1.一種終端，其特征在于，所述終端包括：檢測(cè)模塊、調(diào)整模塊和確定模塊；
所述檢測(cè)模塊，用于在指紋識(shí)別模式下，檢測(cè)手指上的一個(gè)或多個(gè)特征點(diǎn)；
所述調(diào)整模塊，用于根據(jù)檢測(cè)出的所述特征點(diǎn)調(diào)整識(shí)別正確率；
所述確定模塊，用于當(dāng)所述識(shí)別正確率達(dá)到預(yù)設(shè)閾值時(shí)確定指紋識(shí)別成功。
2.如權(quán)利要求1所述的終端，其特征在于，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)手指上的一個(gè)或多個(gè)特征點(diǎn)包括：
在所述手指與指紋識(shí)別裝置初始接觸時(shí)檢測(cè)第一初始接觸面積內(nèi)的特征點(diǎn)；
在所述第一初始接觸面積的基礎(chǔ)上，隨所述手指與所述指紋識(shí)別裝置的接觸面積的增大，依次在每一圈預(yù)設(shè)的第一增大面積內(nèi)分別檢測(cè)出相應(yīng)的特征點(diǎn)。
3.如權(quán)利要求2所述的終端，其特征在于，所述檢測(cè)模塊在所述手指與指紋識(shí)別裝置初始接觸時(shí)檢測(cè)第一初始接觸面積內(nèi)的特征點(diǎn)包括：
檢測(cè)所述第一初始接觸面積內(nèi)的多個(gè)第一指紋特征；
將檢測(cè)出的所述多個(gè)第一指紋特征與預(yù)存的第一標(biāo)準(zhǔn)指紋特征相比較；
當(dāng)任意一個(gè)所述第一指紋特征與所述第一標(biāo)準(zhǔn)指紋特征相匹配時(shí)，將相匹配的所述第一指紋特征作為一個(gè)特征點(diǎn)，并標(biāo)記為第一特征點(diǎn)。
4.如權(quán)利要求2所述的指紋識(shí)別方法，其特征在于，所述檢測(cè)模塊依次在每一圈預(yù)設(shè)的第一增大面積內(nèi)分別檢測(cè)出相應(yīng)的特征點(diǎn)包括：
在所述每一圈預(yù)設(shè)的第一增大面積內(nèi)分別檢測(cè)多個(gè)指紋特征；
將在所述每一圈預(yù)設(shè)的第一增大面積內(nèi)檢測(cè)出的所述多個(gè)指紋特征與預(yù)存的相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)指紋特征相比較；其中所述每一圈預(yù)設(shè)的第一增大面積分別對(duì)應(yīng)不同的標(biāo)準(zhǔn)指紋特征；
當(dāng)在所述每一圈預(yù)設(shè)的第一增大面積內(nèi)檢測(cè)出的所述多個(gè)指紋特征中的任意一個(gè)與所述相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)指紋特征相匹配時(shí)，將相匹配的所述指紋特征作為一個(gè)特征點(diǎn)，并依次標(biāo)記為不同的標(biāo)簽。
5.如權(quán)利要求3所述的終端，其特征在于，所述調(diào)整模塊根據(jù)檢測(cè)出的所述特征點(diǎn)調(diào)整識(shí)別正確率包括：
當(dāng)匹配出所述第一特征點(diǎn)時(shí)，將所述識(shí)別正確率標(biāo)記為第一識(shí)別正確率；
當(dāng)匹配出所述第二特征點(diǎn)時(shí)，將所述識(shí)別正確率標(biāo)記為第二識(shí)別正確率；
當(dāng)匹配出所述第三特征點(diǎn)時(shí)，將所述識(shí)別正確率標(biāo)記為第三識(shí)別正確率，直至指紋識(shí)別結(jié)束；
其中，所述第二識(shí)別正確率大于所述第一識(shí)別正確率；所述第三識(shí)別正確率大于所述第二識(shí)別正確率。
6.一種指紋識(shí)別方法，其特征在于，所述方法包括：
在指紋識(shí)別模式下，檢測(cè)手指上的一個(gè)或多個(gè)特征點(diǎn)；
根據(jù)檢測(cè)出的所述特征點(diǎn)調(diào)整識(shí)別正確率；
當(dāng)所述識(shí)別正確率達(dá)到預(yù)設(shè)閾值時(shí)確定指紋識(shí)別成功。
7.如權(quán)利要求6所述的指紋識(shí)別方法，其特征在于，所述檢測(cè)手指上的一個(gè)或多個(gè)特征點(diǎn)包括：
在所述手指與指紋識(shí)別裝置初始接觸時(shí)檢測(cè)第一初始接觸面積內(nèi)的特征點(diǎn)；
在所述第一初始接觸面積的基礎(chǔ)上，隨所述手指與所述指紋識(shí)別裝置的接觸面積的增大，依次在每一圈預(yù)設(shè)的第一增大面積內(nèi)分別檢測(cè)出相應(yīng)的特征點(diǎn)。
8.如權(quán)利要求7所述的指紋識(shí)別方法，其特征在于，所述在所述手指與指紋識(shí)別裝置初始接觸時(shí)檢測(cè)第一初始接觸面積內(nèi)的特征點(diǎn)包括：
檢測(cè)所述第一初始接觸面積內(nèi)的多個(gè)第一指紋特征；
將檢測(cè)出的所述多個(gè)第一指紋特征與預(yù)存的第一標(biāo)準(zhǔn)指紋特征相比較；
當(dāng)任意一個(gè)所述第一指紋特征與所述第一標(biāo)準(zhǔn)指紋特征相匹配時(shí)，將相匹配的所述第一指紋特征作為一個(gè)特征點(diǎn)，并標(biāo)記為第一特征點(diǎn)。
9.如權(quán)利要求7所述的指紋識(shí)別方法，其特征在于，所述依次在每一圈預(yù)設(shè)的第一增大面積內(nèi)分別檢測(cè)出相應(yīng)的特征點(diǎn)包括：
在所述每一圈預(yù)設(shè)的第一增大面積內(nèi)分別檢測(cè)多個(gè)指紋特征；
將在所述每一圈預(yù)設(shè)的第一增大面積內(nèi)檢測(cè)出的所述多個(gè)指紋特征與預(yù)存的相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)指紋特征相比較；其中所述每一圈預(yù)設(shè)的第一增大面積分別對(duì)應(yīng)不同的標(biāo)準(zhǔn)指紋特征；
當(dāng)在所述每一圈預(yù)設(shè)的第一增大面積內(nèi)檢測(cè)出的所述多個(gè)指紋特征中的任意一個(gè)與所述相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)指紋特征相匹配時(shí)，將相匹配的所述指紋特征作為一個(gè)特征點(diǎn)，并依次標(biāo)記為不同的標(biāo)簽。
10.如權(quán)利要求8所述的指紋識(shí)別方法，其特征在于，所述根據(jù)檢測(cè)出的所述特征點(diǎn)調(diào)整識(shí)別正確率包括：
當(dāng)匹配出所述第一特征點(diǎn)時(shí)，將所述識(shí)別正確率標(biāo)記為第一識(shí)別正確率；
當(dāng)匹配出所述第二特征點(diǎn)時(shí)，將所述識(shí)別正確率標(biāo)記為第二識(shí)別正確率；
當(dāng)匹配出所述第三特征點(diǎn)時(shí)，將所述識(shí)別正確率標(biāo)記為第三識(shí)別正確率，直至指紋識(shí)別結(jié)束；
其中，所述第二識(shí)別正確率大于所述第一識(shí)別正確率；所述第三識(shí)別正確率大于所述第二識(shí)別正確率。