pct國內申請，說明書已公開。

技術特征：

技術總結
一種電容觸摸模組(200)的調校裝置(100)及調校方法。首先，控制觸摸裝置(110)觸摸所述電容觸摸模組(200)的預定測試點(80)以獲得所述電容觸摸模組(200)的處理芯片(220)的輸出數值(S1)。然后，比較所述輸出數值與標準數值以得到差異值(S2)。最后，根據所述差異值調整所述電容觸摸模組(200)的預定測試點(80)的判定觸發(fā)閾值或所述傳感器(210)的靈敏度(S3)。上述調校方法調校快速、準確，且易實現自動化調校。

技術研發(fā)人員：朱劍磊
受保護的技術使用者：深圳市柔宇科技有限公司
技術研發(fā)日：2015.12.31
技術公布日：2017.09.26