1.一種1553B總線物理層線纜網(wǎng)絡測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)由一臺或多臺測試主機組成，每臺測試主機均包括底板、CPCI主機控制器、一體化KVM和多個1553B測試模塊；其中，所述1553B測試模塊，用于與1553B總線物理層線纜進行數(shù)據(jù)交換；所述CPCI主機控制器，用于將通過所述1553B測試模塊得到的數(shù)據(jù)進行分析，并得到1553B總線物理層線纜是否正常的測試結(jié)果；所述一體化KVM，用于對所述測試系統(tǒng)進行控制以及對所述測試結(jié)果進行外部監(jiān)視；所述1553B測試模塊、CPCI主機控制器和一體化KVM之間通過底板進行數(shù)據(jù)交換。
2.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述1553B測試模塊包括變壓器、收發(fā)電路、FPGA控制器、DSP處理器和CPCI總線控制器；其中，所述變壓器，用于對所述收發(fā)電路與1553B總線物理層線纜進行互聯(lián)，并以特定的變壓比實現(xiàn)幅值的變化；所述收發(fā)電路，用于與1553B總線物理層線纜進行數(shù)據(jù)交換，進行數(shù)字信號到1553B模擬信號的轉(zhuǎn)化；所述FPGA控制器，用于對所述收發(fā)電路得到的數(shù)據(jù)進行邏輯處理，包括雙口RAM協(xié)議的制定及1553B協(xié)議的實現(xiàn)；所述DSP處理器，用于對所述FPGA控制器的數(shù)據(jù)傳輸進行控制；所述CPCI總線控制器，用于將經(jīng)過所述FPGA控制器處理后的數(shù)據(jù)與所述CPCI主機控制器進行交換。
3.如權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述DSP處理器為6713處理器。
4.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，多個1553B測試模塊被分別設(shè)置為1553B總線物理層線纜中的BC或RT節(jié)點。
5.如權(quán)利要求1-4任一項所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)采用3U便攜式CPCI加固計算機機箱，在所述機箱的側(cè)面具有1553B轉(zhuǎn)接電纜連接器。
6.如權(quán)利要求5所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述底板具有多個空余插槽，用于增加1553B測試模塊；所述機箱內(nèi)具有多個空余卡槽，用于增加測試主機。
7.一種1553B總線物理層線纜網(wǎng)絡測試方法，其特征在于，采用如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，所述測試方法包括如下步驟：
(1)使用一體化KVM，將多個1553B測試模塊設(shè)置為1553B總線物理層線纜中的多個不同節(jié)點；
(2)使用多個1553B測試模塊，與1553B總線物理層線纜進行數(shù)據(jù)交換，并將數(shù)據(jù)傳輸至CPCI主機控制器；
(3)使用CPCI主機控制器，對所述數(shù)據(jù)進行分析，并得到1553B總線物理層線纜是否正常的測試結(jié)果；
(4)使用所述一體化KVM，對處理后的測試結(jié)果進行外部監(jiān)視。
8.如權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述步驟(1)中，將多個1553B測試模塊分別設(shè)置為1553B總線物理層線纜中的BC或RT節(jié)點。
9.如權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述步驟(2)具體包括如下步驟：使用所述變壓器，對所述收發(fā)電路與1553B總線物理層線纜進行互聯(lián)，以特定的變壓比實現(xiàn)幅值的變化；使用所述收發(fā)電路，與1553B總線物理層線纜進行數(shù)據(jù)交換，進行數(shù)字信號到1553B模擬信號的轉(zhuǎn)化；使用所述FPGA控制器，對所述收發(fā)電路得到的數(shù)據(jù)進行邏輯處理，包括雙口RAM協(xié)議的制定及1553B協(xié)議的實現(xiàn)；使用所述DSP處理器，對所述FPGA控制器的數(shù)據(jù)傳輸進行控制；使用所述CPCI總線控制器，將經(jīng)過所述FPGA控制器處理后的數(shù)據(jù)與所述CPCI主機控制器進行交換。
10.如權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于，在進行測試前，根據(jù)1553B總線物理層線纜所需終端的數(shù)量，對所述1553B測試模塊或所述測試主機的數(shù)量進行相應調(diào)整。