本發(fā)明總體上涉及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

包括接近傳感器設(shè)備（通常也被稱為觸摸板或觸摸傳感器設(shè)備）在內(nèi)的輸入設(shè)備被廣泛用在各種各樣的電子系統(tǒng)中。接近傳感器設(shè)備典型地包括常常通過表面區(qū)分的感測區(qū)，接近傳感器設(shè)備在該感測區(qū)中確定一個或多個輸入對象的存在、位置和/或運動。接近傳感器設(shè)備可以被用來為電子系統(tǒng)提供接口。例如，接近傳感器設(shè)備常常被用作較大的計算系統(tǒng)的輸入設(shè)備（諸如集成在筆記本或桌上型計算機中的或者作為筆記本或桌上型計算機外設(shè)的不透明觸摸板）。接近傳感器設(shè)備還常常被用在較小的計算系統(tǒng)中（諸如集成在蜂窩電話中的觸摸屏）。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

總體來說，在一個方面中，一個或多個實施例涉及用于電容感測的處理系統(tǒng)。該處理系統(tǒng)包括用于基于所產(chǎn)生的信號、通過利用傳感器電極和發(fā)射器電極執(zhí)行電容感測來獲得第一電容傳感器數(shù)據(jù)的功能，該傳感器電極被配置成從發(fā)射器電極接收所述所產(chǎn)生的信號。該處理系統(tǒng)還包括用于使用傳感器電極獲得分布（profile）、基于第一分布估計干擾測量結(jié)果的功能。該分布沿電容感測的接收器軸，并且干擾測量結(jié)果與干擾相對應(yīng)。通過使用干擾測量結(jié)果來減輕干擾在第一電容傳感器數(shù)據(jù)中的影響以獲得第二電容傳感器數(shù)據(jù)，并且使用第二電容傳感器數(shù)據(jù)來確定輸入對象在感測區(qū)中的位置信息。

總體來說，在一個方面中，一個或多個實施例涉及用于減輕電容感測中的干擾的方法。該方法包括：基于所產(chǎn)生的信號、通過利用傳感器電極和發(fā)射器電極執(zhí)行電容感測來獲得第一電容傳感器數(shù)據(jù)，該傳感器電極被配置成從發(fā)射器電極接收所述所產(chǎn)生的信號。該方法還包括使用傳感器電極獲得分布，基于第一分布估計干擾測量結(jié)果。該分布沿電容感測的接收器軸，并且干擾測量結(jié)果與干擾相對應(yīng)。通過使用干擾測量結(jié)果來減輕干擾在第一電容傳感器數(shù)據(jù)中的影響以獲得第二電容傳感器數(shù)據(jù)，并且使用第二電容傳感器數(shù)據(jù)來確定輸入對象在感測區(qū)中的位置信息。

總體來說，在一個方面中，一個或多個實施例涉及用于電容感測的輸入設(shè)備。該輸入設(shè)備包括用于從發(fā)射器電極接收所產(chǎn)生的信號的傳感器電極。該輸入設(shè)備還包括處理系統(tǒng)，其包括用于基于所產(chǎn)生的信號、通過利用傳感器電極和發(fā)射器電極執(zhí)行電容感測來獲得第一電容傳感器數(shù)據(jù)的功能，該傳感器電極被配置成從發(fā)射器電極接收所述所產(chǎn)生的信號。該處理系統(tǒng)還包括用于使用傳感器電極獲得分布、基于第一分布估計干擾測量結(jié)果的功能。該分布沿電容感測的接收器軸，并且干擾測量結(jié)果與干擾相對應(yīng)。通過使用干擾測量結(jié)果來減輕干擾在第一電容傳感器數(shù)據(jù)中的影響以獲得第二電容傳感器數(shù)據(jù)，并且使用第二電容傳感器數(shù)據(jù)來確定輸入對象在感測區(qū)中的位置信息。

根據(jù)下面的描述和所附權(quán)利要求，本發(fā)明的其他方面將是顯而易見的。

附圖說明

在下文中將結(jié)合附圖描述本發(fā)明的優(yōu)選示例性實施例，其中相似的命名表示相似的元件。

圖1是根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的、包括輸入設(shè)備的示例系統(tǒng)的框圖。

圖2是根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例的、示例感測區(qū)的圖示。

圖3是根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例的流程圖。

圖4、5和6是根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例的示例。

具體實施方式

下面的詳細描述本質(zhì)上僅是示例性的，并且不意在限制本發(fā)明或本發(fā)明的應(yīng)用和使用。此外，不意在受前述技術(shù)領(lǐng)域、背景技術(shù)、發(fā)明內(nèi)容或者下面的具體實施方式中所給出的任何明示或暗示的理論的限制。

在下面本發(fā)明實施例的詳細描述中，闡述了許多具體細節(jié)以便提供對本發(fā)明的更徹底理解。然而，對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說顯而易見的是可以在沒有這些具體細節(jié)的情況下實施本發(fā)明。在其他實例中，不會詳細描述公知特征以避免使本說明書不必要地復(fù)雜化。

遍及本申請，序數(shù)（例如第一、第二、第三等等）可以被用作一個元素（即本申請中的任何名詞）的形容詞。序數(shù)的使用不是為了暗示或創(chuàng)建元素的任何特定排序，也不是為了將任何元素限制成僅是單個元素，除非被明確公開，諸如通過使用術(shù)語“之前”、“之后”、“單個”以及其他這樣的術(shù)語。相反地，序數(shù)的使用是為了區(qū)分各元素。舉例來說，第一元素不同于第二元素，并且第一元素可以包含多于一個元素并且在元素的排序上在第二元素之后（或之前）。

本發(fā)明的各種實施例提供促進提高的可用性的輸入設(shè)備和方法。特別地，本發(fā)明的一個或多個實施例針對使用分布來減輕干擾在電容感測中的影響。在一個或多個實施例中，干擾是與輸入對象耦合的干擾。換言之，干擾可位于諸如手指、觸控筆或筆的輸入對象正觸摸的接收器電極上。通過另一示例，干擾可歸因于具有共模噪聲的、伴有噪聲的充電器。在伴有噪聲的充電器的示例中，該伴有噪聲的充電器可使得手指在電容性測量結(jié)果中顯得伴有噪聲。

一個或多個實施例可通過至少一個發(fā)射器電極發(fā)射信號并且所產(chǎn)生的信號被第一組傳感器電極接收來獲得電容傳感器數(shù)據(jù)。沿與第一組傳感器電極相同的軸來獲得分布。使用該分布，可以估計干擾測量結(jié)果并將該干擾測量結(jié)果用于減輕干擾在傳感器數(shù)據(jù)中的影響。因此，可以根據(jù)經(jīng)修正的傳感器數(shù)據(jù)來確定輸入對象的位置信息。

現(xiàn)轉(zhuǎn)向圖，圖1是根據(jù)本發(fā)明的實施例的示例性輸入設(shè)備（100）的框圖。輸入設(shè)備（100）可以被配置成向電子系統(tǒng)（未示出）提供輸入。如在本文檔中所使用的那樣，術(shù)語“電子系統(tǒng)”（或“電子設(shè)備”）泛指能夠電子地處理信息的任何系統(tǒng)。電子系統(tǒng)的一些非限制性示例包括所有尺寸和形狀的個人計算機，諸如桌上型計算機、膝上型計算機、上網(wǎng)本計算機、平板電腦、網(wǎng)絡(luò)瀏覽器、電子書閱讀器以及個人數(shù)字助理（pda）。另外的示例電子系統(tǒng)包括組合輸入設(shè)備，諸如包括輸入設(shè)備（100）和獨立操縱桿或按鍵開關(guān)的物理鍵盤。其他的示例電子系統(tǒng)包括諸如數(shù)據(jù)輸入設(shè)備（包括遠程控制器和鼠標）和數(shù)據(jù)輸出設(shè)備（包括顯示屏和打印機）之類的外圍設(shè)備。其他示例包括遠程終端、信息亭和視頻游戲機（例如視頻游戲控制臺、便攜式游戲設(shè)備等等）。其他示例包括通信設(shè)備（包括蜂窩電話，諸如智能電話），以及媒體設(shè)備（包括錄音機、編輯器和諸如電視、機頂盒、音樂播放器、數(shù)字照片相框和數(shù)字照相機之類的播放器）。另外，電子系統(tǒng)可以是輸入設(shè)備的主機或從機。

輸入設(shè)備（100）可以被實施為電子系統(tǒng)的物理部分，或者可以與電子系統(tǒng)物理地分開。此外，輸入設(shè)備（100）的各部分可以是電子系統(tǒng)的一部分。例如，確定模塊的全部或部分可以在電子系統(tǒng)的設(shè)備驅(qū)動器中實施。視情況而定，輸入設(shè)備（100）可以使用以下各項中的任何一個或多個來與電子系統(tǒng)的各個部分通信：總線、網(wǎng)絡(luò)、和其他有線或無線互連。示例包括i2c、spi、ps/2、通用串行總線（usb）、藍牙、rf和irda。

在圖1中，輸入設(shè)備（100）被示出為接近傳感器設(shè)備（常常也被稱為“觸摸板”或“觸摸傳感器設(shè)備”），其被配置成感測由一個或多個輸入對象（140）在感測區(qū)（120）中提供的輸入。示例輸入對象包括手指和觸控筆，如圖1所示。遍及本說明書，使用輸入對象的單數(shù)形式。盡管使用單數(shù)形式，但是在感測區(qū)（120）中可以存在多個輸入對象。此外，在感測區(qū)中的特定輸入對象可以隨著一個或多個手勢的過程改變。為了避免使本說明書不必要地復(fù)雜化，使用輸入對象的單數(shù)形式并且其指示所有上述變化。

感測區(qū)（120）包圍輸入設(shè)備（100）上方、周圍、之內(nèi)和/或附近的任何空間，在該感測區(qū)中輸入設(shè)備（100）能夠檢測用戶輸入（例如由一個或多個輸入對象（140）提供的用戶輸入）。特定感測區(qū)的尺寸、形狀和位置可能隨著不同實施例變化很大。

在一些實施例中，感測區(qū)（120）在一個或多個方向上從輸入設(shè)備（100）的表面延伸到空間中直到信噪比阻礙足夠準確的對象檢測為止。輸入設(shè)備的表面上方的延伸可以被稱為上方表面感測區(qū)。在各種實施例中，該感測區(qū)（120）在特定方向上延伸的距離可能是小于一毫米、幾毫米、幾厘米或更多的量級，并且可能隨著所使用的感測技術(shù)的類型和期望的準確度而顯著變化。因此，一些實施例感測下面這樣的輸入：其包括不與輸入設(shè)備（100）的任何表面的接觸、與輸入設(shè)備（100）的輸入表面（例如觸摸表面）的接觸、與一定量的所施加的力或壓力耦合的與輸入設(shè)備（100）的輸入表面的接觸、和/或其組合。在各種實施例中，輸入表面可能由其中存在傳感器電極的外殼的表面、施加在傳感器電極或任何外殼上的面板等來提供。在一些實施例中，感測區(qū)（120）在被投影到輸入設(shè)備（100）的輸入表面上時具有矩形形狀。

輸入設(shè)備（100）可以利用傳感器組件和感測技術(shù)的任何組合來檢測感測區(qū)（120）中的用戶輸入。輸入設(shè)備（100）包括用于檢測用戶輸入的一個或多個感測元件。作為若干個非限制性示例，輸入設(shè)備（100）可以使用電容性、彈性、電阻性、電感性、磁性、聲學(xué)、超聲和/或光學(xué)技術(shù)。

一些實施方式被配置成提供跨越一維、二維、三維或更高維空間的圖像。一些實施方式被配置成提供輸入沿特定軸或平面的投影。此外，一些實施方式可以被配置成提供一個或多個圖像以及一個或多個投影的組合。

在輸入設(shè)備（100）的一些電阻性實施方式中，通過一個或多個間隔件元件將柔性且導(dǎo)電的第一層與導(dǎo)電的第二層分開。在操作期間，產(chǎn)生跨多層的一個或多個電壓梯度。按壓柔性第一層可能使其足夠偏轉(zhuǎn)以在各層之間產(chǎn)生電接觸，從而產(chǎn)生反映各層之間的（一個或多個）接觸點的電壓輸出。這些電壓輸出可被用來確定位置信息。

在輸入設(shè)備（100）的一些電感性實施方式中，一個或多個感測元件拾取諧振線圈或線圈對所感應(yīng)的環(huán)路電流。電流的幅度、相位和頻率的一些組合然后可被用來確定位置信息。

在輸入設(shè)備（100）的一些電容性實施方式中，施加電壓或電流以產(chǎn)生電場。附近的輸入對象引起電場的變化，并且產(chǎn)生可以被檢測為電壓、電流等的變化的、電容耦合的可檢測到的變化。

一些電容性實施方式利用電容感測元件的陣列或者其他規(guī)則或不規(guī)則模式來產(chǎn)生電場。在一些電容性實施方式中，獨立的感測元件可被一起歐姆短路以形成較大的傳感器電極。一些電容性實施方式利用電阻薄膜，其可以是均勻電阻性的。

一些電容性實施方式利用基于傳感器電極與輸入對象之間的電容耦合的變化的“自電容”（或“絕對電容”）感測方法。在各種實施例中，傳感器電極附近的輸入對象改變傳感器電極附近的電場，由此改變測得的電容耦合。在一種實施方式中，絕對電容感測方法通過關(guān)于基準電壓（例如系統(tǒng)的地線）調(diào)制傳感器電極以及通過檢測傳感器電極與輸入對象之間的電容耦合來操作?；鶞孰妷嚎梢允腔旧虾愣ǖ碾妷夯蜃兓碾妷?，并且在各種實施例中，基準電壓可以是系統(tǒng)的地線。使用絕對電容感測方法獲取的測量結(jié)果可以被稱為絕對電容性測量結(jié)果。

一些電容性實施方式利用基于各傳感器電極之間的電容耦合的變化的“互電容”（或“跨越電容”）感測方法。在各種實施例中，傳感器電極附近的輸入對象改變各傳感器電極之間的電場，由此改變測得的電容耦合。在一種實施方式中，互電容感測方法通過檢測一個或多個發(fā)射器傳感器電極（也稱為“發(fā)射器電極”或“發(fā)射器”）與一個或多個接收器傳感器電極（也稱為“接收器電極”或“接收器”）之間的電容耦合來操作?？梢韵鄬τ诨鶞孰妷海ɡ缦到y(tǒng)的地線）來調(diào)制發(fā)射器傳感器電極以發(fā)射發(fā)射器信號。接收器傳感器電極可以保持相對于基準電壓基本上不變以促進對所產(chǎn)生的信號的接收?；鶞孰妷嚎梢允腔旧虾愣ǖ碾妷?，并且在各種實施例中，基準電壓可以是系統(tǒng)的地線。在一些實施例中，發(fā)射器傳感器電極可兩者都被調(diào)制。相對于接收器電極來調(diào)制發(fā)射器電極以發(fā)射發(fā)射器信號并促進對所產(chǎn)生的信號的接收。所產(chǎn)生的信號可以包括對應(yīng)于一個或多個發(fā)射器信號和/或?qū)?yīng)于環(huán)境干擾的一個或多個來源（例如其他電磁信號）的（一個或多個）影響。該（一個或多個）影響可以是發(fā)射器信號、由一個或多個輸入對象和/或環(huán)境干擾引起的發(fā)射器信號的變化、或其他這樣的影響。傳感器電極可以是專用發(fā)射器或接收器，或者可以被配置成既發(fā)射又接收。使用互電容感測方法獲取的測量結(jié)果可被稱為互電容測量結(jié)果。

此外，傳感器電極可以具有變化的形狀和/或尺寸。傳感器電極的相同形狀和/或尺寸可在同一組中或者不在同一組中。例如，在一些實施例中，接收器電極可以具有相同的形狀和/或尺寸，而在其他實施例中，接收器電極可以具有變化的形狀和/或尺寸。

在圖1中，處理系統(tǒng)（110）被示出為輸入設(shè)備（100）的一部分。處理系統(tǒng)（110）被配置成操作輸入設(shè)備（100）的硬件以檢測感測區(qū)（120）中的輸入。處理系統(tǒng)（110）包括一個或多個集成電路（ic）和/或其他電路部件的部分或全部。例如，用于互電容傳感器設(shè)備的處理系統(tǒng)可以包括被配置成利用發(fā)射器傳感器電極發(fā)射信號的發(fā)射器電路，和/或被配置成利用接收器傳感器電極接收信號的接收器電路。此外，用于絕對電容傳感器設(shè)備的處理系統(tǒng)可以包括被配置成將絕對電容信號驅(qū)動到傳感器電極上的驅(qū)動電路，和/或被配置成利用那些傳感器電極接收信號的接收器電路。在一個或多個實施例中，用于組合的互電容傳感器設(shè)備和絕對電容傳感器設(shè)備的處理系統(tǒng)可以包括上述互電容電路和絕對電容電路的任何組合。在一些實施例中，處理系統(tǒng)（110）還包括電子可讀指令，諸如固件代碼、軟件代碼和/或諸如此類的電子可讀指令。在一些實施例中，組成處理系統(tǒng)（110）的部件被設(shè)置在一起，諸如在輸入設(shè)備（100）的（一個或多個）感測元件附近。在其他實施例中，處理系統(tǒng)（110）的部件與靠近輸入設(shè)備（100）的（一個或多個）感測元件的一個或多個部件以及別處的一個或多個部件物理上分開。例如，輸入設(shè)備（100）可以是耦合到計算設(shè)備的外圍設(shè)備，并且處理系統(tǒng)（110）可以包括被配置成在計算設(shè)備的中央處理單元以及與該中央處理單元分開的一個或多個ic（可能具有相關(guān)聯(lián)的固件）上運行的軟件。作為另一示例，輸入設(shè)備（100）可以物理地集成在移動設(shè)備中，并且處理系統(tǒng)（110）可以包括作為移動設(shè)備的主處理器的部分的電路和固件。在一些實施例中，處理系統(tǒng)（110）專用于實施輸入設(shè)備（100）。在其他實施例中，處理系統(tǒng)（110）還執(zhí)行其他功能，諸如操作顯示屏、驅(qū)動觸覺致動器等等。

處理系統(tǒng)（110）可以被實施為操控處理系統(tǒng)（110）的不同功能的一組模塊。每個模塊可以包括固件、軟件、處理系統(tǒng)（110）的一部分的電路或其組合。在各種實施例中，可以使用模塊的不同組合。例如，如圖1中所示，處理系統(tǒng)（110）可以包括確定模塊（150）和傳感器模塊（160）。該確定模塊（150）可以包括以下功能：確定至少一個輸入對象何時在感測區(qū)中、確定信噪比、確定輸入對象的位置信息、識別手勢、基于該手勢、手勢的組合或其他信息確定要執(zhí)行的動作、和/或執(zhí)行其他操作。

傳感器模塊（160）可以包括驅(qū)動感測元件以發(fā)射發(fā)射器信號和接收所產(chǎn)生的信號的功能。例如，傳感器模塊（160）可以包括耦合到感測元件的傳感器電路。傳感器模塊（160）可以包括例如發(fā)射器模塊和接收器模塊。發(fā)射器模塊可以包括耦合到感測元件的發(fā)射部分的發(fā)射器電路。接收器模塊可以包括耦合到感測元件的接收部分的接收器電路并且可以包括接收所產(chǎn)生的信號的功能。

盡管圖1僅示出確定模塊（150）和傳感器模塊（160），但是根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例可以存在替代或額外模塊。這樣的替代或額外模塊可以對應(yīng)于與上文討論的模塊中的一個或多個有區(qū)別的模塊或子模塊。示例的替代或額外模塊包括用于操作諸如傳感器電極和顯示屏之類的硬件的硬件操作模塊、用于處理諸如傳感器信號和位置信息之類的數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)處理模塊、用于報告信息的報告模塊以及被配置成識別諸如模式改變手勢之類的手勢的識別模塊和用于改變操作模式的模式改變模塊。此外，各種模塊可被組合在獨立的集成電路中。例如，第一模塊可被至少部分包括在第一集成電路內(nèi)，并且獨立模塊可至少部分被包括在第二集成電路內(nèi)。此外，單個模塊的各部分可跨越多個集成電路。在一些實施例中，處理系統(tǒng)作為一個整體可執(zhí)行各種模塊的操作。

在一些實施例中，處理系統(tǒng)（110）直接通過引起一個或多個動作來響應(yīng)于感測區(qū)（120）中的用戶輸入（或用戶輸入的缺失）。示例動作包括改變操作模式，以及諸如光標移動、選擇、菜單導(dǎo)航及其他功能的圖形用戶界面（gui）動作。在一些實施例中，處理系統(tǒng)（110）向電子系統(tǒng)的一些部分（例如在電子系統(tǒng)的與處理系統(tǒng)（110）分開的中央處理系統(tǒng)存在的情況下向這樣的獨立中央處理系統(tǒng)）提供關(guān)于輸入（或輸入的缺失）的信息。在一些實施例中，電子系統(tǒng)的一些部分處理從處理系統(tǒng)（110）接收的信息以作用于用戶輸入，諸如促進完整范圍的動作，包括模式改變動作和gui動作。

例如，在一些實施例中，處理系統(tǒng)（110）操作輸入設(shè)備（100）的（一個或多個）感測元件以產(chǎn)生指示感測區(qū)（120）中的輸入（或輸入的缺失）的電信號。處理系統(tǒng)（110）可以在產(chǎn)生提供給電子系統(tǒng)的信息的過程中對電信號執(zhí)行任何適當數(shù)量的處理。例如，處理系統(tǒng)（110）可以對從傳感器電極獲得的模擬電信號進行數(shù)字化。作為另一示例，處理系統(tǒng)（110）可以執(zhí)行濾波或其他信號調(diào)節(jié)。作為又一示例，處理系統(tǒng)（110）可以去掉或以其他方式計及基線，使得信息反映電信號與基線之間的差別。作為再一示例，處理系統(tǒng)（110）可以確定位置信息、將輸入識別為命令、識別手寫等等。

如在這里使用的“位置信息”廣泛地包括絕對位置、相對位置、速度、加速度及其他類型的空間信息。示例性的“零維”位置信息包括近/遠或者接觸/無接觸的信息。示例性的“一維”位置信息包括沿軸的位置。示例性的“二維”位置信息包括平面中的運動。示例性的“三維”位置信息包括空間中的瞬時或平均速度。其他示例包括空間信息的其他表示。關(guān)于一種或多種類型的位置信息的歷史數(shù)據(jù)也可以被確定和/或存儲，例如包括隨著時間追蹤位置、運動或瞬時速度的歷史數(shù)據(jù)。

在一些實施例中，利用通過處理系統(tǒng)（110）或通過一些其他處理系統(tǒng)操作的額外輸入部件來實施輸入設(shè)備（100）。這些額外輸入部件可以提供用于感測區(qū)（120）中的輸入的冗余功能或一些其他功能。圖1示出感測區(qū)（120）附近可被用來便于使用輸入設(shè)備（100）促進項目選擇的按鈕（130）。其他類型的額外輸入部件包括滑動條、滾珠、輪盤、開關(guān)等等。反過來，在一些實施例中，可以在沒有其他輸入部件的情況下實施輸入設(shè)備（100）。

在一些實施例中，輸入設(shè)備（100）包括觸摸屏接口，并且感測區(qū)（120）覆蓋顯示屏的有效面積的至少一部分。例如，輸入設(shè)備（100）可以包括覆蓋顯示屏的基本上透明的傳感器電極并且為相關(guān)聯(lián)的電子系統(tǒng)提供觸摸屏接口。顯示屏可以是能夠向用戶顯示視覺界面的任何類型的動態(tài)顯示器，并且可以包括任何類型的發(fā)光二極管（led）、有機led（oled）、陰極射線管（crt）、液晶顯示器（lcd）、等離子體、電致發(fā)光（el）或其他顯示技術(shù)。輸入設(shè)備（100）和顯示屏可以共享物理元件。例如，一些實施例可以利用一些用于顯示和感測的相同電子部件。在各種實施例中，顯示設(shè)備的一個或多個顯示電極可被配置用于顯示更新和輸入感測二者。作為另一示例，顯示屏可以部分或整體地由處理系統(tǒng)（110）來操作。

應(yīng)該理解，盡管在全功能裝置的背景中描述本發(fā)明的許多實施例，但是本發(fā)明的各機構(gòu)能夠以各種形式被分配為程序產(chǎn)品（例如軟件）。例如，本發(fā)明的各機構(gòu)可以被實施并分配為能夠被電子處理器讀取的信息承載介質(zhì)（例如能夠被處理系統(tǒng)（110）讀取的非瞬時計算機可讀和/或可記錄/可寫信息承載介質(zhì)）上的軟件程序。另外，本發(fā)明的實施例等同地適用，不管被用來實施該分配的特定類型的介質(zhì)是什么。例如，采用計算機可讀程序代碼形式的、執(zhí)行本發(fā)明的實施例的軟件指令可整體或部分地、臨時或永久地存儲在非瞬時計算機可讀存儲介質(zhì)上。非瞬時電子可讀介質(zhì)的示例包括各種盤、物理存儲器、存儲器、記憶棒、存儲卡、存儲模塊和/或任何其他計算機可讀存儲介質(zhì)。電子可讀介質(zhì)可以基于閃存、光、磁、全息或任何其他存儲技術(shù)。

盡管圖1中未示出，但是處理系統(tǒng)、輸入設(shè)備和/或主機系統(tǒng)可包括：一個或多個計算機處理器、相關(guān)聯(lián)的存儲器（例如隨機存取存儲器（ram）、高速緩沖存儲器、閃存等等）、一個或多個存儲設(shè)備（例如硬盤、諸如壓縮光盤（cd）驅(qū)動器或數(shù)字多功能光盤（dvd）驅(qū)動器之類的光學(xué)驅(qū)動器、閃存記憶棒等等）以及許多其他元件和功能。（一個或多個）計算機處理器可以是用于處理指令的集成電路。例如，（一個或多個）計算機處理器可以是處理器的一個或多個核或微核。此外，一個或多個實施例的一個或多個元件可位于遠程位置處并通過網(wǎng)絡(luò)連接到其他元件。此外，本發(fā)明的實施例可在具有若干個節(jié)點的分布式系統(tǒng)上實施，其中本發(fā)明的每個部分可位于分布式系統(tǒng)內(nèi)的不同節(jié)點上。在本發(fā)明的一個實施例中，該節(jié)點對應(yīng)于一個不同的計算設(shè)備?？商娲?，該節(jié)點可對應(yīng)于具有相關(guān)聯(lián)的物理存儲器的計算機處理器。該節(jié)點可替代地對應(yīng)于計算機處理器或具有共享存儲器和/或資源的計算機處理器的微核。

盡管圖1示出部件的配置，但是在不偏離本發(fā)明范圍的情況下可使用其他配置。例如，各種部件可組合以產(chǎn)生單個部件。作為另一示例，由單個部件執(zhí)行的功能可由兩個或更多部件來執(zhí)行。

圖2示出根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例的感測區(qū)（120）的一部分的示例圖示。在本發(fā)明的一個或多個實施例中，該感測區(qū)具有發(fā)射器軸（202）和接收器軸（204）。發(fā)射器軸（202）具有第一組傳感器電極，其包括發(fā)射感測信號的功能。接收器軸包括第二組傳感器電極，其包括接收感測信號的功能。對于跨越電容感測，當發(fā)射器電極或發(fā)射器軸上的感測電極發(fā)射感測信號時，由接收器軸上的接收器電極或第二組傳感器電極來接收所產(chǎn)生的信號。從所產(chǎn)生的信號獲得的測量結(jié)果可被稱為電容傳感器數(shù)據(jù)。所使用的測量結(jié)果可以是未加工的測量結(jié)果或預(yù)處理的測量結(jié)果。在一個或多個實施例中，來自使用每個發(fā)射器電極來執(zhí)行互電容感測的電容傳感器數(shù)據(jù)可用于二維電容圖像。在二維電容圖像中，發(fā)射器電極與接收器電極之間的每個交叉（intersection）具有對應(yīng)的值。

繼續(xù)看圖2，一個或多個實施例可包括執(zhí)行混合感測的功能。換言之，圖1中示出的輸入設(shè)備可包括從感測區(qū)獲得一個或多個分布的功能。該分布是沿感測區(qū)的特定軸來自感測區(qū)的單維的一組值。例如，接收器軸分布是沿感測區(qū)（200）的接收器軸（204）獲得的分布。值得注意地，接收器軸分布并不會將傳感器電極在獲取分布期間的功能提及為作為接收器，而是提及為傳感器電極在對應(yīng)的互電容或主動式筆感測中的功能。也就是說，接收器軸分布指的是沿傳感器電極獲取的分布，在跨越電容感測或主動式筆感測期間，該傳感器電極位于接收器軸上。反過來，發(fā)射器軸分布指的是沿傳感器電極獲取的分布，在跨越電容感測期間，該傳感器電極位于發(fā)射器軸上。因此，接收器軸分布或發(fā)射器軸分布中的值集合不是感測區(qū)的二維電容圖像而是單維的，并且包括針對圖2所示的位于發(fā)射器軸（202）和接收器軸（204）上的每個影線標記的單個未加工的測量值。

如上文所討論的，圖2僅是一個示例。在不偏離本發(fā)明范圍的情況下，電極的尺寸、形狀、數(shù)目和配置可以與圖2中示出的示例不同。特別地，盡管圖2示出以網(wǎng)格模式配置的電極，但是電極可以以不同的模式來布置。

此外，盡管圖2示出用于主動式筆感測的發(fā)射器軸，但一個或多個發(fā)射器電極可處于主動式筆中。在這樣的場景中，沿發(fā)射器軸的傳感器電極可能不被用于主動式筆感測。在本發(fā)明的一個或多個實施例中，接收器傳感器電極可從主動式筆中的（一個或多個）發(fā)射器電極接收所產(chǎn)生的信號。如這里所使用的，不管是使用主動式筆感測還是使用輸入設(shè)備上的發(fā)射器電極，使用發(fā)射器電極和與發(fā)射器電極不同的獨立接收器電極獲得的測量結(jié)果在這里都可被指示為電容傳感器數(shù)據(jù)。

圖3示出根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例的流程圖。盡管該流程圖中的各個步驟被按順序給出和描述，但是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將會認識到可以不同順序來執(zhí)行這些步驟中的一些或全部且它們可被組合或省略，并且可并行執(zhí)行這些步驟中的一些或所有。此外，可主動或被動地執(zhí)行這些步驟。例如，根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例可使用輪詢來執(zhí)行一些步驟或者一些步驟可被中斷驅(qū)動。舉例來說，根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例，確定步驟可能不需要處理器來處理指令，除非接收到意指該狀況存在的中斷。作為另一示例，根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例，可通過執(zhí)行測試來執(zhí)行確定步驟，諸如檢查數(shù)據(jù)值以測試該值是否與被測試的狀況一致。

在步驟301中，根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例，從感測區(qū)獲得電容傳感器數(shù)據(jù)。在一個或多個實施例中，使用跨越電容感測來獲得電容傳感器數(shù)據(jù)。換言之，發(fā)射器電極發(fā)射感測信號并且由接收器軸上的傳感器電極來接收所產(chǎn)生的信號。接收所產(chǎn)生的信號的傳感器電極可以同時接收所產(chǎn)生的信號。此外，多個發(fā)射器電極可使用一個或多個編碼方案或其他這樣的技術(shù)同時發(fā)射感測信號。

在本發(fā)明的一個或多個實施例中，執(zhí)行主動式筆感測。主動式筆感測可以補充或取代跨越電容感測。例如，可以輪替方式（roundrobinfashion）來執(zhí)行跨越電容感測、主動式筆感測和分布的獲取（下面討論）。在主動式筆感測中，主動式筆中的（一個或多個）發(fā)射器電極發(fā)射感測信號。由沿接收器軸定位的傳感器電極來接收所產(chǎn)生的信號。從所產(chǎn)生的信號來獲取測量結(jié)果。如果既使用主動式筆感測又使用跨越電容感測，則當根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例執(zhí)行主動式筆感測時沿發(fā)射器軸的傳感器電極可被禁用或者以其他方式不發(fā)射。

不管是執(zhí)行跨越電容感測還是主動式筆感測，所產(chǎn)生的信號都包括感測信號、感測區(qū)中的任何輸入對象以及任何干擾的影響。換言之，所產(chǎn)生的信號的測量結(jié)果會受到感測區(qū)中的輸入對象、所發(fā)射的感測信號的值以及感測區(qū)中的任何干擾（諸如與輸入對象耦合的噪聲干擾）的影響。所產(chǎn)生的信號可額外包括其他影響，諸如輸入設(shè)備的接地狀態(tài)（例如輸入設(shè)備是處于低接地質(zhì)量模式（groundmassmode）還是處于高接地質(zhì)量模式）。所產(chǎn)生的信號可被處理以獲得電容傳感器數(shù)據(jù)。例如，可從所產(chǎn)生的信號獲取測量結(jié)果以生成電容傳感器數(shù)據(jù)。時間和/或空間濾波器可被應(yīng)用于電容傳感器數(shù)據(jù)。類似地，在進行之前可從電容傳感器數(shù)據(jù)去掉基線。可替代地，如下文所討論的，可在減輕干擾在電容傳感器數(shù)據(jù)中的影響之后執(zhí)行前述預(yù)處理。

繼續(xù)圖3，在步驟303中，獲得針對感測區(qū)的發(fā)射器軸分布（profiletx）和接收器軸分布（profilerx）。可執(zhí)行不同類型的感測來獲得發(fā)射器軸分布。例如，可使用絕對電容感測來獲得發(fā)射器軸分布。換言之，可利用感測信號來驅(qū)動沿發(fā)射器軸的傳感器電極并且從沿發(fā)射器軸的相同傳感器電極獲取測量結(jié)果。類似地，可使用絕對電容感測來獲得profilerx。特別地，可利用感測信號來驅(qū)動沿接收器軸的傳感器電極并且從沿接收器軸的相同傳感器電極獲取測量結(jié)果?？蓮膶?yīng)測量結(jié)果獲得profiletx和profilerx。和電容傳感器數(shù)據(jù)一樣，可在profiletx和profilerx上執(zhí)行濾波和基線移除。

盡管上文是關(guān)于絕對電容感測討論的，但是可使用其他類型的分布。例如，獲得分布的一種方法可以是使發(fā)射器電極不使用相同的發(fā)射器信號同時發(fā)射感測信號并且使接收器電極同時接收所產(chǎn)生的信號。在這樣的場景中，所產(chǎn)生的信號包括進行發(fā)射的每個發(fā)射器電極的影響。來自所產(chǎn)生的信號的測量結(jié)果可與profilerx相對應(yīng)。可對profiletx執(zhí)行類似的操作，除了沿接收器軸的傳感器電極使用相同的信號同時發(fā)射并且沿發(fā)射器軸的傳感器電極同時接收以便獲得profiletx之外。

在步驟305中，根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例，獲取電容傳感器數(shù)據(jù)的子集。當電容傳感器數(shù)據(jù)與跨越電容測量結(jié)果相對應(yīng)時，所述子集與所述電容傳感器數(shù)據(jù)的與發(fā)射器電極相對應(yīng)的一部分相對應(yīng)，或者當電容傳感器數(shù)據(jù)與主動式筆測量結(jié)果相對應(yīng)時，所述子集與單個時間樣本相對應(yīng)。換言之，對于跨越電容測量結(jié)果，所獲取的子集是從輸入設(shè)備上的發(fā)射感測信號的發(fā)射器電極產(chǎn)生的部分。對于主動式筆，根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例所獲取的子集與主動式筆的一次突發(fā)（aburst）相對應(yīng)。一個或多個實施例單獨地（盡管可能同時地）處理與發(fā)射器電極相對應(yīng)的電容傳感器數(shù)據(jù)的每個子集。

在步驟307中，根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例，將電容傳感器數(shù)據(jù)的子集與profilerx擬合以獲得干擾測量結(jié)果。特別地，電容傳感器數(shù)據(jù)中的噪聲與profilerx中的噪聲成比例。換言之，對于單個發(fā)射器電極，一定量的干擾影響存在于輸入對象觸摸感測區(qū)的位置，并且手指耦合噪聲在圖像中的位置與在profilerx中的相同。另外，干擾在profilerx中的影響與干擾在電容傳感器數(shù)據(jù)中的影響成比例。因此，可將擬合技術(shù)應(yīng)用于profilerx以確定干擾在電容傳感器數(shù)據(jù)的子集中的影響。在一個或多個實施例中，該影響可被反映在profilerx中的每個值因為干擾而增加的噪聲幅度或單個量上。因此，干擾測量結(jié)果可是噪聲幅度增加量?？墒褂玫囊环N擬合技術(shù)是最小二乘法。然而，可在不偏離本發(fā)明范圍的情況下使用其他擬合技術(shù)。

在步驟309中，根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例，使用干擾測量結(jié)果來減輕干擾在電容圖像的子集中的影響以獲得電容圖像的經(jīng)修正的子集。例如，使用步驟307中的擬合技術(shù)，可獲得干擾測量結(jié)果的值。在步驟309中，可從電容傳感器數(shù)據(jù)中的每個值去掉該值以獲得經(jīng)修正的電容傳感器數(shù)據(jù)。減輕可以是對干擾影響的校正或去除干擾影響。在其他實施例中，減輕可降低干擾影響。然而，在減輕之后干擾的某些影響可能仍存在。

在步驟311中，根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例，可確認電容傳感器數(shù)據(jù)的經(jīng)修正的子集。換言之，可將驗證程序應(yīng)用于電容傳感器數(shù)據(jù)的經(jīng)修正的子集。特別地，就擬合技術(shù)的本質(zhì)而言，在干擾測量結(jié)果中不僅計及噪聲的影響而且還計及輸入對象的影響。因此，步驟309中的減輕可無意之中降低輸入對象在感測區(qū)中的影響。可應(yīng)用不同技術(shù)來基于電容傳感器數(shù)據(jù)是影響主動式筆信號還是影響跨越電容信號來確認電容傳感器數(shù)據(jù)的經(jīng)修正的子集。

如果電容傳感器數(shù)據(jù)反映主動式筆信號，則可應(yīng)用下面的驗證程序。首先，電容傳感器數(shù)據(jù)的經(jīng)修正的子集可被用于檢測該筆的位置。換言之，該筆的位置可具有在從電容傳感器數(shù)據(jù)的子集中去掉干擾測量結(jié)果之后仍存在的峰值。基于該筆的位置，擬合程序可被應(yīng)用于profilerx。更具體地，在profilerx中，在估計干擾測量結(jié)果時擬合程序省略與該筆的位置相對應(yīng)的值。因此，由于在執(zhí)行分析時省略了與主動式筆相對應(yīng)的profilerx的子集，在估計第二干擾測量結(jié)果時，諸如最小二乘法擬合的擬合程序不擬合與筆在感測區(qū)中的影響相對應(yīng)的數(shù)據(jù)。因此，第二干擾測量結(jié)果可提供比第一干擾測量結(jié)果更準確的對干擾影響的測量結(jié)果?？蓮脑诓襟E301中獲得的電容傳感器數(shù)據(jù)去掉第二干擾測量結(jié)果以用于步驟315中的處理（下文討論）。

值得注意地，根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例，如果手指不靠近傳感器，則主動式筆可以是該噪聲進入筆突發(fā)的唯一耦合。步驟307和309中描述的技術(shù)可能不能正確地識別干擾的影響并且可能完全去除合理的筆信號，導(dǎo)致筆完全不被檢測（acompletenon-detectionofthepen）。在一個或多個實施例中，如下執(zhí)行額外檢查。如果profilerx上的總值小于或等于僅對某個筆所預(yù)期的閾值量，則對于當前幀的數(shù)據(jù)可跳過步驟307和309。

繼續(xù)步驟311，當電容傳感器數(shù)據(jù)與跨越電容測量結(jié)果相對應(yīng)時，可應(yīng)用不同技術(shù)來確認經(jīng)修正的電容傳感器數(shù)據(jù)。特別地，與在步驟305中指定的發(fā)射器電極相對應(yīng)的經(jīng)修正的電容傳感器數(shù)據(jù)的子集的值可被求和以獲得總值?？蓪⒃摽傊蹬c發(fā)射器電極位置處的profiletx值相比較。如果該總值小于profiletx值，則步驟309中的減輕包括減輕輸入對象的影響。在這樣的場景中，根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例，經(jīng)修正的電容傳感器數(shù)據(jù)的沿發(fā)射器電極的值被增加直到總值匹配為止。

在步驟313中，根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例作出是否存在另一未被處理的發(fā)射器電極的確定。特別地，一個或多個實施例可遍歷發(fā)射器電極進行迭代。一個或多個實施例可僅遍歷輸入對象存在于其中的發(fā)射器電極進行迭代，而不是遍歷所有發(fā)射器電極進行迭代。換言之，可在電容傳感器數(shù)據(jù)上執(zhí)行最初的一遍叢檢測（clumpdetection）以識別感測區(qū)的具有輸入對象的子區(qū)域。電容傳感器數(shù)據(jù)的不具有可能的輸入對象的任何子集可具有從進一步處理去除的對應(yīng)發(fā)射器電極。如果存在另一未經(jīng)處理的發(fā)射器電極，則該流程可返回步驟305以處理下一個發(fā)射器電極。

在步驟315中，經(jīng)修正的電容傳感器數(shù)據(jù)被處理以獲得針對感測區(qū)中的任何輸入對象的位置信息。例如，可使用分割來執(zhí)行對經(jīng)修正的電容圖像的處理以識別經(jīng)修正的電容圖像中的叢（clump）、對每個叢執(zhí)行峰值檢測、基于叢的尺寸及其他屬性來濾除錯誤的輸入對象（例如手掌或其他大的輸入對象）以及執(zhí)行其他處理。在一個或多個實施例中，對于每個叢，輸入對象的位置可與叢中的峰值相對應(yīng)。因此，該位置可作為位置信息的一部分被添加。諸如叢的尺寸以及電容傳感器數(shù)據(jù)中在該位置處的值的額外信息可被添加到位置信息。

在步驟317中，報告位置信息。例如，輸入設(shè)備可向主機設(shè)備報告位置信息。如果主機設(shè)備執(zhí)行處理系統(tǒng)的全部或部分，則處理系統(tǒng)可向主機操作系統(tǒng)報告位置信息，或者主機操作系統(tǒng)可向應(yīng)用程序報告位置信息。不管位置信息的發(fā)送方和接收方如何，主機設(shè)備都可基于位置信息執(zhí)行動作。例如，主機設(shè)備可改變用戶界面中的顯示的狀態(tài)、改變主機設(shè)備的狀態(tài)或執(zhí)行另一動作。

盡管上文就針對與輸入設(shè)備耦合的干擾或歸因于充電器的干擾的校正進行了討論，但是一個或多個實施例可被應(yīng)用于低接地質(zhì)量校正。特別地，類似于歸因于充電器或輸入對象的干擾，與在profilerx中一樣，在電容傳感器數(shù)據(jù)中低接地質(zhì)量的影響可以是成比例的。因此，當干擾的影響被減輕時，低接地質(zhì)量的影響也可被減輕。

此外，盡管圖3中沒有給出，但是一個或多個實施例可減輕干擾在分布（例如profiletx、profilerx）中的影響。特別地，在接收器軸上的干擾與profilerx成比例?？赏ㄟ^識別電容傳感器數(shù)據(jù)的為負的子集來校正profiletx上的噪聲。對于任何為負的子集，該為負的子集可變成零。接著通過使用經(jīng)校正的電容傳感器數(shù)據(jù)，可通過使上文就步驟315討論的確認方法反轉(zhuǎn)來校正profilerx和profiletx。換言之，可使用步驟315中討論的關(guān)系來校正來自電容傳感器數(shù)據(jù)的profiletx，而不是使用profiletx來校正電容傳感器數(shù)據(jù)。

圖4、5和6示出根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例的示例。圖4、5和6中的示例僅用于示例目的并且不意在限制本發(fā)明的范圍。

圖4示出根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例的針對筆的一組示例曲線圖。特別地，圖4示出沿接收器軸獲得的絕對電容分布的abs-cap曲線圖（402）的示例。如圖4所示，雖然單個筆在感測區(qū)中，但abs-cap曲線圖（402）中也存在多個峰值（例如404、406）。這些峰值指示存在與輸入對象耦合的干擾。

圖4中的筆突發(fā)曲線圖（412）示出在使用主動式筆上的發(fā)射器電極執(zhí)行主動式筆感測時的筆突發(fā)的曲線圖（414）和如由接收器電極反映的噪聲的曲線圖（418）。盡管圖4將筆和噪聲分開，但是處理系統(tǒng)可能不能直接從曲線圖將筆和噪聲區(qū)分開。

經(jīng)校正的曲線圖（422）示出使用上文關(guān)于圖3描述的技術(shù)執(zhí)行的校正。特別地，對abs-cap曲線圖（402）執(zhí)行擬合分析以獲得從筆突發(fā)曲線圖（412）去掉的干擾測量結(jié)果。該結(jié)果是圖4中經(jīng)校正的曲線圖（422）。如由經(jīng)校正的曲線圖中的為負的測量結(jié)果所示出的，過擬合可能已發(fā)生，從而使得筆所引起的一些影響被錯誤地去除。為負的測量結(jié)果可被指示為殘余噪聲。上文參考圖3討論的校正程序可被應(yīng)用以去除殘余噪聲。

轉(zhuǎn)向圖5，示出根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例的針對手指的一組示例曲線圖。特別地，圖5示出沿接收器軸獲得的絕對電容分布的abs-cap曲線圖（502）的一個示例。abs-cap曲線圖（502）示出針對感測區(qū)的具有單個手指的一部分的數(shù)據(jù)。如圖5所示，雖然單個手指在感測區(qū)的一部分中，但在abs-cap曲線圖（502）中存在多個峰值（例如504、506）。該峰值指示存在與輸入對象耦合的干擾。

圖5中的跨越突發(fā)曲線圖（512）示出在使用輸入設(shè)備上的發(fā)射器電極執(zhí)行電容感測時針對感測區(qū)的一部分的觸摸位置（514）的曲線圖以及如由接收器電極反映的噪聲（518）的曲線圖。換言之，在圖5中，突發(fā)對應(yīng)于電容傳感器數(shù)據(jù)的具有手指且與發(fā)射器電極相對應(yīng)的子集。盡管圖5將手指和噪聲分開，但是處理系統(tǒng)可能不能直接從曲線圖將手指和噪聲區(qū)分開。

經(jīng)校正的曲線圖（522）示出使用上文關(guān)于圖3描述的技術(shù)執(zhí)行的校正。特別地，對abs-cap曲線圖（502）執(zhí)行擬合分析以獲得從跨越突發(fā)曲線圖（512）去掉的干擾測量結(jié)果。在圖5中該結(jié)果是經(jīng)校正的曲線圖（522）。如由經(jīng)校正的曲線圖中的為負的測量結(jié)果所示出的，過擬合可能已發(fā)生，從而使得手指所引起的一些影響被錯誤地去除。為負的測量結(jié)果可被指示為殘余噪聲?？蓱?yīng)用上文參考圖3討論的校正程序以去除殘余噪聲。

圖6示出使用本發(fā)明的一個或多個實施例的示例模擬。原始曲線圖（602）示出受到手指耦合噪聲、顯示器噪聲和低接地質(zhì)量影響的分布數(shù)據(jù)和電容傳感器數(shù)據(jù)。如在電容傳感器數(shù)據(jù)（604）中所示出的，因為低接地質(zhì)量和噪聲，可能不能從其他峰值區(qū)分輸入對象的位置。通過使用接收器軸分布（606），可估計干擾和低接地質(zhì)量的測量?？蓮碾娙輦鞲衅鲾?shù)據(jù)（604）去掉所估計的量以獲得經(jīng)校正的曲線圖（620）。此外，發(fā)射器軸分布（608）可被用來執(zhí)行一致性檢查。

如經(jīng)校正的曲線圖（620）所示，可容易地從經(jīng)修正的電容傳感器數(shù)據(jù)（624）中的周圍測量結(jié)果區(qū)分輸入對象的峰值。通過使用經(jīng)修正的電容傳感器數(shù)據(jù)，還可校正發(fā)射器軸分布（628）和接收器軸分布（624）。因此，一個或多個實施例可被計算設(shè)備用來識別輸入對象在感測區(qū)中的位置。

因此，為了最佳地解釋本發(fā)明及其具體應(yīng)用并且由此使得本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠完成和使用本發(fā)明，給出這里闡述的實施例和示例。然而，本領(lǐng)域技術(shù)人員將會認識到，僅為了說明和示例目的給出了前述描述和示例。所闡述的描述并不意在是窮舉的或者將本發(fā)明限于所公開的精確形式。

因此，盡管已經(jīng)關(guān)于有限數(shù)目的實施例描述了本發(fā)明，但是受益于本公開，本領(lǐng)域技術(shù)人員將會認識到可以設(shè)想出不偏離如這里公開的本發(fā)明的范圍的其他實施例。因此，本發(fā)明的范圍應(yīng)該僅由所附權(quán)利要求來限制。