技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種獲取閃存對(duì)偶頁(yè)錯(cuò)誤相關(guān)性的方法，隨著閃存存儲(chǔ)密度的提升，數(shù)據(jù)可靠性遭到破壞。原始比特錯(cuò)誤率已經(jīng)超過(guò)糾錯(cuò)碼的糾錯(cuò)能力，使得糾錯(cuò)碼不足以保證數(shù)據(jù)可靠性，為了設(shè)計(jì)有效的糾錯(cuò)碼算法，有必要對(duì)閃存的失效模式有個(gè)清楚的了解，為此，我們對(duì)閃存中對(duì)偶頁(yè)的錯(cuò)誤相關(guān)性進(jìn)行研究，當(dāng)閃存的某一個(gè)頁(yè)由于干擾而發(fā)生比特錯(cuò)誤時(shí)，它的對(duì)偶頁(yè)的比特也會(huì)受到干擾而發(fā)生錯(cuò)誤，這種現(xiàn)象被稱為閃存對(duì)偶頁(yè)的錯(cuò)誤相關(guān)性。通過(guò)對(duì)閃存對(duì)偶頁(yè)的錯(cuò)誤相關(guān)性進(jìn)行研究，能夠設(shè)計(jì)合理有效的糾錯(cuò)碼以保證數(shù)據(jù)可靠性。

技術(shù)研發(fā)人員：黃河
受保護(hù)的技術(shù)使用者：武漢迅存科技有限公司
文檔號(hào)碼：201610947668
技術(shù)研發(fā)日：2016.10.26
技術(shù)公布日：2017.03.15