一種基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法及其系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法及其系統(tǒng)，所述方法包括：S1、將檢測(cè)插件置入到Eclipse平臺(tái)；S2、在所述檢測(cè)插件的模式數(shù)據(jù)庫(kù)中選擇預(yù)設(shè)的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑；S3、根據(jù)所選擇的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑，選擇所述Eclipse平臺(tái)中待測(cè)試java文件和/或待測(cè)試工程并執(zhí)行檢測(cè)；S4、分析處理檢測(cè)結(jié)果。該方法可以在Java開發(fā)環(huán)境下直接進(jìn)行代碼缺陷的檢測(cè)，從而提高了軟件開發(fā)測(cè)試的效率。
【專利說(shuō)明】—種基于Ec I i pse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法及其系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及軟件測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法及其系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]軟件測(cè)試是一種軟件質(zhì)量的保證活動(dòng)，其動(dòng)機(jī)是使用人工操作或者軟件自動(dòng)運(yùn)行的方式來(lái)檢驗(yàn)它是否滿足規(guī)定的需求，或弄清預(yù)期結(jié)果與實(shí)際結(jié)果之間的差別的過(guò)程。軟件測(cè)試通常從兩個(gè)方面進(jìn)行，即動(dòng)態(tài)測(cè)試和靜態(tài)測(cè)試。而在軟件開發(fā)過(guò)程中我們認(rèn)為，Bug發(fā)現(xiàn)的越晚，修正的成本就越高，測(cè)試階段修正Bug的成本是編碼階段的約4倍的關(guān)系。為了減少成本，Bug被發(fā)現(xiàn)的越早越好。在編程階段，靜態(tài)的分析代碼就能找到代碼的Bug，是很多人的夢(mèng)想。
[0003]因此，靜態(tài)測(cè)試技術(shù)正逐漸受到軟件業(yè)界的青睞，已成為美國(guó)的一種主流的軟件測(cè)試技術(shù)。具有代表性的代碼缺陷靜態(tài)測(cè)試工具主要有Stanford大學(xué)的研究項(xiàng)目Metal，Maryland大學(xué)研發(fā)的Java程序靜態(tài)測(cè)試工具FindBugs,開源的Java程序靜態(tài)測(cè)試工具PMD，美國(guó)Klocwork公司研發(fā)的代碼缺陷檢測(cè)工具K8。
[0004]但通過(guò)使用上述測(cè)試工具，我們會(huì)發(fā)現(xiàn)，目前代碼缺陷檢測(cè)工具主要是以客戶端軟件形式存在，用戶在使用過(guò)程中需要提前安裝軟件，再將編寫好的源代碼導(dǎo)入軟件內(nèi)進(jìn)行缺陷檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)代碼缺陷后需要返回到開發(fā)環(huán)境中修改。這種開發(fā)環(huán)境和測(cè)試環(huán)境的分離，給開發(fā)過(guò)程中代碼缺陷的及時(shí)檢測(cè)帶來(lái)了困難。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]基于上述問(wèn)題，本發(fā)明提供一種基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法及其系統(tǒng)，可以在Java開發(fā)環(huán)境下直接進(jìn)行代碼缺陷的檢測(cè)，從而提高了軟件開發(fā)測(cè)試的效率。
[0006]根據(jù)上述目的，本發(fā)明提供一種基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法，所述方法包括:
[0007]S1、將檢測(cè)插件置入到Eclipse平臺(tái)；
[0008]S2、在所述檢測(cè)插件的模式數(shù)據(jù)庫(kù)中選擇預(yù)設(shè)的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑；
[0009]S3、根據(jù)所選擇的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑,選擇所述Eclipse中待測(cè)試java文件和/或待測(cè)試工程并執(zhí)行檢測(cè)；
[0010]S4、分析并處理檢測(cè)結(jié)果。
[0011]其中，所述步驟S3具體包括:
[0012]S31、選擇待測(cè)試工程，獲取所述待測(cè)試工程的路徑信息，并作為參數(shù)傳遞給缺陷檢測(cè)線程，所述缺陷檢測(cè)線程讀取所述待測(cè)試工程的參數(shù)并執(zhí)行檢測(cè)；
[0013]S32，選擇待測(cè)試java文件，獲取所述待測(cè)試java文件的相關(guān)路徑信息，作為參數(shù)傳遞給所述缺陷檢測(cè)線程，所述缺陷檢測(cè)線程讀取所述待測(cè)試java文件的參數(shù)并執(zhí)行檢測(cè)。
[0014]其中，所述待測(cè)試工程的參數(shù)包括:所述待測(cè)試工程的絕對(duì)路徑、結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)存放路徑以及缺陷模式的用戶配置結(jié)果。
[0015]其中，所述待測(cè)試java文件的參數(shù)包括:所述待測(cè)試java文件的絕對(duì)路徑、結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)存放路徑以及缺陷模式的用戶配置結(jié)果。
[0016]其中，所述步驟S4包括:將檢測(cè)結(jié)果分類并分別排序，然后對(duì)每個(gè)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行判斷并保存判斷結(jié)果。
[0017]其中，所述方法還包括:
[0018]步驟S5，將處理后的檢測(cè)結(jié)果導(dǎo)出并生成報(bào)表文件。
[0019]根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供一種基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括:
[0020]插件置入單元，用于將檢測(cè)插件置入到Eclipse平臺(tái)；
[0021]參數(shù)配置單元，用于在所述檢測(cè)插件的模式數(shù)據(jù)庫(kù)中選擇預(yù)設(shè)的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑；
[0022]檢測(cè)單元，用于根據(jù)所選擇的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑，分別選擇Eclipse中的待測(cè)試java文件和/或待測(cè)試工程并執(zhí)行檢測(cè)；
[0023]分析單元，用于對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行分析和處理。
[0024]另外，所述系統(tǒng)還包括:導(dǎo)出單元，用于將處理后的檢測(cè)結(jié)果導(dǎo)出并生成報(bào)表文件。
[0025]本發(fā)明的一種基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法及其系統(tǒng)，采用在Eclipse平臺(tái)安裝、配置和使用插件方法，可以在java開發(fā)生命周期的早期發(fā)現(xiàn)代碼缺陷，并直觀得將詳細(xì)信息的展示在開發(fā)人員面前，提高了軟件開發(fā)測(cè)試的效率。同時(shí)，本發(fā)明的方法操作簡(jiǎn)單，依賴于Eclipse平臺(tái),直接安裝好插件,重新啟動(dòng)Eclipse,即可使用。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0026]通過(guò)參考附圖會(huì)更加清楚的理解本發(fā)明的特征和優(yōu)點(diǎn)，附圖是示意性的而不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明進(jìn)行任何限制，在附圖中:
[0027]圖1示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法的流程圖。
[0028]圖2示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法的步驟SI的流程圖。
[0029]圖3示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法的步驟S2的模式配置過(guò)程的流程圖。
[0030]圖4示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法的步驟S2的路徑配置過(guò)程的流程圖。
[0031]圖5示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法的步驟S4的流程圖。
[0032]圖6示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法的步驟S5的流程圖。
[0033]圖7示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。

【具體實(shí)施方式】
[0034]下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0035]Java語(yǔ)言作為一種可以撰寫跨平臺(tái)應(yīng)用軟件的面向?qū)ο蟮某绦蛟O(shè)計(jì)語(yǔ)言，具有卓悅的通用型、高效性、平臺(tái)移植性和安全性，擁有全球最大的開發(fā)者專業(yè)社群。為幫助開發(fā)，常用的 Java IDE 包括 Eclipse, MyEclipse, JBulid 等,其中最常見的是 Eclipse。
[0036]Eclipse是一個(gè)開放源代碼的、基于Java的可擴(kuò)展開發(fā)平臺(tái)。就其本身而言，它只是一個(gè)框架和一組服務(wù)，用于通過(guò)插件組件構(gòu)建開發(fā)環(huán)境。Eclipse為大中型的應(yīng)用程序提供了完善的組件管理機(jī)制，提供了一個(gè)完整的界面框架。以這個(gè)平臺(tái)為基礎(chǔ)，不需要去開發(fā)一個(gè)界面框架、建立菜單、簡(jiǎn)歷工具欄等重復(fù)性工作，開發(fā)者不需要在軟件的界面上花太多的時(shí)間，只要集中精力開發(fā)插件功能就可以。
[0037]因此，本發(fā)明提出的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法，是將傳統(tǒng)的缺陷檢測(cè)軟件的功能以插件的形式，集成到Eclipse中。保證了開發(fā)人員可以在java開發(fā)過(guò)程中，及時(shí)的對(duì)代碼進(jìn)行缺陷檢測(cè)并在eclipse中直接顯示和定位代碼缺陷所在，并提供詳細(xì)的缺陷描述。幫助開發(fā)人員更好的完善自己的代碼模塊，將開發(fā)環(huán)境和測(cè)試環(huán)境緊密結(jié)合起來(lái)。
[0038]下面結(jié)合附圖，對(duì)本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
[0039]圖1示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法的流程圖。
[0040]參照?qǐng)D1，該方法包括以下步驟:
[0041]S1、將檢測(cè)插件置入到Eclipse平臺(tái)；
[0042]S2、在所述檢測(cè)插件的模式數(shù)據(jù)庫(kù)中選擇預(yù)設(shè)的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑；
[0043]S3、根據(jù)所選擇的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑，分別選擇Eclipse中的待測(cè)試java文件和/或待測(cè)試工程并執(zhí)行檢測(cè)；
[0044]S4、分析并處理檢測(cè)結(jié)果；
[0045]S5，將處理后的檢測(cè)結(jié)果導(dǎo)出并生成報(bào)表文件。
[0046]圖2示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法的步驟SI的流程圖。
[0047]如圖2所示，步驟SI具體為:
[0048]Sll,將jar格式的檢測(cè)插件置于Eclipse的plugins文件夾內(nèi)；
[0049]S12，啟動(dòng)Eclipse，，自動(dòng)加載插件功能；
[0050]S13，Eclipse主界面顯示新增菜單欄、工具欄圖標(biāo)、缺陷視圖。
[0051]圖3示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法的步驟S2的模式配置過(guò)程的流程圖。
[0052]如圖3所示，模式配置具體為:
[0053]S211，點(diǎn)擊菜單欄“缺陷檢測(cè)”的子菜單項(xiàng)“模式配置”；
[0054]S212，系統(tǒng)讀取模式數(shù)據(jù)庫(kù)中的內(nèi)容，以樹形結(jié)構(gòu)顯示在對(duì)話框中，每一項(xiàng)前有勾選框；
[0055]S213，用戶勾選或者取消相應(yīng)的缺陷模式名稱，決定檢測(cè)時(shí)執(zhí)行哪些缺陷模式的檢測(cè)；
[0056]S214，點(diǎn)擊“完成”，將用戶修改后的數(shù)據(jù)寫回到模式數(shù)據(jù)庫(kù)中；或者點(diǎn)擊“取消”，直接關(guān)閉對(duì)話框。
[0057]圖4示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法的步驟S2的路徑配置過(guò)程的流程圖。
[0058]如圖4所示，路徑配置具體為:
[0059]S221，點(diǎn)擊菜單欄“缺陷檢測(cè)”的子菜單項(xiàng)“路徑配置”；
[0060]S222，打開路徑選擇對(duì)話框，文本框內(nèi)顯示目前的存儲(chǔ)路徑，點(diǎn)擊“瀏覽”，彈出路徑選擇對(duì)話框；
[0061]S223，選擇存儲(chǔ)的目標(biāo)路徑，點(diǎn)擊“確定”，新路徑顯示在文本框內(nèi)，執(zhí)行下一步；或者點(diǎn)擊“取消”，路徑不變，直接關(guān)閉對(duì)話框；
[0062]S224，將選擇的路徑寫入在sys.1ni文件內(nèi)。
[0063]本實(shí)施例的步驟S3具體包括:
[0064]S31、選擇待測(cè)試工程，獲取所述待測(cè)試工程的路徑信息，并作為參數(shù)傳遞給缺陷檢測(cè)線程，所述缺陷檢測(cè)線程讀取所述待測(cè)試工程的參數(shù)并執(zhí)行檢測(cè)；
[0065]S32，選擇待測(cè)試java文件，獲取待測(cè)試java文件的相關(guān)路徑信息，作為參數(shù)傳遞給所述缺陷檢測(cè)線程，所述缺陷檢測(cè)線程讀取所述待測(cè)試java文件的參數(shù)并執(zhí)行檢測(cè)。
[0066]步驟S31具體為:
[0067]S311，選中待測(cè)試工程，點(diǎn)擊工具欄中的“工程測(cè)試”圖標(biāo)，或者菜單欄“缺陷檢測(cè)”的子菜單項(xiàng)“工程測(cè)試”；
[0068]S312，獲取選中工程的相關(guān)路徑信息，作為參數(shù)傳遞給檢測(cè)線程；
[0069]S313，開啟缺陷檢測(cè)線程，由線程讀取相關(guān)參數(shù)，執(zhí)行檢測(cè)；
[0070]其中，步驟S31中，待測(cè)試工程的參數(shù)包括:所述待測(cè)試工程的絕對(duì)路徑、結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)存放路徑以及缺陷模式的用戶配置結(jié)果。
[0071]步驟S32的具體過(guò)程為:
[0072]S321，選中待測(cè)試java文件，點(diǎn)擊工具欄中的“文件測(cè)試”圖標(biāo)，或者菜單欄“缺陷檢測(cè)”的子菜單項(xiàng)“文件測(cè)試”；
[0073]S322，獲取選中java文件的相關(guān)路徑信息，作為參數(shù)傳遞給檢測(cè)線程；
[0074]S323，開啟缺陷檢測(cè)線程，由線程讀取相關(guān)參數(shù)，執(zhí)行檢測(cè)；
[0075]其中，待測(cè)試java文件的參數(shù)包括:所述待測(cè)試java文件的絕對(duì)路徑、結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)存放路徑以及缺陷模式的用戶配置結(jié)果。
[0076]缺陷檢測(cè)線程的具體工作過(guò)程包括:
[0077]S301，線程掛起；
[0078]S302,獲取目的地址和模式文檔；
[0079]S303，進(jìn)行預(yù)處理；
[0080]S304，執(zhí)行缺陷檢測(cè)；
[0081]S305，將結(jié)果寫入數(shù)據(jù)庫(kù)；
[0082]S306，判斷是否完成所有檢測(cè)過(guò)程，否則返回步驟S301，是則結(jié)束。
[0083]圖5示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法的步驟S4的流程圖。
[0084]如圖5所示,所述S4具體為:
[0085]S41，點(diǎn)擊“查看”，獲取存儲(chǔ)檢測(cè)結(jié)果的缺陷數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)信息，展示在缺陷結(jié)果視圖區(qū)；
[0086]S42，選擇不同的查詢條件，輸入查詢內(nèi)容，按回車鍵，將顯示符合搜索條件的結(jié)果；也可以選擇按列升序或降序排列；
[0087]S43，雙擊一條缺陷內(nèi)容，編輯器將跳轉(zhuǎn)到j(luò)ava文件內(nèi)該缺陷對(duì)應(yīng)的行，右側(cè)三個(gè)缺陷視圖區(qū)也將顯示與該缺陷相應(yīng)的關(guān)聯(lián)內(nèi)容；
[0088]S44,對(duì)缺陷進(jìn)行判斷:DTS缺陷視圖區(qū)的“判斷”列，從Defect、False Alarm、Uncertainty中選擇一個(gè)判斷結(jié)果，鼠標(biāo)點(diǎn)擊其他位置，則保存結(jié)果。
[0089]其中，步驟S43中，三個(gè)缺陷視圖為:“缺陷描述”視圖、“詳細(xì)描述”視圖、“缺陷代碼”視圖?！叭毕菝枋觥币晥D將描述具體位置的變量或者函數(shù)是何種缺陷；“詳細(xì)描述”視圖區(qū)從缺陷描述文檔中讀取該類型缺陷的詳細(xì)描述；“缺陷代碼”視圖區(qū)，用戶可以寫入相關(guān)的代碼，完成后鼠標(biāo)焦點(diǎn)轉(zhuǎn)移，自動(dòng)將數(shù)據(jù)寫入數(shù)據(jù)庫(kù)中。
[0090]圖6示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法的步驟S5的流程圖。
[0091]如圖6所示,步驟S5具體為:
[0092]S51，點(diǎn)擊菜單欄“缺陷檢測(cè)”的子菜單項(xiàng)“導(dǎo)出報(bào)表”，打開導(dǎo)出報(bào)表對(duì)話框；
[0093]S52，填入報(bào)表頭的相應(yīng)信息，點(diǎn)擊“next”進(jìn)入步驟S53，或者點(diǎn)擊“cancel ”退出；
[0094]S53，勾選要輸出的缺陷類型和判斷類型，點(diǎn)擊“Finish”進(jìn)入步驟S54，或者點(diǎn)擊“cancel ” 退出；
[0095]S54打開導(dǎo)出報(bào)表進(jìn)度條，獲取待導(dǎo)出的缺陷數(shù)據(jù)庫(kù)信息，在用戶選擇的存儲(chǔ)路徑下生成報(bào)表文件，寫入報(bào)表詳細(xì)內(nèi)容。
[0096]其中。步驟S52中，報(bào)表頭的相關(guān)信息包括:報(bào)表名、部門、作者、日期、存儲(chǔ)路徑。
[0097]其中，步驟S54中，報(bào)表的詳細(xì)內(nèi)容包括:缺陷分布餅圖、缺陷數(shù)量統(tǒng)計(jì)表、目錄、詳細(xì)缺陷報(bào)告、缺陷文件。
[0098]圖7示出了本發(fā)明的基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
[0099]參照?qǐng)D7,本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，提供一種基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，包括:
[0100]插件置入單元10，用于將檢測(cè)插件置入到Eclipse平臺(tái)；
[0101]參數(shù)配置單元20，用于在所述檢測(cè)插件的模式數(shù)據(jù)庫(kù)中選擇預(yù)設(shè)的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑；
[0102]檢測(cè)單元30，用于根據(jù)所選擇的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑，分別選擇Eclipse中的待測(cè)試java文件和/或待測(cè)試工程并執(zhí)行檢測(cè)；
[0103]分析單元40，用于對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行分析處理。
[0104]導(dǎo)出單元50，用于將處理后的檢測(cè)結(jié)果導(dǎo)出并生成報(bào)表文件。
[0105]本發(fā)明的一種基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法及其系統(tǒng)，具有以下有益效果:
[0106]1.提供java工程和文件的缺陷檢測(cè)功能；
[0107]作為缺陷檢測(cè)插件的核心功能，提供了工程和文件兩種檢測(cè)方式，可以檢測(cè)出正在開發(fā)的java代碼目前存在的缺陷，將開發(fā)環(huán)境和測(cè)試環(huán)境結(jié)合起來(lái)，幫助開發(fā)人員提高自身的代碼質(zhì)量。
[0108]2.允許用戶按需求設(shè)定不同的缺陷檢測(cè)模式；
[0109]針對(duì)不同的開發(fā)環(huán)境和代碼質(zhì)量需求，用戶可以有針對(duì)性的設(shè)定不同的缺陷檢測(cè)模式，效率更高，靈活性更強(qiáng)。
[0110]3.提供檢測(cè)結(jié)果的定位、查詢和修改功能；
[0111]缺陷數(shù)據(jù)庫(kù)可以按不同的條件進(jìn)行查詢、排序；針對(duì)每一條檢測(cè)結(jié)果，雙擊會(huì)自動(dòng)執(zhí)行缺陷定位，同時(shí)展示缺陷描述、詳細(xì)描述，用戶通過(guò)個(gè)人的專業(yè)判斷后可以進(jìn)行缺陷判斷以及缺陷代碼記錄。
[0112]4.提供將缺陷結(jié)果導(dǎo)出成PDF報(bào)表功能；
[0113]用戶自行設(shè)置導(dǎo)出路徑、文件名以及其他報(bào)表相關(guān)信息。導(dǎo)出的報(bào)表包括目錄、缺陷分布餅圖、缺陷數(shù)量統(tǒng)計(jì)表、詳細(xì)缺陷報(bào)告、缺陷文件。其中餅圖詳細(xì)統(tǒng)計(jì)了各類缺陷數(shù)目，所占比例，以及每個(gè)缺陷的詳細(xì)內(nèi)容；表格記錄了缺陷的所有信息。
[0114]5.允許用戶配置輸出路徑用來(lái)存放缺陷結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)；
[0115]結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)的存放可以按照用戶個(gè)人需求來(lái)選擇目的位置，選擇后將存入sys.1ni文件內(nèi)，保證其有效性。
[0116]另外，本發(fā)明的一種基于Eclipse插件的Java源代碼缺陷檢測(cè)方法及其系統(tǒng)，采用在Eclipse平臺(tái)安裝、配置和使用插件方法，可以在java開發(fā)生命周期的早期發(fā)現(xiàn)代碼缺陷，并直觀得將詳細(xì)信息的展示在開發(fā)人員面前，提高了軟件開發(fā)測(cè)試的效率。同時(shí)，本發(fā)明的方法操作簡(jiǎn)單，依賴于Eclipse平臺(tái)，直接安裝好插件,重新啟動(dòng)Eclipse,即可使用。
[0117]雖然結(jié)合附圖描述了本發(fā)明的實(shí)施方式，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下做出各種修改和變型，這樣的修改和變型均落入由所附權(quán)利要求所限定的范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種基于￡￠111)86插件的拓妨源代碼缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括: 31、將檢測(cè)插件置入到￡(:111)86平臺(tái)； 32、在所述檢測(cè)插件的模式數(shù)據(jù)庫(kù)中選擇預(yù)設(shè)的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑； 33、根據(jù)所選擇的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑，選擇所述￡(:111)86平臺(tái)中待測(cè)試』文件和/或待測(cè)試工程并執(zhí)行檢測(cè)； 34、分析并處理檢測(cè)結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于￡411)86插件的拓妨源代碼缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述步驟33具體包括: 331、選擇待測(cè)試工程，獲取所述待測(cè)試工程的路徑信息，并將其作為參數(shù)傳遞給缺陷檢測(cè)線程，所述缺陷檢測(cè)線程讀取所述待測(cè)試工程的參數(shù)并執(zhí)行檢測(cè)； 332，選擇待測(cè)試扣％文件，獲取所述待測(cè)試扣％文件的相關(guān)路徑信息，并將其作為參數(shù)傳遞給所述缺陷檢測(cè)線程，所述缺陷檢測(cè)線程讀取所述待測(cè)試扣％文件的參數(shù)并執(zhí)行檢測(cè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于￡(:111)86插件的拓妨源代碼缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述待測(cè)試工程的參數(shù)包括:所述待測(cè)試工程的絕對(duì)路徑、結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)存放路徑以及缺陷模式的用戶配置結(jié)果。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于￡(:111)86插件的拓妨源代碼缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述待測(cè)試文件的參數(shù)包括:所述待測(cè)試文件的絕對(duì)路徑、結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)存放路徑以及缺陷模式的用戶配置結(jié)果。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于￡411)86插件的拓妨源代碼缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述步驟34包括:將檢測(cè)結(jié)果分類并分別排序，然后對(duì)每個(gè)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行判斷并保存判斷結(jié)果。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于￡(:111)86插件的拓妨源代碼缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法還包括: 步驟35，將處理后的檢測(cè)結(jié)果導(dǎo)出并生成報(bào)表文件。
7.一種基于￡(:111)86插件的拓妨源代碼缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括: 插件置入單元，用于將檢測(cè)插件置入到平臺(tái)； 參數(shù)配置單元，用于在所述檢測(cè)插件的模式數(shù)據(jù)庫(kù)中選擇預(yù)設(shè)的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑； 檢測(cè)單元，用于根據(jù)所選擇的缺陷模式和存儲(chǔ)路徑，選擇所述匕11？86平臺(tái)中的待測(cè)試扣％文件和待測(cè)試工程并執(zhí)行檢測(cè)； 分析單元，用于對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行分析和處理。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于￡(:111)86插件的拓妨源代碼缺陷檢測(cè)方法及其系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括: 導(dǎo)出單元，用于將處理后的檢測(cè)結(jié)果導(dǎo)出并生成報(bào)表文件。
【文檔編號(hào)】G06F11/36GK104461864SQ201410610811
【公開日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年11月3日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月3日
【發(fā)明者】宮云戰(zhàn), 朱紅, 金大海, 黃俊飛, 王雅文, 張大林 申請(qǐng)人:北京郵電大學(xué)