1.一種數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置包括：
第一多芯片組，包括第一易失性存儲(chǔ)器、第一非易失性存儲(chǔ)器以及被構(gòu)造為控制第一易失性存儲(chǔ)器和第一非易失性存儲(chǔ)器的第一核；
第二多芯片組，包括第二易失性存儲(chǔ)器、第二非易失性存儲(chǔ)器以及被構(gòu)造為控制第二易失性存儲(chǔ)器和第二非易失性存儲(chǔ)器的第二核；以及
控制器，連接到第一多芯片組和第二多芯片組，并且被構(gòu)造為使第一非易失性存儲(chǔ)器的第一存儲(chǔ)區(qū)域的第一邏輯地址與第二非易失性存儲(chǔ)器的第二存儲(chǔ)區(qū)域的第二邏輯地址交換。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，控制器被構(gòu)造為使存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)區(qū)域中的第一數(shù)據(jù)與存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)區(qū)域中的第二數(shù)據(jù)交換。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置還包括存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器被構(gòu)造為存儲(chǔ)表，所述表包括通過(guò)控制器彼此交換的第一邏輯地址和第二邏輯地址。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，控制器被構(gòu)造為從主機(jī)接收第一邏輯地址并且通過(guò)參考所述表將交換的第二邏輯地址發(fā)送到第二多芯片組。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，第一存儲(chǔ)區(qū)域是用戶數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)域，第二存儲(chǔ)區(qū)域是預(yù)留空間區(qū)域。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，第一存儲(chǔ)區(qū)域的磨損計(jì)數(shù)大于第二存儲(chǔ)區(qū)域的磨損計(jì)數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，磨損計(jì)數(shù)基于擦除計(jì)數(shù)、編程計(jì)數(shù)、讀取計(jì)數(shù)、壞塊發(fā)生數(shù)和讀取錯(cuò)誤發(fā)生數(shù)中的至少一種。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，第一存儲(chǔ)區(qū)域是用于存儲(chǔ)熱數(shù)據(jù)和冷數(shù)據(jù)中的一種的區(qū)域，第二存儲(chǔ)區(qū)域是用于存儲(chǔ)熱數(shù)據(jù)和冷數(shù)據(jù)中的另一種的區(qū)域。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，第一易失性存儲(chǔ)器和第一核被包括在第一半導(dǎo)體封裝件中，第二易失性存儲(chǔ)器和第二核被包括在第二半導(dǎo)體封裝件中。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，第一半導(dǎo)體封裝件和 第二半導(dǎo)體封裝件中的每個(gè)是多芯片封裝件。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，第一多芯片組和控制器實(shí)現(xiàn)在一個(gè)半導(dǎo)體封裝件中。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，半導(dǎo)體封裝件是嵌入式層疊封裝。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，控制器被構(gòu)造為根據(jù)控制器的第一請(qǐng)求從第一核通過(guò)第一通道接收第一邏輯地址，并且根據(jù)控制器的第二請(qǐng)求從第二核通過(guò)第二通道接收第二邏輯地址。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，第一核被構(gòu)造為根據(jù)第一請(qǐng)求將第一非易失性存儲(chǔ)器中包括的每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)域的磨損計(jì)數(shù)與參考磨損計(jì)數(shù)進(jìn)行第一比較，并且根據(jù)第一比較的結(jié)果將第一存儲(chǔ)區(qū)域的第一邏輯地址通過(guò)第一通道發(fā)送到控制器；其中，第二核被構(gòu)造為根據(jù)第二請(qǐng)求將第二非易失性存儲(chǔ)器中包括的每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)域的磨損計(jì)數(shù)與參考磨損計(jì)數(shù)進(jìn)行第二比較，并且根據(jù)第二比較的結(jié)果將第二存儲(chǔ)區(qū)域的第二邏輯地址通過(guò)第二通道發(fā)送到控制器；其中，第一存儲(chǔ)區(qū)域的第一磨損計(jì)數(shù)大于第二存儲(chǔ)區(qū)域的第二磨損計(jì)數(shù)。
15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，第一核被構(gòu)造為將第一非易失性存儲(chǔ)器中包括的每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)域的磨損計(jì)數(shù)與參考磨損計(jì)數(shù)進(jìn)行第一比較，并且根據(jù)第一比較的結(jié)果將第一存儲(chǔ)區(qū)域的第一邏輯地址通過(guò)第一通道發(fā)送到控制器；其中，第二核被構(gòu)造為將第二非易失性存儲(chǔ)器中包括的每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)域的磨損計(jì)數(shù)與參考磨損計(jì)數(shù)進(jìn)行第二比較，并且根據(jù)第二比較的結(jié)果將第二存儲(chǔ)區(qū)域的第二邏輯地址通過(guò)第二通道發(fā)送到控制器；其中，第一存儲(chǔ)區(qū)域的第一磨損計(jì)數(shù)大于第二存儲(chǔ)區(qū)域的第二磨損計(jì)數(shù)。
16.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，第一存儲(chǔ)區(qū)域和第二存儲(chǔ)區(qū)域中的每個(gè)是塊或頁(yè)。
17.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，第一易失性存儲(chǔ)器和第二易失性存儲(chǔ)器中的每個(gè)是動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器，第一非易失性存儲(chǔ)器和第二非易失性存儲(chǔ)器中的每個(gè)是閃存，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置是固態(tài)硬盤(pán)。
18.一種數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)包括：
主機(jī)；以及
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，連接到主機(jī)，其中，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置包括：
第一多芯片組，包括第一易失性存儲(chǔ)器、第一非易失性存儲(chǔ)器以及被構(gòu)造為控制第一易失性存儲(chǔ)器和第一非易失性存儲(chǔ)器的第一核；
第二多芯片組，包括第二易失性存儲(chǔ)器、第二非易失性存儲(chǔ)器以及被構(gòu)造為控制第二易失性存儲(chǔ)器和第二非易失性存儲(chǔ)器的第二核；以及
控制器，連接到第一多芯片組和第二多芯片組，并且被構(gòu)造為使第一非易失性存儲(chǔ)器的第一存儲(chǔ)區(qū)域的第一邏輯地址與第二非易失性存儲(chǔ)器的第二存儲(chǔ)區(qū)域的第二邏輯地址交換。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，其中，控制器被構(gòu)造為使存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)區(qū)域中的第一數(shù)據(jù)與存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)區(qū)域中的第二數(shù)據(jù)交換。
20.根據(jù)權(quán)利要求18所述的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，其中，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置還包括表，所述表包括通過(guò)控制器彼此交換的第一邏輯地址和第二邏輯地址；其中，控制器被構(gòu)造為從主機(jī)接收第一邏輯地址，并且通過(guò)參考所述表將交換的第二邏輯地址發(fā)送到第二多芯片組。
21.一種數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置包括：
第一橫向擴(kuò)展存儲(chǔ)裝置，包括第一易失性存儲(chǔ)器、第一非易失性存儲(chǔ)器以及被構(gòu)造為控制第一易失性存儲(chǔ)器和第一非易失性存儲(chǔ)器的第一核；
第二橫向擴(kuò)展存儲(chǔ)裝置，包括第二易失性存儲(chǔ)器、第二非易失性存儲(chǔ)器以及被構(gòu)造為控制第二易失性存儲(chǔ)器和第二非易失性存儲(chǔ)器的第二核；
橫向擴(kuò)展控制器，連接到第一橫向擴(kuò)展存儲(chǔ)裝置和第二橫向擴(kuò)展存儲(chǔ)裝置，并且被構(gòu)造為：基于大于第二非易失性存儲(chǔ)器的第二存儲(chǔ)區(qū)域的磨損計(jì)數(shù)的第一非易失性存儲(chǔ)器的第一存儲(chǔ)區(qū)域的磨損計(jì)數(shù)而使第一存儲(chǔ)區(qū)域的第一邏輯地址與第二存儲(chǔ)區(qū)域的第二邏輯地址交換；以及
存儲(chǔ)器，被構(gòu)造為存儲(chǔ)表，所述表包括通過(guò)橫向擴(kuò)展控制器彼此交換的第一邏輯地址和第二邏輯地址。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，橫向擴(kuò)展控制器被構(gòu)造為使存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)區(qū)域中的第一數(shù)據(jù)與存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)區(qū)域中的第二數(shù)據(jù)交換。
23.根據(jù)權(quán)利要求21所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，橫向擴(kuò)展控制器被構(gòu)造為從主機(jī)接收第一邏輯地址并且通過(guò)參考所述表將交換的第二邏輯地址發(fā)送到第二橫向擴(kuò)展存儲(chǔ)裝置。
24.根據(jù)權(quán)利要求21所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，磨損計(jì)數(shù)基于擦除計(jì) 數(shù)、編程計(jì)數(shù)、讀取計(jì)數(shù)、壞塊發(fā)生數(shù)和讀取錯(cuò)誤發(fā)生數(shù)中的至少一種。
25.根據(jù)權(quán)利要求21所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，其中，第一存儲(chǔ)區(qū)域是用于存儲(chǔ)熱數(shù)據(jù)和冷數(shù)據(jù)中的一種的區(qū)域，第二存儲(chǔ)區(qū)域是用于存儲(chǔ)熱數(shù)據(jù)和冷數(shù)據(jù)中的另一種的區(qū)域；其中，熱數(shù)據(jù)相對(duì)于冷數(shù)據(jù)被更頻繁地存取。