本發(fā)明涉及磁盤領(lǐng)域，具體而言，涉及一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法和裝置。

背景技術(shù)：

目前，硬盤是存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的主要介質(zhì)，硬盤一旦出故障，便會(huì)造成巨大的數(shù)據(jù)損失。因此如何保證硬盤的穩(wěn)定性能非常重要。在通常狀態(tài)下，硬盤在24小時(shí)中出錯(cuò)的概率在是萬(wàn)分之一左右，當(dāng)一臺(tái)服務(wù)器具有十塊硬盤時(shí)，服務(wù)器硬盤出錯(cuò)的概率就會(huì)上升到千分之一，而隨著當(dāng)前網(wǎng)站等業(yè)務(wù)的發(fā)展，服務(wù)器需要使用的硬盤會(huì)越來(lái)越多，多塊硬盤同時(shí)出錯(cuò)的概率也會(huì)提升。

通常情況下，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)通常會(huì)有多個(gè)備份，如mysql主備庫(kù)，gfs文件默認(rèn)3個(gè)備份。在大量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)平臺(tái)上，如果多個(gè)硬盤同時(shí)出故障，那么這些硬盤上存儲(chǔ)著同一個(gè)文件的備份的概率就會(huì)很高，即如果多塊硬盤同時(shí)出現(xiàn)故障，就會(huì)導(dǎo)致一些文件的丟失，對(duì)于一些線上的服務(wù)，大都依賴于服務(wù)器中存儲(chǔ)的海量數(shù)據(jù)，如果硬盤出故障，就會(huì)導(dǎo)致上述在線服務(wù)異常，甚至?xí)和Ｊ褂谩?/p>

由于上述原因，需要具有預(yù)測(cè)硬盤是否會(huì)出錯(cuò)的系統(tǒng)需要有一套系統(tǒng)能提前告訴我們哪些硬盤會(huì)出錯(cuò)，數(shù)據(jù)可能丟失導(dǎo)致硬盤故障的原因有很多，最常見(jiàn)的有以下幾種：外部振動(dòng)、溫度和濕度、電器元件損壞、聲音和灰塵，在上述因素中，有些因素能夠被采集到，比如溫度和濕度、一些元器件數(shù)據(jù)，但是更多的數(shù)據(jù)無(wú)法被采集和量化，因此便會(huì)導(dǎo)致預(yù)測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確。

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測(cè)系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集胡或量化導(dǎo)致的預(yù)測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的問(wèn)題，目前尚未提出有效的解決方案。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法和裝置，以至少解決現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測(cè)系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集胡或量化導(dǎo)致的預(yù)測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的技術(shù)問(wèn)題。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法，包括：通過(guò)磁 盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；采用gbdt算法對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型；在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，還提供了一種磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置，包括：通過(guò)磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；采用gbdt算法對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型；在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。

在本發(fā)明實(shí)施例中，采用通過(guò)磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；采用gbdt算法對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型方式，通過(guò)在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，達(dá)到了確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤的目的，從而實(shí)現(xiàn)了預(yù)測(cè)磁盤故障狀態(tài)的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測(cè)系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集胡或量化導(dǎo)致的預(yù)測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的技術(shù)問(wèn)題。

附圖說(shuō)明

此處所說(shuō)明的附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中：

圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法的計(jì)算機(jī)終端的硬件結(jié)構(gòu)框圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法的流程圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種使用gbdt算法對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練的示意圖；

圖4為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種使用gbdt算法計(jì)算磁盤預(yù)測(cè)值的示意圖；

圖5是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法的流程圖；

圖6是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖7是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖8是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖9是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖10是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；以及

圖11是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種計(jì)算機(jī)終端的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實(shí)施方式

為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分的實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

需要說(shuō)明的是，本發(fā)明的說(shuō)明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對(duì)象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換，以便這里描述的本發(fā)明的實(shí)施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤?。此外，術(shù)語(yǔ)“包括”和“具有”以及他們的任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含，例如，包含了一系列步驟或單元的過(guò)程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備不必限于清楚地列出的那些步驟或單元，而是可包括沒(méi)有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過(guò)程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。

實(shí)施例1

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，還提供了一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法實(shí)施例，需要說(shuō)明的是，在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中執(zhí)行，并且，雖然在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。

本申請(qǐng)實(shí)施例一所提供的方法實(shí)施例可以在移動(dòng)終端、計(jì)算機(jī)終端或者類似的運(yùn)算裝置中執(zhí)行。以運(yùn)行在計(jì)算機(jī)終端上為例，圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法的計(jì)算機(jī)終端的硬件結(jié)構(gòu)框圖。如圖1所示，計(jì)算機(jī)終端10可以包括一個(gè)或多個(gè)(圖中僅示出一個(gè))處理器102(處理器102可以包括但不限于微處理器mcu或可編程邏輯器件fpga等的處理裝置)、用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器104、以及用于通信功能的傳輸模塊106。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解，圖1所示的結(jié)構(gòu)僅為示意，其并不對(duì)上述電子裝置的結(jié)構(gòu)造成限定。例如，計(jì)算機(jī)終端10還可包括比圖1中所示更多或者更少的組件，或者具有與圖1所示不同的配置。

存儲(chǔ)器104可用于存儲(chǔ)應(yīng)用軟件的軟件程序以及模塊，如本發(fā)明實(shí)施例中的磁盤 的故障預(yù)測(cè)方法對(duì)應(yīng)的程序指令/模塊，處理器102通過(guò)運(yùn)行存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器104內(nèi)的軟件程序以及模塊，從而執(zhí)行各種功能應(yīng)用以及數(shù)據(jù)處理，即實(shí)現(xiàn)上述的應(yīng)用程序的漏洞檢測(cè)方法。存儲(chǔ)器104可包括高速隨機(jī)存儲(chǔ)器，還可包括非易失性存儲(chǔ)器，如一個(gè)或者多個(gè)磁性存儲(chǔ)裝置、閃存、或者其他非易失性固態(tài)存儲(chǔ)器。在一些實(shí)例中，存儲(chǔ)器104可進(jìn)一步包括相對(duì)于處理器102遠(yuǎn)程設(shè)置的存儲(chǔ)器，這些遠(yuǎn)程存儲(chǔ)器可以通過(guò)網(wǎng)絡(luò)連接至計(jì)算機(jī)終端10。上述網(wǎng)絡(luò)的實(shí)例包括但不限于互聯(lián)網(wǎng)、企業(yè)內(nèi)部網(wǎng)、局域網(wǎng)、移動(dòng)通信網(wǎng)及其組合。

傳輸裝置106用于經(jīng)由一個(gè)網(wǎng)絡(luò)接收或者發(fā)送數(shù)據(jù)。上述的網(wǎng)絡(luò)具體實(shí)例可包括計(jì)算機(jī)終端10的通信供應(yīng)商提供的無(wú)線網(wǎng)絡(luò)。在一個(gè)實(shí)例中，傳輸裝置106包括一個(gè)網(wǎng)絡(luò)適配器(networkinterfacecontroller，nic)，其可通過(guò)基站與其他網(wǎng)絡(luò)設(shè)備相連從而可與互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行通訊。在一個(gè)實(shí)例中，傳輸裝置106可以為射頻(radiofrequency，rf)模塊，其用于通過(guò)無(wú)線方式與互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行通訊。

在上述運(yùn)行環(huán)境下，本申請(qǐng)?zhí)峁┝巳鐖D2所示的一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法。圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法的流程圖。

需要說(shuō)明的是，對(duì)于前述的各方法實(shí)施例，為了簡(jiǎn)單描述，故將其都表述為一系列的動(dòng)作組合，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該知悉，本發(fā)明并不受所描述的動(dòng)作順序的限制，因?yàn)橐罁?jù)本發(fā)明，某些步驟可以采用其他順序或者同時(shí)進(jìn)行。其次，本領(lǐng)域技術(shù)人員也應(yīng)該知悉，說(shuō)明書中所描述的實(shí)施例均屬于優(yōu)選實(shí)施例，所涉及的動(dòng)作和模塊并不一定是本發(fā)明所必須的。

通過(guò)以上的實(shí)施方式的描述，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到根據(jù)上述實(shí)施例的方法可借助軟件加必需的通用硬件平臺(tái)的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)，當(dāng)然也可以通過(guò)硬件，但很多情況下前者是更佳的實(shí)施方式。基于這樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說(shuō)對(duì)現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來(lái)，該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)(如rom/ram、磁碟、光盤)中，包括若干指令用以使得一臺(tái)終端設(shè)備(可以是手機(jī)，計(jì)算機(jī)，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例所述的方法。

在上述運(yùn)行環(huán)境下，本申請(qǐng)?zhí)峁┝巳鐖D2所示的反編譯數(shù)據(jù)的處理方法。圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例一的反編譯數(shù)據(jù)的處理方法的流程圖，如圖2所示，該方法包括：

步驟21，通過(guò)磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，所述樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)。

在上述步驟中，磁盤監(jiān)控技術(shù)用于監(jiān)測(cè)磁盤出廠后的使用過(guò)程中產(chǎn)生的各項(xiàng)磁盤 數(shù)據(jù)，以預(yù)測(cè)磁盤的故障狀態(tài)，使得磁盤使用者能夠在磁盤發(fā)生故障之前便能知曉磁盤即將發(fā)生故障，從而對(duì)磁盤中的數(shù)據(jù)進(jìn)行拷貝存儲(chǔ)，避免數(shù)據(jù)的丟失。

在一種可選的實(shí)施例中，上述樣本磁盤數(shù)據(jù)可以包括：底層數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤率、啟動(dòng)/停止計(jì)數(shù)、重映射扇區(qū)數(shù)、通電時(shí)間累計(jì)、主軸起旋重試次數(shù)、磁盤校準(zhǔn)重試次數(shù)、磁盤通電次數(shù)、溫度以及寫錯(cuò)誤率，可以根據(jù)磁盤歷史故障情況獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)。例如，可以按照正負(fù)樣本比例為1:5的比例進(jìn)行樣本獲取，其中，正樣本為存在故障的磁盤，負(fù)樣本為不存在故障的磁盤。

此處需要說(shuō)明的是，在通過(guò)磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)時(shí)，由于預(yù)測(cè)磁盤故障的各個(gè)機(jī)構(gòu)使用的磁盤并不一定相同，且由于各個(gè)機(jī)構(gòu)不同溫濕度等環(huán)境因素對(duì)磁盤的影響，使得不同機(jī)構(gòu)的磁盤的好壞比例并不相同，為了使樣本磁盤數(shù)據(jù)的訓(xùn)練提供更可靠的樣本磁盤數(shù)據(jù)，還可以根據(jù)機(jī)構(gòu)的實(shí)際上磁盤損壞情況進(jìn)行獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)。

步驟s23，采用gbdt算法對(duì)所述樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型。

在上述步驟中，gbdt(gradientboostingdecisiontree)為一種迭代的決策樹(shù)算法，該算法由多棵決策樹(shù)組成，并通過(guò)對(duì)所有決策樹(shù)的結(jié)論進(jìn)行累加，得到最終結(jié)果。上述決策樹(shù)作為一種預(yù)測(cè)模型，是在上一層決策得到的結(jié)果的基礎(chǔ)上，進(jìn)行下一層決策，包括決策點(diǎn)、狀態(tài)結(jié)點(diǎn)、結(jié)果結(jié)點(diǎn)等參數(shù)，樹(shù)中的每個(gè)節(jié)點(diǎn)表示被預(yù)測(cè)的對(duì)象，二每個(gè)分叉路徑則代表該對(duì)象可能的屬性。

在一種可選的實(shí)施例中，在上述樣本磁盤為磁盤的s.m.a.r.t的原始值的情況下，對(duì)樣本磁盤進(jìn)行樣本訓(xùn)練，例如，原始值大于等于預(yù)設(shè)原始值，可以認(rèn)為該樣本磁盤發(fā)生故障的概率較大，原始值小于預(yù)設(shè)值原始時(shí)，可以認(rèn)為該樣本磁盤發(fā)生故障的概率較小，因此在確定磁盤預(yù)測(cè)模型時(shí)，在樣本磁盤的原始值大于等于預(yù)設(shè)原始值的情況下，確認(rèn)該樣本磁盤的屬性為故障，在樣本磁盤的原始值小于預(yù)設(shè)原始值的情況下，確認(rèn)該樣本磁盤的屬性為非故障。建立具備上述決策能力的磁盤預(yù)測(cè)模型，即向決策樹(shù)輸入待檢測(cè)磁盤時(shí)，若待檢測(cè)磁盤的原始值大于等于預(yù)設(shè)原始值，決策樹(shù)自動(dòng)確認(rèn)該待檢測(cè)磁盤為故障的情況下，確認(rèn)該樣本磁盤的屬性為故障，當(dāng)樣本磁盤的原始值小于預(yù)設(shè)原始值的情況下，確認(rèn)該樣本磁盤的屬性為非故障。

步驟s25，在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用所述由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)所述待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定所述待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。

在一種可選的實(shí)施例中，將樣本磁盤的多個(gè)維度的值作為決策樹(shù)的評(píng)價(jià)指標(biāo)，得 到多個(gè)決策樹(shù)，再由多個(gè)決策樹(shù)構(gòu)成一個(gè)磁盤預(yù)測(cè)模型，對(duì)待檢測(cè)磁盤進(jìn)行檢測(cè)。

此處值得注意的是，根據(jù)磁盤每一個(gè)維度得到的決策樹(shù)可能相同，可能不相同，因此在使用多個(gè)決策樹(shù)構(gòu)成磁盤預(yù)測(cè)模型時(shí)，需要根據(jù)每個(gè)決策樹(shù)在評(píng)價(jià)體系中的重要性，來(lái)確認(rèn)每個(gè)決策樹(shù)的權(quán)重值，從而得到磁盤預(yù)測(cè)模型。

此處需要說(shuō)明的是，在通過(guò)磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)時(shí)，采用了磁盤檢測(cè)技術(shù)，使得獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)的過(guò)程更為簡(jiǎn)單，且獲取的數(shù)據(jù)更為全面，為樣本磁盤數(shù)據(jù)的訓(xùn)練提供了豐富的磁盤樣本數(shù)據(jù)。在上述步驟中，采用gbdt算法對(duì)所述樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練可以是分兩次或多次進(jìn)行訓(xùn)練，以提高與訓(xùn)練結(jié)果對(duì)應(yīng)的決策樹(shù)構(gòu)成的磁盤預(yù)測(cè)模型的準(zhǔn)確率和召回率。

由此，本申請(qǐng)?zhí)峁┑纳鲜鰧?shí)施例一的方案解決了現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測(cè)系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集或量化導(dǎo)致的預(yù)測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的技術(shù)問(wèn)題。

根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，所述樣本磁盤數(shù)據(jù)至少包括如下四個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)：原始值、標(biāo)準(zhǔn)值、最差值和累積值。

上述原始值為磁盤運(yùn)行時(shí)的當(dāng)前參數(shù)；上述標(biāo)準(zhǔn)值為正常磁盤運(yùn)行時(shí)各項(xiàng)參數(shù)的數(shù)值；上述最差值為磁盤運(yùn)行時(shí)，磁盤的各項(xiàng)檢測(cè)參數(shù)曾出現(xiàn)過(guò)與正常值偏差最大的非正常值；上述累計(jì)值為磁盤的各項(xiàng)檢測(cè)參數(shù)從磁盤使用至當(dāng)前時(shí)刻的累計(jì)結(jié)果。

在一種可選的實(shí)施例中，磁盤的各項(xiàng)參數(shù)可以是對(duì)磁盤的各項(xiàng)屬性進(jìn)行描述的信息，可以包括錯(cuò)誤讀取率、加電次數(shù)、重新分配扇區(qū)數(shù)、旋轉(zhuǎn)重試次數(shù)、磁盤校準(zhǔn)重試次數(shù)以及奇偶校驗(yàn)錯(cuò)誤率中的一項(xiàng)或多項(xiàng)，也可以包括磁盤的其他屬性信息。

本申請(qǐng)上述步驟可以分別以上述四個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)得到多個(gè)不同的決策樹(shù)。

在一種可選的實(shí)施例中，可以采用hdtune、crystaldiskinfo等軟件獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)。

根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，在通過(guò)磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)之后，所述方法還包括：

步驟s211，對(duì)所述每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行如下任意一種或多種運(yùn)算：差分運(yùn)算、平方運(yùn)算和分布求和運(yùn)算，使得任意一個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴(kuò)展出新的維度上的樣本數(shù)據(jù)。

在上述步驟中，對(duì)決策結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步運(yùn)算，可將決策樹(shù)根據(jù)運(yùn)算結(jié)果拓展出新的維度，得到這一維度上的樣本數(shù)據(jù)。

此處值得注意的時(shí)，每個(gè)維度的樣本數(shù)據(jù)都可以進(jìn)行多種運(yùn)算以在這一維度的基礎(chǔ)上得到更多維度的樣本數(shù)據(jù)，在有四個(gè)維度的基礎(chǔ)上，每個(gè)維度再分別進(jìn)行差分運(yùn)算、平方運(yùn)算和分布求和運(yùn)算，便能夠得到十六個(gè)維度的樣本數(shù)據(jù)，且通過(guò)每個(gè)維度的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行決策的側(cè)重點(diǎn)均不同。

在一種可選的實(shí)施例中，仍以原始值這一維度的樣本數(shù)據(jù)為例，對(duì)原始值的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行差分運(yùn)算、平方運(yùn)算和分布求和運(yùn)算，由此得到新的四個(gè)維度的樣本數(shù)據(jù)，采用新的四個(gè)維度的樣本數(shù)據(jù)最為決策指標(biāo)進(jìn)行訓(xùn)練，并得到新的四個(gè)決策樹(shù)。

根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，采用gbdt算法對(duì)所述樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型，包括：

步驟s231，以所有磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練數(shù)據(jù)，并采用默認(rèn)值初始化所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)的分類模型參數(shù)。

在上述步驟中，初始化訓(xùn)練數(shù)據(jù)的分類模型參數(shù)可以是預(yù)先設(shè)置上述決策樹(shù)的個(gè)數(shù)、每個(gè)決策樹(shù)的層數(shù)，即對(duì)決策樹(shù)的屬性進(jìn)行初步設(shè)置。

步驟s233，提取所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)中的多個(gè)特征數(shù)據(jù)，將每個(gè)特征數(shù)據(jù)作為根節(jié)點(diǎn)在創(chuàng)建所述多個(gè)決策樹(shù)，并將每個(gè)特征數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的特征值作為對(duì)應(yīng)的決策樹(shù)的葉子節(jié)點(diǎn)。

步驟s235，計(jì)算當(dāng)前所有葉子節(jié)點(diǎn)的最優(yōu)劃分以及其增益，并以增益最大的葉子節(jié)點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)的劃分點(diǎn)進(jìn)行分裂，使得將所述樣本磁盤數(shù)據(jù)劃分到子節(jié)點(diǎn)中。

在上述步驟中，增益可以是標(biāo)簽值的最小化均方差，即每個(gè)樣本的標(biāo)簽值與預(yù)測(cè)標(biāo)簽值做差后，求的差的平方，并計(jì)算所有差的平方的和，可以認(rèn)為被預(yù)測(cè)出錯(cuò)的樣本越多，均方差就越大，因此通過(guò)最小化均方差能夠找到最優(yōu)的分枝依據(jù)

上述決策樹(shù)可以是以每個(gè)特征數(shù)據(jù)作為根節(jié)點(diǎn)的二叉樹(shù)，且每個(gè)特?cái)?shù)據(jù)對(duì)應(yīng)于一個(gè)特征值，該特征值為以該特征數(shù)據(jù)為根節(jié)點(diǎn)的決策樹(shù)的葉子節(jié)點(diǎn)。在確定決策樹(shù)的葉子節(jié)點(diǎn)后，對(duì)葉子節(jié)點(diǎn)在進(jìn)行下一步劃分，此處值得注意的是，當(dāng)對(duì)葉子節(jié)點(diǎn)進(jìn)行進(jìn)一步劃分時(shí)，在多個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)的增益不相同的情況下，劃分增益最大的葉子節(jié)點(diǎn)，使所有樣本數(shù)據(jù)都能劃分至相應(yīng)的葉子節(jié)點(diǎn)中。

在一種可選的實(shí)施例中，以樣本磁盤為a、b、c和d四塊磁盤為例，其中，a磁盤和b磁盤為正常磁盤，c磁盤和d磁盤為損壞的磁盤，在這一示例中，將正常磁盤對(duì)應(yīng)于0，故障磁盤對(duì)應(yīng)于1，因此，a、b、c和d四塊磁盤分別對(duì)應(yīng)為0、0、1、1。獲取上述磁盤在第一維度上的特征值為a，使用gbdt算法對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練，圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種使用gbdt算法對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練的示意圖，結(jié) 合圖3所示，設(shè)置默認(rèn)初始值為0.5，即每個(gè)磁盤為故障磁盤的概率為0.5，第一維度的閥值為a0，將特征值大于a0的磁盤劃分為一個(gè)子節(jié)點(diǎn)，將第一維度上的特征值小于等于a0的磁盤劃分為另一個(gè)子節(jié)點(diǎn)，并設(shè)置兩個(gè)子節(jié)點(diǎn)的磁盤為故障磁盤的概率為0.5。

此處需要說(shuō)明的當(dāng)是，上述實(shí)施例為方便說(shuō)明，僅選用了四個(gè)樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行說(shuō)明，因此只劃分得到兩個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)，在實(shí)際應(yīng)用中，根節(jié)點(diǎn)劃分為兩個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)之后，仍可以繼續(xù)劃分，樣本數(shù)據(jù)量越大，劃分的層次就越多。

根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，提取所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)中的多個(gè)特征數(shù)據(jù)，將每個(gè)特征數(shù)據(jù)作為根節(jié)點(diǎn)在創(chuàng)建所述多個(gè)決策樹(shù)，并將每個(gè)特征數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的特征值作為對(duì)應(yīng)的決策樹(shù)的葉子節(jié)點(diǎn)，包括：

步驟s2331，讀取任意一個(gè)特征數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的閾值。

步驟s2333，將所述任意一個(gè)特征數(shù)據(jù)的特征值與所述閾值進(jìn)行比較，并根據(jù)比較結(jié)果得到兩個(gè)分支的熵。

步驟s2335，根據(jù)所述兩個(gè)分支的熵確定兩個(gè)新節(jié)點(diǎn)作為所述任意一個(gè)特征數(shù)據(jù)的兩個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)。

步驟s2337，采用上述步驟對(duì)每一個(gè)特征數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，直到每個(gè)特征數(shù)據(jù)得到預(yù)定的兩個(gè)唯一的葉子節(jié)點(diǎn)。

在上述步驟中，窮舉每一個(gè)特征的每一個(gè)閾值，找到使得按照特征小于等于閾值，和特征大于閾值分成的兩個(gè)分枝的熵最小的特征和閾值，按照該標(biāo)準(zhǔn)分枝得到兩個(gè)新節(jié)點(diǎn)，使用同樣方法繼續(xù)分枝直到所有樣本都被分入只有正常磁盤或只有故障磁盤的葉子節(jié)點(diǎn)，或達(dá)到預(yù)設(shè)的終止條件，若最終葉子節(jié)點(diǎn)中不是只有正常磁盤或故障磁盤，則以該節(jié)點(diǎn)上所有樣本的平均標(biāo)簽值作為該葉子節(jié)點(diǎn)的預(yù)測(cè)標(biāo)簽值。

此處需要說(shuō)明的是，標(biāo)簽值即為該磁盤為故障磁盤的概率。

此處仍需要說(shuō)明的是，熵最小是指盡可能的使每個(gè)分枝中，正樣本和負(fù)樣本的比例遠(yuǎn)離1:1，熵最小的情況為該分枝上只有正樣本或負(fù)樣本，即該分支上只有正常的磁盤，或故障磁盤。

在一種可選的實(shí)施例中，在決策樹(shù)為回歸樹(shù)的示例中，每個(gè)節(jié)點(diǎn)都會(huì)得一個(gè)預(yù)測(cè)值，該預(yù)測(cè)值等于屬于該節(jié)點(diǎn)的所有標(biāo)簽值的平均值，對(duì)該節(jié)點(diǎn)進(jìn)行劃分時(shí)，窮舉每一個(gè)特征的每個(gè)閾值，找最好的分割點(diǎn)進(jìn)行劃分，直到每個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)上每個(gè)樣本的標(biāo)簽值都唯一或者達(dá)到預(yù)設(shè)的終止條件，若最終葉子節(jié)點(diǎn)上樣本的標(biāo)簽值不唯一，則以 該節(jié)點(diǎn)上所有樣本的平均標(biāo)簽值作為該葉子節(jié)點(diǎn)的預(yù)測(cè)標(biāo)簽值。

此處需要說(shuō)明的是，在上述實(shí)施例中，最優(yōu)的劃分標(biāo)準(zhǔn)不再是最小化熵，而是最小化均方差，即每個(gè)樣本的標(biāo)簽值與預(yù)測(cè)標(biāo)簽值做差后，求的差的平方，并計(jì)算所有差的平方的和，可以認(rèn)為被預(yù)測(cè)出錯(cuò)的樣本越多，均方差就越大，因此通過(guò)最小化均方差能夠找到最優(yōu)的分枝依據(jù)。

此處還需要說(shuō)明的是，在進(jìn)行劃分時(shí)，使每個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)上每個(gè)樣本的標(biāo)簽值都唯一是很難達(dá)到的，因此為了得到最接近真實(shí)情況的預(yù)測(cè)結(jié)果可以預(yù)設(shè)一個(gè)終止條件，該終止條件可以是葉子的上限。

根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，在得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型之后，所述方法還包括：對(duì)所述分類模型參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，其中，在所述分類模型參數(shù)包括故障磁盤樣本和非故障磁盤樣本的情況下，如果要確定所述待測(cè)磁盤是否為故障磁盤，則將所述分類模型參數(shù)中的故障磁盤樣本的比例調(diào)高。

根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，使用所述由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)所述待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定所述待測(cè)磁盤是否為故障磁盤，包括：

步驟s251，接收到所述待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，對(duì)所述待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)賦予一個(gè)初始值。

步驟s253，根據(jù)所述待測(cè)磁盤的初始值遍歷每一個(gè)決策樹(shù)，計(jì)算得到第一個(gè)決策樹(shù)所確定的預(yù)測(cè)結(jié)果和第一殘差，并將所述第一殘差賦值給所述初始值，得到更新后的初始值。

步驟s255，以所述更新后的初始值計(jì)算得到第二個(gè)決策樹(shù)所確定的預(yù)測(cè)結(jié)果和第二殘差，并所述第二殘差賦值所述更新后的初始值，以此遍歷所有的決策樹(shù)，得到預(yù)測(cè)所述待測(cè)磁盤是否為故障磁盤的結(jié)果。

步驟s257，每一棵樹(shù)學(xué)的是之前所有樹(shù)結(jié)論和的殘差，這個(gè)殘差就是一個(gè)加預(yù)測(cè)值后能得真實(shí)值的累加量。

在一種可選的實(shí)施例中，仍以上述a,b,c,d四個(gè)磁盤為例，采用特征a可將a,b,c,d四個(gè)磁盤分為兩個(gè)部分，分別為a,b和c,d，每個(gè)部分用平均標(biāo)簽值作為預(yù)測(cè)值。此時(shí)計(jì)算殘差，其中殘差至為磁盤的預(yù)測(cè)值與磁盤的實(shí)際值的差，所以a的殘差就是1-0.5＝0.5進(jìn)而得到a,b,c,d的殘差分別為0.5,-0.5，0.5,-0.5。然后結(jié)合圖4所示，圖4為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種使用gbdt算法計(jì)算磁盤預(yù)測(cè)值的示意圖，使用 殘差替代a,b,c,d的原值，輸入至第二棵決策樹(shù)進(jìn)行訓(xùn)練，并根據(jù)與特征b的比對(duì)結(jié)果分為兩個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)，如果預(yù)測(cè)值和它們的殘差相等，則只需把第二棵樹(shù)的結(jié)論累加到第一棵樹(shù)上就能得到磁盤的實(shí)際值。第二棵樹(shù)僅有兩個(gè)值0.5和-0.5，因此直接分成兩個(gè)節(jié)點(diǎn)。此時(shí)所有人的殘差都是0，即每個(gè)人都得到了真實(shí)的預(yù)測(cè)值。

此處需要說(shuō)明的是，上述實(shí)施例以說(shuō)明為目的，因此只有兩顆決策樹(shù)，在實(shí)際應(yīng)用中，根據(jù)樣本數(shù)據(jù)量可以獲得到個(gè)決策樹(shù)，且預(yù)測(cè)值是指之前所有樹(shù)累加的和，由于此實(shí)施例中，這棵決策樹(shù)之前僅有一顆決策樹(shù)，因此直接是0.5，如果還有奇特決策樹(shù)，則需要都累加起來(lái)作為a的預(yù)測(cè)值。

圖5是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法的流程圖，下面結(jié)合圖5詳細(xì)介紹本申請(qǐng)的一種優(yōu)選的實(shí)施例。

如圖5所示，提供了一種磁盤的故障預(yù)測(cè)方法，該方法可以包括如下步驟s51至步驟s57：

s51，獲取樣本磁盤的樣本數(shù)據(jù)。

具體的，在上述步驟中，可以通過(guò)hdtune、crystaldiskinfo等軟件獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)。

s52，對(duì)樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行差分運(yùn)算。

具體的，在上述步驟中，差分運(yùn)算指磁盤在某一時(shí)刻的特征數(shù)據(jù)與過(guò)該磁盤在24小時(shí)之前的特征數(shù)據(jù)做差運(yùn)算得到的值。

s53，對(duì)差分運(yùn)算得到的結(jié)果進(jìn)行分布求和和/或平方運(yùn)算。

s54，得到訓(xùn)練和預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)。

s55，第一步訓(xùn)練和預(yù)測(cè)，使召回率較大。

s56，第二步訓(xùn)練和預(yù)測(cè)，平衡召回率和準(zhǔn)確率。

具體的，在上述步驟中，由于訓(xùn)練數(shù)據(jù)中負(fù)樣本占比很大，正樣本占比小，例如，當(dāng)二者比例為1000:1時(shí)，如果用全部的訓(xùn)練數(shù)據(jù)做訓(xùn)練，能準(zhǔn)確預(yù)測(cè)的正樣本是很少的，由于訓(xùn)練數(shù)據(jù)中正樣本較少，很多真實(shí)值為負(fù)樣本的數(shù)據(jù)可能被誤判為正樣本，因此第一步在訓(xùn)練時(shí)使正樣本的召回率較大，第二步在訓(xùn)練時(shí)，把第一步預(yù)測(cè)為正樣本的訓(xùn)練數(shù)據(jù)作為第二步的訓(xùn)練數(shù)據(jù)，即選擇為與正樣本接近的那些樣本作為訓(xùn)練樣本，如此在做訓(xùn)練時(shí)，訓(xùn)練出的模型會(huì)更有利于預(yù)測(cè)出正樣本，這樣第二步預(yù)測(cè)得到的結(jié)果，正樣本的準(zhǔn)確率會(huì)比第一步有大幅度提高，從而使準(zhǔn)確率和召回率達(dá)到一定 的平衡程度。

實(shí)施例2

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，還提供了一種用于實(shí)施上述反編譯數(shù)據(jù)的處理方法的反編譯數(shù)據(jù)的處理裝置，圖6是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種磁盤的故障預(yù)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖6所示，該裝置包括：獲取模塊60，訓(xùn)練模塊62和處理模塊64。

獲取模塊60，用于通過(guò)磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，所述樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；

訓(xùn)練模塊62，用于采用gbdt算法對(duì)所述樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型；

處理模塊64，在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用所述由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)所述待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定所述待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。

此處需要說(shuō)明的是，上述獲取模塊60，訓(xùn)練模塊62和處理模塊64對(duì)應(yīng)于實(shí)施例一種的步驟s21至步驟s25所實(shí)現(xiàn)的實(shí)例和應(yīng)用場(chǎng)景相同，但不限于上述實(shí)施例一所公開(kāi)的內(nèi)容。需要說(shuō)明的是，上述模塊作為裝置的一部分可以運(yùn)行在實(shí)施例一提供的計(jì)算機(jī)終端10中。

根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，所述樣本磁盤數(shù)據(jù)為smart磁盤數(shù)據(jù)，其中，所述樣本磁盤數(shù)據(jù)至少包括如下四個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)：原始值、標(biāo)準(zhǔn)值、最差值和累積值。

根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，結(jié)合圖7所示，上述裝置還包括：

運(yùn)算模塊70，用于對(duì)所述每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行如下任意一種或多種運(yùn)算：差分運(yùn)算、平方運(yùn)算和分布求和運(yùn)算，使得任意一個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴(kuò)展出新的維度上的樣本數(shù)據(jù)。

此處需要說(shuō)明的是，上述運(yùn)算模塊770對(duì)應(yīng)與實(shí)施例一中的步驟s21至步驟s25所實(shí)現(xiàn)的實(shí)例和應(yīng)用場(chǎng)景相同，但不限于上述實(shí)施例一所公開(kāi)的內(nèi)容。需要說(shuō)明的是，上述模塊作為裝置的一部分可以運(yùn)行在實(shí)施例一提供的計(jì)算機(jī)終端10中。

根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，結(jié)合圖8所示，上述訓(xùn)練模塊62還包括：

初始模塊80，用于以所有磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練數(shù)據(jù)，并采用默認(rèn)值初始 化所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)的分類模型參數(shù)；

提取模塊82，用于提取所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)中的多個(gè)特征數(shù)據(jù)，將每個(gè)特征數(shù)據(jù)作為根節(jié)點(diǎn)在創(chuàng)建所述多個(gè)決策樹(shù)，并將每個(gè)特征數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的特征值作為對(duì)應(yīng)的決策樹(shù)的葉子節(jié)點(diǎn)；

第一計(jì)算模塊84，用于計(jì)算當(dāng)前所有葉子節(jié)點(diǎn)的最優(yōu)劃分以及其增益，并以增益最大的葉子節(jié)點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)的劃分點(diǎn)進(jìn)行分裂，使得將所述樣本磁盤數(shù)據(jù)劃分到子節(jié)點(diǎn)中。

此處需要說(shuō)明的是，上述初始模塊80，提取模塊82和第一計(jì)算模塊84對(duì)應(yīng)于實(shí)施例一種的步驟s231至步驟s235所實(shí)現(xiàn)的實(shí)例和應(yīng)用場(chǎng)景相同，但不限于上述實(shí)施例一所公開(kāi)的內(nèi)容。需要說(shuō)明的是，上述模塊作為裝置的一部分可以運(yùn)行在實(shí)施例一提供的計(jì)算機(jī)終端10中。

根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，結(jié)合圖9所示，所述提取模塊82包括：

讀取模塊90，用于讀取任意一個(gè)特征數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的閾值；

比較模塊92，用于將所述任意一個(gè)特征數(shù)據(jù)的特征值與所述閾值進(jìn)行比較，并根據(jù)比較結(jié)果得到兩個(gè)分支的熵；

確定模塊94，用于根據(jù)所述兩個(gè)分支的熵確定兩個(gè)新節(jié)點(diǎn)作為所述任意一個(gè)特征數(shù)據(jù)的兩個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)；

處理子模塊96，用于采用上述步驟對(duì)每一個(gè)特征數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，直到每個(gè)特征數(shù)據(jù)得到預(yù)定的兩個(gè)唯一的葉子節(jié)點(diǎn)。

此處需要說(shuō)明的是，上述讀取模塊90，比較模塊92、確定模塊94和處理子模塊96對(duì)應(yīng)于實(shí)施例一種的步驟s2331至步驟s2337所實(shí)現(xiàn)的實(shí)例和應(yīng)用場(chǎng)景相同，但不限于上述實(shí)施例一所公開(kāi)的內(nèi)容。需要說(shuō)明的是，上述模塊作為裝置的一部分可以運(yùn)行在實(shí)施例一提供的計(jì)算機(jī)終端10中。

根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，在得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型之后，所述方法還包括：對(duì)所述分類模型參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，其中，在所述分類模型參數(shù)包括故障磁盤樣本和非故障磁盤樣本的情況下，如果要確定所述待測(cè)磁盤是否為故障磁盤，則將所述分類模型參數(shù)中的故障磁盤樣本的比例調(diào)高。

根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例，在一種優(yōu)選的方案中，結(jié)合圖10所示，上述處理模塊 64包括：

接收模塊100，用于接收到所述待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，對(duì)所述待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)賦予一個(gè)初始值；

第二計(jì)算模塊102，用于根據(jù)所述待測(cè)磁盤的初始值遍歷每一個(gè)決策樹(shù)，計(jì)算得到第一個(gè)決策樹(shù)所確定的預(yù)測(cè)結(jié)果和第一殘差，并將所述第一殘差賦值給所述初始值，得到更新后的初始值；

遍歷模塊104，用于以所述更新后的初始值計(jì)算得到第二個(gè)決策樹(shù)所確定的預(yù)測(cè)結(jié)果和第二殘差，并所述第二殘差賦值所述更新后的初始值，以此遍歷所有的決策樹(shù)，得到預(yù)測(cè)所述待測(cè)磁盤是否為故障磁盤的結(jié)果。

此處需要說(shuō)明的是，上述接收模塊100，第二計(jì)算模塊102和遍歷模塊104對(duì)應(yīng)于實(shí)施例一種的步驟s251至步驟s255所實(shí)現(xiàn)的實(shí)例和應(yīng)用場(chǎng)景相同，但不限于上述實(shí)施例一所公開(kāi)的內(nèi)容。需要說(shuō)明的是，上述模塊作為裝置的一部分可以運(yùn)行在實(shí)施例一提供的計(jì)算機(jī)終端10中。

實(shí)施例3

本發(fā)明的實(shí)施例可以提供一種計(jì)算機(jī)終端，該計(jì)算機(jī)終端可以是計(jì)算機(jī)終端群中的任意一個(gè)計(jì)算機(jī)終端設(shè)備?？蛇x地，在本實(shí)施例中，上述計(jì)算機(jī)終端也可以替換為移動(dòng)終端等終端設(shè)備。

可選地，在本實(shí)施例中，上述計(jì)算機(jī)終端可以位于計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)的多個(gè)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備中的至少一個(gè)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備。

在本實(shí)施例中，上述計(jì)算機(jī)終端可以執(zhí)行磁盤的故障預(yù)測(cè)方法中以下步驟的程序代碼：通過(guò)磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；采用gbdt算法對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型；在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。

可選地，圖11是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種計(jì)算機(jī)終端的結(jié)構(gòu)框圖。如圖11所示，該計(jì)算機(jī)終端a可以包括：一個(gè)或多個(gè)(圖中僅示出一個(gè))處理器111、存儲(chǔ)器113、以及傳輸裝置115。

其中，存儲(chǔ)器可用于存儲(chǔ)軟件程序以及模塊，如本發(fā)明實(shí)施例中的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法和裝置對(duì)應(yīng)的程序指令/模塊，處理器通過(guò)運(yùn)行存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器內(nèi)的軟件程序以及模塊，從而執(zhí)行各種功能應(yīng)用以及數(shù)據(jù)處理，即實(shí)現(xiàn)上述的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法。存 儲(chǔ)器可包括高速隨機(jī)存儲(chǔ)器，還可以包括非易失性存儲(chǔ)器，如一個(gè)或者多個(gè)磁性存儲(chǔ)裝置、閃存、或者其他非易失性固態(tài)存儲(chǔ)器。在一些實(shí)例中，存儲(chǔ)器可進(jìn)一步包括相對(duì)于處理器遠(yuǎn)程設(shè)置的存儲(chǔ)器，這些遠(yuǎn)程存儲(chǔ)器可以通過(guò)網(wǎng)絡(luò)連接至終端a。上述網(wǎng)絡(luò)的實(shí)例包括但不限于互聯(lián)網(wǎng)、企業(yè)內(nèi)部網(wǎng)、局域網(wǎng)、移動(dòng)通信網(wǎng)及其組合。

處理器可以通過(guò)傳輸裝置調(diào)用存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的信息及應(yīng)用程序，以執(zhí)行下述步驟：樣本磁盤數(shù)據(jù)為smart磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)至少包括如下四個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)：原始值、標(biāo)準(zhǔn)值、最差值和累積值。

可選的，上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼：對(duì)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行如下任意一種或多種運(yùn)算：差分運(yùn)算、平方運(yùn)算和分布求和運(yùn)算，使得任意一個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴(kuò)展出新的維度上的樣本數(shù)據(jù)。

可選的，上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼：以所有磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練數(shù)據(jù)，并采用默認(rèn)值初始化訓(xùn)練數(shù)據(jù)的分類模型參數(shù)；提取訓(xùn)練數(shù)據(jù)中的多個(gè)特征數(shù)據(jù)，將每個(gè)特征數(shù)據(jù)作為根節(jié)點(diǎn)在創(chuàng)建多個(gè)決策樹(shù)，并將每個(gè)特征數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的特征值作為對(duì)應(yīng)的決策樹(shù)的葉子節(jié)點(diǎn)；計(jì)算當(dāng)前所有葉子節(jié)點(diǎn)的最優(yōu)劃分以及其增益，并以增益最大的葉子節(jié)點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)的劃分點(diǎn)進(jìn)行分裂，使得將樣本磁盤數(shù)據(jù)劃分到子節(jié)點(diǎn)中。

可選的，上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼：讀取任意一個(gè)特征數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的閾值；將任意一個(gè)特征數(shù)據(jù)的特征值與閾值進(jìn)行比較，并根據(jù)比較結(jié)果得到兩個(gè)分支的熵；根據(jù)兩個(gè)分支的熵確定兩個(gè)新節(jié)點(diǎn)作為任意一個(gè)特征數(shù)據(jù)的兩個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)；采用上述步驟對(duì)每一個(gè)特征數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，直到每個(gè)特征數(shù)據(jù)得到預(yù)定的兩個(gè)唯一的葉子節(jié)點(diǎn)。

可選的，上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼：在得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型之后，方法還包括：對(duì)分類模型參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，其中，在分類模型參數(shù)包括故障磁盤樣本和非故障磁盤樣本的情況下，如果要確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤，則將分類模型參數(shù)中的故障磁盤樣本的比例調(diào)高。

可選的，上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼：接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)賦予一個(gè)初始值；根據(jù)待測(cè)磁盤的初始值遍歷每一個(gè)決策樹(shù)，計(jì)算得到第一個(gè)決策樹(shù)所確定的預(yù)測(cè)結(jié)果和第一殘差，并將第一殘差賦值給初始值，得到更新后的初始值；以更新后的初始值計(jì)算得到第二個(gè)決策樹(shù)所確定的預(yù)測(cè)結(jié)果和第二殘差，并第二殘差賦值更新后的初始值，以此遍歷所有的決策樹(shù)，得到預(yù)測(cè)待測(cè)磁盤是否為故障磁盤的結(jié)果。

在本發(fā)明實(shí)施例中，采用通過(guò)磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；采用gbdt算法對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型方式，通過(guò)在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，達(dá)到了確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤的目的，從而實(shí)現(xiàn)了預(yù)測(cè)磁盤故障狀態(tài)的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測(cè)系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集胡或量化導(dǎo)致的預(yù)測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的技術(shù)問(wèn)題。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解，圖11所示的結(jié)構(gòu)僅為示意，計(jì)算機(jī)終端也可以是智能手機(jī)(如android手機(jī)、ios手機(jī)等)、平板電腦、掌聲電腦以及移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)設(shè)備(mobileinternetdevices，mid)、pad等終端設(shè)備。圖11其并不對(duì)上述電子裝置的結(jié)構(gòu)造成限定。例如，計(jì)算機(jī)終端a還可包括比圖11中所示更多或者更少的組件(如網(wǎng)絡(luò)接口、顯示裝置等)，或者具有與圖11所示不同的配置。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述實(shí)施例的各種方法中的全部或部分步驟是可以通過(guò)程序來(lái)指令終端設(shè)備相關(guān)的硬件來(lái)完成，該程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，存儲(chǔ)介質(zhì)可以包括：閃存盤、只讀存儲(chǔ)器(read-onlymemory，rom)、隨機(jī)存取器(randomaccessmemory，ram)、磁盤或光盤等。

實(shí)施例4

本發(fā)明的實(shí)施例還提供了一種存儲(chǔ)介質(zhì)?？蛇x地，在本實(shí)施例中，上述存儲(chǔ)介質(zhì)可以用于保存上述實(shí)施例一所提供的磁盤的故障預(yù)測(cè)方法所執(zhí)行的程序代碼。

可選地，在本實(shí)施例中，上述存儲(chǔ)介質(zhì)可以位于計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)中計(jì)算機(jī)終端群中的任意一個(gè)計(jì)算機(jī)終端中，或者位于移動(dòng)終端群中的任意一個(gè)移動(dòng)終端中。

可選地，在本實(shí)施例中，存儲(chǔ)介質(zhì)被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：通過(guò)磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)，其中，樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)；采用gbdt算法對(duì)樣本磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行樣本訓(xùn)練，得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型；在接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，使用由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤。

可選地，上述存儲(chǔ)介質(zhì)還被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：對(duì)每個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行如下任意一種或多種運(yùn)算：差分運(yùn)算、平方運(yùn)算和分布求和運(yùn)算，使得任意一個(gè)維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴(kuò)展出新的維度上的樣本數(shù)據(jù)。

可選地，上述存儲(chǔ)介質(zhì)還被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：以所有磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練數(shù)據(jù)，并采用默認(rèn)值初始化訓(xùn)練數(shù)據(jù)的分類模型參數(shù)；提 取訓(xùn)練數(shù)據(jù)中的多個(gè)特征數(shù)據(jù)，將每個(gè)特征數(shù)據(jù)作為根節(jié)點(diǎn)在創(chuàng)建多個(gè)決策樹(shù)，并將每個(gè)特征數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的特征值作為對(duì)應(yīng)的決策樹(shù)的葉子節(jié)點(diǎn)；計(jì)算當(dāng)前所有葉子節(jié)點(diǎn)的最優(yōu)劃分以及其增益，并以增益最大的葉子節(jié)點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)的劃分點(diǎn)進(jìn)行分裂，使得將樣本磁盤數(shù)據(jù)劃分到子節(jié)點(diǎn)中。

可選地，上述存儲(chǔ)介質(zhì)還被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：讀取任意一個(gè)特征數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的閾值；將任意一個(gè)特征數(shù)據(jù)的特征值與閾值進(jìn)行比較，并根據(jù)比較結(jié)果得到兩個(gè)分支的熵；根據(jù)兩個(gè)分支的熵確定兩個(gè)新節(jié)點(diǎn)作為任意一個(gè)特征數(shù)據(jù)的兩個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)；采用上述步驟對(duì)每一個(gè)特征數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，直到每個(gè)特征數(shù)據(jù)得到預(yù)定的兩個(gè)唯一的葉子節(jié)點(diǎn)。

可選地，上述存儲(chǔ)介質(zhì)還被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：在得到由多個(gè)決策樹(shù)組成的磁盤預(yù)測(cè)模型之后，方法還包括：對(duì)分類模型參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，其中，在分類模型參數(shù)包括故障磁盤樣本和非故障磁盤樣本的情況下，如果要確定待測(cè)磁盤是否為故障磁盤，則將分類模型參數(shù)中的故障磁盤樣本的比例調(diào)高。

可選地，上述存儲(chǔ)介質(zhì)還被設(shè)置為存儲(chǔ)用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼：接收到待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后，對(duì)待測(cè)磁盤的磁盤數(shù)據(jù)賦予一個(gè)初始值；根據(jù)待測(cè)磁盤的初始值遍歷每一個(gè)決策樹(shù)，計(jì)算得到第一個(gè)決策樹(shù)所確定的預(yù)測(cè)結(jié)果和第一殘差，并將第一殘差賦值給初始值，得到更新后的初始值；以更新后的初始值計(jì)算得到第二個(gè)決策樹(shù)所確定的預(yù)測(cè)結(jié)果和第二殘差，并第二殘差賦值更新后的初始值，以此遍歷所有的決策樹(shù)，得到預(yù)測(cè)待測(cè)磁盤是否為故障磁盤的結(jié)果。

上述本發(fā)明實(shí)施例序號(hào)僅僅為了描述，不代表實(shí)施例的優(yōu)劣。

在本發(fā)明的上述實(shí)施例中，對(duì)各個(gè)實(shí)施例的描述都各有側(cè)重，某個(gè)實(shí)施例中沒(méi)有詳述的部分，可以參見(jiàn)其他實(shí)施例的相關(guān)描述。

在本申請(qǐng)所提供的幾個(gè)實(shí)施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的技術(shù)內(nèi)容，可通過(guò)其它的方式實(shí)現(xiàn)。其中，以上所描述的裝置實(shí)施例僅僅是示意性的，例如所述單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實(shí)際實(shí)現(xiàn)時(shí)可以有另外的劃分方式，例如多個(gè)單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個(gè)系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點(diǎn)，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過(guò)一些接口，單元或模塊的間接耦合或通信連接，可以是電性或其它的形式。

所述作為分離部件說(shuō)明的單元可以是或者也可以不是物理上分開(kāi)的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個(gè)地方，或者也可以分布到多個(gè)網(wǎng)絡(luò)單元上?？梢愿鶕?jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部單元來(lái)實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例 方案的目的。

另外，在本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個(gè)處理單元中，也可以是各個(gè)單元單獨(dú)物理存在，也可以兩個(gè)或兩個(gè)以上單元集成在一個(gè)單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)。

所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時(shí)，可以存儲(chǔ)在一個(gè)計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說(shuō)對(duì)現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來(lái)，該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺(tái)計(jì)算機(jī)設(shè)備(可為個(gè)人計(jì)算機(jī)、服務(wù)器或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括：u盤、只讀存儲(chǔ)器(rom，read-onlymemory)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(ram，randomaccessmemory)、移動(dòng)硬盤、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。