一種觸控面板及進行觸控檢測的方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及顯示【技術領域】，特別涉及一種觸控面板以及進行觸控檢測的方法，用以解決現有技術中觸控面板中將公共電極復用為觸控電極進行驅動操作時驅動負載過大的問題。該觸控面板包括：襯底基板，多個在襯底基板上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域交疊的公共電極，該公共電極包括具有梳狀結構相互咬合且彼此絕緣的第一公共電極和第二公共電極，其中，第一公共電極和第二公共電極包括多個梳齒，每個梳齒在襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊。通過該技術方案降低了觸控面板中特別是雙柵像素結構的觸控面板將公共電極復用為觸控電極進行驅動操作時的驅動負載。
【專利說明】一種觸控面板及進行觸控檢測的方法

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示【技術領域】，特別涉及一種觸控面板以及進行觸控檢測的方法。

【背景技術】
[0002]近年來隨著顯示技術的飛速發(fā)展，通過在諸如液晶顯示裝置的顯示裝置上安裝觸控面板或將觸控面板與顯示裝置一體化并代替通常的機械式按鈕而將各種按鈕圖像等顯示在顯示裝置上，使得能夠輸入信息的顯示裝置引起了關注。由于觸控面板的顯示裝置不需要諸如鍵盤、鼠標以及小鍵盤的輸入裝置，因此，這種顯示裝置的使用還趨于擴展應用到諸如移動電話等便攜式信息終端。
[0003]現有技術中觸控面板通常情況下，將公共電極復用為觸控電極進行驅動操作，如圖1所示，包括公共電極I和感應電極2，其中，針對現有技術中觸控面板進行觸控檢測的方法為:沿柵線方向對整個公共電極依次進行驅動，在對每個公共電極進行驅動操作的同時，對覆蓋相同像素的感應電極進行檢測。由于現有技術中在每次驅動時都是對整個公共電極進行驅動操作，因此容易導致驅動的負載過大。
[0004]綜上所述，目前針對現有技術中的觸控面板，特別是雙柵結構的觸控面板中將公共電極復用為觸控電極進行驅動操作時的驅動負載過大。


【發(fā)明內容】

[0005]本發(fā)明實施例提供一種觸控面板以及進行觸控檢測的方法，用以解決現有技術中的觸控面板中將公共電極復用為觸控電極進行驅動操作時的驅動負載過大的問題。
[0006]本發(fā)明實施例提供了一種觸控面板，包括:
[0007]襯底基板，包括多個呈陣列排布的亞像素區(qū)域；
[0008]多個在所述襯底基板上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域交疊的公共電極；
[0009]所述公共電極沿第一方向延伸并復用為第一觸控電極，并包括具有梳狀結構的第一公共電極和具有梳狀結構的第二公共電極，且所述第一公共電極和所述第二公共電極相互咬合且彼此絕緣；
[0010]所述第一公共電極包括多個第一梳齒，每個所述第一梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊，以及所述第二公共電極包括多個第二梳齒，每個所述第二梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊。
[0011]由于將公共電極分為具有梳狀結構且相互咬合、彼此絕緣的兩部分，使得每次驅動的公共電極所對應的負載(如電容負載、電阻負載等)降低，從而解決了現有技術中的觸控面板中將公共電極復用為觸控電極進行驅動操作時的驅動負載過大的問題。
[0012]較佳地，沿第二方向延伸的第二觸控電極，其中，所述第二方向與所述第一方向相交。
[0013]較佳地，所述亞像素區(qū)域包括第一亞像素區(qū)域和第二亞像素區(qū)域；
[0014]所述第一梳齒在襯底基板上的正投影與至少一個所述第一亞像素區(qū)域交疊，所述第二梳齒在襯底基板上的正投影與至少一個所述第二亞像素區(qū)域交疊。
[0015]較佳地，所述第一亞像素區(qū)域和所述第二亞像素區(qū)域沿所述第一方向交替排列；
[0016]每一所述第一梳齒在襯底基板上的正投影與一個所述第一亞像素區(qū)域交疊，每一所述第二梳齒在襯底基板上的正投影與一個所述第二亞像素區(qū)域交疊。
[0017]較佳地，所述第一亞像素區(qū)域包括兩個第一亞像素電極，所述第二亞像素區(qū)域包括兩個第二亞像素電極，所述觸控面板還包括:
[0018]多條第一掃描線、第二掃描線和多條數據線；
[0019]所述第一亞像素電極耦接所述第一掃描線，所述第二亞像素電極耦接所述第二掃描線；
[0020]兩個所述第一亞像素電極與兩個所述第二亞像素電極沿所述第一方向交替排列，其中，相鄰的所述第一亞像素電極與所述第二亞像素電極耦接同一數據線。
[0021]較佳地，所述第一亞像素區(qū)域包括一個第一亞像素電極，所述第二亞像素區(qū)域包括一個第二亞像素電極，所述觸控面板還包括:
[0022]多條第一掃描線、第二掃描線和多條數據線；
[0023]所述第一亞像素電極耦接所述第一掃描線，所述第二亞像素電極耦接所述第二掃描線；
[0024]所述第一亞像素電極和所述第二亞像素電極沿所述第一方向交替排列，每條所述數據線耦接相鄰的所述第一亞像素電極與所述第二亞像素電極。。
[0025]較佳地，所述第一亞像素區(qū)域和所述第二亞像素區(qū)域沿所述第二方向交替排列。
[0026]較佳地，所述觸控面板還包括:
[0027]與所述第一公共電極電連接的第一金屬線，以及與所述第二公共電極電連接的第二金屬線。
[0028]由于分別在第一公共電極和第二公共電極設置電連接的金屬線，從而降低了第一公共電極和第二公共電極的電阻，進一步降低了的驅動的負載。
[0029]本發(fā)明實施例提供了一種進行觸控檢測的方法，其中，觸控面板包括:襯底基板，包括多個呈陣列排布的亞像素區(qū)域；多個在所述襯底基板上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域交疊的公共電極；所述公共電極沿第一方向延伸并復用為第一觸控電極，并包括具有梳狀結構的第一公共電極和具有梳狀結構的第二公共電極，且所述第一公共電極和所述第二公共電極相互咬合且彼此絕緣；所述第一公共電極包括多個第一梳齒，每個所述第一梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊，以及所述第二公共電極包括多個第二梳齒，每個所述第二梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊；沿第二方向延伸的第二觸控電極，其中，所述第二方向與所述第一方向相交，該方法包括:
[0030]驅動所述第一公共電極或所述第二公共電極；
[0031]在對所述第一公共電極或所述第二公共電極驅動的同時，對所述第一公共電極或所述第二公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測。
[0032]由于將公共電極分為具有梳狀結構且相互咬合、彼此絕緣的兩部分，使得每次驅動的公共電極所對應的負載(如電容負載、電阻負載等)降低，從而解決了現有技術中的雙柵像素結構的觸控面板中將公共電極復用為觸控電極進行驅動操作時的驅動負載過大的問題。
[0033]較佳地，在對所述第一公共電極或所述第二公共電極驅動的同時，對所述第一公共電極或所述第二公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測，包括:
[0034]在對所述第一公共電極或所述第二公共電極驅動的同時，對部分或全部所述與第一公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極或與第二公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極進行檢測。
[0035]較佳地，驅動所述第一公共電極或所述第二公共電極，包括:
[0036]按照第二方向依次驅動所述第一公共電極和所述第二公共電極中的一個，再驅動所述第一公共電極和所述第二公共電極中的另一個，直至驅動完所有的所述第一公共電極和所述第二公共電極。
[0037]較佳地，驅動所述第一公共電極或所述第二公共電極，包括:
[0038]按照所述第二方向依次驅動所述第一公共電極，在所有的所述第一公共電極驅動完后，按照所述第二方向依次驅動所述第二公共電極，直至驅動完所有的所述第二公共電極。
[0039]較佳地，驅動所述第一公共電極，以及在對所述第一公共電極驅動的同時，對所述第一公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測，包括:
[0040]按照所述第二方向依次驅動所述第一公共電極，同時對部分或全部所述與第一公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的所述第二觸控電極進行檢測；
[0041]在所有的所述第一公共電極驅動完后，通過檢測所述第二觸控電極獲得初步坐標。
[0042]較佳地，驅動所述第二公共電極，以及在對所述第二公共電極驅動的同時，對所述第二公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測，包括:
[0043]若通過檢測所述第二觸控電極獲得所述初步坐標，則按照所述第二方向依次驅動所述第二公共電極，獲得準確坐標；或
[0044]若通過檢測所述第二觸控電極獲得所述初步坐標，則根據獲得的所述初步坐標確定驅動范圍，并在所述驅動范圍內按照所述第二方向依次驅動所述第二公共電極，獲得準確坐標。
[0045]由于通過驅動第一公共電極的基礎上通過對所述第二觸控電極進行檢測，獲得初步坐標，在初步坐標的范圍內驅動第二公共電極，從而減小了驅動的范圍，提高了對第二觸控電極檢測的準確性。
[0046]較佳地，按照所述第二方向依次驅動所述第一公共電極，同時對所述第一公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測，在所有的所述第一公共電極驅動完后，該方法還包括:
[0047]若通過檢測所述第二觸控電極沒有獲得所述初步坐標，則返回按照所述第二方向依次驅動所述第一公共電極的步驟。
[0048]本發(fā)明實施例提供了一種進行觸控檢測的方法，其中，觸控面板包括:襯底基板，包括多個呈陣列排布的亞像素區(qū)域；多個在所述襯底基板上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域交疊的公共電極；所述公共電極沿第一方向延伸并復用為第一觸控電極，并包括具有梳狀結構的第一公共電極和具有梳狀結構的第二公共電極，且所述第一公共電極和所述第二公共電極相互咬合且彼此絕緣；所述第一公共電極包括多個第一梳齒，每個所述第一梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊，以及所述第二公共電極包括多個第二梳齒，每個所述第二梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊；
[0049]該方法包括:
[0050]驅動部分或全部所述第一公共電極，并在驅動部分或全部所述第一公共電極結束后，檢測所述驅動的部分或全部所述第一公共電極；以及
[0051]驅動部分或全部所述第二公共電極，并在驅動部分或全部所述第二公共電極結束后，檢測所述驅動的部分或全部所述第二公共電極。
[0052]由于將公共電極分為具有梳狀結構且相互咬合、彼此絕緣的兩部分，使得每次驅動的公共電極所對應的負載(如電容負載、電阻負載等)降低，解決了現有技術中的雙柵像素結構的觸控面板中將公共電極復用為觸控電極進行驅動操作時的驅動負載過大的問題。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0053]圖1為現有技術中的觸控面板示意圖；
[0054]圖2(a)為本發(fā)明實施例提供的一種觸控面板示意圖；
[0055]圖2(b)為本發(fā)明實施例提供的一種觸控面板公共電極示意圖；
[0056]圖3為本發(fā)明提供的另一種觸控面板示意圖；
[0057]圖4(a)為本發(fā)明實施例提供的另一種觸控面板的公共電極示意圖；
[0058]圖4(b)為本發(fā)明實施例提供的再一種觸控面板的公共電極示意圖；
[0059]圖4(c)為本發(fā)明實施例提供的再一種觸控面板的公共電極示意圖；
[0060]圖4(d)為本發(fā)明實施例提供的再一種觸控面板的公共電極示意圖；
[0061]圖4(e)為本發(fā)明實施例提供的再一種觸控面板的公共電極示意圖；
[0062]圖5為本發(fā)明實施例提供的再一種觸控面板的示意圖；
[0063]圖6為本發(fā)明實施例提供的再一種觸控面板的示意圖；
[0064]圖7為本發(fā)明實施例提供的再一種觸控面板的公共電極示意圖；
[0065]圖8(a)為本發(fā)明實施例提供一種觸控面板的公共電極金屬線的設置方式示意圖；
[0066]圖8(b)為本發(fā)明實施例提供的另一種觸控面板的公共電極金屬線的設置方式示意圖；
[0067]圖9為本發(fā)明實施例提供的一種觸控檢測的方法流程示意圖；
[0068]圖10為本發(fā)明實施例提供的一種觸控面板示意圖；
[0069]圖11為本發(fā)明實施例提供的另一種觸控檢測的方法流程示意圖；
[0070]圖12為為本發(fā)明實施例提供的另一種控面板的公共電極示意圖。

【具體實施方式】
[0071]本發(fā)明實施例提供的一種觸控面板，包括:襯底基板，包括多個呈陣列排布的亞像素區(qū)域；多個在襯底基板上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域交疊的公共電極；其中，該公共電極沿第一方向延伸并復用為第一觸控電極，并包括具有梳狀結構的第一公共電極和具有梳狀結構的第二公共電極，且第一公共電極和第二公共電極相互咬合且彼此絕緣；第一公共電極包括多個第一梳齒，每個第一梳齒在襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊，以及第二公共電極包括多個第二梳齒，每個第二梳齒在襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊。這種技術方案由于將公共電極分為具有梳狀結構且相互咬合、彼此絕緣的兩部分，使得每次驅動的公共電極所對應的負載(如電容負載、電阻負載等)降低，從而解決了現有技術中的觸控面板在觸控檢測中對整個公共電極進行驅動操作而導致的驅動負載過大的問題。
[0072]下面結合說明書附圖對本發(fā)明實施例作進一步詳細描述。
[0073]如圖2(a)所示，本發(fā)明提供的一種觸控面板，包括:
[0074]襯底基板200，包括多個呈陣列排布的亞像素區(qū)域201 ；
[0075]多個在襯底基板200上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域201交疊的公共電極202 ；
[0076]公共電極202沿第一方向延伸并復用為第一觸控電極,并包括具有梳狀結構的第一公共電極203和具有梳狀結構的第二公共電極204，且第一公共電極203和第二公共電極204相互咬合且彼此絕緣；
[0077]第一公共電極203包括多個第一梳齒205,每個第一梳齒205在襯底基板200上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域201交疊，以及第二公共電極204包括多個第二梳齒206，每個第二梳齒206在襯底基板200上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域201交疊。
[0078]在圖2(a)的示意圖中，亞像素區(qū)域201中僅包括一個亞像素，但亞像素區(qū)域不僅限于包括一個亞像素，也可以包括兩個或多個亞像素。由于公共電極202位于襯底基板200的上層，也就是亞像素區(qū)域201的上層，也就是說亞像素被公共電極遮擋了，因此在圖2(a)中將亞像素的外框用虛線進行示意，其他圖中與此相同。
[0079]其中，當第一方向為襯底基板中數據線的方向時，第二方向為襯底基板中柵線的方向；當第一方向為襯底基板中柵線的方向時，第二方向為襯底基板中的數據線的方向。
[0080]圖2(b)為一個公共電極202的示意圖，包括第一公共電極203和第二公共電極204。
[0081]如圖3所示，本發(fā)明具體實施例中的觸控面板具體可以包括襯底基板200和/或彩膜基板300，以及位于襯底基板200和彩膜基板300之間的液晶層301，在具體設計時，可以將公共電極復用做Vcom信號的傳輸電極和TP信號的驅動或感應電極，其公共電極的具體位置根據觸控面板的不同顯示模式而改變，例如，當觸控面板的顯示模式為TN模式時，公共電極在此種模式下位于彩膜基板300朝向襯底基板200的一側302上；當觸控面板的顯示模式為IPS或FFS模式時，公共電極在此種模式下位于襯底基板200朝向彩膜基板300的一側303上。
[0082]較佳地，還包括:
[0083]沿第二方向延伸的第二觸控電極，其中，所述第二方向與所述第一方向相交。
[0084]在第一觸控電極和第二觸控電極間形成互電容。
[0085]較佳地，所述亞像素區(qū)域201包括第一亞像素區(qū)域和第二亞像素區(qū)域；
[0086]所述第一梳齒在襯底基板上的正投影與至少一個所述第一亞像素區(qū)域交疊，所述第二梳齒在襯底基板上的正投影與至少一個所述第二亞像素區(qū)域交疊。
[0087]如圖4 (a) ,4(b) ,4(c) ,4(d)所示，當亞像素R、G、B沿第一方向依次排列時，亞像素區(qū)域包括一個亞像素時，第一梳齒和第二梳齒在襯底基板上的正投影與亞像素區(qū)域相交疊的不同情況，當亞像素區(qū)域包括兩個或多個亞像素時的情況一亞像素區(qū)域包括一個亞像素時的情況類似，在此不再贅述。
[0088]如圖4(a)所示，第一公共電極201和第二公共電極202的每個梳齒在襯底基板上的正投影第二方向上分別與兩個的亞像素區(qū)域相交疊的情況。此時第一亞像素區(qū)域為與第一公共電極201的每個梳齒在襯底基板上的正投影在第二方向上交疊的一個亞像素區(qū)域，第二亞像素區(qū)域為與第二公共電極202的每個梳齒在襯底基板上的正投影在第二方向上交疊的一個亞像素區(qū)域。
[0089]如圖4(b)所示，第一公共電極201和第二公共電極202的每個梳齒在襯底基板上的正投影在第一方向上分別與兩個亞像素區(qū)域相交疊的情況，此時與第一公共電極201的每個梳齒在襯底基板上的正投影相交疊的一個亞像素區(qū)域為第一亞像素區(qū)域，與第二公共電極202的每個梳齒在襯底基板上的正投影相交疊的一個亞像素區(qū)域為第二亞像素區(qū)域。
[0090]第一公共電極201和第二公共電極202的梳齒在襯底基板上的正投影在第一方向和第二方向分別與相同個數的亞像素區(qū)域相交疊，如圖4(c)所示，在第一方向和第二方向分別與兩個亞像素區(qū)域相交疊的情況，也可以與兩個以上的亞像素區(qū)域相交疊。
[0091]其中，上述情況為梳齒在襯底基板上的正投影與亞像素區(qū)域相交疊規(guī)則的情況，第一公共電極201和第二公共電極202的梳齒在襯底基板上的正投影也可以為不規(guī)則的與亞像素區(qū)域相交疊，如圖4(d)所示，只要滿足第一公共電極201和第二公共電極202的梳齒在襯底基板上的正投影至少與一個亞像素區(qū)域相交疊即可。
[0092]當亞像素為R、G、B、W時，其排列方式如圖4(e)所示，以亞像素區(qū)域包括一個亞像素為例進行相關說明，第一公共電極201和第二公共電極202的梳齒在襯底基板上的正投影與亞像素區(qū)域相交疊的情況與亞像素為R、G、B時第一公共電極201和第二公共電極202的梳齒在襯底基板上的正投影與亞像素區(qū)域相交疊的情況類似，圖4(e)為亞像素為R、G、B、W時，第一公共電極201和第二公共電極202的梳齒在襯底基板上的正投影不規(guī)則的覆蓋亞像素區(qū)域的情況的一種。
[0093]較佳地，所述第一亞像素區(qū)域和所述第二亞像素區(qū)域沿所述第一方向交替排列；
[0094]每一所述第一梳齒在襯底基板上的正投影與一個所述第一亞像素區(qū)域交疊，每一所述第二梳齒在襯底基板上的正投影與一個所述第二亞像素區(qū)域交疊。
[0095]較佳地，所述第一亞像素區(qū)域包括兩個第一亞像素電極，所述第二亞像素區(qū)域包括兩個第二亞像素電極，所述觸控面板還包括:
[0096]多條第一掃描線、第二掃描線和多條數據線；
[0097]所述第一亞像素電極耦接所述第一掃描線，所述第二亞像素電極耦接所述第二掃描線；
[0098]兩個所述第一亞像素電極與兩個所述第二亞像素電極沿所述第一方向交替排列，其中，相鄰的所述第一亞像素電極與所述第二亞像素電極耦接同一數據線。
[0099]如圖5所示，數據線500耦接相鄰的第一亞像素電極503和第二亞像素電極504，第一掃描線501稱接第一亞像素電極503,第二掃描線502稱接第二亞像素電極504,其中第一亞像素區(qū)域包括兩個第一亞像素電極503，第二亞像素區(qū)域包括兩個第二亞像素電極504。
[0100]較佳地，所述第一亞像素區(qū)域包括一個第一亞像素電極，所述第二亞像素區(qū)域包括一個第二亞像素電極，所述觸控面板還包括:
[0101]多條第一掃描線、第二掃描線和多條數據線；
[0102]所述第一亞像素電極耦接所述第一掃描線，所述第二亞像素電極耦接所述第二掃描線；
[0103]所述第一亞像素電極和所述第二亞像素電極沿所述第一方向交替排列，每條所述數據線耦接相鄰的所述第一亞像素電極與所述第二亞像素電極。
[0104]耦接為通過開關器件(如薄膜晶體管)進行電連接，即開關器件的柵極與掃描線電連接，開關器件的第一極與數據線電連接，開關器件的第二極與像素電極電連接。這樣，當柵極線控制開關器件開啟時，數據線可以將信號輸入像素電極。
[0105]如圖6所示，第一亞像素電極503和第二亞像素電極504沿第一方向交替排列，數據線500稱接相鄰的第一亞像素電極503和第二亞像素電極504,第一掃描線501稱接第一亞像素電極503，第二掃描線502耦接第二亞像素電極504，其中第一亞像素區(qū)域包括一個第一亞像素電極503，第二亞像素區(qū)域包括一個第二亞像素電極504。
[0106]較佳地，所述第一亞像素區(qū)域和所述第二亞像素區(qū)域沿所述第二方向交替排列。
[0107]如圖7所示，每個亞像素區(qū)域僅包括一個亞像素的情況，第一方向和第二方向上的亞像素區(qū)域交替排列，第一公共電極和第二公共電極的梳齒在襯底基板上的正投影分別與一個亞像素區(qū)域相交疊。
[0108]其中，第一亞像素的電壓極性與第二亞像素的電壓極性不同，例如當第一亞像素的電壓極性為正時，第二亞像素的電壓極性為負；當第一亞像素的電壓極性為負時，第二亞像素的電壓極性為正。因此，當第一亞像素和第二亞像素在第一方向和第二方向交替排列時，即可實現對相鄰像素的正負極性改變，從而實現點反轉，降低了功耗。
[0109]由于將公共電極分為具有梳狀結構且相互咬合、彼此絕緣的兩部分，使得在驅動時能夠先驅動公共電極的一部分，再驅動另一部分，從而降低了驅動的負載，解決了現有技術中的雙柵像素結構的觸控面板中將公共電極復用為觸控電極進行驅動操作時的驅動負載過大的問題。
[0110]較佳地，所述觸控面板還包括:
[0111]與所述第一公共電極電連接的第一金屬線，以及與所述第二公共電極電連接的第二金屬線。
[0112]連接方式如圖8(a)和圖8(b)所示，但不限于圖8(a)和圖8(b)所示的情況，能夠使得第一公共電極和第二公共電極電連接一根金屬線即可，不限于連接的形式。
[0113]由于分別在第一公共電極和第二公共電極設置電連接的金屬線，從而降低了第一公共電極和第二公共電極的電阻，進一步降低了的驅動的負載。
[0114]如圖9所示，本發(fā)明實施例提供一種觸控檢測的方法，觸控面板包括:襯底基板，包括多個呈陣列排布的亞像素區(qū)域；多個在所述襯底基板上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域交疊的公共電極；所述公共電極沿第一方向延伸并復用為第一觸控電極，并包括具有梳狀結構的第一公共電極和具有梳狀結構的第二公共電極，且所述第一公共電極和所述第二公共電極相互咬合且彼此絕緣；所述第一公共電極包括多個第一梳齒，每個所述第一梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊，以及所述第二公共電極包括多個第二梳齒，每個所述第二梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊；沿第二方向延伸的第二觸控電極，其中，所述第二方向與所述第一方向相交；
[0115]該方法包括:
[0116]步驟900，驅動所述第一公共電極或所述第二公共電極；
[0117]步驟901，在對所述第一公共電極或所述第二公共電極驅動的同時，對所述第一公共電極或所述第二公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測。
[0118]需要說明的是，第一公共電極對應的第二觸控電極為與第一公共電極在襯底基板正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極，第一公共電極與對應的第二觸控電極形成電容，第二公共電極對應的第二觸控電極為與第二公共電極在襯底基板正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極，第二公共電極與對應的第二觸控電極形成互電容。
[0119]對于驅動第一公共電極或第二公共電極的方式包括兩類:
[0120]第一類方式為:
[0121]按照第二方向依次驅動所述第一公共電極和所述第二公共電極中的一個，再驅動所述第一公共電極和所述第二公共電極中的另一個，直至驅動完所有的所述第一公共電極和所述第二公共電極。
[0122]如圖10所示，該觸控面板有3個公共電極，其中，a、b分別為公共電極的第一公共電極和第二公共電極。當驅動方式為第一類方式時，包括兩種驅動方式:
[0123]一、按第二方向可以交替驅動第一公共電極和第二公共電極，如依次驅動a、b、a、b、a、b 或 b 、a、b、a、b、a，
[0124]二、也可以不交替驅動，如按第二方向先驅動第一公共電極，再驅動第二公共電極，然后驅動下一個公共電極中的第二公共電極，再驅動第一公共電極，無規(guī)律的進行驅動，直至驅動完所有的第一公共電極和第二公共電極，如a、b、b、a、a、b或其它形式。
[0125]第二類方式為:
[0126]按照所述第二方向依次驅動所述第一公共電極，在所有的所述第一公共電極驅動完后，按照所述第二方向依次驅動所述第二公共電極，直至驅動完所有的所述第二公共電極。
[0127]以圖10為例進行說明，驅動方式為第二類時，按驅動順序的不同將驅動方式分為兩種:
[0128]一、驅動的順序為 a、a、a、b、b、b ;
[0129]二、驅動的順序為 b、b、b、a、a、a。
[0130]當驅動方式為第一類時，其檢測方式有兩種:
[0131]一、對部分所述與第一公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極或與第二公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極進行檢測。
[0132]以圖10為例進行相關說明，^ ,3 ; ,5 ;、?丨為a的梳齒對應的感應電極，2 ^、4 ; >6 ;為b的梳齒對應的感應電極。當驅動a時，只對感應電極^ ,3 ; ,5 ;、? '進行檢測，驅動b時，對2'、4'、6'進行檢測。
[0133]二、對全部所述與第一公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極或與第二公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極進行檢測。
[0134]以圖10為例，當驅動a時，對P、2丨,3 ; ,4 ; ,5 ; ,6 ;、? '進行檢測，當驅動b時，對I '、2丨,3 ; ,4 ; ,5 ; ,6 ; ,7 ;進行檢測。
[0135]當驅動方式為第二類時，其檢測方式有五種:
[0136]一、在對所述第一公共電極或所述第二公共電極驅動的同時，對全部所述與第一公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極或與第二公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極進行檢測。
[0137]以圖10為例進彳丁相關說明，驅動的順序為a、a、a、b、b、b時，分別對I '、2丨、3 ; ,4 ; ,5 ; ,6 ;、? '進行檢測。
[0138]二、在對所述第一公共電極或所述第二公共電極驅動的同時，對部分所述與第一公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極或與第二公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極進行檢測。
[0139]以圖10為例，驅動的順序為a、a、a、b、b、b時，驅動a時對P ,3 ; ,5 ;、7 ,進行檢測，驅動b時，對2'、4'、6'進行檢測。
[0140]三、按照第二方向依次驅動第一公共電極，同時對第一公共電極對應的全部或部分第二觸控電極進行檢測，在所有的第一公共電極驅動完后，通過檢測第二觸控電極獲得初步坐標作為準確坐標。
[0141]以圖10為例，驅動的順序為a、a、a、b、b、b時，驅動a時對P ,3 ; ,5 ;、7 ,進行檢測，獲得初步坐標作為準確坐標，不再對2 '、4'、6'進行檢測。
[0142]四、若通過檢測第二觸控電極獲得初步坐標，則按照第二方向依次驅動第二公共電極，獲得準確坐標。
[0143]以圖10為例，驅動的順序為a、a、a、b、b、b時，驅動a時對P ,3 ; ,5 ;、7 ,進行檢測，獲得初步坐標后，驅動b，再對2 '、4'、6'進行檢測，獲得準確坐標。
[0144]五、若通過檢測第二觸控電極獲得初步坐標，則根據獲得的初步坐標確定驅動范圍，并在驅動范圍內按照第二方向依次驅動第二公共電極，獲得準確坐標。
[0145]以圖10為例，驅動順序先a后b，驅動a時對I' ,3 7 ,5 7、? '進行檢測，獲得初步坐標后，確定驅動b的范圍，若只有后兩個b落入確定的范圍內，則只需驅動后兩個，對2' Λ '、6'進行檢測，獲得精準坐標。
[0146]較佳地，按照所述第二方向依次驅動所述第一公共電極，同時對所述第一公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測，在所有的所述第一公共電極驅動完后，該方法還包括:
[0147]若通過檢測所述第二觸控電極沒有獲得所述初步坐標，則返回按照所述第二方向依次驅動所述第一公共電極的步驟。
[0148]也就是說，按照第二方向依次驅動第一公共電極時，對對應的部分或全部感應電極進行檢測，沒有獲得初步坐標，也就是說沒有觸摸的操作，則繼續(xù)按第二方向依次驅動第一公共電極。
[0149]以圖10為例，按照先a后b的驅動順序，驅動a時對P ,3 7 ,5 7、? '進行檢測，未獲得初步坐標，則無需對b進行檢測，再對a依次進行驅動。
[0150]當驅動順序為b、b、b、a、a、a時，其過程與上述過程類似，在此不再贅述。
[0151]如圖11所示，本發(fā)明實施例提供另一種觸控檢測的方法，觸控面板包括:襯底基板，包括多個呈陣列排布的亞像素區(qū)域；多個在所述襯底基板上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域交疊的公共電極；所述公共電極沿第一方向延伸并復用為第一觸控電極，并包括具有梳狀結構的第一公共電極和具有梳狀結構的第二公共電極，且所述第一公共電極和所述第二公共電極相互咬合且彼此絕緣；所述第一公共電極包括多個第一梳齒，每個所述第一梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊，以及所述第二公共電極包括多個第二梳齒，每個所述第二梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊；
[0152]該方法包括:
[0153]步驟110，驅動部分或全部所述第一公共電極，并在驅動部分或全部所述第一公共電極結束后，檢測所述驅動的部分或全部所述第一公共電極；以及
[0154]步驟111，驅動部分或全部所述第二公共電極，并在驅動部分或全部所述第二公共電極結束后，檢測所述驅動的部分或全部所述第二公共電極。
[0155]需要說明的是，步驟110和步驟111沒有必然的先后順序。也就是說可以先驅動部分第一公共電極，在驅動該部分第一公共電極結束對該部分第一公共電極進行檢測，然后驅動部分第二公共電極，驅動該部分第二公共電極結束對該部分第二公共電極進行檢測；或先驅動全部第二公共電極，在驅動該全部第二公共電極結束對全部第二公共電極進行檢測，然后驅動全部第一公共電極，驅動該全部第一公共電極結束對全部第一公共電極進行檢測；或同時驅動全部第一公共電極和第二公共電極，在驅動結束后，進行相應的檢測，不限于上述的驅動檢測形式，只要滿足在驅動結束后對該驅動的公共電極進行相應的檢測即可。
[0156]其中，還可以先獲得初步坐標，以先驅動第一公共電極為例進行說明，先驅動部分或全部第一公共電極，在驅動結束對驅動的第一公共電極進行檢測，若驅動的是全部第一公共電極則得到初步坐標，若驅動的部分第一公共電極，則在驅動完所有第一公共電極，并進行相應的檢測后得到初步坐標。
[0157]然后根據得到的初步坐標確定驅動第二公共電極的范圍進行相應的驅動。
[0158]如圖12所示，其第一公共電極203和第二公共電極204為梯形的示意圖，在具體實施例中，第一公共電極203和第二公共電極204還可以為三角形、鋸齒等其他形式，只要滿足在第二方向上的寬度沿第一方向上有變化，能實現自電容即可。
[0159]顯然，本領域的技術人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權利要求及其等同技術的范圍之內，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內。
【權利要求】
1.一種觸控面板,包括: 襯底基板，包括多個呈陣列排布的亞像素區(qū)域； 多個在所述襯底基板上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域交疊的公共電極； 所述公共電極沿第一方向延伸并復用為第一觸控電極，并包括具有梳狀結構的第一公共電極和具有梳狀結構的第二公共電極，且所述第一公共電極和所述第二公共電極相互咬合且彼此絕緣； 所述第一公共電極包括多個第一梳齒，每個所述第一梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊，以及所述第二公共電極包括多個第二梳齒，每個所述第二梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊。
2.如權利要求1所述的觸控面板，其特征在于，還包括: 沿第二方向延伸的第二觸控電極，其中，所述第二方向與所述第一方向相交。
3.如權利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述亞像素區(qū)域包括第一亞像素區(qū)域和第二亞像素區(qū)域； 所述第一梳齒在襯底基板上的正投影與至少一個所述第一亞像素區(qū)域交疊，所述第二梳齒在襯底基板上的正投影與至少一個所述第二亞像素區(qū)域交疊。
4.如權利要求3所述的觸控面板，其特征在于，所述第一亞像素區(qū)域和所述第二亞像素區(qū)域沿所述第一方向交替排列； 每一所述第一梳齒在襯底基板上的正投影與一個所述第一亞像素區(qū)域交疊，每一所述第二梳齒在襯底基板上的正投影與一個所述第二亞像素區(qū)域交疊。
5.如權利要求4所述的觸控面板，其特征在于，所述第一亞像素區(qū)域包括兩個第一亞像素電極，所述第二亞像素區(qū)域包括兩個第二亞像素電極，所述觸控面板還包括: 多條第一掃描線、第二掃描線和多條數據線； 所述第一亞像素電極耦接所述第一掃描線，所述第二亞像素電極耦接所述第二掃描線.兩個所述第一亞像素電極與兩個所述第二亞像素電極沿所述第一方向交替排列，其中，相鄰的所述第一亞像素電極與所述第二亞像素電極耦接同一數據線。
6.如權利要求4所述的觸控面板，其特征在于，所述第一亞像素區(qū)域包括一個第一亞像素電極，所述第二亞像素區(qū)域包括一個第二亞像素電極，所述觸控面板還包括: 多條第一掃描線、第二掃描線和多條數據線； 所述第一亞像素電極耦接所述第一掃描線，所述第二亞像素電極耦接所述第二掃描線.所述第一亞像素電極和所述第二亞像素電極沿所述第一方向交替排列，每條所述數據線耦接相鄰的所述第一亞像素電極與所述第二亞像素電極。
7.如權利要求4所述的觸控面板，其特征在于，所述第一亞像素區(qū)域和所述第二亞像素區(qū)域沿所述第二方向交替排列。
8.如權利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述觸控面板還包括: 與所述第一公共電極電連接的第一金屬線，以及與所述第二公共電極電連接的第二金屬線。
9.一種進行觸控檢測的方法，其特征在于，觸控面板包括:襯底基板，包括多個呈陣列排布的亞像素區(qū)域；多個在所述襯底基板上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域交疊的公共電極；所述公共電極沿第一方向延伸并復用為第一觸控電極，并包括具有梳狀結構的第一公共電極和具有梳狀結構的第二公共電極，且所述第一公共電極和所述第二公共電極相互咬合且彼此絕緣；所述第一公共電極包括多個第一梳齒，每個所述第一梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊，以及所述第二公共電極包括多個第二梳齒，每個所述第二梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊；沿第二方向延伸的第二觸控電極，其中，所述第二方向與所述第一方向相交； 該方法包括: 驅動所述第一公共電極或所述第二公共電極； 在對所述第一公共電極或所述第二公共電極驅動的同時，對所述第一公共電極或所述第二公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測。
10.如權利要求9所述的方法，其特征在于，在對所述第一公共電極或所述第二公共電極驅動的同時，對所述第一公共電極或所述第二公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測，包括: 在對所述第一公共電極或所述第二公共電極驅動的同時，對部分或全部所述與第一公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極或與第二公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的第二觸控電極進行檢測。
11.如權利要求9所述的方法，其特征在于，驅動所述第一公共電極或所述第二公共電極，包括: 按照第二方向依次驅動所述第一公共電極和所述第二公共電極中的一個，再驅動所述第一公共電極和所述第二公共電極中的另一個，直至驅動完所有的所述第一公共電極和所述第二公共電極。
12.如權利要求9所述的方法，其特征在于，驅動所述第一公共電極或所述第二公共電極，包括: 按照所述第二方向依次驅動所述第一公共電極，在所有的所述第一公共電極驅動完后，按照所述第二方向依次驅動所述第二公共電極，直至驅動完所有的所述第二公共電極。
13.如權利要求9所述的方法，其特征在于，驅動所述第一公共電極，以及在對所述第一公共電極驅動的同時，對所述第一公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測，包括: 按照所述第二方向依次驅動所述第一公共電極，同時對部分或全部所述與第一公共電極在襯底基板同正投影在同一亞像素區(qū)域的所述第二觸控電極進行檢測； 在所有的所述第一公共電極驅動完后，通過檢測所述第二觸控電極獲得初步坐標。
14.如權利要求13所述的方法，其特征在于，驅動所述第二公共電極，以及在對所述第二公共電極驅動的同時，對所述第二公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測，包括: 若通過檢測所述第二觸控電極獲得所述初步坐標，則按照所述第二方向依次驅動所述第二公共電極，獲得準確坐標；或 若通過檢測所述第二觸控電極獲得所述初步坐標，則根據獲得的所述初步坐標確定驅動范圍，并在所述驅動范圍內按照所述第二方向依次驅動所述第二公共電極，獲得準確坐標。
15.如權利要求13所述的方法，其特征在于，按照所述第二方向依次驅動所述第一公共電極，同時對所述第一公共電極對應的全部或部分所述第二觸控電極進行檢測，在所有的所述第一公共電極驅動完后，該方法還包括: 若通過檢測所述第二觸控電極沒有獲得所述初步坐標，則返回按照所述第二方向依次驅動所述第一公共電極的步驟。
16.一種進行觸控檢測的方法，其特征在于，觸控面板包括:襯底基板，包括多個呈陣列排布的亞像素區(qū)域；多個在所述襯底基板上的正投影與至少一行亞像素區(qū)域交疊的公共電極；所述公共電極沿第一方向延伸并復用為第一觸控電極，并包括具有梳狀結構的第一公共電極和具有梳狀結構的第二公共電極，且所述第一公共電極和所述第二公共電極相互咬合且彼此絕緣；所述第一公共電極包括多個第一梳齒，每個所述第一梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊，以及所述第二公共電極包括多個第二梳齒，每個所述第二梳齒在所述襯底基板上的正投影與至少一個亞像素區(qū)域交疊； 該方法包括: 驅動部分或全部所述第一公共電極，并在驅動部分或全部所述第一公共電極結束后，檢測所述驅動的部分或全部所述第一公共電極；以及 驅動部分或全部所述第二公共電極，并在驅動部分或全部所述第二公共電極結束后，檢測所述驅動的部分或全部所述第二公共電極。
【文檔編號】G06F3/041GK104360774SQ201410690038
【公開日】2015年2月18日 申請日期:2014年11月25日 優(yōu)先權日:2014年11月25日
【發(fā)明者】王麗花, 盧峰, 翟應騰, 周星耀, 許盈盈, 李曉曄, 劉剛, 張獻祥 申請人:上海天馬微電子有限公司, 天馬微電子股份有限公司