入鏈表第一個(gè)結(jié)點(diǎn)后的結(jié)點(diǎn)內(nèi).此時(shí)鏈表中有兩個(gè) 結(jié)點(diǎn)，第一個(gè)結(jié)點(diǎn)中存放的是只滿足測試需求^的測試用例集T1，第二個(gè)結(jié)點(diǎn)中存放的是 只滿足測試需求r 2的測試用例集Τ2。
[0087] (3)如果T1H T# 0，此時(shí)首先將鏈表中第一個(gè)結(jié)點(diǎn)中測試用例集Tl去掉 T1 n T2中的元素，然后將T1 n T2填入鏈表的第二個(gè)結(jié)點(diǎn)，并把&和r2的標(biāo)號(hào)填入相應(yīng)的 域，以表明該結(jié)點(diǎn)中的測試用例集可同時(shí)滿足這兩個(gè)測試需求。最后將T2去掉T1 n T2中 的元素，如果非空，把它填入第三個(gè)結(jié)點(diǎn)中。這樣鏈表中就有3個(gè)結(jié)點(diǎn)，第一個(gè)結(jié)點(diǎn)中存 放的是只滿足測試需求ri的測試用例集T 1-T1 n T2，第二個(gè)結(jié)點(diǎn)中存放的是同時(shí)滿足!^和 r2的測試用例集T1 n T2，第三個(gè)結(jié)點(diǎn)存放的是只滿足測試需求r2的測試用例集T2-T 1 η τ2。
[0088] (4)然后再考慮測試需求r3對應(yīng)的測試用例集T3與鏈表中各個(gè)結(jié)點(diǎn)中測試用例 集的關(guān)系。依此類推，直到最后一個(gè)測試需求r n對應(yīng)的測試用例集Tn。
[0089] (5)在整個(gè)測試用例集T劃分出的子集族的基礎(chǔ)上應(yīng)用貪心算法或啟發(fā)式算法等 進(jìn)行簡化，即可得到最小測試用例集。
[0090] 本發(fā)明的有益效果是：現(xiàn)有的最小測試用例集生成方法都是對測試用例進(jìn)行簡 化，然而在測試需求分析階段就發(fā)現(xiàn)測試需求集中往往就已存在冗余，一個(gè)測試需求點(diǎn)通 常對應(yīng)一個(gè)數(shù)量較多的測試用例集，測試需求中的冗余會(huì)導(dǎo)致大量測試用例的冗余?；?于此種情況，本發(fā)明提出以上方法根據(jù)測試目標(biāo)中的測試需求來產(chǎn)生相應(yīng)的最初測試用例 集，在此用例集的基礎(chǔ)上進(jìn)行簡化即可得到最小測試用例集，在實(shí)現(xiàn)對目標(biāo)充分測試的基 礎(chǔ)上，提高測試效率，降低測試成本。
[0091] 雖然本發(fā)明所揭露的實(shí)施方式如上，但所述的內(nèi)容只是為了便于理解本發(fā)明而采 用的實(shí)施方式，并非用以限定本發(fā)明。任何本發(fā)明所屬【技術(shù)領(lǐng)域】內(nèi)的技術(shù)人員，在不脫離本 發(fā)明所揭露的精神和范圍的前提下，可以在實(shí)施的形式上及細(xì)節(jié)上作任何的修改與變化， 但本發(fā)明的專利保護(hù)范圍，仍須以所附的權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1. 一種最小測試用例集的生成方法，其特征在于，包括： 根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互不相交的集合，該若 干個(gè)互不相交的集合的并集是T; 根據(jù)所述若干個(gè)互不相交的集合得到最小測試用例集。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于， 根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互不相交的集合的步驟 包括： 當(dāng)所述測試需求為r2時(shí)，根據(jù)測試需求Γι、r2所對應(yīng)的測試用例集?\、T2, 將所述總的測試用例集T劃分成以下集合=T1-I^T1ΠI^T2-T115
3. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于， 根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互不相交的集合的步驟 包括： 當(dāng)所述測試需求為ri、r2、…、心時(shí)，根據(jù)測試需求!^、!^、…、rn所對應(yīng)的測試用例集Ti、T2、 ...、Tn， 當(dāng)TwΠTi= 0時(shí)，將總的測試用例集τ劃分成以下集合=T1-T1ητ2、T1ητ2、T2-T1ητ2、.'H1ηTnJlriητη、Tn-Tlriητη; 當(dāng)ThATi古0時(shí)， 將總的測試用例集T劃分成以下集合：?\、T2、…、I；+Tn; 0為空集，1彡i彡η，η為測試需求的個(gè)數(shù)。
4. 如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于， 當(dāng)TV1ΠT1= 0時(shí)，使用鏈表記錄所述總的測試用例集T所劃分成的集 合：T1-T1ητ2、T1nT2、T2-T1ητ2、…、Tlri-Tlriητη、Tlriητη、Tn-Tlriητη,將上述集合 依次填入所述鏈表開始的各結(jié)點(diǎn)內(nèi)。
5. 如權(quán)利要求1-4所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述若干個(gè)互不相交的集合得到最 小測試用例集包括： 將所述若干個(gè)互不相交的集合，使用貪心算法或啟發(fā)式算法得到最小測試用例集。
6. -種最小測試用例集的生成裝置，其特征在于，包括： 劃分模塊，用于根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互不相 交的集合，該若干個(gè)互不相交的集合的并集是T; 計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述若干個(gè)互不相交的集合得到最小測試用例集。
7. 如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于， 所述劃分模塊用于根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互不 相交的集合是指： 當(dāng)所述測試需求為r2時(shí)，根據(jù)測試需求Γι、r2所對應(yīng)的測試用例集?\、T2, 將所述總的測試用例集τ劃分成以下集合=T1-TpT1nI^T2-T115
8. 如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于， 所述劃分模塊，用于根據(jù)測試需求r的相互關(guān)系將總的測試用例集T劃分成若干個(gè)互 不相交的集合是指： 當(dāng)所述測試需求為ri、r2、…、心時(shí)，根據(jù)測試需求!^、!^、…、rn所對應(yīng)的測試用例集 Ti、T2、 ...、Tn， 當(dāng)T14HT1=G時(shí)， 將總的測試用例集τ劃分成以下集合=T1-T1ητ2、ι\nT2J2-T1ητ···、!^-!^ητη、TlriηTnH1ητη; 當(dāng)TmHT1^ 0 時(shí)， 將總的測試用例集τ劃分成以下集合：?\、T2、…、I；+τη; 0為空集，1彡i彡η，η為測試需求的個(gè)數(shù)。
9. 如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于， 當(dāng)ThΠTi= 0時(shí)，使用鏈表記錄所述總的測試用例集T所劃分成的集 合：T1-T1ηt2、T1ηt2、T2-T1ητ2、…、Tlri-Tlriητη、Tlriητη、Tn-Tlriητη,將上述集合 依次填入所述鏈表開始的各結(jié)點(diǎn)內(nèi)。
10. 如權(quán)利要求6-9所述的方法，其特征在于，所述計(jì)算模塊用于根據(jù)所述若干個(gè)互不 相交的集合得到最小測試用例集是指： 所述計(jì)算模塊，用于將所述若干個(gè)互不相交的集合通過使用貪心算法或啟發(fā)式算法得 到最小測試用例集。
【文檔編號(hào)】G06F11/36GK104239204SQ201410449147
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2014年9月4日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月20日
【發(fā)明者】楊晉博, 尹艷艷 申請人:浪潮(北京)電子信息產(chǎn)業(yè)有限公司