技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明實施例提供一種頁巖納米孔隙結(jié)構(gòu)投影數(shù)據(jù)的幾何校正方法及裝置，所述方法包括：利用平面積分交叉校驗算法進行上下偏移校正；利用基于邊緣檢測的最鄰近圖像元相似性算法進行左右偏移校正。通過“平面積分交叉校驗算法”對投影數(shù)據(jù)進行上下校正，通過“基于邊緣檢測的最鄰近圖像元相似性算法”對投影數(shù)據(jù)進行左右校正，提高樣品孔隙成像分辨率，并去除了投影數(shù)據(jù)中的偽影，壓制了投影數(shù)據(jù)中的噪聲，能夠?qū)崿F(xiàn)對樣品納米級孔喉，微米級孔隙的刻畫。

技術(shù)研發(fā)人員：王彥飛;唐巍;汪麗華;王羽;王建強
受保護的技術(shù)使用者：中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所
文檔號碼：201610744372
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.27
技術(shù)公布日：2017.06.13