本發(fā)明是關(guān)于一種電容式感測(cè)技術(shù)，特別是關(guān)于一種電容式感測(cè)裝置及其上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法。

背景技術(shù)：

為了提升使用上的便利性，越來(lái)越多電子裝置使用觸控屏(touch screen)作為操作界面，以讓使用者直接在觸控屏上點(diǎn)選畫面來(lái)進(jìn)行操作，藉此提供更為便捷且人性化的操作模式。觸控屏主要由提供顯示功能的顯示器以及提供觸控功能的感測(cè)裝置所組成。

感測(cè)裝置依照構(gòu)造和感測(cè)形式的不同可區(qū)分為：電阻式感測(cè)裝置、電容式感測(cè)裝置、音波式感測(cè)裝置、光學(xué)式(紅外線)感測(cè)裝置、電磁式感測(cè)裝置。其中，電容式感測(cè)裝置不需要應(yīng)力應(yīng)變的材料變形、較不受外界環(huán)境光線影響，且制程也較簡(jiǎn)單，因此近期的觸控屏多是采用電容式感測(cè)裝置。

當(dāng)電容式感測(cè)裝置上有一導(dǎo)電異物區(qū)域時(shí)(例如：水或其他導(dǎo)電物質(zhì)等)時(shí)，在導(dǎo)電異物區(qū)域中軸向?qū)Ь€之間的等效電路與等效雜散電容亦會(huì)隨之改變，因而造成控制量測(cè)電路感測(cè)到軸向?qū)Ь€上的電流或電荷轉(zhuǎn)移量的變化，進(jìn)而導(dǎo)致誤判及誤動(dòng)作。或者，當(dāng)觸點(diǎn)在導(dǎo)電異物區(qū)域上時(shí)，觸點(diǎn)位置的軸向?qū)Ь€應(yīng)被量測(cè)到相對(duì)較小的對(duì)應(yīng)電流或電荷轉(zhuǎn)移量，卻因?qū)щ姰愇飬^(qū)域而被旁接至相鄰軸向?qū)Ь€(而經(jīng)由相鄰軸向?qū)Ь€接地)，以致控制量測(cè)電路無(wú)法正確感測(cè)觸點(diǎn)的位置。

因此，如何有效地避免因?qū)щ姰愇锼斐傻恼`判及誤動(dòng)作乃為業(yè)界不斷致力研發(fā)的方向之一。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

在一實(shí)施例中，一種在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法，其包括：獲得一正信號(hào)、計(jì)算此正信號(hào)所在的發(fā)射電極線和/或接收電極線上的多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的信號(hào)總和、比較信號(hào)總和與既定值、當(dāng)信號(hào)總和大于既定值時(shí)，判定引發(fā)正信號(hào)的觸控元件非導(dǎo)電異物、以及當(dāng)信號(hào)總和不大于既定值時(shí)，判定引發(fā)正信號(hào)的觸控元件為導(dǎo)電異物。

在一實(shí)施例中，一種電容式感測(cè)裝置，其包括：多個(gè)第一電極線、多個(gè)第二電極線以及一感測(cè)控制器。這些第一電極線與這些第二電極線交錯(cuò)，并且這些第一電極線與這些第二電極線界定以矩陣配置的多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)。感測(cè)控制器電性連接這些第一電極線與這些第二電極線。感測(cè)控制器執(zhí)行下列步驟：獲得一正信號(hào)、計(jì)算此正信號(hào)所在的第一電極線和/或第二電極線上的多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的信號(hào)總和、比較信號(hào)總和與既定值、當(dāng)信號(hào)總和大于既定值時(shí)，判定引發(fā)正信號(hào)的觸控元件非導(dǎo)電異物、以及當(dāng)信號(hào)總和不大于既定值時(shí)，判定引發(fā)正信號(hào)的觸控元件為導(dǎo)電異物。

綜上，根據(jù)本發(fā)明的電容式感測(cè)裝置及其上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法，其得以判斷觸碰元件是否為導(dǎo)電異物，進(jìn)而排除因?qū)щ姰愇锼斐傻恼`動(dòng)作。進(jìn)一步，根據(jù)本發(fā)明之在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法及電容式感測(cè)裝置，其得以優(yōu)化偵測(cè)步驟，以加速偵測(cè)與運(yùn)算效率。

附圖說(shuō)明

圖1為應(yīng)用本發(fā)明任一實(shí)施例的電容式感測(cè)裝置的觸控設(shè)備的示意圖。

圖2為圖1中信號(hào)感測(cè)器的一實(shí)施例的示意圖。

圖3為根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法的流程圖。

圖4為根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法的流程圖。

圖5為在本發(fā)明任一實(shí)施例的電容式感測(cè)裝置中的觸碰事件的一實(shí)施例的示意圖。

圖6為根據(jù)本發(fā)明第三及第四實(shí)施例的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法的局部流程圖。

圖7為根據(jù)本發(fā)明第五及第六實(shí)施例的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法的局部流程圖。

圖8為在本發(fā)明任一實(shí)施例的電容式感測(cè)裝置中的觸碰事件的另一實(shí)施例的示意圖。

圖9為根據(jù)本發(fā)明第七及第八實(shí)施例的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法的局部流程圖。

圖10為根據(jù)本發(fā)明第九及十實(shí)施例的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法的局部流程圖。

具體實(shí)施方式

首先，根據(jù)本發(fā)明任一實(shí)施例的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法可適于一觸控設(shè)備。觸控設(shè)備可以是但不限于觸控屏、電子畫板、手寫板等觸控裝置或具有觸控裝置的電子裝置。電子裝置可以是但不限于智慧型手機(jī)(smart phone)、導(dǎo)航機(jī)(PND)、數(shù)位相框(PDF)、電子書(e-book)、筆記型電腦(notebook)、或平版電腦(Tablet or Pad)等。為了清楚說(shuō)明，以下的實(shí)施方式雖以觸控屏為例進(jìn)行說(shuō)明，但并非用以限定本發(fā)明的范籌。舉例來(lái)說(shuō)，在下述實(shí)施方式中所描述的「觸碰事件」，若以觸控面板為例，觸碰事件可以是用手指或觸控筆等觸控元件來(lái)發(fā)生；若以電子畫板為例，則觸碰事件可以是用電子畫板對(duì)應(yīng)的觸碰元件(如，觸碰畫筆)來(lái)發(fā)生；若以手寫板為例，則觸碰事件可以是用手寫板對(duì)應(yīng)的觸碰元件(如，手寫筆或手指)來(lái)發(fā)生。

圖1為應(yīng)用本發(fā)明任一實(shí)施例的電容式感測(cè)裝置的觸控設(shè)備的示意圖。圖2為圖1中信號(hào)感測(cè)器的一實(shí)施例的示意圖。在下述的說(shuō)明中，觸控設(shè)備系以電子裝置為例進(jìn)行說(shuō)明，但本發(fā)明并不以此為限。

參照?qǐng)D1，觸控設(shè)備包含電容式感測(cè)裝置、顯示器20、及處理單元30。電容式感測(cè)裝置包含一感測(cè)控制器12以及一信號(hào)感測(cè)器14。感測(cè)控制器12連接至信號(hào)感測(cè)器14，并且信號(hào)感測(cè)器14位在顯示器20的顯示面上。處理單元30電性連接至感測(cè)控制器12與顯示器20。信號(hào)感測(cè)器14包括交錯(cuò)配置的多個(gè)電極線(例如：第一電極線X1、X2～Xn-1、Xn以及第二電極線Y1、Y2～Ym-1、Ym)。其中，n及m為正整數(shù)。再者，n可等于m，亦可不等于m。第一電極線X1、X2～Xn-1、Xn以及第二電極線Y1、Y2～Ym-1、Ym電性連接至感測(cè)控制器12。

從頂視視角來(lái)看，第一電極線X1、X2～Xn-1、Xn與第二電極線Y1、Y2～Ym-1、Ym相互交錯(cuò)，并且界定以一矩陣配置的多個(gè)偵測(cè)點(diǎn)P(1,1)～P(n,m)，如圖2所示。換言之，第一電極線X1、X2～Xn-1、Xn與第二電極線Y1、Y2～Ym-1、Ym是構(gòu)成一個(gè)平面座標(biāo)系統(tǒng)。以此實(shí)施而為例，第一電極線X1、X2～Xn-1、Xn與第二電極線Y1、Y2～Ym-1、Ym系構(gòu)成一個(gè)直角座標(biāo)系統(tǒng)(笛卡爾座標(biāo)系統(tǒng)，Cartesian Coordinate System)，但本發(fā)明并不以此為限，亦可以是極座標(biāo)系統(tǒng)、非直角座標(biāo)系統(tǒng)、或是其他平面座標(biāo)系統(tǒng)。在一些實(shí)施例中，交迭后的第一電極線X1、X2～Xn-1、Xn與第二電極線Y1、Y2～Ym-1、Ym的頂視圖呈菱形蜂巢狀、網(wǎng)格狀或柵狀。

在一些實(shí)施例中，第一電極線X1、X2～Xn-1、Xn以及第二電極線Y1、Y2～Ym-1、Ym可以位于不同平面。換言之，信號(hào)感測(cè)器14包括二感測(cè)層(以下分別稱之為第一感測(cè)層142與第二感測(cè)層144)。第一感測(cè)層142包括平行列置的第一電極線X1、X2～Xn-1、Xn，以及第二感測(cè)層144包括平行列置的第二電極線Y1、Y2～Ym-1、Ym。第二感測(cè)層144迭置于第一感測(cè)層142上，并且第一感測(cè)層142位于顯示器20的顯示面上。第一感測(cè)層142與第二感測(cè)層144之間可以但不限于夾置有絕緣層(圖中未示)。

在另一些實(shí)施例中，第一電極線X1、X2～Xn-1、Xn與第二電極線Y1、Y2～Ym-1、Ym可以位于同一平面，也就是僅位于單一感測(cè)層上。

在一些實(shí)施例中，第一電極線X1、X2～Xn-1、Xn為發(fā)射電極線，并且第二電極線Y1、Y2～Ym-1、Ym為接收電極線。在另一些實(shí)施例中，第一電極線X1、X2～Xn-1、Xn為接收電極線，并且第二電極線Y1、Y2～Ym-1、Ym為發(fā)射電極線。

在一些實(shí)施例中，感測(cè)層的多條電極線能以圖案化形成。

在一些實(shí)施例中，感測(cè)層可以采用透明或半透明的設(shè)計(jì)，因此當(dāng)顯示器20顯示信息時(shí)，使用者能穿透所有感測(cè)層而看到顯示器20所顯示的內(nèi)容。換句話說(shuō)，顯示器20發(fā)出的光線可以穿過(guò)所有感測(cè)層而到達(dá)使用者的眼睛。在一些實(shí)施例中，感測(cè)層可為圖案化導(dǎo)電薄膜，例如：但不限于氧化銦(ITO)錫薄膜。

在另一些實(shí)施例中，感測(cè)層可以不采用透明半透明的設(shè)計(jì)，例如：電子畫板或手寫板等不具顯示器20的觸控裝置的感測(cè)層。

在一些實(shí)施例中，處理單元30可以是內(nèi)部的處理器，或者是設(shè)置在外部主機(jī)中的處理器。

當(dāng)使用者觸碰電容式感測(cè)裝置時(shí)，電容式感測(cè)裝置偵測(cè)觸碰事件(觸碰動(dòng)作)，并且由處理單元30做進(jìn)一步處理。此進(jìn)一步處理的內(nèi)容視觸碰事件的觸控位置對(duì)應(yīng)顯示器20顯示位置的應(yīng)用程式而定，例如：但不限于處理單元30響應(yīng)觸碰事件而啟動(dòng)某一應(yīng)用程式、或在觸碰事件發(fā)生的位置顯示筆觸等等。

顯示器20用來(lái)顯示信息的區(qū)域一般稱作主動(dòng)區(qū)(Active Area，AA區(qū))26，而信號(hào)感測(cè)器14對(duì)應(yīng)主動(dòng)區(qū)26的區(qū)域可稱為感測(cè)區(qū)16。此感測(cè)區(qū)16系指能夠偵測(cè)使用者是否有觸碰事件發(fā)生。偵測(cè)點(diǎn)P(1,1)～P(n,m)則形成在此感測(cè)區(qū)16中。

于此，感測(cè)控制器12可以采用自電容(self-capacitance)觸控技術(shù)或互電容(mutual capacitance)觸控技術(shù)感測(cè)使用者的觸碰動(dòng)作。感測(cè)控制器12除了正常觸控動(dòng)作的偵測(cè)外，另會(huì)進(jìn)行導(dǎo)電異物(例如：水)的偵測(cè)，以排除導(dǎo)電異物所造成的誤動(dòng)作。

圖3為根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法的流程圖。圖4為根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法的流程圖。圖5為在本發(fā)明任一實(shí)施例的電容式感測(cè)裝置中的觸碰事件的一實(shí)施例的示意圖。

感測(cè)控制器12進(jìn)行導(dǎo)電線的掃描。當(dāng)有觸控元件在信號(hào)感測(cè)器14上時(shí)，觸控元件在所在位置的偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)處產(chǎn)生正信號(hào)S+，如圖5所示。其中，i與j均為正整數(shù)。再者，i可等于j，亦可不等于j。在一些實(shí)施例中，感測(cè)控制器12掃描每一偵測(cè)點(diǎn)P的信號(hào)并且將掃描到的信號(hào)與對(duì)應(yīng)的判斷閥值相比較。當(dāng)感測(cè)控制器12偵測(cè)到偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的信號(hào)大于其所對(duì)應(yīng)的判斷閥值(即，此偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的信號(hào)已達(dá)到被判定為手指信號(hào)的強(qiáng)度)時(shí)，感測(cè)控制器12判定此偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)發(fā)生觸碰事件并產(chǎn)生此偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的位置信息。換言之，每一位置信息代表發(fā)生觸碰事件的一個(gè)偵測(cè)點(diǎn)的位置。并且，感測(cè)控制器12會(huì)匯集發(fā)生觸碰事件的緊鄰的多個(gè)個(gè)偵測(cè)點(diǎn)(以下稱之為一觸碰點(diǎn))的位置信息并判定為一觸碰點(diǎn)的觸控位置。為了清楚描述，大于其判斷閥值的偵測(cè)點(diǎn)的信號(hào)以下稱之為正信號(hào)S+。換言之，一個(gè)觸控位置代表一個(gè)手指觸碰，并且一個(gè)手指觸碰會(huì)造成多個(gè)個(gè)正信號(hào)的發(fā)生。

參照?qǐng)D3及4，感測(cè)控制器12獲得偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的正信號(hào)S+(步驟S41)并儲(chǔ)存此偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)所屬的觸碰點(diǎn)的位置信息于儲(chǔ)存單元(其可內(nèi)建于感測(cè)控制器12中或設(shè)置于感測(cè)控制器12的外部，圖中未示)中。當(dāng)感測(cè)控制器12接收到偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的正信號(hào)S+時(shí)，感測(cè)控制器12計(jì)算正信號(hào)S+所在的第一電極線Xi上的所有偵測(cè)點(diǎn)P(i,1)～P(i,m)的一信號(hào)總和(步驟S43)。于此，流程圖中雖以計(jì)算第一電極線Xi上的所有偵測(cè)點(diǎn)P(i,1)～P(i,m)的信號(hào)總和為例，但感測(cè)控制器12亦可是計(jì)算正信號(hào)S+所在的第一電極線Xi與第二電極線Yj上的所有偵測(cè)點(diǎn)P(i,1)～P(i,m)、P(1,j)～P(n,j)的信號(hào)總和(圖式未示)或是計(jì)算正信號(hào)S+所在的第二電極線Yj上的所有偵測(cè)點(diǎn)、P(1,j)～P(n,j)的信號(hào)總和(圖式未示)。

感測(cè)控制器12比較計(jì)算得的信號(hào)總和與一既定值(步驟S45)。在一些實(shí)施例中，既定值可為零到二倍手指信號(hào)(即，判斷閥值的二倍)。

當(dāng)計(jì)算得的信號(hào)總和大于既定值時(shí)，感測(cè)控制器12判定引發(fā)正信號(hào)S+的觸控元件非導(dǎo)電異物(步驟S47)。并且，當(dāng)判定引發(fā)正信號(hào)S+的觸控元件非導(dǎo)電異物時(shí)，感測(cè)控制器12保留此正信號(hào)S+的位置信息(步驟S51)，即，以正信號(hào)S+的偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的位置信息進(jìn)行位置信息的匯集(匯集正信號(hào)團(tuán))及觸控位置的判定。

在一些實(shí)施例中，參照?qǐng)D3，當(dāng)判定引發(fā)正信號(hào)S+的觸控元件為導(dǎo)電異物時(shí)，感測(cè)控制器12忽略正信號(hào)S+的偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)所屬的觸碰點(diǎn)的位置信息(步驟S53)。換言之，當(dāng)判定引發(fā)正信號(hào)S+的觸控元件非導(dǎo)電異物時(shí)，感測(cè)控制器12將儲(chǔ)存單元中正信號(hào)S+的偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的位置信息舍棄。

在另一些實(shí)施例中，參照?qǐng)D4，當(dāng)判定引發(fā)正信號(hào)S+的觸控元件為導(dǎo)電異物時(shí)，感測(cè)控制器12除了忽略對(duì)應(yīng)的位置信息外，還根據(jù)正信號(hào)S+更新正信號(hào)S+的偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)所對(duì)應(yīng)的判斷閥值(步驟S55)，以一開(kāi)始即排除此偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的信號(hào)，即，不會(huì)偵測(cè)到此偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)有發(fā)生觸碰事件。在一些實(shí)施例中，感測(cè)控制器12不會(huì)在每次判定其觸控元件為導(dǎo)電異物時(shí)都執(zhí)行步驟S55。換言之，感測(cè)控制器12會(huì)記錄同一偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的正信號(hào)S+連續(xù)判定其觸控元件為導(dǎo)電異物的連續(xù)次數(shù)，并于連續(xù)次數(shù)達(dá)預(yù)定次數(shù)時(shí)再執(zhí)行步驟S55。

圖6為根據(jù)本發(fā)明第三及第四實(shí)施例的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法的局部流程圖。

在一些實(shí)施例中，參照?qǐng)D6，于執(zhí)行信號(hào)總和的計(jì)算步驟(步驟S43)之前，感測(cè)控制器12會(huì)先確認(rèn)正信號(hào)S+的發(fā)生位置是否為未知的位置信息(步驟S42)，例如：確認(rèn)儲(chǔ)存單元中是否有偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的位置信息。當(dāng)正信號(hào)S+的發(fā)生位置確認(rèn)為未知的位置信息(例如：儲(chǔ)存單元中無(wú)偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的位置信息)時(shí)，感測(cè)控制器12才會(huì)執(zhí)行信號(hào)總和的計(jì)算步驟(即，接續(xù)執(zhí)行步驟S43和其后續(xù)步驟)，如第3及4圖所示。當(dāng)正信號(hào)S+的發(fā)生位置確認(rèn)為已知的位置信息(例如：儲(chǔ)存單元中有偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的位置信息)時(shí)，感測(cè)控制器12則不執(zhí)行信號(hào)總和的計(jì)算步驟(即，不接續(xù)執(zhí)行步驟S43和其后續(xù)步驟)，而是根據(jù)正信號(hào)S+執(zhí)行一追蹤點(diǎn)程序(步驟S61)。換言之，感測(cè)控制器12會(huì)追蹤正信號(hào)S+的偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)所屬的觸碰點(diǎn)的移動(dòng)軌跡(步驟S61)。

圖7為根據(jù)本發(fā)明第五及第六實(shí)施例的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法的局部流程圖。

在另一些實(shí)施例中，參照?qǐng)D7，于執(zhí)行信號(hào)總和的計(jì)算步驟(步驟S43)之前，感測(cè)控制器12會(huì)先確認(rèn)正信號(hào)S+的發(fā)生位置是否為未知的位置信息(步驟S42)。

當(dāng)正信號(hào)S+的發(fā)生位置確認(rèn)為已知的位置信息時(shí)，感測(cè)控制器12則不執(zhí)行信號(hào)總和的計(jì)算步驟(即，不接續(xù)執(zhí)行步驟S43和其后續(xù)步驟)，而是根據(jù)正信號(hào)S+執(zhí)行偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)所屬的觸碰點(diǎn)的一追蹤點(diǎn)程序(步驟S61)。

當(dāng)正信號(hào)S+的發(fā)生位置確認(rèn)為未知的位置信息(例如：儲(chǔ)存單元中無(wú)偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的位置信息)時(shí)，感測(cè)控制器12根據(jù)正信號(hào)S+的發(fā)生位置(即，偵測(cè)點(diǎn)P(i,j))建立一檢測(cè)視窗WD(步驟S63)，如圖8所示。于此，檢測(cè)視窗WD的尺寸可為a*b，即，涵蓋a*b個(gè)偵測(cè)點(diǎn)并且其中包含了偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)。其中，a與b均為正數(shù)。再者，a可等于b，亦可不等于b。在一些實(shí)施例中，偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)為檢測(cè)視窗WD的中心點(diǎn)。換言之，感測(cè)控制器12以偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)為中心展開(kāi)a*b的檢測(cè)視窗WD。

然后，感測(cè)控制器12偵測(cè)檢測(cè)視窗WD中是否存在負(fù)信號(hào)S-(步驟S65)。當(dāng)感測(cè)控制器12偵測(cè)到檢測(cè)視窗WD中存在負(fù)信號(hào)S-時(shí)，感測(cè)控制器12才會(huì)執(zhí)行信號(hào)總和的計(jì)算步驟(即，接續(xù)執(zhí)行步驟S43和其后續(xù)步驟)，如第3及4圖所示。當(dāng)感測(cè)控制器12偵測(cè)到檢測(cè)視窗WD中不存在負(fù)信號(hào)S-時(shí)，感測(cè)控制器12則判定引發(fā)正信號(hào)S+的觸控元件非導(dǎo)電異物(步驟S47)。

在一些實(shí)施例中，參照?qǐng)D9，于執(zhí)行信號(hào)總和的檢測(cè)成序(步驟S41)之前，感測(cè)控制器12會(huì)偵測(cè)信號(hào)感測(cè)器14上所有偵測(cè)點(diǎn)P(1,1)～P(n,m)以找出先找出信號(hào)感測(cè)器14上發(fā)生的所有觸碰點(diǎn)(步驟S71)，即，在偵測(cè)到正信號(hào)S+時(shí)先進(jìn)行正信號(hào)團(tuán)(blob)的匯集并根據(jù)正信號(hào)團(tuán)(blob)判定觸碰點(diǎn)。

于找出所有觸碰點(diǎn)后，感測(cè)控制器12會(huì)計(jì)算此次偵測(cè)所獲得到的觸碰點(diǎn)的總數(shù)(以下稱為當(dāng)前總數(shù))(步驟S73)并將當(dāng)前總數(shù)與前次偵測(cè)所獲得到的觸碰點(diǎn)的總數(shù)(以下稱為先前總數(shù))比較(步驟S75)。

當(dāng)當(dāng)前總數(shù)不大于先前總數(shù)時(shí)，感測(cè)控制器12則進(jìn)行各觸碰點(diǎn)的追蹤點(diǎn)程序(步驟S61)，即，追蹤各觸碰點(diǎn)的移動(dòng)軌跡。

反之，當(dāng)當(dāng)前總數(shù)大于先前總數(shù)時(shí)，感測(cè)控制器12則針對(duì)各個(gè)正信號(hào)S+進(jìn)行信號(hào)總和的檢測(cè)程序，即，接續(xù)執(zhí)行步驟S41及其后續(xù)步驟(如圖3及4所示)。

在一些實(shí)施例中，當(dāng)當(dāng)前總數(shù)大于先前總數(shù)時(shí)，感測(cè)控制器12亦可透過(guò)檢測(cè)視窗來(lái)進(jìn)行信號(hào)總和的檢測(cè)程序。參照第10圖，于獲得偵測(cè)點(diǎn)P(i,j)的正信號(hào)S+(步驟S41)后，感測(cè)控制器12先根據(jù)正信號(hào)S+的發(fā)生位置(即，偵測(cè)點(diǎn)P(i,j))建立一檢測(cè)視窗WD(步驟S63)，并偵測(cè)檢測(cè)視窗WD中是否存在負(fù)信號(hào)S-(步驟S65)。當(dāng)感測(cè)控制器12偵測(cè)到檢測(cè)視窗WD中存在負(fù)信號(hào)S-時(shí)，感測(cè)控制器12才接續(xù)執(zhí)行信號(hào)總和的計(jì)算步驟(即，接續(xù)執(zhí)行步驟S43和其后續(xù)步驟)。當(dāng)感測(cè)控制器12偵測(cè)到檢測(cè)視窗WD中不存在負(fù)信號(hào)S-時(shí)，感測(cè)控制器12則判定引發(fā)正信號(hào)S+的觸控元件非導(dǎo)電異物(步驟S47)。

于此，感測(cè)控制器12會(huì)完成所有正信號(hào)S+的信號(hào)總和的檢測(cè)程序之后，根據(jù)剩余的位置信息(剩下的正信號(hào)團(tuán))判定剩余的觸碰點(diǎn)，并將剩余的觸碰點(diǎn)的總數(shù)儲(chǔ)存在儲(chǔ)存單元中以做為下一次偵測(cè)時(shí)所使用的先前總數(shù)。

應(yīng)當(dāng)可理解的是，各步驟的執(zhí)行順序并不限于前述描述順序，可依據(jù)步驟的執(zhí)行內(nèi)容適當(dāng)?shù)卣{(diào)配執(zhí)行順序。

在一些實(shí)施例中，前述的儲(chǔ)存單元可由一個(gè)或多個(gè)記憶體元件實(shí)現(xiàn)。各記憶體元件可為唯讀記憶體、隨機(jī)存取記憶體、非永久性記憶體、永久性記憶體、靜態(tài)記憶體、動(dòng)態(tài)記憶體、快閃記憶體和/或任何存儲(chǔ)數(shù)位信息的設(shè)備。

在一些實(shí)施例中，根據(jù)本發(fā)明的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法可由一電腦程式產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)，以致于當(dāng)電腦(即，任意觸控設(shè)備)載入程式并執(zhí)行后可完成根據(jù)本發(fā)明任一實(shí)施例的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法。在一些實(shí)施例中，電腦程式產(chǎn)品可為一可讀取記錄媒體，而上述程式則儲(chǔ)存在可讀取記錄媒體中供電腦載入。在一些實(shí)施例中，上述程式本身即可為電腦程式產(chǎn)品，并且經(jīng)由有線或無(wú)線的方式傳輸至電腦中。

綜上，根據(jù)本發(fā)明的電容式感測(cè)裝置及其上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法，其得以判斷觸碰元件是否為導(dǎo)電異物，進(jìn)而排除因?qū)щ姰愇锼斐傻恼`動(dòng)作。進(jìn)一步，根據(jù)本發(fā)明的在電容式感測(cè)裝置上的導(dǎo)電異物的偵測(cè)方法及電容式感測(cè)裝置，其得以優(yōu)化偵測(cè)步驟，以加速偵測(cè)與運(yùn)算效率。

【符號(hào)說(shuō)明】

12 感測(cè)控制器

14 信號(hào)感測(cè)器

142 第一感測(cè)層

144 第二感測(cè)層

16 感測(cè)區(qū)

20 顯示器

26 主動(dòng)區(qū)

30 處理單元

X1 第一電極線

X2 第一電極線

Xi 第一電極線

Xn-1 第一電極線

Xn 第一電極線

Y1 第二電極線

Y2 第二電極線

Yj 第二電極線

Ym-1 第二電極線

Ym 第二電極線

P(1,1) 偵測(cè)點(diǎn)

P(i,1) 偵測(cè)點(diǎn)

P(n,1) 偵測(cè)點(diǎn)

P(1,j) 偵測(cè)點(diǎn)

P(i,j) 偵測(cè)點(diǎn)

P(n,j) 偵測(cè)點(diǎn)

P(1,m) 偵測(cè)點(diǎn)

P(i,m) 偵測(cè)點(diǎn)

P(n,m) 偵測(cè)點(diǎn)

S+ 正信號(hào)

S- 負(fù)信號(hào)

WD 檢測(cè)視窗

S41 獲得一正信號(hào)

S42 確認(rèn)正信號(hào)的發(fā)生位置是否為未知的位置信息？

S43 計(jì)算正信號(hào)所在的第一電極線上的偵測(cè)點(diǎn)的信號(hào)總和

S45 比較信號(hào)總和與既定值

S47 判定引發(fā)正信號(hào)的觸控元件非導(dǎo)電異物

S49 判定引發(fā)正信號(hào)的觸控元件導(dǎo)電異物

S51 保留正信號(hào)的偵測(cè)點(diǎn)的位置信息

S53 忽略正信號(hào)的偵測(cè)點(diǎn)的位置信息

S55 根據(jù)正信號(hào)更新正信號(hào)的偵測(cè)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的判斷閥值

S61 根據(jù)正信號(hào)的偵測(cè)點(diǎn)所屬的觸碰點(diǎn)的追蹤點(diǎn)程序

S63 根據(jù)正信號(hào)的發(fā)生位置建立一檢測(cè)視窗

S65 檢測(cè)視窗中是否存在負(fù)信號(hào)？

S71 偵測(cè)所有偵測(cè)點(diǎn)以找出觸碰點(diǎn)

S73 計(jì)算此次偵測(cè)所獲得的觸碰點(diǎn)的當(dāng)前總數(shù)

S75 比較當(dāng)前總數(shù)與前次偵測(cè)所獲得的觸碰點(diǎn)的先前總數(shù)