本發(fā)明涉及磁盤領(lǐng)域，具體而言，涉及一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法和裝置。
背景技術(shù)：
目前，硬盤是存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的主要介質(zhì)，硬盤一旦出故障，便會(huì)造成巨大的數(shù)據(jù)損失。因此如何保證硬盤的穩(wěn)定性能非常重要。在通常狀態(tài)下，硬盤在24小時(shí)中出錯(cuò)的概率在是萬分之一左右，當(dāng)一臺(tái)服務(wù)器具有十塊硬盤時(shí)，服務(wù)器硬盤出錯(cuò)的概率就會(huì)上升到千分之一，而隨著當(dāng)前網(wǎng)站等業(yè)務(wù)的發(fā)展，服務(wù)器需要使用的硬盤會(huì)越來越多，多塊硬盤同時(shí)出錯(cuò)的概率也會(huì)提升。
通常情況下，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)通常會(huì)有多個(gè)備份，如mysql主備庫，gfs文件默認(rèn)3個(gè)備份。在大量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)平臺(tái)上，如果多個(gè)硬盤同時(shí)出故障，那么這些硬盤上存儲(chǔ)著同一個(gè)文件的備份的概率就會(huì)很高，即如果多塊硬盤同時(shí)出現(xiàn)故障，就會(huì)導(dǎo)致一些文件的丟失，對(duì)于一些線上的服務(wù)，大都依賴于服務(wù)器中存儲(chǔ)的海量數(shù)據(jù)，如果硬盤出故障，就會(huì)導(dǎo)致上述在線服務(wù)異常，甚至?xí)和Ｊ褂谩?/p>
由于上述原因，需要具有預(yù)測(cè)硬盤是否會(huì)出錯(cuò)的系統(tǒng)需要有一套系統(tǒng)能提前告訴我們哪些硬盤會(huì)出錯(cuò)，數(shù)據(jù)可能丟失導(dǎo)致硬盤故障的原因有很多，最常見的有以下幾種：外部振動(dòng)、溫度和濕度、電器元件損壞、聲音和灰塵，在上述因素中，有些因素能夠被采集到，比如溫度和濕度、一些元器件數(shù)據(jù)，但是更多的數(shù)據(jù)無法被采集和量化，因此便會(huì)導(dǎo)致預(yù)測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確。
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測(cè)系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集胡或量化導(dǎo)致的預(yù)測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的問題，目前尚未提出有效的解決方案。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法和裝置，以至少解決現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測(cè)系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集或量化導(dǎo)致的預(yù)測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的技術(shù)問題。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法，包括：通過磁 盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；采用bucketing技術(shù)對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類；采用owlqn模型對(duì)分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到磁盤預(yù)測(cè)模型；在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，還提供了一種磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置，包括：獲取模塊，用于通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；分類模塊，用于采用bucketing技術(shù)對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類；訓(xùn)練模塊，用于采用owlqn模型對(duì)分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到磁盤預(yù)測(cè)模型；確定模塊，用于在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。
在本發(fā)明實(shí)施例中，采用通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；采用bucketing技術(shù)對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類；采用owlqn模型對(duì)分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到磁盤預(yù)測(cè)模型的方式，通過在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，達(dá)到了確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤的目的，從而實(shí)現(xiàn)了預(yù)測(cè)磁盤故障的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測(cè)系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集或量化導(dǎo)致的預(yù)測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的技術(shù)問題。
附圖說明
此處所說明的附圖用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中：
圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法的計(jì)算機(jī)終端的硬件結(jié)構(gòu)框圖；
圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例一的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法的流程圖；
圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法的流程圖；
圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖5是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖6是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖7是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖8是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；以及
圖9是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種計(jì)算機(jī)終端的結(jié)構(gòu)框圖。
具體實(shí)施方式
為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分的實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
需要說明的是，本發(fā)明的說明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對(duì)象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換，以便這里描述的本發(fā)明的實(shí)施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤４送?，術(shù)語“包括”和“具有”以及他們的任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含，例如，包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備不必限于清楚地列出的那些步驟或單元，而是可包括沒有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。
實(shí)施例1
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，提供了一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法實(shí)施例，需要說明的是，在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中執(zhí)行，并且，雖然在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。
本申請(qǐng)實(shí)施例一所提供的方法實(shí)施例可以在移動(dòng)終端、計(jì)算機(jī)終端或者類似的運(yùn)算裝置中執(zhí)行。以運(yùn)行在計(jì)算機(jī)終端上為例，圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法的計(jì)算機(jī)終端的硬件結(jié)構(gòu)框圖。如圖1所示，計(jì)算機(jī)終端10可以包括一個(gè)或多個(gè)(圖中僅示出一個(gè))處理器102(處理器102可以包括但不限于微處理器mcu或可編程邏輯器件fpga等的處理裝置)、用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器104、以及用于通信功能的傳輸模塊106。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解，圖1所示的結(jié)構(gòu)僅為示意，其并不對(duì)上述電子裝置的結(jié)構(gòu)造成限定。例如，計(jì)算機(jī)終端10還可包括比圖1中所示更多或者更少的組件，或者具有與圖1所示不同的配置。
存儲(chǔ)器104可用于存儲(chǔ)應(yīng)用軟件的軟件程序以及模塊，如本發(fā)明實(shí)施例中的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法對(duì)應(yīng)的程序指令/模塊，處理器102通過運(yùn)行存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器104內(nèi)的軟件程序以及模塊，從而執(zhí)行各種功能應(yīng)用以及數(shù)據(jù)處理，即實(shí)現(xiàn)上述的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法。存儲(chǔ)器104可包括高速隨機(jī)存儲(chǔ)器，還可包括非易失性存儲(chǔ)器，如一個(gè)或者多個(gè)磁性存儲(chǔ)裝置、閃存、或者其他非易失性固態(tài)存儲(chǔ)器。在一些實(shí)例中，存儲(chǔ)器104可進(jìn)一步包括相對(duì)于處理器102遠(yuǎn)程設(shè)置的存儲(chǔ)器，這些遠(yuǎn)程存儲(chǔ)器可以通過網(wǎng)絡(luò)連接至計(jì)算機(jī)終端10。上述網(wǎng)絡(luò)的實(shí)例包括但不限于互聯(lián)網(wǎng)、企業(yè)內(nèi)部網(wǎng)、局域網(wǎng)、移動(dòng)通信網(wǎng)及其組合。
傳輸裝置106用于經(jīng)由一個(gè)網(wǎng)絡(luò)接收或者發(fā)送數(shù)據(jù)。上述的網(wǎng)絡(luò)具體實(shí)例可包括計(jì)算機(jī)終端10的通信供應(yīng)商提供的無線網(wǎng)絡(luò)。在一個(gè)實(shí)例中，傳輸裝置106包括一個(gè)網(wǎng)絡(luò)適配器(networkinterfacecontroller，nic)，其可通過基站與其他網(wǎng)絡(luò)設(shè)備相連從而可與互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行通訊。在一個(gè)實(shí)例中，傳輸裝置106可以為射頻(radiofrequency，rf)模塊，其用于通過無線方式與互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行通訊。
在上述運(yùn)行環(huán)境下，本申請(qǐng)?zhí)峁┝巳鐖D2所示的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法。圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例一的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法的流程圖。
步驟s21，通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)。
在上述步驟中，磁盤監(jiān)控技術(shù)用于監(jiān)視并記錄磁盤狀態(tài)，
在一種可選的實(shí)施例中，樣本磁盤數(shù)據(jù)可以是樣本磁盤的數(shù)據(jù)吞吐性能、馬達(dá)啟動(dòng)時(shí)間、尋道錯(cuò)誤率等。
此處需要說明的是，在使用現(xiàn)有技術(shù)(例如s.m.a.r.t，自我監(jiān)測(cè)、分析及報(bào)告技術(shù))對(duì)磁盤進(jìn)行監(jiān)測(cè)時(shí)，能夠得到多維度的體現(xiàn)磁盤狀態(tài)的數(shù)據(jù)，以及根據(jù)監(jiān)測(cè)得到的數(shù)據(jù)對(duì)磁盤是否故障，或是否會(huì)在未來的較短時(shí)間內(nèi)發(fā)生故障做出分析，這樣的分析在磁盤監(jiān)測(cè)技術(shù)監(jiān)測(cè)的數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上進(jìn)行的，然而磁盤的狀態(tài)還能通過其他數(shù)據(jù)量體現(xiàn)，這些數(shù)據(jù)量可能是不能被檢測(cè)或不能被量化的數(shù)據(jù)量，因此本申請(qǐng)建立了磁盤預(yù)測(cè)模型，使用磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)磁盤的故障狀態(tài)進(jìn)行分析，其中，磁盤預(yù)測(cè)模型由owlqn模型對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練得到。上述實(shí)施例的方案通過對(duì)磁盤樣本數(shù)據(jù)的樣本訓(xùn)練建立了預(yù)測(cè)故障的模型，使得向磁盤監(jiān)控系統(tǒng)輸入待測(cè)磁盤樣本數(shù)據(jù)后，能夠根據(jù)預(yù)測(cè)故障的模型，對(duì)待測(cè)磁盤進(jìn)行故障狀態(tài)分析，避免了在分析磁盤故障時(shí)，采用對(duì)單一或固定的多個(gè)樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，導(dǎo)致的不可統(tǒng)計(jì)或不可量化的磁盤數(shù)據(jù)對(duì)磁盤故障預(yù)測(cè)結(jié)果的影響。
步驟s23，采用bucketing技術(shù)對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類。
在上述步驟中，在對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理時(shí)能夠采用多種分箱方法達(dá)到平滑數(shù)據(jù)的目的，其中，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱的方法包括按照箱內(nèi)數(shù)據(jù)的平均值平滑數(shù)據(jù)、按照箱內(nèi)數(shù)據(jù)的中間值平滑數(shù)據(jù)以及按照箱內(nèi)數(shù)據(jù)的邊界值平滑數(shù)據(jù)。
在一種可選的實(shí)施例中，可以先將樣本磁盤數(shù)據(jù)集合中的多個(gè)樣本數(shù)據(jù)分至多個(gè)分箱中，在此示例中，將樣本磁盤數(shù)據(jù)分至5個(gè)分箱中，將樣本磁盤數(shù)據(jù)分至不同的分箱中時(shí)可將樣本磁盤數(shù)據(jù)按照升序排列，然后計(jì)算每個(gè)分箱中的數(shù)據(jù)量，在將樣本磁盤數(shù)據(jù)按照每個(gè)分箱中應(yīng)該有的數(shù)據(jù)量分至5個(gè)分箱，然后對(duì)每個(gè)分箱中的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，在此實(shí)施例中采用按照箱內(nèi)數(shù)據(jù)的平均值平滑數(shù)據(jù)的方法進(jìn)行處理，即計(jì)算得到每個(gè)分箱中數(shù)據(jù)的平均值，然后該分箱內(nèi)所有數(shù)據(jù)均變?yōu)樵撈骄怠?/p>
此處需要說明當(dāng)時(shí)，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理用于將每個(gè)分箱中的數(shù)據(jù)進(jìn)行平滑處理，由于每個(gè)分箱中的數(shù)據(jù)都較為相近，因此分箱處理在達(dá)到穩(wěn)定平滑數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上，并不會(huì)影響下一步驟中對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練的結(jié)果。
此處還需要說明的是，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理的方法包括上述實(shí)施例中的任意一種分箱方法，且不限于此，任何能夠達(dá)到平滑或穩(wěn)定數(shù)據(jù)目的方法都可用于對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)的分箱處理。
步驟s25，采用owlqn模型對(duì)分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到磁盤預(yù)測(cè)模型。
在上述步驟中，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練可以為將處理后的樣本磁盤數(shù)據(jù)輸入至owlqn模型，其中，上述樣本磁盤數(shù)據(jù)為預(yù)先知曉真實(shí)值的樣本，樣本的真實(shí)值可以是1或者0，用于表示樣本為正樣本或負(fù)樣本，正樣本用于表示該樣本為故障磁盤，負(fù)樣本表示該樣本為正常磁盤。
在一種可選的實(shí)施例中，每個(gè)輸入的樣本磁盤數(shù)據(jù)都能夠從owlqn模型中得到相應(yīng)的輸出值，在得到樣本磁盤數(shù)據(jù)集合中每個(gè)樣本相應(yīng)的輸出值之后，獲取所有正樣本的輸出值，構(gòu)成正樣本輸出值區(qū)間，同樣獲取所有負(fù)樣本的輸出值，構(gòu)成負(fù)樣本的輸出區(qū)間，由此得到磁盤預(yù)測(cè)模型。
步驟s27，在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。
需要進(jìn)一步說明的是，在使用owlqn模型對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練時(shí)，使用 的是對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類后的樣本數(shù)據(jù)，并且對(duì)分類后的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行了分箱處理，使得分類后的每個(gè)類別中的樣本數(shù)據(jù)離散化，從而能夠?qū)颖敬疟P的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練。
在一種可選的實(shí)施例中，上述樣本磁盤數(shù)據(jù)可以包括：底層數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤率、啟動(dòng)/停止計(jì)數(shù)、重映射扇區(qū)數(shù)、通電時(shí)間累計(jì)、主軸起旋重試次數(shù)、磁盤校準(zhǔn)重試次數(shù)、磁盤通電次數(shù)、溫度以及寫錯(cuò)誤率，可以根據(jù)磁盤歷史故障情況獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)。例如，可以按照正負(fù)樣本比例為1:5的比例進(jìn)行樣本獲取，其中，正樣本為存在故障的磁盤，負(fù)樣本為不存在故障的磁盤。
此處需要說明的是，在通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)時(shí)，由于預(yù)測(cè)磁盤故障的各個(gè)機(jī)構(gòu)使用的磁盤并不一定相同，且由于各個(gè)機(jī)構(gòu)不同溫濕度等環(huán)境因素對(duì)磁盤的影響，使得不同機(jī)構(gòu)的磁盤的好壞比例并不相同，為了使樣本磁盤數(shù)據(jù)的訓(xùn)練提供更可靠的樣本磁盤數(shù)據(jù)，還可以根據(jù)機(jī)構(gòu)的實(shí)際上磁盤損壞情況進(jìn)行獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)。
由此，解決了現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測(cè)系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集或量化導(dǎo)致的預(yù)測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的技術(shù)問題
根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，樣本磁盤數(shù)據(jù)為smart磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)至少包括如下四個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)：原始值、標(biāo)準(zhǔn)值、最差值和累積值。
上述原始值為磁盤運(yùn)行時(shí)的當(dāng)前參數(shù)；上述標(biāo)準(zhǔn)值為正常磁盤運(yùn)行時(shí)各項(xiàng)參數(shù)的數(shù)值；上述最差值為磁盤運(yùn)行時(shí)，磁盤的各項(xiàng)檢測(cè)參數(shù)曾出現(xiàn)過與正常值偏差最大的非正常值；上述累計(jì)值為磁盤的各項(xiàng)檢測(cè)參數(shù)從磁盤使用至當(dāng)前時(shí)刻的累計(jì)結(jié)果。
在一種可選的實(shí)施例中，磁盤的各項(xiàng)參數(shù)可以是對(duì)磁盤的各項(xiàng)屬性進(jìn)行描述的信息，可以包括錯(cuò)誤讀取率、加電次數(shù)、重新分配扇區(qū)數(shù)、旋轉(zhuǎn)重試次數(shù)、磁盤校準(zhǔn)重試次數(shù)以及奇偶校驗(yàn)錯(cuò)誤率中的一項(xiàng)或多項(xiàng)，也可以包括磁盤的其他屬性信息。
在一種可選的實(shí)施例中，可以采用hdtune、crystaldiskinfo等軟件獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)。
根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，步驟s21在通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)之后，上述方法還包括：
步驟s211，對(duì)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行如下任意一種或多種運(yùn)算：差分運(yùn)算、平方運(yùn)算和分布求和運(yùn)算，使得任意一個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴(kuò)展出新的維度上的樣 本數(shù)據(jù)。
在一種可選的實(shí)施例中，對(duì)樣本數(shù)據(jù)中的原始值進(jìn)行差分運(yùn)算、平方運(yùn)算和分布求和運(yùn)算，從而能得到原始值的差分值、原始值的平房值以及原始值的分布求和值，因此在知曉樣本磁盤數(shù)據(jù)的原始值的基礎(chǔ)上，得到另外四個(gè)維度的樣本磁盤數(shù)據(jù)；同樣可以將樣本數(shù)據(jù)中的標(biāo)準(zhǔn)值、最差值以及累積值分別作上述運(yùn)算，到的更多維度的樣本磁盤數(shù)據(jù)。
需要說明的是，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行多種運(yùn)算得到更多維度的樣本磁盤數(shù)據(jù)，能夠提高對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)的利用率以及對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練時(shí)，樣本磁盤數(shù)據(jù)的敏感度，從而提高故障預(yù)測(cè)模型的準(zhǔn)確度。
根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，步驟s23采用bucketing技術(shù)對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類，包括：
步驟s231，確定預(yù)先劃分的每個(gè)分箱的取值范圍以及每個(gè)分箱對(duì)應(yīng)的id值。
在上述步驟中，劃分的每個(gè)分箱的取值范圍的目的在于確定與樣本磁盤數(shù)據(jù)集合中的數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的分箱，即樣本磁盤數(shù)據(jù)所屬的范圍對(duì)應(yīng)的分箱即為該樣本磁盤數(shù)據(jù)所屬的分箱。確定每個(gè)分箱的id值用于區(qū)分不同的分箱。
步驟s233，通過將每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)離散化至對(duì)應(yīng)的分箱來對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類，得到每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值。
在一種可選的實(shí)施例中，將樣本磁盤數(shù)據(jù)分配至不同的分箱后，以分箱的id號(hào)對(duì)分配至該分箱的數(shù)據(jù)進(jìn)行替換，即將每一維度上的樣本磁盤數(shù)據(jù)都被替換為該樣本磁盤數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的分箱id值，使得原始的樣本磁盤數(shù)據(jù)的每一個(gè)維度上的數(shù)據(jù)都被替換為如上的整數(shù)值。
在另一種可選的實(shí)施例中，例如在設(shè)置5個(gè)取值范圍不同的分箱，且每個(gè)分箱的id值分別為1,2,3,4,5的情況下，每個(gè)分箱中都包含不同的數(shù)據(jù)，當(dāng)樣本磁盤數(shù)據(jù)a落入分箱1和分箱3的取值范圍內(nèi)時(shí)，樣本磁盤數(shù)據(jù)a的id值可以為10100。按照上述實(shí)施例中的方案，使得每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)都能夠得到與之對(duì)應(yīng)的id值。
根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，步驟s25，采用owlqn模型對(duì)分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到磁盤預(yù)測(cè)模型，包括：
步驟s251，owlqn模型對(duì)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值進(jìn)行訓(xùn)練，得到每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的權(quán)重值。
在上述步驟中，每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的權(quán)重值為該樣本為“1”的概率，即為該樣本為正樣本的概率。
在一種可選的是實(shí)例中，將待測(cè)磁盤數(shù)據(jù)表示為
步驟s253，根據(jù)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)及對(duì)應(yīng)的權(quán)重值，確定磁盤預(yù)測(cè)模型，其中，磁盤預(yù)測(cè)模型包括每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測(cè)結(jié)果。
在一種可選的實(shí)施例中，得到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)后，計(jì)算待測(cè)磁盤的預(yù)測(cè)值，其中，計(jì)算待測(cè)磁盤的預(yù)測(cè)值可以根據(jù)如下公式進(jìn)行計(jì)算：
在一種可選的實(shí)施例中，向owlqn模型輸入樣本數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的id值，并向owlqn模型輸入id值對(duì)應(yīng)的樣本磁盤的故障狀態(tài)，使owlqn模型記憶id值以及id值對(duì)應(yīng)的磁盤故障狀態(tài)，再向owlqn模型重復(fù)輸入id值，驗(yàn)證owlqn模型是否能夠輸出id值對(duì)應(yīng)的故障狀態(tài)。
根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測(cè)結(jié)果為樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類后得到的預(yù)測(cè)值。
根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，步驟s27在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤，包括：
步驟s271，接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，將待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)離散化至對(duì)應(yīng)的分箱，得到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值。
在上述步驟中，將待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)離散化至對(duì)應(yīng)的分箱，得到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值，可以采用上實(shí)施例中的步驟s231至步驟s233中提出的方案實(shí)施。
步驟s273，根據(jù)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值確定待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值。
在一種可選的是實(shí)例中，將待測(cè)磁盤數(shù)據(jù)表示為
步驟s275，根據(jù)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值從磁盤預(yù)測(cè)模型中確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。
在一種可選的實(shí)施例中，得到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)后，計(jì)算待測(cè)磁盤的預(yù)測(cè)值，其中，計(jì)算待測(cè)磁盤的預(yù)測(cè)值可以根據(jù)如下公式進(jìn)行計(jì)算：
需要說明的是，對(duì)于前述的各方法實(shí)施例，為了簡(jiǎn)單描述，故將其都表述為一系列的動(dòng)作組合，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該知悉，本發(fā)明并不受所描述的動(dòng)作順序的限制，因?yàn)橐罁?jù)本發(fā)明，某些步驟可以采用其他順序或者同時(shí)進(jìn)行。其次，本領(lǐng)域技術(shù)人員也應(yīng)該知悉，說明書中所描述的實(shí)施例均屬于優(yōu)選實(shí)施例，所涉及的動(dòng)作和模塊并不一定是本發(fā)明所必須的。
通過以上的實(shí)施方式的描述，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到根據(jù)上述實(shí)施例的方法可借助軟件加必需的通用硬件平臺(tái)的方式來實(shí)現(xiàn)，當(dāng)然也可以通過硬件，但 很多情況下前者是更佳的實(shí)施方式。基于這樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對(duì)現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)(如rom/ram、磁碟、光盤)中，包括若干指令用以使得一臺(tái)終端設(shè)備(可以是手機(jī)，計(jì)算機(jī)，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例所述的方法。
如圖3所示，提供了一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法，該方法可以包括如下步驟s31至步驟s37：
s31，獲取樣本磁盤的樣本數(shù)據(jù)。
在上述步驟中，樣本磁盤的樣本數(shù)據(jù)可以是smart磁盤數(shù)據(jù)。具體的，在上述步驟中，可以通過hdtune、crystaldiskinfo等軟件獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)。
s32，對(duì)樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行差分運(yùn)算。
具體的，在上述步驟中，差分運(yùn)算指磁盤在某一時(shí)刻的特征數(shù)據(jù)與過該磁盤在24小時(shí)之前的特征數(shù)據(jù)做差運(yùn)算得到的值。
s33，對(duì)差分運(yùn)算得到的結(jié)果進(jìn)行分布求和和/或平方運(yùn)算。
上述步驟對(duì)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行如下任意一種或多種運(yùn)算：差分運(yùn)算、平方運(yùn)算和分布求和運(yùn)算，使得任意一個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴(kuò)展出新的維度上的樣本數(shù)據(jù)。
s34，得到訓(xùn)練和預(yù)測(cè)使用的數(shù)據(jù)。
s35，采用分箱進(jìn)行離散化。
上述步驟劃分的每個(gè)分箱的取值范圍的目的在于確定與樣本磁盤數(shù)據(jù)集合中的數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的分箱，即樣本磁盤數(shù)據(jù)所屬的范圍對(duì)應(yīng)的分箱即為該樣本磁盤數(shù)據(jù)所屬的分箱。確定每個(gè)分箱的id值用于區(qū)分不同的分箱，并對(duì)每個(gè)分箱中的數(shù)據(jù)進(jìn)行離散化處理。
s36，通過owlqn模型進(jìn)行訓(xùn)練。
在上述步驟中，通過owlqn模型對(duì)樣本磁盤的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練得到磁盤預(yù)測(cè)模型。
s37，得到磁盤的預(yù)測(cè)結(jié)果。
在上述步驟中，使用上述步驟構(gòu)建的磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤進(jìn)行預(yù)測(cè)，得到預(yù) 測(cè)值后，與模型中的預(yù)測(cè)取值范圍進(jìn)行比對(duì)，得到待測(cè)磁盤的預(yù)測(cè)結(jié)果。
實(shí)施例2
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，還提供了一種用于實(shí)施上述磁盤的故障預(yù)測(cè)方法的裝置，如圖4所示，該裝置包括：獲取模塊40、分類模塊42、訓(xùn)練模塊44和確定模塊46。
其中，獲取模塊40，用于通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；分類模塊42，用于采用bucketing技術(shù)對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類；訓(xùn)練模塊44，用于采用owlqn模型對(duì)分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到磁盤預(yù)測(cè)模型；確定模塊46，用于在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。
此處需要說明的是，上述獲取模塊40、分類模塊42、訓(xùn)練模塊44和確定模塊46對(duì)應(yīng)于實(shí)施例一種的步驟s21至步驟s27所實(shí)現(xiàn)的實(shí)例和應(yīng)用場(chǎng)景相同，但不限于上述實(shí)施例一所公開的內(nèi)容。需要說明的是，上述模塊作為裝置的一部分可以運(yùn)行在實(shí)施例一提供的計(jì)算機(jī)終端10中。
根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，樣本磁盤數(shù)據(jù)為smart磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)至少包括如下四個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)：原始值、標(biāo)準(zhǔn)值、最差值和累積值。
根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，結(jié)合圖5所示，上述裝置還包括：
運(yùn)算模塊50，用于對(duì)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行如下任意一種或多種運(yùn)算：差分運(yùn)算、平方運(yùn)算和分布求和運(yùn)算，使得任意一個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴(kuò)展出新的維度上的樣本數(shù)據(jù)。
此處需要說明的是，上述獲取模塊50對(duì)應(yīng)于實(shí)施例一種的步驟s211所實(shí)現(xiàn)的實(shí)例和應(yīng)用場(chǎng)景相同，但不限于上述實(shí)施例一所公開的內(nèi)容。需要說明的是，上述模塊作為裝置的一部分可以運(yùn)行在實(shí)施例一提供的計(jì)算機(jī)終端10中。
根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，結(jié)合圖6所示，上述分類模塊42包括：
第一確定子模塊60，用于確定預(yù)先劃分的每個(gè)分箱的取值范圍以及每個(gè)分箱對(duì)應(yīng)的id值；分類子模塊62，用于通過將每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)離散化至對(duì)應(yīng)的分箱來 對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類，得到每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值。
此處需要說明的是，上述第一確定子模塊60和分類子模塊62對(duì)應(yīng)于實(shí)施例一種的步驟s231和步驟s233所實(shí)現(xiàn)的實(shí)例和應(yīng)用場(chǎng)景相同，但不限于上述實(shí)施例一所公開的內(nèi)容。需要說明的是，上述模塊作為裝置的一部分可以運(yùn)行在實(shí)施例一提供的計(jì)算機(jī)終端10中。
根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，結(jié)合圖7所示，上述訓(xùn)練模塊44包括：
訓(xùn)練子模塊70，用于owlqn模型對(duì)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值進(jìn)行訓(xùn)練，得到每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的權(quán)重值；第二確定子模塊72，用于根據(jù)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)及對(duì)應(yīng)的權(quán)重值，確定磁盤預(yù)測(cè)模型，其中，磁盤預(yù)測(cè)模型包括每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測(cè)結(jié)果。
此處需要說明的是，上述訓(xùn)練子模塊70和第二確定子模塊72對(duì)應(yīng)于實(shí)施例一種的步驟s251和步驟s253所實(shí)現(xiàn)的實(shí)例和應(yīng)用場(chǎng)景相同，但不限于上述實(shí)施例一所公開的內(nèi)容。需要說明的是，上述模塊作為裝置的一部分可以運(yùn)行在實(shí)施例一提供的計(jì)算機(jī)終端10中。
根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測(cè)結(jié)果為樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類后得到的預(yù)測(cè)值。
根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，結(jié)合圖8所示，上述確定模塊46還包括：
離散模塊80，用于接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，將待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)離散化至對(duì)應(yīng)的分箱，得到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值；第三確定子模塊82，用于根據(jù)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值確定待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值；第四確定子模塊84，用于根據(jù)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值從磁盤預(yù)測(cè)模型中確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。
此處需要說明的是，上述離散模塊80、第三確定子模塊82和第四確定子模塊84對(duì)應(yīng)于實(shí)施例一種的步驟s271和步驟s275所實(shí)現(xiàn)的實(shí)例和應(yīng)用場(chǎng)景相同，但不限于上述實(shí)施例一所公開的內(nèi)容。需要說明的是，上述模塊作為裝置的一部分可以運(yùn)行在實(shí)施例一提供的計(jì)算機(jī)終端10中。
實(shí)施例3
本發(fā)明的實(shí)施例可以提供一種計(jì)算機(jī)終端，該計(jì)算機(jī)終端可以是計(jì)算機(jī)終端群中 的任意一個(gè)計(jì)算機(jī)終端設(shè)備。可選地，在本實(shí)施例中，上述計(jì)算機(jī)終端也可以替換為移動(dòng)終端等終端設(shè)備。
可選地，在本實(shí)施例中，上述計(jì)算機(jī)終端可以位于計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)的多個(gè)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備中的至少一個(gè)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備。
在本實(shí)施例中，上述計(jì)算機(jī)終端可以執(zhí)行磁盤的故障預(yù)測(cè)方法中以下步驟的程序代碼：通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；采用bucketing技術(shù)對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類；采用owlqn模型對(duì)分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到磁盤預(yù)測(cè)模型；在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。
可選地，圖9是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種計(jì)算機(jī)終端的結(jié)構(gòu)框圖。如圖9所示，該計(jì)算機(jī)終端a可以包括：一個(gè)或多個(gè)(圖中僅示出一個(gè))處理器91、存儲(chǔ)器93、以及傳輸裝置95。
其中，存儲(chǔ)器可用于存儲(chǔ)軟件程序以及模塊，如本發(fā)明實(shí)施例中的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法和裝置對(duì)應(yīng)的程序指令/模塊，處理器通過運(yùn)行存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器內(nèi)的軟件程序以及模塊，從而執(zhí)行各種功能應(yīng)用以及數(shù)據(jù)處理，即實(shí)現(xiàn)上述的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法。存儲(chǔ)器可包括高速隨機(jī)存儲(chǔ)器，還可以包括非易失性存儲(chǔ)器，如一個(gè)或者多個(gè)磁性存儲(chǔ)裝置、閃存、或者其他非易失性固態(tài)存儲(chǔ)器。在一些實(shí)例中，存儲(chǔ)器可進(jìn)一步包括相對(duì)于處理器遠(yuǎn)程設(shè)置的存儲(chǔ)器，這些遠(yuǎn)程存儲(chǔ)器可以通過網(wǎng)絡(luò)連接至終端a。上述網(wǎng)絡(luò)的實(shí)例包括但不限于互聯(lián)網(wǎng)、企業(yè)內(nèi)部網(wǎng)、局域網(wǎng)、移動(dòng)通信網(wǎng)及其組合。
處理器可以通過傳輸裝置調(diào)用存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的信息及應(yīng)用程序，以執(zhí)行下述步驟：通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；采用bucketing技術(shù)對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類；采用owlqn模型對(duì)分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到磁盤預(yù)測(cè)模型；在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。
可選的，上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼：樣本磁盤數(shù)據(jù)為smart磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)至少包括如下四個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)：原始值、標(biāo)準(zhǔn)值、最差值和累積值。
可選的，上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼：對(duì)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行如下任意一種或多種運(yùn)算：差分運(yùn)算、平方運(yùn)算和分布求和運(yùn)算，使得任意一個(gè) 維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴(kuò)展出新的維度上的樣本數(shù)據(jù)。
可選的，上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼：確定預(yù)先劃分的每個(gè)分箱的取值范圍以及每個(gè)分箱對(duì)應(yīng)的id值；通過將每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)離散化至對(duì)應(yīng)的分箱來對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類，得到每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值。
可選的，上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼：owlqn模型對(duì)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值進(jìn)行訓(xùn)練，得到每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的權(quán)重值；根據(jù)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)及對(duì)應(yīng)的權(quán)重值，確定磁盤預(yù)測(cè)模型，其中，磁盤預(yù)測(cè)模型包括每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測(cè)結(jié)果。
可選的，上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼：每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測(cè)結(jié)果為樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類后得到的預(yù)測(cè)值。
可選的，上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼：接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，將待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)離散化至對(duì)應(yīng)的分箱，得到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值；根據(jù)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值確定待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值；根據(jù)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值從磁盤預(yù)測(cè)模型中確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。
在本發(fā)明實(shí)施例中，采用通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；采用bucketing技術(shù)對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類；采用owlqn模型對(duì)分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到磁盤預(yù)測(cè)模型的方式，通過在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，達(dá)到了確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤的目的，從而實(shí)現(xiàn)了預(yù)測(cè)磁盤故障的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測(cè)系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集或量化導(dǎo)致的預(yù)測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的技術(shù)問題。
本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解，圖9所示的結(jié)構(gòu)僅為示意，計(jì)算機(jī)終端也可以是智能手機(jī)(如android手機(jī)、ios手機(jī)等)、平板電腦、掌聲電腦以及移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)設(shè)備(mobileinternetdevices，mid)、pad等終端設(shè)備。圖9其并不對(duì)上述電子裝置的結(jié)構(gòu)造成限定。例如，計(jì)算機(jī)終端a還可包括比圖9中所示更多或者更少的組件(如網(wǎng)絡(luò)接口、顯示裝置等)，或者具有與圖9所示不同的配置。
本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述實(shí)施例的各種方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令終端設(shè)備相關(guān)的硬件來完成，該程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，存儲(chǔ)介質(zhì)可以包括：閃存盤、只讀存儲(chǔ)器(read-onlymemory，rom)、隨機(jī)存 取器(randomaccessmemory，ram)、磁盤或光盤等。
實(shí)施例4
本發(fā)明的實(shí)施例還提供了一種存儲(chǔ)介質(zhì)。可選地，在本實(shí)施例中，上述存儲(chǔ)介質(zhì)可以用于保存上述實(shí)施例一所提供的一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法所執(zhí)行的程序代碼。
可選地，在本實(shí)施例中，上述存儲(chǔ)介質(zhì)可以位于計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)中計(jì)算機(jī)終端群中的任意一個(gè)計(jì)算機(jī)終端中，或者位于移動(dòng)終端群中的任意一個(gè)移動(dòng)終端中。
可選地，在本實(shí)施例中，存儲(chǔ)介質(zhì)被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；采用bucketing技術(shù)對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分箱處理，對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類；采用owlqn模型對(duì)分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到磁盤預(yù)測(cè)模型；在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。
可選地，上述存儲(chǔ)介質(zhì)還被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：樣本磁盤數(shù)據(jù)為smart磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)至少包括如下四個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)：原始值、標(biāo)準(zhǔn)值、最差值和累積值。
可選地，上述存儲(chǔ)介質(zhì)還被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：對(duì)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行如下任意一種或多種運(yùn)算：差分運(yùn)算、平方運(yùn)算和分布求和運(yùn)算，使得任意一個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴(kuò)展出新的維度上的樣本數(shù)據(jù)。
可選地，上述存儲(chǔ)介質(zhì)還被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：確定預(yù)先劃分的每個(gè)分箱的取值范圍以及每個(gè)分箱對(duì)應(yīng)的id值；通過將每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)離散化至對(duì)應(yīng)的分箱來對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類，得到每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值。
可選地，上述存儲(chǔ)介質(zhì)還被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：owlqn模型對(duì)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值進(jìn)行訓(xùn)練，得到每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的權(quán)重值；根據(jù)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)及對(duì)應(yīng)的權(quán)重值，確定磁盤預(yù)測(cè)模型，其中，磁盤預(yù)測(cè)模型包括每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測(cè)結(jié)果。
可選地，上述存儲(chǔ)介質(zhì)還被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測(cè)結(jié)果為樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行分類后得到的預(yù)測(cè)值。
可選地，上述存儲(chǔ)介質(zhì)還被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，將待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)離散化至對(duì)應(yīng)的分箱，得到待測(cè)磁盤 的磁盤數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值；根據(jù)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的id值確定待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值；根據(jù)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值從磁盤預(yù)測(cè)模型中確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。
上述本發(fā)明實(shí)施例序號(hào)僅僅為了描述，不代表實(shí)施例的優(yōu)劣。
在本發(fā)明的上述實(shí)施例中，對(duì)各個(gè)實(shí)施例的描述都各有側(cè)重，某個(gè)實(shí)施例中沒有詳述的部分，可以參見其他實(shí)施例的相關(guān)描述。
在本申請(qǐng)所提供的幾個(gè)實(shí)施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的技術(shù)內(nèi)容，可通過其它的方式實(shí)現(xiàn)。其中，以上所描述的裝置實(shí)施例僅僅是示意性的，例如所述單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實(shí)際實(shí)現(xiàn)時(shí)可以有另外的劃分方式，例如多個(gè)單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個(gè)系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點(diǎn)，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，單元或模塊的間接耦合或通信連接，可以是電性或其它的形式。
所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個(gè)地方，或者也可以分布到多個(gè)網(wǎng)絡(luò)單元上。可以根據(jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例方案的目的。
另外，在本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個(gè)處理單元中，也可以是各個(gè)單元單獨(dú)物理存在，也可以兩個(gè)或兩個(gè)以上單元集成在一個(gè)單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)。
所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時(shí)，可以存儲(chǔ)在一個(gè)計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對(duì)現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺(tái)計(jì)算機(jī)設(shè)備(可為個(gè)人計(jì)算機(jī)、服務(wù)器或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括：u盤、只讀存儲(chǔ)器(rom，read-onlymemory)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(ram，randomaccessmemory)、移動(dòng)硬盤、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。
以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。