一種磁盤io性能的測試方法和裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種磁盤IO性能的測試方法和裝置，該方法包括以下步驟：獲取測試參數(shù)，根據(jù)所述測試參數(shù)生成對應(yīng)的IO請求，并對磁盤執(zhí)行所述IO請求，獲取執(zhí)行所述IO請求時的系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)；對所述系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)進行分析，得到磁盤IO性能的測試結(jié)果。本發(fā)明通過給予磁盤讀寫壓力，對磁盤IO進行測試，并通過追蹤監(jiān)控和分析系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)，得到磁盤IO性能的測試結(jié)果，能夠更為全面、具體、直觀地了解磁盤的IO特性，以使磁盤的IO性能得到最大的利用。
【專利說明】-種磁盤10性能的測試方法和裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明設(shè)及計算機【技術(shù)領(lǐng)域】，具體設(shè)及一種磁盤10性能的測試方法和裝置。

【背景技術(shù)】
[0002] 在計算機系統(tǒng)中，磁盤是距離CPU最遠的子系統(tǒng)，CPU對磁盤的訪問設(shè)及到機械操 作，比如，轉(zhuǎn)軸和尋軌等。因此，磁盤通常是計算機系統(tǒng)中最慢的子系統(tǒng)，也是最容易出現(xiàn)性 能瓶頸的子系統(tǒng)，磁盤10性能是用戶廣泛關(guān)注的重要參數(shù)。
[0003] 現(xiàn)有的磁盤10性能測試中，通常集中給予磁盤讀寫壓力，得到測試結(jié)果數(shù)據(jù)。然 而，由于上述測試結(jié)果數(shù)據(jù)不夠具體，導(dǎo)致現(xiàn)有的磁盤10性能測試流于表面，無法全面反 映磁盤10性能。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本發(fā)明提供了一種磁盤10性能的測試方法和裝置，W解決現(xiàn)有的測試方法無法 全面反映磁盤10性能的缺陷。
[0005] 本發(fā)明提供了一種磁盤10性能的測試方法，包括W下步驟：
[0006] 獲取測試參數(shù)，根據(jù)所述測試參數(shù)生成對應(yīng)的10請求，并對磁盤執(zhí)行所述10請 求，獲取執(zhí)行所述10請求時的系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)；
[0007] 對所述系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)進行分析，得到磁盤10性能的測試結(jié)果。
[0008] 可選地，所述對磁盤執(zhí)行所述10請求，具體為：
[0009] 申請10請求隊列，將所述10請求放到所述10請求隊列中，提交所述10請求，并 收割完成的10請求。
[0010] 可選地，所述測試參數(shù)包括測試線程數(shù)、隊列深度和文件大小中的一項或多項。
[0011] 可選地，所述系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)包括系統(tǒng)資源數(shù)據(jù)和系統(tǒng)10數(shù)據(jù)，所述系統(tǒng)資源數(shù)據(jù) 包括CPU占用率、內(nèi)存占用率和磁盤占用率，所述系統(tǒng)10數(shù)據(jù)包括正在進行讀寫的進程名 稱、進程號和執(zhí)行時間，W及讀寫的物理塊號和塊大小。
[0012] 可選地，所述對所述系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)進行分析，得到磁盤10性能的測試結(jié)果，具體 為：
[0013] 通過分析所述系統(tǒng)資源數(shù)據(jù)和所述系統(tǒng)10數(shù)據(jù)及其對應(yīng)的測試參數(shù)，得到磁盤 性能分別與測試線程數(shù)、隊列深度和文件大小之間的對應(yīng)關(guān)系，并根據(jù)所述對應(yīng)關(guān)系得到 磁盤10性能的測試結(jié)果，所述磁盤10性能的測試結(jié)果包括磁盤10性能最佳時的測試線程 數(shù)、隊列深度和文件大小。
[0014] 本發(fā)明還提供了一種磁盤10性能的測試裝置，包括：
[0015] 生成模塊，用于獲取測試參數(shù)，根據(jù)所述測試參數(shù)生成對應(yīng)的10請求；
[0016] 執(zhí)行模塊，用于對磁盤執(zhí)行所述10請求；
[0017] 獲取模塊，用于獲取執(zhí)行所述10請求時的系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)；
[0018] 分析模塊，用于對所述系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)進行分析，得到磁盤10性能的測試結(jié)果。
[0019] 可選地，所述執(zhí)行模塊，具體用于申請10請求隊列，將所述10請求放到所述10請 求隊列中，提交所述10請求，并收割完成的10請求。
[0020] 可選地，所述測試參數(shù)包括測試線程數(shù)、隊列深度和文件大小中的一項或多項。
[0021] 可選地，所述系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)包括系統(tǒng)資源數(shù)據(jù)和系統(tǒng)10數(shù)據(jù)，所述系統(tǒng)資源數(shù)據(jù) 包括CPU占用率、內(nèi)存占用率和磁盤占用率，所述系統(tǒng)10數(shù)據(jù)包括正在進行讀寫的進程名 稱、進程號和執(zhí)行時間，W及讀寫的物理塊號和塊大小。
[0022] 可選地，所述分析模塊，具體用于通過分析所述系統(tǒng)資源數(shù)據(jù)和所述系統(tǒng)10數(shù)據(jù) 及其對應(yīng)的測試參數(shù)，得到磁盤性能分別與測試線程數(shù)、隊列深度和文件大小之間的對應(yīng) 關(guān)系，并根據(jù)所述對應(yīng)關(guān)系得到磁盤10性能的測試結(jié)果，所述磁盤10性能的測試結(jié)果包括 磁盤10性能最佳時的測試線程數(shù)、隊列深度和文件大小。
[0023] 本發(fā)明通過給予磁盤讀寫壓力，對磁盤10進行測試，并通過追蹤監(jiān)控和分析系統(tǒng) 性能數(shù)據(jù)，得到磁盤10性能的測試結(jié)果，能夠更為全面、具體、直觀地了解磁盤的10特性， W使磁盤的10性能得到最大的利用。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0024] 圖1為本發(fā)明實施例中的一種磁盤10性能的測試方法流程圖；
[0025] 圖2為本發(fā)明實施例中的blktrace監(jiān)控軟件的監(jiān)控結(jié)果示意圖；
[0026] 圖3為本發(fā)明實施例中的blktrace監(jiān)控軟件的參數(shù)含義示意圖；
[0027] 圖4為本發(fā)明實施例中的一種磁盤10性能的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實施方式】
[002引下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完 整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；?本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他 實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0029] 需要說明的是，如果不沖突，本發(fā)明實施例W及實施例中的各個特征可W相互結(jié) 合，均在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。另外，雖然在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況 下，可不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。
[0030] 本發(fā)明實施例提供了一種磁盤10性能的測試方法，如圖1所示，包括W下步驟：
[0031] 步驟101，獲取測試參數(shù)，根據(jù)測試參數(shù)生成對應(yīng)的10請求，并對磁盤執(zhí)行10請 求。
[0032] 具體地，獲取測試參數(shù)后，申請10請求隊列，將根據(jù)測試參數(shù)生成的10請求放到 10請求隊列中，提交10請求，并收割完成的10請求。其中，測試參數(shù)包括測試線程數(shù)、隊列 深度和文件大小中的一項或多項。
[0033] 本實施例中，通過運行fio測試軟件及其測試指令，生成并對磁盤執(zhí)行10請 求。通過調(diào)整測試指令中的測試參數(shù)，可生成并對磁盤執(zhí)行10請求。例如，操作系統(tǒng)為 re化ate. 5,被測磁盤為adaptec 6805RAID卡，將被測磁盤設(shè)置為RAID0,并將被測磁盤 除讀寫緩存外的其他功能關(guān)閉，fio測試軟件中的測試指令為；fio-filename = /dev/ sdb-direct = 1-rw = randrw-bs = 8k-size IG-numjobs = 8-runtime = 30-group_ reporting-name = file。
[0034] 其中，測試參數(shù)及其對應(yīng)的含義如下所示：
[0035]

【權(quán)利要求】
1. 一種磁盤10性能的測試方法，其特征在于，包括以下步驟： 獲取測試參數(shù)，根據(jù)所述測試參數(shù)生成對應(yīng)的10請求，并對磁盤執(zhí)行所述10請求，獲 取執(zhí)行所述10請求時的系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)； 對所述系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)進行分析，得到磁盤10性能的測試結(jié)果。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對磁盤執(zhí)行所述10請求，具體為： 申請10請求隊列，將所述10請求放到所述10請求隊列中，提交所述10請求，并收割 完成的10請求。
3. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測試參數(shù)包括測試線程數(shù)、隊列深度和 文件大小中的一項或多項。
4. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)包括系統(tǒng)資源數(shù)據(jù)和系 統(tǒng)10數(shù)據(jù)，所述系統(tǒng)資源數(shù)據(jù)包括CPU占用率、內(nèi)存占用率和磁盤占用率，所述系統(tǒng)10數(shù) 據(jù)包括正在進行讀寫的進程名稱、進程號和執(zhí)行時間，以及讀寫的物理塊號和塊大小。
5. 如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述對所述系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)進行分析，得到磁 盤10性能的測試結(jié)果，具體為： 通過分析所述系統(tǒng)資源數(shù)據(jù)和所述系統(tǒng)10數(shù)據(jù)及其對應(yīng)的測試參數(shù)，得到磁盤性能 分別與測試線程數(shù)、隊列深度和文件大小之間的對應(yīng)關(guān)系，并根據(jù)所述對應(yīng)關(guān)系得到磁盤 10性能的測試結(jié)果，所述磁盤10性能的測試結(jié)果包括磁盤10性能最佳時的測試線程數(shù)、隊 列深度和文件大小。
6. -種磁盤10性能的測試裝置，其特征在于，包括： 生成模塊，用于獲取測試參數(shù)，根據(jù)所述測試參數(shù)生成對應(yīng)的10請求； 執(zhí)行模塊，用于對磁盤執(zhí)行所述10請求； 獲取模塊，用于獲取執(zhí)行所述10請求時的系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)； 分析模塊，用于對所述系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)進行分析，得到磁盤10性能的測試結(jié)果。
7. 如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于， 所述執(zhí)行模塊，具體用于申請10請求隊列，將所述10請求放到所述10請求隊列中，提 交所述10請求，并收割完成的10請求。
8. 如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述測試參數(shù)包括測試線程數(shù)、隊列深度和 文件大小中的一項或多項。
9. 如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)包括系統(tǒng)資源數(shù)據(jù)和系 統(tǒng)10數(shù)據(jù)，所述系統(tǒng)資源數(shù)據(jù)包括CPU占用率、內(nèi)存占用率和磁盤占用率，所述系統(tǒng)10數(shù) 據(jù)包括正在進行讀寫的進程名稱、進程號和執(zhí)行時間，以及讀寫的物理塊號和塊大小。
10. 如權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于， 所述分析模塊，具體用于通過分析所述系統(tǒng)資源數(shù)據(jù)和所述系統(tǒng)10數(shù)據(jù)及其對應(yīng)的 測試參數(shù)，得到磁盤性能分別與測試線程數(shù)、隊列深度和文件大小之間的對應(yīng)關(guān)系，并根據(jù) 所述對應(yīng)關(guān)系得到磁盤10性能的測試結(jié)果，所述磁盤10性能的測試結(jié)果包括磁盤10性能 最佳時的測試線程數(shù)、隊列深度和文件大小。
【文檔編號】G06F11/36GK104503909SQ201410800189
【公開日】2015年4月8日 申請日期:2014年12月18日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月18日
【發(fā)明者】翟院華 申請人:浪潮(北京)電子信息產(chǎn)業(yè)有限公司